EXFO FTB52405240B光谱分析仪使用指导书B.docx
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EXFOFTB52405240B光谱分析仪使用指导书B
资料编码
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V1.0
EXFOFTB-5240_5240B光谱分析仪使用指导书
拟制:
日期:
审核:
日期:
审核:
日期:
批准:
日期:
华为技术有限公司
版权所有XX
修订记录
日期
修订版本
描述
作者
2007-11-19
1.0
根据厂家资料完成初稿
吕振华
图目录
关键词:
EXFOOSNRCRZDRZ
摘要:
本文介绍了用EXFOFTB-52405240B光谱分析仪对常见指标测试的操作指导。
关于仪表的详细随机操作手册,请联系仪表供应商获取。
因涉及版权问题,本文不做引用。
缩略语清单:
无
参考资料清单:
无
EXFOFTB-5240_5240B光谱仪使用指导书V1.0
1概述
目前有多种光谱分析仪可用于波分常见指标的测试,其中就包括了EXFO公司的FTB-5240_5240B光谱分析仪。
本文仅针对此光谱分析仪在进行波分常见指标测量过程中涉及的特殊设置进行了必要的描述。
1.1功能
EXFOFTB-5240_5240B光谱分析仪可支持进行以下项目测试:
●DWDM常用维护项目指标
●OTU板的边模抑制比测试
●EDFA测试
●合波器、分波器的测试
●RZ码(CRZ,DRZ)测试
2DWDM常用维护测试项目
2.1常用模式下支持的DWDM测试项目
在常用模式下,EXFOFTB-5240_5240B光谱分析仪可支持的DWDM测试项目有:
●通道中心波长、频率(Spectral/FrequencyPosition)
●频率或波长间隔(DeltaSpectralPos.)
●峰值功率(PeakPower(Pp))、
●积分功率(IntegratedPower(Pi))
●当前通道与平均功率差(P-Pavg)
●当前功率与通道最大功率差(P-Pmax)
●xxdB光谱宽度(Bandwidthat*.**)
●左侧信噪比(LeftSNR)
●右侧信噪比(RightSNR)
●平均信噪比(AverageSNR)
●系统中最差信噪比(WorstSNR)
同时给出系统总的参数:
●平均波长(SpectralAverage)
●平均功率(PowerAverage)
●总功率(TotalPower)
●功率平坦度(PowerFlatness:
)
2.2操作指南:
●选择波长范围
主界面Control选择波长范围如图1(根据系统情况选择C或L或其它波长范围)ExitControl
图1波长选择范围
●分辨率带宽的设置:
主界面SetupSNRSetting作如下设置:
DistanceBetweenPeakandMidRange:
根据系统情况选择,如系统为100GHz通道间隔,输入数字为50GHz;如系统为50GHz通道间隔,输入数字为25GHz。
MeasurementRangeSize:
输入10GHz
ReferenceOpticalBandwidth:
输入0.1nm
如下图:
图2SNRSetting
点击OKExitSetup
●开始测试,记录结果
主界面Start得到如下结果:
图3测量结果
●如何查看其它界面上没有显示的相关的结果?
主界面SetupTestConfigurationResultsTabOptionsNormal选择所希望的结果(注:
在测试报告中会显示所有的测试结果,但主界面中由于空间所限,只显示部分结果)如下图选择3dB或20dB带宽:
图4测试结果
●点击ExitSetup退出。
●如何改变波长或功率单位?
主界面SetupDisplay选择dBM或Watt;nm或THz
●如何存储数据?
主界面StorageStoreFile选择路径和输入文件名
●如何打印报告?
主界面QuickPrintYes
3OTU板的边模抑制比测试
3.1操作指导
●在常用模式(Normal)下测试OTU板的光谱(参阅第一部分DWDM常见测试项目),测试结果如下图:
图5测试结果
●调出DFB测试模式
主界面SetupTestConfigurationActiveApplication选择DFBResultTabOption选择DFB选择WorstSMSR
如下图:
图6DFB模式
●点击ExitSetup退出
●查看结果:
主界面DFBOperationInput选择对应的DFB光谱图如上图的Trace4Result记录边模抑制比值WorstSMSR如下图:
图7选择Trace4
图8WorstSMSR
4EDFA测试
4.1EDFA测试项目
在EDFA测试模式中主要可以提供如下的测试项目:
●信号波长或频率(Spectral/FrequencyPosition)
●噪声指数(NoiseFigure)
●信号比率(S.Percent)(P.OUT/[P.OUT+P.ASE]).
●输入信号功率(P.In)
●输出信号功率(P.Out)
●ASE信号功率(PASE:
)
●SSE信号功率(PSSE:
)
●增益(Gain)
●当前信号增益与平均增益差(G.-Gavg:
)
同时EDFA测试界面还给出如下总参数:
●平均增益(Gavg.)
●增益平坦度(G.Flat)
●输入信号平坦度(PinFlat)
●输出信号平坦度(PoutFlat)
4.2操作步骤
●选择一个Trace,如Trace1利用常用测试模式(Normal)测试EDFA输入端光谱(请参阅“DWDM常用测试项目”),得到如下谱图:
图9EDFA输入端光谱
●选择另外一个Trace如Trace2,测试输出端光谱(同上)。
图10EDFA输出端光谱
●选择对应的信号通道:
主界面SetupChannelsCurrentValueExitSetup
图11选择对应信号通道
●采用EDFA模式进行分析
1)主界面SetupTestConfigurationActiveApplication选择EDFAResultTabOption选择EDFA
图12选择EDFA
2)主界面EDFAOperationInputSelectTrace选择输入端的信号如本例的Trace1OutputSelectTrace选择输出端的信号Result如下图:
图13选择输入端输出端信号
图14EDFA测量结果
5合波器、分波器的测试:
5.1合分波器测量指标
在光谱仪的谱损测试界面中,主要对合波器、分波器作如下参数的测试:
●器件中心波长;
●器件的插入损耗;
●器件的3dB带宽;
●器件的20dB带宽;
●器件插损的平坦度(波纹Ripple);
●器件相邻通道和非相邻通道的隔离度
5.2操作步骤
测试过程分如下几个步骤:
●使用光谱仪测试宽带光源的光谱(采用常用模式(NormalMode))
测试结果,如下图:
图15测试宽带光源测量结果
●测试宽带光源信号经过被测器件(如合波器或分波器)后的光谱(采用常用模式(NormalMode))
测试结果如下图:
图16经被测单元后的测量结果
●使用谱损测试模式(spectraltransmittancemode)对器件进行测试,测试结果包括插损、带宽等内容
主界面SetupTestConfigurationActiveApplication选择SpectralTransmittanceResultTabOption选择SpectralTransmittance
图17谱损测试模式
主界面SpectraTransmittanceOperationInputSelectTrace选择输入端的信号如本例的Trace1OutputSelectTrace选择输出端的信号Result如下图:
图18选择输入输出信号
图19谱损测量结果
图20结果显示
6RZ码(CRZ,DRZ)测试
6.1操作指导:
●选择好通道列表,主界面-setup-channels-recalllist-选择一个跟需要测试的WDM波长间隔相同的通道表-exitsetup
●在常用模式(Normal)下测试WDM通道的光谱(参阅第一部分DWDM常见测试项目),测试结果如下图:
图21测量结果
●调出channelanalysis模式
主界面SetupTestConfigurationActiveApplication选择channelanalysisResultTabOption选择channelanalysis,点击ExitSetup退出
●查看结果:
主界面channelanalysisOperationInput选择对应的WDM光谱图如上图的Trace1Result查看你需要分析的通道值。
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