1、2010年 秋 季学期材料分析测试方法试卷A命题教师卢正欣系主任审核考试形式闭卷考试类型 学位课 非学位课 （请打选择)考试班级材物081082，材化081082，材081084考试日期2010年12月21日考试时间2小时班 级姓名学号成绩 注意:1命题时请适当留答题位置。请用深蓝色墨水书写，字、图清晰,书写不出边框。2答题演草时不许使用附加纸，试卷背面可用于演草。试卷不得拆开。 一、 填空：(每题2分，共20分）1. X射线产生的三个基本条件是： 、 、 。2。 电子显微分析可获得材料的 、_和 方面的信息，并且可以将三者结合起来。 3。 X射线衍射的强度主要取决于_因子、_因子、_因子、_
2、因子和_因子. 4. 是衍射的必要条件; 是衍射的充分条件. 5. 电子显微镜的分辨本领高是由于电子波的_,其理论分辨本领是由_和_综合作用的结果。6。 透射电子显微像的衬度来源于质厚衬度和衍射衬度，其中_衬度主要用于解释晶体样品，_衬度主要用于解释非晶样品。7。 在X射线衍射仪中，若X射线管固定，当样品转动角时，X射线探测器应转动_角；若样品固定，当X射线管转动角时，X射线探测器应转动_角。8。 在透射电镜中， 明场（BF）像是用_光阑挡掉_束，只允许_束通过光阑成的像。 教务处印制 共 8 页 （第 1 页） 9. 电子探针利用的是高能电子与固体样品作用产生的_信号，按照对信号的色散方式不
3、同分为_仪和_仪。10。 俄歇电子能谱利用的是_与固体样品作用所产生的_信号,通过检测该信号的_来确定所含元素的表面分析方法。二、 选择：（18每题2分，9题4分，共20分） 1。 分析多晶衍射花样时,若各衍射线对应的Sin2比（X射线衍射）或R2比（电子衍射）的序列为3：4：8：11：12， 则可确定该物相结构为_。 A、简单立方 B、体心立方 C、面心立方 D、金刚石立方 2。 立方晶系111晶面的多重性因子为_。 A、4 B、6 C、8 D、12 3. 在TEM中进行选区电子衍射操作时，中间镜又起衍射镜作用，这时中间镜的物平面与物镜的_重合；选区光阑与物镜的_重合。 A、物平面 B、主平
4、面 C、后焦面 D、像平面 4。 扫描电镜形貌像的分辨率与_无关。 A、检测信号的类型 B、样品原子序数 C、放大倍数 D、入射束斑直径 5。 对某立方晶系样品进行TEM分析，在操作矢量时观察到一条直线位错.倾动样品，在时上述位错的衬度消失；再次倾动样品，在时上述位错的衬度仍消失，那么该位错柏氏矢量的方向为_。 A、 B、 C、 D、6。 在下列材料成分分析仪器中，_可测试元素的范围最宽.A、俄歇电子能谱 B、X射线光电子能谱 C、X射线波谱仪 D、X射线能谱仪7. X射线衍射宏观应力测定利用的是衍射线_改变；而微观应力测定利用的是衍射线_改变。 A、强度 B、位置 C、宽度 D、形状8. 复
5、型技术是将材料表面形貌复制下来进行电子显微分析的方法，其中_可用于金属与合金中析出相的分析。A、塑料一级复型 B、碳一级复型 C、塑料碳二级复型 D、萃取复型9. 根据分析测试内容选择适当的分析仪器. （1) 材料表面的残余应力测定_； （3) 晶体的点阵常数精确测定_ (2） 晶界析出相晶体结构分析_； (4) 界面化学成分测定_ A、扫描电子显微镜 B、X射线衍射仪 C、扫描探针显微镜D、透射电子显微镜 E、X射线应力仪 F、电子探针 教务处印制 共 8 页 （第 2 页)三、 简答:（每题4分，共20分）1. X射线的本质是什么?2. X射线衍射与电子衍射各有何特点。 3。 倒易矢量与正
6、空间晶面的关系是什么？ 4. 扫描电子显微镜中二次电子像与背散射电子像的特点和应用有何不同?教务处印制 共 8 页 （第 3 页) 5。 高能电子与固体样品作用产生的信号主要有哪些，在材料分析测试中分别有何应用。四、 分析计算：（12每题10分,3题8分，4题12分，合计40分) 1. 推导布拉格定律。并说明为什么在电子衍射中当电子束平行入射(即=0o时）也可以被晶体衍射。 教务处印制 共 8 页 （第 4 页）2. 根据导出面心立方（fcc)晶体的消光规律。式中N为单胞中原子数，为晶体单胞中第个原子在（）晶面衍射方向上的原子散射因子, 、为单胞中第个原子的位置坐标（）。 教务处印制 共 8
7、页 (第 5 页)3. TiO2有金红石、锐钛矿等多种晶型，今用磁控溅射制备出TiO2薄膜，对其进行X射线衍射分析，用线入射获得X射线衍射图如下.试判断该TiO2的为何种晶型。说明分析思路和分析方法。 教务处印制 共 8 页 （第 6 页）4. 在SrTiO3（立方晶系，晶格常数a=0.391nm）晶体中获得电子衍射花样如下，分别测得R1=11。6mm，R2=16.7mm，R3=20.3mm，=90。电子衍射实验条件为：加速电压V=200KV（=0。00251nm）,相机长度L=1800mm。 确定示意图中各衍射斑点的指数hikili ; 确定倒易面指数 （uvw)* ; 以该晶体为标样，标定
8、电子衍射的相机常数L. （SrTiO3的d值见附录）R1R2R3 教务处印制 共 8 页 （第 7 页）附录1 TiO2的PDF卡片。卡片中2数据以线（=0.1542nm)转换。A。 金红石B。 锐钛矿附录2 SrTiO3晶面间距表序号h k ld (nm）序号h k ld （nm)11000.3910113110。117921100。2764122220.112931110.2257133200。108442000.1955143210.104552100。1749154000.097762110.1596164100。094872200。1382173220.094883000。13031
9、83300。092292210。1303194110.0922103100.1236203310。0897 教务处印制 共 8 页 （第 8 页)2010年 春 季学期材料分析测试方法试卷A参考答案及评分标准命题教师卢正欣系主任审核考试形式闭卷考试类型 学位课 非学位课 （请打选择）考试班级08级材料材物材化考试日期2010年12月21日考试时间2小时班 级姓名学号成绩五、 填空：（每题2分，共20分） 1. 产生自由运动的电子（热阴极）、使电子高速定向运动（加速电场）、在电子运动路径上设置障碍物使其减速（阳极靶) (错1空扣1分，错2空扣1。5分） 2. 显微形貌、晶体结构、化学成分。（错1
10、空扣1分，错2空扣1。5分) 3. 结构、多重性、角因子（或洛仑兹）、温度、吸收.（每空0。5分） 4。 满足布拉格方程(1分)、结构因子不为零（1分） 5。 波长短（1分)、衍射效应（0。5分）、球差（或像差）（0.5分）6. 衍射（1分)、质厚（1分）。 7。 2（1分）、（1分）8. 物镜（1分)、衍射（0.5分）透射（0.5分）9。 特征X射线(1分）、波谱仪（0。5分）、能谱仪(0.5分)10。 高能电子（0.5分）、俄歇电子（1分)、能量（0.5分）六、 选择：（18每题2分，9每题4分，共20分）1、C（2分）6、B（2分）2、C(2分）7、B（1分）、C（D）（1分）3、C（1
11、分）、D（1分)8、D(2分）4、C(2分）9、E（B）（1分）、B（1分）、D(1分）、F（1分)5、C（2分） 共 5 页 (第 5 页) 共 4 页 （第 1 页）七、 简答：（每题4分，共20分)3. X射线的本质是什么？X射线为波长很短（1分）的电磁波（2分）；具有波粒二象性（1分）. 2。 与X射线衍射相比，电子衍射有何优点？电子衍射可将结构分析与形貌和成分结合起来；（2分）电子衍射布拉格角很小，单晶衍射花样为晶体二维倒易面的放大像；(1分）电子衍射强度大（1分)。 3. 倒易矢量与正空间晶面的关系是什么？倒易矢量的方向与正空间晶面垂直；（2分）倒易矢量的长度为正空间晶面的晶面间距
12、的倒数.(2分) 4. 扫描电镜的二次电子像和背反射电子像各有何特点及应用？扫描电镜二次电子对样品的表面形貌十分敏感，常用于材料表面形貌观察；（2分）背反射电子对样品的原子序数十分敏感，常用于材料成分的定性分析.（2分） 5什么是电子探针分析，在材料分析中有何应用.电子探针是利用高能电子束与固体表面作用激发出特征X射线信号，通过分析特征X射线的波长和能量来分析材料成分的分析测试方法。电子探针含能谱仪和波谱仪，主要用于材料表面的化学成分分析。如微区成分分析、物相成分测定、研究扩散、研究成分偏析等. 共 4 页 （第 2 页）八、 分析计算:（1、2题每题10分,3题5分，4题15分，共20分）
13、1. 推导布拉格定律，并说明为什么当入射方向与衍射晶面平行时（即0）也可以发生电子衍射。推导（8分）将衍射晶面视为理想的原子面,不考虑原子的位置和分布.在反射方向上相邻两个原子面散射波的波程差为： 当波程差等于波长的整数倍时，散射波强度叠加增强产生衍射，即其中n为整数，称为衍射级数.说明(2分）电子衍射的布拉格角很小，仅有0.5度；再加上倒易点拉长和电子衍射精度低,当电子束与晶面平行时(0）就可以发生衍射。4. 根据导出体心立方（bcc）晶体的消光规律。式中N为单胞中原子数，为晶体单胞中第个原子在（）晶面衍射方向上的原子散射因子， 、为单胞中第个原子的位置坐标（)。推导:bcc单胞中有2个相同
14、的原子，即=2原子的位置坐标分别为：（000）、(）每个原子的原子散射因子相同，即1=2= (4分) 将以上条件代入计算公式,得 （4分） 分别两种情况进行讨论，当h+k+l为偶数时，2,有衍射当h+k+l为奇数时，0,消光 （2分） 共 4 页 （第 3 页）3。 TiO2有金红石、锐钛矿等多种晶型，今用磁控溅射制备出TiO2薄膜，对其进行X射线衍射分析，用线入射获得X射线衍射图如下。试判断该TiO2的为何种晶型.说明分析方法。该TiO2为锐钛矿结构。（2分）分析：由XRD图可以看出，各衍射峰的2角约为25、38、48、55、75，与锐钛矿的PDF卡片对比2均符合的较好。衍射强度有些误差，应
15、为薄膜生长时产生织构有关。（3分） （注:结论错误,若能答出分析原理和过程，可酌情给分）4。 在SrTiO3（立方晶系，晶格常数a=0.391nm）晶体中获得电子衍射花样如下，分别测得R1=11.6mm,R2=16。7mm，R3=20。3mm，=90.电子衍射实验条件为：加速电压V=200KV（=0.00251nm）,相机长度L=1800mm。 确定各衍射斑点的指数（10分） 写出电子衍射基本公式（2分）Rd=L 计算d值；(2分) d1= L/R1=0.39nm d2= L/R2=0。27nmd3= L/R3=0。22nm 查表得到h1k1l1、h2k2l2、h3k3l3晶面族指数（2分） h1k1l1=100、h2k2l2=110、h3k3l3=111 根据夹角确定具体指数(2分）、 在衍射图上写出其他各斑点指数（2分） 计算电子束的入射方向（5分) 写出计算公式：uvw=（h1k1l1）（h2k2l2）(2分） 得到计算结果:uvw=011（2分） 说明入射方向（1分）(注:（hkl）和uvw指数标定不唯一，只要属于同一晶面族或晶向族均为正确） 共 4 页 （第 4 页)
