GSMGPRS数字移动电话机可靠性测试标准规范草稿.docx
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GSMGPRS数字移动电话机可靠性测试标准规范草稿
通讯公司品质部发布
2011-09-01实施
2011-08-25发布
产品可靠性测试标准(内销)
Q/AUXJ09.09.001-2011
Q/AUX
宁波三星通讯设备有限公司企业标准
密级:
NB
1前言
本标准是为了规范通讯公司GSM/GPRS数字移动电话机(内销机)的技术要求及测试方法而制定。
本标准由通讯公司品质部提出。
本标准由通讯公司品质部、技术部负责起草。
本标准由通讯公司品质部、技术部负责解释。
本标准由通讯公司品质部质量管理科归口。
本制度由打印、校对、共印份。
本制度主要起草人:
王贺曾伟于绍刚
本制度审核人:
刘小林
本制度批准人:
郭科儿
产品可靠性测试规范
1.目的
规范内销产品的可靠性测试,在特定的可接受的环境下不断的催化产品的寿命和疲劳度,评估产品的质量可靠性,从而进一步保证公司产品质量的可靠性和稳定性。
2.适用范围
适用于所有本公司自主研发、联合研发、品牌合作或其他按照客户要求、协助客户进行的手机可靠性测试。
3.职责
品质部负责按照本程序进行产品的可靠性测试、并制定测试报告;试验过程中的不合格项由品管部、技术部、研究院和项目管理部负责分析并提出改善措施。
4.可靠性测试要求及方法
4.1环境适应性试验1如下图:
功能测试
4.1.1参数测试&功能测试
☆测试数量:
10部
☆样品状态:
处于插卡开机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
室温20±5℃
☆试验方法:
确认样机试验前状态后,利用综测仪、屏蔽箱、天线测试台、电源等工具对手机的电性能指标进行测试,具体的测试方法参见公司RF、电流等硬件测试标准。
☆测试标准:
手机的基本使用功能正常,电性能参数标准参见《RF测试报告》
备注:
电性能指标的详细数据需要记录在引用文件《RF测试报告》上
4.1.2微跌落测试
☆测试数量:
10部
☆样品状态:
处于插卡开机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
室温20±5℃
☆试验方法:
确认样机试验前状态后,将手机处于插卡开机状态,从0.3m高度跌落到20mm厚的木地板上,进行6面4角的自由跌落,每个面和每个角的跌落各1次,每跌落一次需进行结构和性能的检查。
☆测试标准:
结构件无变形、破裂、翘起、脱落等不良,手机的显示功能、通话功能等基本使用功能应正常,跌落中不允许出现掉电、掉卡等不良。
4.1.3冷热冲击测试
☆测试数量:
10部
☆样品状态:
关机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
70±2℃至-30±3℃
☆试验方法:
确认样机试验前状态后,将手机处于关机状态放入试验箱内,在70±2℃高温下保持0.5h后10秒内转换到-30±3℃低温下保持0.5h,此为一个循环,连续进行48次循环后取出在室温下恢复2h,然后进行外观结构和性能的检查。
☆测试标准:
手机外观无氧化、起泡、掉漆等不良,结构件无变形、破裂、翘起、脱落等不良,手机的显示功能、通话功能等基本使用功能应正常。
4.1.4恒定湿热测试
☆测试数量:
10部
☆样品状态:
处于插卡开机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
60±2℃/RH90±2%
☆试验方法:
确认样机试验前状态后,将手机处于插卡开机状态放入试验箱内,在60±2℃/RH90±2%环境下保持48h;试验结束后取出在室温下恢复2h,然后进行外观结构和性能的检查。
并测试附着力。
☆测试标准:
手机外观无氧化、起泡、掉漆等不良,结构件无变形、破裂、翘起、脱落等不良,手机的显示功能、通话功能等基本使用功能应正常,附着力达到3B要求。
4.1.5振动测试
☆测试数量:
10部
☆样品状态:
处于插卡开机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
室温20±5℃
随机振动频率ASD(加速度谱密度)
5Hz~20Hz0.96m2/s3
20Hz~500Hz0.96m2/s3(20Hz处);其它为-3dB/倍频程。
☆试验方法:
确认样机试验前状态后,处于插卡开机状态,放入振动台,在X、Y、Z三个方向共振动24h,然后进行外观结构和性能的检查。
☆测试标准:
结构件无变形、破裂、翘起、脱落等不良,手机的显示功能、通话功能等基本使用功能应正常;试验中允许边角等突出部位磨损,但不允许出现掉电、掉卡等不良。
4.1.61.2-1.5m跌落测试
☆测试数量:
10部
☆样品状态:
处于插卡开机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
室温20±5℃
☆试验方法:
确认样机试验前状态后,将手机处于开机状态,从1.5m高度跌落到20mm厚的木地板上,进行6面4角的自由跌落,每个面和每个角的跌落各3次共30次(第一次为面跌落,第二次为角跌落),每跌落一个位置需进行结构和性能的检查。
LCD面积≥25cm²或机壳正面40%的及翻滑盖机可降低到1.2m高度。
☆测试标准:
结构件无变形、破裂等不良,手机的显示功能、通话功能等基本使用功能应正常;跌落过程中允许电池脱落及其它结构器件可复原性翘起脱落和撞伤,但可复原性翘起脱落现象重复出现三次仍视为不合格;跌落测试中允许边角等突出部位磨损,跌落撞击部位允许掉漆,铝片允许变形。
4.1.7参数测试&功能测试
☆测试数量:
10部
☆样品状态:
处于插卡开机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
室温20±5℃
☆试验方法:
确认样机试验前状态后,利用综测仪、屏蔽箱、天线测试台、电源等工具对手机的电性能指标进行测试,具体的测试方法参见公司RF、电流等硬件测试标准。
☆测试标准:
手机的基本使用功能正常,电性能参数标准参见《RF测试报告》
备注:
电性能指标的详细数据需要记录在引用文件《RF测试报告》上,并注明为环境测试后结果。
4.2环境适应性试验2如下图:
参数测试&功能测试
4.2.1参数测试&功能测试
☆测试数量:
6部(抽测2部)
☆样品状态:
处于插卡开机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
室温20±5℃
☆试验方法:
确认样机试验前状态后,利用综测仪、屏蔽箱、天线测试台、电源等工具对手机的电性能指标进行测试,具体的测试方法参见公司RF、电流等硬件测试标准。
☆测试标准:
手机的基本使用功能正常,电性能参数标准参见《RF测试报告》
备注:
电性能指标的详细数据需要记录在引用文件《RF测试报告》上
4.2.2低温工作测试
☆测试数量:
6部(抽测2部RF、电流参数)
☆样品状态:
处于插卡开机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
-20±3℃
☆试验方法:
确认样机试验前状态后,将手机处于开机状态放入试验箱内,在-20±3℃低温下保持2h后,在此温度下测试RF、电流参数,然后取出进行外观结构和性能的检查。
☆测试标准:
手机外观无氧化、起泡、掉漆等不良,结构件无破裂、翘起、脱落等不良,手机的显示功能、通话功能等基本使用功能应正常。
4.2.3高温工作测试
☆测试数量:
6部(抽测2部RF、电流参数)
☆样品状态:
处于插卡开机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
55±2℃
☆试验方法:
确认样机试验前状态后,将手机处于开机状态放入试验箱内,在55±2℃高温下保持2h后,在此温度下测试RF、电流参数,然后取出进行外观结构和性能的检查。
☆测试标准:
手机外观无氧化、起泡、掉漆等不良,结构件无破裂、翘起、脱落等不良,手机的显示功能、通话功能等基本使用功能应正常。
4.2.4高温储存测试
☆测试数量:
6部
☆样品状态:
关机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
65±2℃
☆试验方法:
确认样机试验前状态后,将手机处于开机状态放入试验箱内,在65±2℃高温下保持24h,然后取出进行外观结构和性能的检查。
试验结束后恢复30分钟后进行后续跌落测试。
☆测试标准:
手机外观无氧化、起泡、掉漆等不良,结构件无破裂、翘起、脱落等不良,手机的显示功能、通话功能等基本使用功能应正常。
4.2.5高温储存后跌落测试
☆测试数量:
6部
☆样品状态:
处于插卡开机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
室温20±5℃
☆试验方法:
确认样机试验前状态后,将手机处于开机状态,从1.2m高度跌落到20mm厚的木地板上,进行6面4角的自由跌落,每个面和每个角各跌落1次(第一次为面跌落,第二次为角跌落),每跌落一个位置需进行结构和性能的检查。
LCD面积≥25cm²或机壳正面40%的及翻滑盖机可降低到0.8m高度。
该试验需在高温储存结束后恢复30分钟后进行。
☆测试标准:
结构件无变形、破裂、翘起、脱落等不良,手机的显示功能、通话功能等基本使用功能应正常。
4.2.6低温储存测试
☆测试数量:
6部
☆样品状态:
关机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
-30±3℃
☆试验方法:
确认样机试验前状态后,将手机处于开机状态放入试验箱内,在-30±3℃低温下保持24h.试验结束恢复30分钟后进行后续跌落测试。
☆测试标准:
手机外观无氧化、起泡、掉漆等不良,结构件无破裂、翘起、脱落等不良,手机的显示功能、通话功能等基本使用功能应正常。
4.2.7低温储存后跌落测试
☆测试数量:
6部
☆样品状态:
处于插卡开机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
室温20±5℃
☆试验方法:
确认样机试验前状态后,将手机处于开机状态,从1.2m高度跌落到20mm厚的木地板上,进行6面4角的自由跌落,每个面和每个角各跌落1次(第一次为面跌落,第二次为角跌落),每跌落一个位置需进行结构和性能的检查。
LCD面积≥25cm²或机壳正面40%的及翻滑盖机可降低到0.8m高度。
该试验需在低温储存结束后恢复30分钟后进行。
☆测试标准:
结构件无变形、破裂、翘起、脱落等不良,手机的显示功能、通话功能等基本使用功能应正常。
4.2.8参数测试&功能测试
☆测试数量:
6部(抽测2部)
☆样品状态:
处于插卡开机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
室温20±5℃
☆试验方法:
确认样机试验前状态后,利用综测仪、屏蔽箱、天线测试台、电源等工具对手机的电性能指标进行测试,具体的测试方法参见公司RF、电流等硬件测试标准。
☆测试标准:
手机的基本使用功能正常,电性能参数标准参见《RF测试报告》
备注:
电性能指标的详细数据需要记录在引用文件《RF测试报告》上,并注明为环境测试后结果。
4.3.恶劣环境适应性试验
恶劣环境适应测试
ESD测试
粉尘测试
盐雾测试
4.3.1盐雾测试
☆测试数量:
2部
☆样品状态:
不带电池状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
35℃/RH85%
☆测试方法:
确认样机试验前状态后,将手机放入试验箱内,用(5±0.1)%(质量百分比)ph值为6.5-7.2的氯化钠溶液溶液喷洒在测试手机上,尽量确保手机的每个面都被喷到溶液且要均匀,实验周期48小时,试验过程中不能中途取出手机,试验时间到了以后,取出样机,放置2小时进行常温干燥,对其进行外观检验。
☆测试标准:
外观及表面装饰件无氧化腐蚀、变色等不良。
4.3.2粉尘测试
☆测试数量:
2部
☆样品状态:
处于插卡开机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆测试方法:
确认样机试验前状态后,将手机放入试验箱内8小时;要求粉尘能通过筛孔为75μm、金属丝直径为50μm的方孔筛的干燥滑石粉,密度为2kg/m3。
☆测试标准:
手机显示区域没有明显异物,按键灵敏度应完好,不能有失效的现象,通话音质正常,扬声器音质正常。
4.3.3静电测试
☆测试数量:
10部
☆样品状态:
处于插卡开机状态(滑、翻盖机50%开,50%合)
☆试验环境:
室温25±10℃/RH45±15%
☆测试方法:
处于待机和通话状态(话机插入SIM卡,拨打112电话或进行有效通话),并放于静电测试台的绝缘垫上,分别测试与充电器相连进行充电的状态和不连接充电器单靠电池供电的状态.打开静电模拟器,分别进行以下ESD模拟测试:
A、调节为空气放电方式,选择+/-14Kv,对手机的机壳、接缝、按键、孔隙等部位(静电可能通过空气放电的方式进入机体的部位)的测试点连续放电2次,每放电一次样品测试部位须对地放电一次,每做完一个部位的测试,检查手机外观功能,并观察手机在测试过程中有无死机、通信链路中断、LCD损坏、自动关机等现象。
B、调节为接触放电方式,选择+/-6kV,对手机所有裸露的导电部位(裸露的金属件)的测试点连续放电2次,每放电一次样品测试部位须对地放电一次。
每做完一个部位的测试,检查手机外观功能,并观察手机在测试过程中有无死机、通信链路中断、LCD损坏、自动关机等现象。
C、注意事项:
放电回路电缆与受试样机的距离至少应保持5cm;静电枪枪头应保持与实施放电的表面垂直;放电频率为每秒1次,连续单次放电之间的时间间隔至少1秒;受试样机与实验室墙壁和其他金属性结构之间的距离最小1m;受试样机保持与水平偶合板各边的最小距离为0.1m,且样机与水平偶合板上的绝缘垫边缘距离至少0.1m;测试时连接量产产品所配充电器;与充电器相连进行测试时,需要检测带充电器时和拔除充电器后二种状态下的功能是否正常;对于线状缝隙,每隔0.5cm选择一个测试点小于0.5cm选择一个测试点,对于直径0.5-1cm圆形缝隙,在圆形缝隙四周均匀地选择四个测试点,直径小于0.5cm圆形缝隙,在圆形缝隙四周均匀地选择2个测试点,对于直径1cm以上圆形缝隙,在圆形缝隙圆周线地每隔0.5cm选择个测试点。
☆测试标准:
样机出现功能暂时性(失效时间大于3秒)或永久性(故障不可恢复)失效,应判为不合格;样机出现屏闪或3秒内可以自行恢复之故障判为合格;样机出现严重外观不良(如镜片和装饰牌出现严重掉漆),应记录并报告技术部确认;测试后若样机出现电流射频指标降级故障应记录并报告技术部确认。
4.4寿命耐久性测试
寿命耐久性测试
翻盖寿命测试
按键寿命测试
滑盖寿命测试
耳机口插拔测试
I/O口插拔测试
电池/盖插拔测试
马达寿命测试
受话器寿命测试
麦克风寿命测试
扬声器寿命测试
触摸屏寿命测试
手写笔插拔测试
存储卡插拔寿命
SIM卡拆装测试
4.4.1按键寿命测试
☆测试数量:
2部
☆样品状态:
开机状态
☆试验环境:
室温20±5℃
☆测试方法:
确认样机试验前按键状态后,在开机状态下,以50-60次/min的速度、1N力度均匀地按键,按下、松开为1次,连续按压15万次。
每进行10000次时各检查手机的按键弹性及性能。
☆测试标准:
手机按键的弹性及功能正常,开关机功能正常。
4.4.2滑盖命测试
☆测试数量:
8部
☆样品状态:
处于插卡开机状态
☆试验环境:
室温20±5℃
☆测试方法:
确认样机试验前状态后,固定在测试夹具上,以30~40次/分钟的速度滑动滑盖,来回为1
次,要求滑盖达到最大滑动位置,连续滑动8万次。
前5万次每进行1万次检查1次。
后3万次,每
进行到5000次时各检查手机一次,完成8万次时对手机进行外观结构和功能的检查。
☆测试标准:
8万次后,手机滑轨及FPC功能正常,机壳无开裂等现象,滑轨弹力衰减不超过30%;测试中手机应无关机、白屏等异常,手机应无结构(进程中出现干涉,松动,响声等),
外观(严重掉漆磨损、裂痕等)异常。
4.4.3翻盖命测试
☆测试数量:
8部
☆样品状态:
处于插卡开机状态
☆试验环境:
室温20±5℃
☆测试方法:
确认样机试验前状态后,固定在测试夹具上,以30~40次/分钟的速度翻动翻盖,来回为1
次,要求翻盖达到最大转动位置,连续翻动8万次。
前5万次每进行1万次检查1次。
后3万次,每
进行到5000次时各检查手机一次,完成8万次时对手机进行外观结构和功能的检查。
☆测试标准:
8万次后,手机转轴及FPC功能正常,机壳无开裂等现象,转轴力度衰减不超过30%;测试中手机应无关机、白屏等异常,手机应无结构(进程中出现干涉,松动,响声等),外观(严重掉漆磨损、裂痕等)异常。
4.4.4电池/电池盖插拔测试
☆测试数量:
2部
☆样品状态:
关机状态
☆试验环境:
室温20±5℃
☆测试方法:
确认样机试验前状态后,取下样机电池盖装上电池,再取下电池装上电池盖;重复以上动作500次,每分钟约20次左右;试验后检查手机外观及功能。
☆测试标准:
电池推钮弹性良好,电池触片及电池连接器无明显变形,电池无掉漆现象,可正常开机;电池盖与壳体配合正常。
4.4.5I/O口插拔测试
☆测试数量:
2部
☆样品状态:
开机状态
☆试验环境:
室温20±5℃
☆测试方法:
1.确认样机试验前状态后,将配套数据线和手机固定在测试夹具上,数据线插头以每分钟15次的速度对手机I/O口连续插拔3000次,每插拔300次进行功能检查。
2.确认样机试验前状态后,使用配套数据线以每分钟15次的速度对手机I/O口手工连续插拔500次,每插拔50次进行功能检查。
☆测试标准:
数据线与手机的配合松紧度应正常(可以承受得住手机本身的重量),手机及数据线可以正常充电、传输数据。
4.4.6耳机口插拔测试
☆测试数量:
2部
☆样品状态:
开机状态
☆试验环境:
室温20±5℃
☆测试方法:
1.确认样机试验前状态后,将配套耳机和手机固定在测试夹具上,耳机插头以每分钟15次的速度对手机耳机口连续插拔3000次,每插拔300次进行功能检查。
2.确认样机试验前状态后,使用配套耳机以每分钟15次的速度对手机耳机口手工连续插拔500次,每插拔50次进行功能检查。
☆测试标准:
耳机与手机的配合松紧度应正常(可以承受得住手机本身的重量),手机及耳机功能正常。
4.4.7SIM卡插拔测试
☆测试数量:
2部
☆样品状态:
关机状态
☆试验环境:
室温20±5℃
☆测试方法:
确认样机试验前状态后,插上SIM卡,然后取下SIM卡,再重新装上,重复以上动作200次;每插拔50次检查开机识卡是否正常。
☆测试标准:
SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常,无变形、断裂现象,手机功能使用正常。
4.4.8存储卡插拔测试
☆测试数量:
2部
☆样品状态:
开机状态(支持热插拔的机型要求开机测试,其它关机进行)
☆试验环境:
室温20±5℃
☆测试方法:
确认样机试验前状态后,插上存储卡,然后取下存储卡,再重新装上,重复以上动作200次;每插拔50次检查开机识卡是否正常。
☆测试标准:
存储卡触片、存储卡推扭开关正常,无变形、断裂现象,手机功能使用正常。
4.4.9手写笔插拔测试测试
☆测试数量:
2部
☆样品状态:
开机状态
☆试验环境:
室温20±5℃
☆测试方法:
确认样机试验前状态后,将手写笔插在手写笔插孔内,然后拔出,手工反复插拔3000次。
☆测试标准:
测试完成后,手写笔应无松动、断开等不良,与壳体的配合没有松动的现象
4.4.10触摸屏寿命测试
☆测试数量:
2部
☆样品状态:
开机状态
☆试验环境:
室温20±5℃
☆测试方法:
确认样机试验前状态后,将手机固定在测试夹具上,进行下列测试:
A.点击测试:
将配套手写笔固定在测试夹具上,按压速度为2次/s,按下、松开为1次,共点击30万次,每进行20000次时检查手机一次;无配套的手写笔时使用笔头R0.8mm的PC料手写笔。
B.划线测试:
将配套手写笔固定在测试夹具上,采用250g的力划线10万次,一个来回为1次.划线行程40mm,每进行10000次时检查手机一次.无配套的手写笔时使用笔头R0.8mm的PC料手写笔。
☆测试标准:
测试完成后,手机触摸屏应功能正常,触摸屏表面允许有轻微划痕。
4.4.11扬声器寿命测试
☆测试数量:
4部
☆样品状态:
开机状态
☆试验环境:
室温20±5℃
☆测试方法:
确认样机试验前状态后,将手机设置成最大音量长时间播放状态(采用播放MP3,循环连续播放),连续播放时间不少于96H。
推荐选用:
《SuperStar》/《独家试唱》等音频较高的歌曲;测试中突然掉电不超过1分钟可以累积测试时间,超过1分钟必须重新计算。
需循环播放不同频率成分的歌曲(如:
高频、低频成分多的音乐,六月的雨、青藏高原等10首推荐歌曲)。
☆测试标准:
铃声播放正常,无无铃声、铃声沙哑等现象。
4.4.12马达寿命测试
☆测试数量:
4部
☆样品状态:
开机状态
☆试验环境:
室温20±5℃
☆测试方法:
确认样机试验前状态后,进入手机工程模式,选择Vibrator连续测试96小时.
☆测试标准:
测试完成后,手机的振动功能应正常,无不振动、振动杂音、振动弱等异常。
4.4.13麦克风寿命测试
☆测试数量:
2部
☆样品状态:
开机状态
☆试验环境:
室温20±5℃
☆测试方法:
确认样机试验前状态后,进入手机工程模式,选择Echoloop连续测试96小时.
☆测试标准:
测试完成后,手机的通话功能应正常,无杂音。
4.4.14受话器寿命测试
☆测试数量:
4部
☆样品状态:
开机状态
☆试验环境:
室温20±5℃
☆测试方法:
确认样机试验前状态后,进入手机工程模式,选择Receiver连续测试96小时
☆测试标准:
测试完成后,手机的通话功能应正常,无杂音。
4.5表面处理耐久性测试
表面处理耐久性测试
附着力测试
表面硬度测试
人工汗测试
酒精擦拭测试
表面耐磨测试
4.5.1表面耐磨测试
☆测试数量:
2部
☆样品状态:
关机状态
☆试验环境:
室温20±5℃
☆测试方法:
确认样机试验前状态后,根据不同表面工艺和位置用专用的NormanRCA耐磨测试仪及专用的纸带施加175g的载荷,带动纸带在样本表面连续磨擦50-300个循环。
☆测试标准:
见下表。
纸带耐磨判定标准
材料
接受转次
判定标准
油漆正面、斜面和弧面、金属表面喷漆后过UV
300循环
每50循环检查机壳表面的油漆,至250循环时,每10循环检查机壳表面的油漆,被测面无见底材为合格。
侧棱角、不在外露面的滑轨
装整机后,能接触到的A、B面棱角(翻盖、滑盖需处于盒盖状态),需100圈以上。
其它位置需满足下面要求:
a)R0.3,RCA测试大于等于25循环
b)R0.5,RCA测试大于等于50循环
c)R0.75,RCA测试大于等于100循环
d)小于R0.3,只做参考,但是保证用拆机片拆装机5次无明显掉漆。
每10循环检查一次,被测面不见底材为合格。
电镀件、烤漆、喷砂
250循环
每50循环检查一次,至250循环时第10循环检查一次,无见底材时为合格。
真空电镀(包括镀金)、丝印后过UV、金属表面真空镀后过UV、PVD
200循环
每50循环检查一次,至150循环时,每10循环检查一次。
被测面无见底材;丝印和字体不能出现缺损,不清晰。
UV表面丝印
200循环
每50循环检查一次,至150循环时,每10循环检查一次。
被测面无见底材;丝印和字体不能出现缺损,不清晰。
滑轨背面丝印
100循环
每50循环检查一次。
被测面无见底材;丝印和字体不能出现缺损,不清晰。
橡胶漆
50循环
每10循环检查机壳表面的油
- 配套讲稿:
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