汇能在小批量电子元器件来料检测中的应用.docx
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汇能在小批量电子元器件来料检测中的应用
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概要
生产一种电子产品,会涉及到多种类型的电子元器件,然而在国内元器件市场中,充斥着各种各样的翻新件、以次充好的水货,由于中小批量生产的采购量不大,购置多种专门检测设备不现实,导致产品质量难以保证。
汇能测试仪能以专门好的性价比,解决其中的专门多问题。
本文要紧介绍这方面的内容。
注意,元器件来料测试差不多上在离线的情形下进行的。
一、对元器件测试的一些讨论
元器件的测试可分三个层次。
端口特点测试、功能测试、和性能测试。
不同测试层次的测试成本、故障覆盖率不同,或者说,通过不同层次的测试,能可靠使用的把握不同。
端口特点测试:
端口测试通过检查器件管脚的电特点,发觉器件输入、输出电路上的故障。
例如,用万用表测试器件的管脚电阻属于端口测试。
功能测试:
功能测试通过检测器件的输入输出关系,判定器件能否完成规定的电路过程。
例如,7400、74LS00、74ACT00的输入输出关系相同,关于功能测试而言,它们是一样的,但它们完成同样功能的“水平”不同,功能测试不能发觉其中差别。
功能测试属于定性测试。
性能测试:
性能测试检测器件的电参数是否达标。
关于参数测试而言,7400和74LS00是不同的——除了输入输出关系相同外,驱动负载的能力、对前级电路的要求、功耗等等参数都不相同。
性能测试能够发觉其中差别。
性能测试属于定量测试。
从测试的角度来看,所谓的“翻新件”、“水货”、“劣质件”,要紧表现在器件的电路功能正常,但性能参数不达标。
描述一个器件性能的参数有专门多,严格的讲,只有所有参数都达标,才保证器件是好的,但关于器件应用厂家,测试全部参数是不可能的。
测试哪些参数,通常需要在电路设计要求、测试成本、测试条件之间平稳。
当器件在结构上由输入、输出和中间级电路组成的时候,上述分划是清晰的。
当器件简单到不再能区分出输入、输出和中间级电路时,这种分划也变得不那么清晰。
例如二极管、电阻的端口曲线确实是它的功能曲线,假如测试仪的精度够高,要紧直流参数也能从曲线上得到。
从故障检出能力来看,性能测试的故障检测能力最强。
不能通过端口和功能测试的器件,一定不能通过参数测试;一样认为功能测试的检测能力强于端口测试,然而存在通过功能测试不能通过端口测试的情形。
从测试仪器功能来看,能做性能测试的,都能够进行功能测试,反过来,由于性能测试需要额外的硬、软件,因此只能做功能测试的仪器,通常都不能进行性能测试。
把上面的讨论结合到具体的元器件来料检测工作中,能够归纳出以下几点:
a.对一种元器件,不但要明白能不能测,还要了解具体的测试内容——做了哪个层次的测试?
测试了哪些参数?
对测试过的器件心中有“数”;
b.有条件做性能参数的,尽量做性能参数测,同时测试尽量多的参数;假如没有条件,退一步做功能和端口测试;假如条件仍旧不具备,仅作端口测试。
c.注意统计因器件问题导致的产品故障——器件通过了测试,然而上机不能正常工作——为逐步提高元器件的检测能力提供依据。
二、汇能测试仪和元器件测试
1.汇能测试仪能做哪些测试
1)性能和功能测试
a.逻辑和储备器件的要紧直流参数测试
b.光耦器件的要紧直流参数测试
c.运算放大器件的功能测试
d.小功率晶体管的输出特点曲线测试(直流参数测试)
e.三端器件功能测试(小功率可控硅、IGBT、三端稳压器等)
f.电解电容的容量、漏电参数测试
g.二极管特点曲线测试
2)端口测试
ASA特点曲线测试
3)UDT用户自定义测试
支持用户自己开发对数字、数模混合器件的功能测试。
2.使用汇能测试仪的策略
假如用户除了汇能测试以外,还有其它的测试仪器,在搞清晰这些仪器所做的测试层次后,可按照下面的原则,和汇能测试仪一起考虑。
下面要紧针对集成器件。
对分离元件一样直截了当测试即可。
1)优先选用性能测试;
a.假如待测器件属于可做性能测试的类别,同时库中有,使用性能测试即可;
b.假如属于可测类别然而库中没有,只要有它的详细资料,尽量扩入库中测试。
2)同时使用功能和端口测试
假如能够对待测器件器件进行功能测试,在做了功能测试之后,对通过测试的器件再做ASA测试。
这一点对测试拆机件、翻新件专门重要。
3)端口测试
ASA特点曲线测试几乎不受任何限制。
当器件不属于可做性能和功能测试的类别、或者没有详细的技术资料、或者受制于测试手段等的时候,都能够做ASA特点曲线测试。
4)自定义测试
假如有详细资料,但不属于性能和功能测试类别,又对仅仅做端口测试的成效不中意,能够考虑用UDT——用户自定义测试功能,开发对它的功能测试。
下面说明各种测试的用法。
三、汇能测试仪能做哪些性能和功能测试
1.数字逻辑器件性能测试
要紧包括74/54系列、4000/4500系列、26、82系列、俄罗斯、西门子的数字逻辑器件等共计一万多种。
对同类但库中没有的型号,可扩入库中测试。
1)测试哪些的直流参数
Voh:
输出高电平:
将输出驱动到高后,从该输出拉出指定大小的电流时,输出电压应不低于此电压值。
举例:
说明:
当拉出2.6毫安电流时(流出器件的电流定义为负),输出高电平不小于2.4伏为合格,实测为3.4伏。
测试通过。
Vol:
输出低电平:
将输出驱动到低后,向该输出灌入指定大小的电流时,输出电压应不高于此电压值。
举例:
说明:
当灌入24毫安电流时,输出低电平不大于0.5伏。
实测为0.5伏。
测试通过。
Iih:
输入高漏流:
在指定输入加指定电压(其它输入加逻辑低),漏入该输入的电流应不大于此电流值。
举例:
说明:
当在输入加2.7伏的电压时,漏入电流应不大于20微安。
实测小于1微安。
以下不再举例说明。
Iil:
输入低漏流:
在指定输入加指定电压(其它输入加高),漏出该输入的电流应不大于此电流值;
Iozh:
三态器件输出高阻态高漏流:
将三态器件输出驱动到高阻态,在该输出加指定电压,漏入该输出的电流应不大于此电流值;
Iozl:
三态器件输出高阻态低漏流:
对三态器件,将该输出驱动到高阻态,在该输出加指定逻辑低电压,漏出该输出的电流应不大于此电流值;
Ioh:
集电极开路输出高漏流:
将集电极输出器件驱动输出高,在该输出加指定电压,漏入该输出的电流应不大于此电流值。
2)如何设置被测试参数
器件手册中具体给出各型号器件的参数取值。
电路设计中选择器件型号的时候,也是按照那个标准考虑的。
但在实际使用中,我们经常发觉使用大厂器件产品更可靠。
其缘故可能是,手册标准是必须达到的最低标准。
大厂器件的设计余量留得更大。
例如,手册规定,在灌入10毫安电流时输出低电平Vol不大于0.4伏,大厂器件可能达到20~30毫安,小厂器件或水货,或许仅略大于10毫安。
汇能测试仪没有在库中输入手册规定的参数值,要求用户在第一次测试前指定。
系统会储存下来直至用户再次修改。
这意味着用户能够在自己设定的参数余量范畴内选择器件。
下面以74LS373的输出管脚为例说明如何设置:
那个地点的设置表示,器件输出高电平Voh时,拉出3毫安电流(流出器件的电流定义为负),电平值应不低于2.4伏;输出低电平Vol时,灌入3毫安电流,电平值不应高于0.8伏。
那个地点的“拉出、灌入电流”、“最低高、最高低电平”均可由用户设置。
设置好的参数存放在运算机中,下次再测试74LS373时,自动使用用户的设置值,直至再次修改。
3)测试过程
将被测器件放入测试座中,在测试界面上输入器件型号,用鼠标或回车键启动测试。
测试仪第一进行功能测试,在功能测试成功的基础上,再进行参数测试,分别报告测试结果。
下面是对一个器件参数测试的部分结果显示:
假如参数测试超标,出错管脚显示为红色。
4)如何测试库中没有的器件
a.假如属于组合或同步时序逻辑器件,逻辑电平在可测试范畴内(见下节),通过扩库功能,添加到器件库里后,便可进行同样测试。
能够自行扩库或托付我公司;
b.没有技术资料或不属于汇能的可测试类别,不能进行功能、参数测试。
可采纳ASA测试。
见第4节。
5)测试仪的测试通道电平和可测试范畴
对数字器件按照工作电平分类,有3.3V系列、5V系列、12V系列等等。
还有的用于电平转换的器件,输入、输出分属不同的系列。
测试5V系列的器件,要求测试仪能够输出、读入5V的脉冲信号;测试3.3V系列的器件,要求测试仪能够输出、读入3.3V的脉冲信号等等,否则不能测试。
比如,汇能HN1600DX/B型测试仪,只能处理5V脉冲,就只能测试5V系列器件;汇能HN2600系列测试仪,能够处理12V以内的各种脉冲信号,因此又叫做“全电平”测试仪。
关于电平不能支持的器件,可采纳ASA测试。
请参见第4节。
2.储备器
目前支持对读写储备器SRAM、DRAM;只读储备器PROM、EPROM、EEPROM的测试。
储备器库中包括约3000种型号。
关于未包括在器件库中的,需要先添加到器件库中,然后进行测试。
在参数测试中,测试的参数类型、设置方法、测试结果的显示均与逻辑器件的参数测试相同。
请参见.1。
但有一个例外:
当只读储备器中的内容不能保证每个输出脚都有“高”和“低”输出状态时,与缺少状态相关的参数不能测试。
由此可知,当只读储备器为空的时候不能进行参数测试;
对储备器的测试方式有:
1)只读储备器:
PROM、EPROM:
a.空检测;
b.读出内容并存放在运算机中;
c.读出内容同时和事先存放在运算机中的内容相比较;
d.将存放在运算机中的内容转换成可供编程器使用的二进制文件。
2)读写储备器:
SRAM、DRAM
a.写入-读出检测;
b.读出内容并存放在运算机中;(此功能针对电池支持的储备器)
c.将存放在运算机中的内容写入储备器;(此功能针对电池支持的储备器)
3.光耦
目前器件库中要紧包括有4N、CNY、IL、PC、PS、FSH、TLP系列约500种光耦器件。
关于未包括在测试器件库中的,依照具体情形不同,有不同的测试方法。
1)能够测试的直流参数
UF:
二极管最大正向电压
给二极管注入指定大小的电流时,二极管上的最大电压;
UCES:
三极管最大饱和电压
向二极管注入、三极管流入指定大小的电流时,三极管c-e之间的最大电压;
Iceo:
三极管最大漏电流
输入电流为0,在指定电压下,漏入三极管的电流。
CTR:
电流传输比
向二极管注入、三极管流入指定大小的电流时,输出、输入电流之比:
CTR=输出电流/输入电流X100%
2)设置测试参数
汇能的光藕器件库中,输入了手册规定的参数值。
与2.1.2中所述同样的缘故,为了用户能够在自己设定的设计余量范畴选择器件,也承诺用户设置自选的测试参数。
参见下图所示的设置参数窗口:
说明如下:
UF:
给二极管注入20毫安电流,二极管上的最大电压不大于1.4伏;
UCES:
在二极管20毫安,三极管1毫安电流时,三极管的最大饱和电压不大于0.2伏;
Iceo:
二极管不加信号,三极管集电极加20伏电压,漏入三极管的电流不大于0.0001毫安;
CTR:
给二极管注入5毫安电流,在三极管集-射电压为5伏时,CTR不小于50。
3)测试过程
将被测器件放入测试座中,在测试界面上输入器件型号,用鼠标或回车键启动测试。
测试仪按顺序检查各个参数。
当一个参数超限时,不再进行下面的测试。
与逻辑器件的参数测试不同,测试光耦时只判定被测参数是否超限,而不报告具体测出的参数值。
下图所示是对PC817的测试结果:
左下窗口给出测试结论。
窗口中会把超限的参数显示出来,不超限的参数不显示。
目前的汇能测试仪能够识别的最小电流为3微安,专门提示出来。
右边窗口的上面是PC817的转换曲线,下面列出参数测试条件和取值范畴,请认真观看,不再详述。
4)如何测试库中没有的器件
a.有详细技术资料同时符合可测试类别
a1.通过扩库功能,添加到光耦器件库后进行同样测试;
a2.假如管脚分配和库中某个光耦完全一致,可按该型号进行测试。
注意,两种光耦的参数可能不一致,在测试前要修改。
b.有详细资料但不符合可测试类别
目前的可测试类别只包括所谓“纯光藕”——不包括任何操纵电平的光藕器件。
关于非纯光藕器件,只要明白管脚功能,可按照下述方法测试:
b1.通过外接操纵电平,将光耦设置在工作状态;(视具体情形而定)
b2.在光耦测试主界面上选择“未知型号”,双击进入测试界面后,按照界面提示,用测试钩钩到相应管脚上,按资料要求设置好测试参数即可进行测试。
5)没有资料或操纵电路过于复杂
进行ASA测试。
参见第3节。
4.运算放大器
目前的汇能测试仪只能测试“电压型”运放。
汇能测试仪能够对运放器件库中的器件,进行功能好坏的测试。
目前器件库中包括常用运放型号2000余种。
关于未包括在器件库中的,依照具体情形不同,有不同的测试方法。
1)测试原理
输入管脚“虚通”是运放的最差不多的工作特点。
“虚通”是依靠运放的“开环增益”保证的。
只要“虚通”存在,运放就有一定的开环增益,从那个意义上说,只要“虚通”存在,运放的差不多功能确实是好的,据此,把测试“虚通”的有无定义为测试运放的功能好坏。
依照“虚通”的定义,可把运放接成一个“跟随器”,在正输入端注入一个正弦测试信号。
只要在测试信号的作用下,输出和正输入端的电位始终保持“一致”,就认为“虚通”存在。
为把“一致”量化,定义一个允差,只要输出和正输入端的电位曲线的误差落在允差范畴内,就认为两者一致,否则判为不一致。
允差的具体值,能够依照体会设定,或者通过测试多个样片确定。
2)测试过程
将被测器件放入测试座中,在测试界面上输入器件型号,用鼠标或回车键启动测试。
下面是对LM324的测试结果显示:
左下窗口给出测试结论“未超差”。
右边的测试曲线使用了错位显示方式。
再下面是所使用的差不多测试参数。
3)如何测试库中没有的器件
a.有详细技术资料同时符合可测试类别
a1.通过扩库功能,添加到运放器件库后进行同样测试;
a2.假如管脚分配和库中某个运放完全一致,可按该型号进行测试。
b.不扩库的测试方法
在运放测试主界面上选择“未知型号”,双击进入测试界面后,按照界面提示,用测试钩钩到相应管脚上后进行测试。
下面是使用测试钩的结果显示。
注意其中的连接提示:
四、利用ASA测试功能测试集成器件
ASA特点曲线测试在使用上几乎没有什么限制。
在无法用别的方法测试的情形下,总是能够选择ASA测试。
1.ASA测试的差不多原理
测试仪产生一个正弦电压信号,加在被测器件管脚上,记录随电压变化的电流,在电压-电流座标系上表示出来,就得到该管脚的ASA(阻抗)曲线。
比较好、坏器件相应管脚的曲线形状,假如差异较大,那么一个器件是好的,另一个确实是坏的。
这确实是ASA测试原理。
ASA法和用万用表测试器件管脚电阻法相仿,但故障检出率和测试效率要高得多。
2.建立测试标准的几个问题
测试标准包括标准曲线和允差。
ASA测试通过比较曲线形状进行检测,因此第一要确定正确(标准)曲线形状。
这通过在好的器件(又称为样片)上学习得到;另外,还要确定每个管脚曲线的“允差”大小——承诺测试曲线和标准曲线的误差限度。
误差大于“允差”,判为测试未通过。
1)只有一个样片时
a.如何得到标准曲线
在ASA测试的“学习”功能下,提取样片的管脚曲线,储存在运算机中,作为以后测试的标准曲线。
b.如何设置允差
由于不同的管脚有不同的电特点,因此“允差”也有可能不同。
在只有一个样片的情形下,只能由使用者依照自己的体会去设置。
汇能测试软件承诺把所有管脚曲线的允差都设成一样的,也承诺分别设置。
2)有多个样片时
a.如何得到标准曲线
在有多个样片的情形下,能够通过多个样片来猎取更好的标准数据。
具体做法如下:
有多少个样片,就学习多少个样片的曲线。
然后再对这些曲线求平均。
把平均曲线作为标准曲线。
b.如何设置允差
在上节中,为了得到标准曲线,测试了多个样片。
由于样片差不多上好件,能够认为它们的曲线都不超差,但又有一定误差。
在每个样片的相应管脚曲线中,找出与标准曲线差别最大的曲线,以该曲线和标准曲线的误差作为设置的“允差”值。
样片越多,测试样本越大,那个值也就越合理。
在汇能测试系统上,只须指定参加平均的曲线文件,自动求取平均曲线和允差。
3)关于同型号、不同厂家生产的器件
不同厂家生产的同一种器件,有可能管脚曲线差别专门大。
这通常是因为器件的内部电路不同。
尽管这种情形不太多见(绝大多数情形下,同型号器件的管脚曲线相一致),除非你通过测试观看,确定是一致的,最好把同型号、不同厂家的器件处理成不同的器件。
4)关于测试参数设置
标准曲线的质量与测试参数设置相关。
例如,用万用表测电阻要选择档位。
用200K档测1K电阻的成效,成效没有用2K好。
ASA测试也有类似问题。
ASA使用正弦电压信号进行测试。
可设置的参数有:
幅度、频率和输出电阻。
其中幅度一样依照器件工作电压一次选定;考虑到集成电路差不多差不多上直流器件,频率可按ASA测试的常用值,48或390赫兹;最佳输出电阻在学习曲线时,打开“自动选择高灵敏度曲线”选项,由系统自动选择。
5)单端口和多端口曲线
a.单端口曲线
器件各个管脚和“地”之间的特点曲线。
一个器件有多少个管脚,就测出多少条曲线。
b.多端口曲线
器件各个管脚之间的曲线。
假如器件有N个管脚,测出[(NXN)-N]/2条不同的曲线。
多端口测试的曲线多,检测能力强,但测试时刻长;单端口则相反。
汇能测试仪承诺选择单端口或多端口测试。
3.在汇能测试仪上建立测试标准的操作
1)有多个样片时
详细过程可参见“《汇能》在电子产品生产检测中的应用”。
2)有一个样片时
仅取该样品的曲线作为测试标准。
4.测试集成器件
先用鼠标在工具栏中单击,选择比较功能;然后在文件列表窗口单击存放标准曲线的文件名;
放好被测器件,鼠标单击,测试仪开始测试。
假如所有曲线的误差均小于相应允差,弹出测试通过提示窗口如下:
假如有至少一根曲线超差,弹出:
单击[查看NG管脚],弹出列出所有超差曲线的窗口。
具体不再详述。
可参见“《汇能》在电子产品生产检测中的应用”。
五、测试分立元件
分立元件大致可分为双端器件和三端器件两类。
两端器件要紧有:
电阻、电容、电感、二极管等;三端元件要紧有:
闸流管、晶体管、继电器、三端稳压器等等。
在汇能测试系统的ASA测试功能中,实现对分离元件的功能测试。
对有的器件,还能对要紧参数进行测试。
汇能测试仪面向弱电应用,信号最大电压28伏,最大电流150毫安,因此仅适用于电子元件测试。
1.双端元件直截了当测试
在ASA测试主界面,单击弹出直截了当测试窗口如下:
各种分立元件的功能曲线直截了当测试,都在本界面上完成。
本文仅对测试结果进行一些说明。
具体使用方法,请参见汇能测试仪使用说明书。
1)测试电阻
测试特点:
万用表大约在1伏左右的电压下测试电阻值。
汇能测试仪能够测试电阻在某个电压区间(不大于28伏)的阻值。
电阻的功能曲线:
电阻的电压、电流关系为I=V/R。
在电压-电流坐标上,这是一个过零点的直线方程。
直线的斜率为被测电阻值的倒数。
不同斜率的曲线,对应不同阻值的电阻。
下图所示为汇能测试仪测出的1K和1.5K电阻的曲线:
测试电阻值:
当测试对象选择R时,能够测试电阻的阻值。
测试1K电阻的示例如下:
在测试结果中,1.00KΩ表示被测电阻的阻值,括号中1KΩ为测试信号的输出电阻。
电阻测试的范畴约为10Ω~10MΩ。
2)测试电容
测试特点:
万用表只能在大约1伏左右测出电容的容量。
汇能测试仪能够在指定的电压下(不大于28伏),测出电容的功能曲线,容量以及漏电阻。
电容的功能曲线:
在正弦电压鼓舞下,电容的电压、电流关系为:
这是一个椭圆方程,因此在电压-电流坐标上,电容曲线是一个椭圆。
不同容量的电容,椭圆的长、短轴的长度不同。
下图所示为汇能测出的好电容的曲线示例:
2.2µF电容 22µF电容
当电容漏电时,曲线会发生倾斜。
参见下图:
测试电容:
当测试对象选择C时,能够测试电容的容量。
测试2.2微法电容示例如下:
实测容量为2.3微法。
电容漏电确实是它的漏电阻变小。
测出漏电阻大于10兆(汇能测试仪的最大可辨论值),也确实是说不漏电。
漏电阻经常和测试电压相关,建议测试时,最好选择和实际工作电压相同或略高的测试电压。
几微法到几百微法的电容,漏电阻应该在兆欧的量级以上。
通常容量100微法以下测试频率选48Hz,100微法以上选5Hz。
电感测试能够测出感抗和串联电阻,与电容测试相类似。
不再说明。
3)测试二极管
测试特点:
能够看到完整的二极管功能曲线,从而能够观看到拐点的位置、导通的好坏、反向漏电以及击穿点邻近的情形。
二极管的功能曲线:
二极管的电压电流关系由下式决定
i=Is(ev/0.026-1)
这是一个在电压-电流坐标上的指数方程。
当v沿正向增加时,电流按指数规律迅速上升;当v向负向增加时,i差不多等于负的反向饱和电流Is,为一常数。
下面给出一个好的硅管和一个好的锗管的功能曲线。
这确实是所谓的结特点曲线。
没有结特点曲线的二极管,丧失了二极管的差不多功能;假如二极管导通性能不行,右边部分的曲线就会上升的慢,也确实是曲线向右方倾斜;假如二极管漏电,左边部分的曲线就会向下倾斜。
倾斜程度和漏电大小相关。
当电压向负向连续增加至某点时,曲线会突然显现向下的拐点,那个点确实是反向击穿电压。
下图中的二极管在负9伏时反向击穿:
假如要测试稳压管,选择的测试信号幅度一定要大于稳压值。
2.三端元件直截了当测试
三端元件的工作特点是,在一个触发信号作用下转换工作(截止、导通)状态。
测试窗口中的[设置触发脉冲]项,确实是用来定义那个触发信号的。
测试特点:
能够测试出在指定电压范畴内(不大于28V)的工作曲线,从而观看到三端器件的最小触发脉冲;导通饱和电压;截止和导通状态是否满足要求等等。
1)测试闸流管(可控硅)
闸流管的工作曲线:
下图给出两种坐标下汇能测试仪测试出来的闸流管的工作曲线。
电压-电流坐标 时刻-电压坐标
a.左上图中的横线是否水平反映了截止阻抗是否足够大、竖线是否足够垂直反映了导通阻抗是否足够小、竖线与纵轴的间距确实是导通电压的大小。
将鼠标光标放在曲线上可读出光标处的电压、电流值。
步加或步减脉冲高度,能够得到触发该元件的最小脉冲高度。
b.从右上图看出,当触发脉冲未显现时,可控硅处于截止状态,近似于开路,因此测试信号保持完整正弦;当触发脉冲一显现,可控硅导通,近似于短路。
有一个导通电压。
曲线水平部分的高度,确实是导通电压的大小。
步加或步减脉冲的宽度,能够看到导通点随着移动。
当“测试信号”扫过“零点”(即T/2处),可控硅又迅速“截止”,测试信号重新复原原样。
现在在脉冲幅度设置栏里显示的电压,大致确实是该器件的“开启”电压。
c.MOS晶体管、小型继电器、小容量IGBT等都能够采纳这种方法测试。
2)测试电压调剂器7805
7805的工作原理:
电压调剂器7805的工作原理如左图所示。
将G接地,只要是加在输入端VI的最小值大于6.5V,输出Vo将稳固在5V同时差不多不受负载波动的阻碍。
将脉冲作为输入电压加到VI端。
加在输出Vo上的测试信号模拟对稳压器的干扰。
一个好的电压调剂器,只要脉冲的阻抗小于扫描信号的阻抗(即脉冲的强度大于扫描信号),在脉冲连续期间,输出应稳固在5V,
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- 批量 电子元器件 来料 检测 中的 应用