太阳能电池片丝网印刷知识点汇总.docx
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太阳能电池片丝网印刷知识点汇总
显现过一种降级的电池片,是由于刮刀有缺口,造成三根主栅上都有一条突起的刮痕,容易引发包装碎片和焊接碎片,希望各班引以为戒,发觉相似的问题,及时改换刮条。
G档分类
一、扩散面放反:
Uoc:
—Isc:
1左右Rs:
100-200左右Rsh:
10之内,约为1
FF:
50之内(30-40)Irve1:
12(也有正常的)Ncell:
2%左右
要紧参数特点:
Irev1>12,Rs>100,Isc=1左右。
说明:
扩散时下面和反面都成N型,但反面N型扩散的结浅,扩散面放反后,原下面的N型被Al搀杂为P型,原反面的浅结很容易被烧穿。
二、部份扩散:
Uoc:
—Isc:
3—4Rs:
10—20Rsh:
10之内
FF:
50-60左右Irev1接近12Ncell:
10%左右
要紧参数特点:
Isc减小,Rsh<5,η=10
说明:
与上一个情形类似,下面有很多浅的结(被遮住的部份),形成局部烧穿漏电。
3、正面粘有铝浆
Uoc左右Isc:
3左右Rs负的Rsh:
0Irev1>12
Ncell<1%FF:
24—25
要紧参数特点:
Rs=-30mΩ,Rsh=0,Irve1>12
4、N型片或高度补偿
UocIsc:
5左右Rs-20左右Rsh:
0
Ncell:
2-3%FF:
100—200
要紧参数特点:
Rs<0,Rsh=0,FF>100,Irev1=
说明:
N型片反面印刷铝浆后成为P+型,下面扩散后形成N+型,从而产生电流。
五、方块电阻偏大
UocIsc:
4左右Rs:
20左右Rsh:
10-20
Ncell:
10%左右FF:
50—60Irev1接近1
要紧参数特点:
Rs偏大,Isc偏小,Rsh偏小
说明:
方块电阻不均的直接阻碍确实是薄层电阻,另外应为方块电阻偏大,致使薄层电阻偏大,串联电阻增大。
六、方块电阻偏小
Uoc左右Isc:
3左右Rs:
左右Rsh:
以下
Ncell:
1%左右FF:
24多一点Irev1>12
7、没有扩散
Uoc左右Isc:
左右(正常偏低)Rs=0或为负Rsh<10或为0
Ncell:
为0FF:
300-800Irev1接近12或大于12
要紧参数特点:
电压和电流大体为0,串联电阻为0.说明:
没有P-N结。
八、银浆混合不均匀
Uoc左右Isc:
左右Rs=3-6Rsh:
60-90
Ncell:
10%左右FF:
50左右Irev1<
要紧参数特点:
串联电阻偏大,短路电流偏小,并联电阻偏大
说明:
玻璃粉偏少,银不能与硅充分结合,从而增大了串联电阻。
并联电阻的增大是由于复合中心的减少(一样在金属电极与硅接触的地址会形成复合中心)。
九、刻蚀未刻透
Uoc左右Isc:
1左右Rs=0左右Rsh:
1-2
Ncell:
1-2%左右FF:
30-40Irev1>12
10、刻过,将PN结侵蚀掉了。
Irev1专门大。
1一、不明缘故
UocIsc:
Rs:
-2000左右Rsh:
1-4
Ncell:
1左右FF:
30-40Irev1>12
要紧参数特点:
Rs<1000mΩ,Irve1>12
说明:
应为严峻烧穿。
特殊:
Uoc,Isc,Rs,Rsh,η,FF,Irve1>12
1二、测试异样:
Rs值达到数千,这应该是软件问题。
重装软件时,DB和DATA不用拷贝,其它文件直接覆盖,Irev1=0,应该是反向偏压设置错了。
13、周边未刻蚀。
Rsh<1,Irev1>12
排查G档片缘故的步骤:
一、看电性能参数,然后对照G档片缘故分析表,看一下是不是以前曾显现过类似情形,只是G档片分析表只能做为参考,不该看成证据指证任何工序。
二、观看外观是不是有异样,如下:
①背场是不是有滚轮印(4条),判定是不是为RENA刻蚀不透。
②观看是不是为击穿和隐裂。
③观看是不是有边缘漏浆的现象。
④观看是不是背电极印偏的现象。
⑤观看是不是有微晶现象(1厘米内的晶粒数多于10个)。
⑥观看是不是有手指印现象。
⑦观看是不是有断栅的现象。
⑧观看背场是不是有特殊的图形和印迹。
⑨观看是不是有刻蚀线,假设没有能够尝试打磨。
3、观看烧结炉是不是炉温存在异样波动,假设Rs偏大的片子较多能够重烧。
4、观看测试是不是有异样,将G档片放入其他线进行测试。
五、假设为Rs偏大,能够改换网版刮刀浆料,有可能为浆料搅拌不均匀,或被污染或干浆料瓶料瓶底料。
六、片源是不是为实验片,是不是为板P,是不是为返工片,是不是前面有流程卡混乱的情形。
烧结炉进水压力和出水压力都在4-6之间,假设有异样通知设备人员放水,同时观看过滤网是不是有杂质附着,假设堵塞,会进水,压力>,出水压<4.
在做板式PECVD出来的硅片,将会有4个对边散布挂痕,在丝网印刷的第一台背极印刷,放片时,要尽可能将挂痕压在主栅线上,如此使PECVD尽可能不阻碍硅片的外观。
烘干炉停下以后,降温以后,再启动容易在炉顶上凝结,有机物液滴,有可能滴到片子或托盘上,需要事前擦一下,专门是背场烘干炉。
排查G档片缘故和步骤:
一、扩散面放反和未扩散电池片的区分(多晶)
一、电性能上,放反和未扩散是没有不同的,均为无Uoc,Isc,Irev1>12,那个地址的无Uoc,Isc是指Uoc<,Isc<1mA.
缘故:
因为不管是未扩散仍是放反,在电池片的正面都没有形成有效的N层,即没有PN结,因此没有Uoc,Isc,又因为电池片为基片,姑子一个P型半导体,是能够导电的,因此正面和反面短接,Irev1>12.
二、外观上,放反的电池片是在二次清洗完成以后至PE镀膜之前,由于特殊缘故造成扩散面(N型)向下,非扩散面(P型)向上,在非扩散面镀膜,当测试光阴线照在非扩散面时,全然没有电流产生,因此效率接近0.在外观上,放反的电池片扩散工艺正常,二次刻蚀也正常,因此在扩散面的边缘会有刻蚀痕迹显现,当扩散面放反时,这些刻蚀痕迹会出此刻电池片的反面,可是反面咱们会印刷上背电场,在背电场的边缘会有刻蚀痕迹。
而未扩散的电池片,由于没有进行扩散,因此没有形成磷硅玻璃,而磷硅与玻璃具有亲水性,能够吸附HF和磷硅玻璃和磷硅玻璃以下的硅层反映,进而把PN结去除,若是没有磷硅玻璃,电池片的表面呈现钝化成效,因此阻碍了HF和硅层反映,因此现在,从外观上看,电池片的正面和反面都没有刻蚀痕迹。
3、P-N型。
通过利用万用表测量电池片的P-N型,也能够判定为何种G档片,未扩散的电池片,正反面都没有PN结,即都不存在N型导电区域,因此在利用万用表测量其表面电阻时,它的值应在104Ω左右。
而扩散面放反的电池片,其正面也是P型区域,表面电阻为104Ω左右,但反面应该存在N型区域,用万用表测量表面电阻时,就在10Ω左右。
引发Rs偏大的缘故:
一、假设发觉某个时刻以后,突然整体偏大,或是中断性显现Rs偏大,是很有可能为印刷成效不行造成栅线和硅片之间没有形成合金层,有间隙,造成Rs偏大,而现在的印刷成效与压力很相关,将压力增大,然后再等一会,观看成效,一样会好转。
二、一样Uoc,Isc偏低的Rs大的G档片,有可能为烧结缘故造成的。
而Uoc,Isc偏高的Rs大的G档片有可能为方块电阻偏高的缘故造成的。
高串联电阻片:
烧结后的电池片,经测试,串联电阻高达10uΩ以上。
缘故:
一是烧结温度与正电极浆料不匹配;二是正电极浆料被污染;三是由于正电极印刷不良;四是方块电阻异样。
处置方式:
第一停止正电极印刷后硅片的流出,检查烧结工艺是不是有报警,然后用调墨刀把正电极网版底部的浆料铲出去,添加新浆料试印刷5片流下去看成效,若是串联电阻仍是比较高,从头换掉网版试印刷5片流下去看成效,问题尚未解决的话从头开一瓶新浆料。
测方块电阻,取3片Rs>10mΩ,再取Rs正常的2片电池片去测量方块电阻进行对照,假设有不同(即Rs偏大与方块电阻的数值偏大正相关),那么说明这是由于方块电阻异样偏大所致使的Rs偏大,通知扩散工艺员。
需要咱们对前道工艺有所了解。
(比如各个中心方阻操纵在多少,是双面扩仍是单面扩,大绒面和小绒面,酸制绒和碱制绒,干刻和湿刻都需要了解清楚)
若是测试机有问题,先走标片,再走重复性,最后互测,观看是哪个参数有异样,若是是串联电阻互测误差较大(大于Ω)引发填充因子的误差,就需要通知设备人员到场解决。
若是烧结炉有问题,炉温波动较大(温度波动超过6℃)升高炉温或是降低炉温观看一下成效。
第三台丝印机有问题,先改换浆料观看成效,再调剂印刷参数观看成效。
然后再排查一下前两台印刷机是不是有问题。
工艺员的处置原那么:
先弄清楚问题是不是真的发生。
问题什么缘故发生。
善后和幸免此类问题再次发生
排查异样情形的缘故时最经常使用的,最有说服力的方式确实是对如实验:
测试系统的互测(10片)
烧结炉的精准对照(20片)
丝印+烧结的精准对照(20片)
丝印整条线的精准对照(100-200片)
在碰到突发的异样情形时:
先看一下从其他线拿几片电池片在显现异样的生产线测试一下,排查一下测试
在看一下烧结炉温图像是不是有异样
再看一下正电极是不是刚加入浆料。
分析异样电池的方式有:
电性能/数据趋势分析
外观(包括测试栅线宽度)
EL测试
方块电阻
PN型测试
打磨/重烧
电性能/数据趋势分析:
开路电压、短路电流和漏电是实测的值,即即是异样电池片这三个值也是能够反映电池片的性能。
而串联值和填充因子是通过IV曲线来模拟近似计算出来的结果,在测试异样的电池片时IV曲线可能是较特殊的曲线,而现在模拟近似处置的结果有可能就不准确了,例如:
串联成百上千,或是负数等,只能作为参考值。
常见的问题能够通过数据趋势的分析可能取得结论,从而节省了排查时刻,提高准确性。
常见问题:
理论上每一片电池的电性能都是不同的,他们的温度和光强也是不同的。
若是发觉他们的测试结果有一项一直是相同的,这就极有可能是测试机显现了问题。
例如测试温度一直是一样的,那就有可能是测温探头失灵了。
光强一直是一样的,那就有可能标片上有异物盖上了,或是氙灯坏了。
无开压和短流,而且漏电专门大的情形极有可能为放反或是未扩散。
开压短路低一些,而且串联电阻偏低的情形有可能为片源问题。
短路电流偏高而串联电阻偏高,有可能是栅线印刷过窄造成的。
短路电流偏低有可能是栅线印刷过宽造成的。
开压和短流偏高,串联很高,有可能是方阻扩散较大造成。
开压短流正常,只有串联专门大时,有可能是浆料问题也有可能是烧结炉的问题。
若是一条线和另一条线相较串联很稳固,只是稍大1mΩ左右,有可能是测试串联偏大,有可能是烧结炉温设定的问题,也有可能是栅线宽度的问题,也有可能是浆料轻微污染。
外观排查:
观看电池片的边缘是不是有漏浆(漏电大)
观看电池片是不是有印裂(漏电大)
观看电池片是不是有击穿(漏电大)
观看电池片是不是有边框拉毛(漏电大)
观看电池片是不是严峻的网纹(效率低,漏电大)
观看电池片是不是有微晶(效率低,漏电大)
观看电池片是不是有黑边(黑边很重,有可能漏电大;没有刻蚀痕迹,也可能漏电大,但打磨有效)
观看电池片反面是不是有滚轮印(有可能漏电大)
观看电池片反面是不是有铝刺
观看电池片反面是不是有鼓包(温度太高,印刷不均匀或浆料搅拌不均匀)
观看电池片反面是不是有脱落和掉粉
观看电池片反面边缘是不是发白(PE绕射)
观看电池片是不是有正电极脱落背电极(印刷过厚)
测量电池片的细栅线宽度是不是超过范围(120μm)
外观排查总的原那么是:
不阻碍电性能,不阻碍包装碎片,不阻碍焊接
EL测试:
EL正偏发亮的区域表示此区域结特性正常,发暗的区域说明一种可能是那个区域的少子寿命很低,载流子无法起到传送电流的作用,另一种可能是那个区域电极和电池片之间的接触电阻专门大,还有一种可能是没有形成pn结。
EL反偏发亮的区域的区域说明该区域有漏电,发暗的区域说明该区域没有漏电。
方块电阻
利用四探针测试未烧结之前的电池片更有说服力。
单晶方阻45±5多晶方阻54±6是目前扩散的正常方阻。
可是若是在烧结以后测试到方阻为70以上的时候,这就说明方阻有问题。
pn型测试
利用万用表的KΩ档,测量其表层的电阻值。
1,若是电池片表层有氮化硅层,而氮化硅层可不能导电,将会阻碍其测量的阻值。
因此需要利用探头将电池片表层反复磨蚀,去掉氮化硅的颜色才能够进行测量。
2,两个探头间相距左右
3,当测得的结果为10~100Ω左右时,即为N型导电层;
当测得的结果为10000Ω左右时,即为P型导电层。
N型导电层导电电阻值低的缘故:
1,在扩磷的进程中,扩散面相对与基底为重搀杂,因此产生的导电离子较多,因此电阻值会降低。
2,N型导电粒子比P型导电粒子更为活泼,导电能力更强。
正常情形下电池片正面为n型,电池片的反面为p型,若是测试到电池片的正面为p型那么说明正面没有扩散进入磷,或是扩散的磷被刻蚀掉了。
打磨/重烧
针对漏电较大的电池片,而且外观上没有看到刻蚀痕迹,EL图像显示漏电发生在电池片边缘,能够进一步进行打磨,可是要注意一下几点:
利用细砂纸进行打磨,否者容易蹦边。
电池片的每一个边缘都必需要打磨到,导角处也必然要打磨干净。
丝印的返工片不需要打磨,它确信没有成效。
针对疑心没有烧结透的电池片,能够重烧一下。
重烧之前需要测试电性能,以便和重烧后的电性能对照。
重烧的时候需要在电池片下面垫上假片,避免背场铝珠。
若是重烧以后串联降低,那么有可能是未烧透;若是重烧后串联增加,漏电增大,那么有可能是过烧了。
漏电缘故
一、印刷铝浆时网版的漏浆及承印面感光纸没有及时改换所致。
二、表面杂质:
主若是生产进程中环境因素阻碍,在镀膜面上留下杂质,印刷时若是和电极重合,在高温烧结时进入PN结致使漏电。
3、浆料污染:
银浆长期暴露在空气中,多次印刷进程中有杂质混入,最终表现出来漏电。
4、烧结温度的操纵,若是烧结温度太高或是硅片本身某个区域有很深的制绒深洞,在烧结时那么会造成烧穿,Irev1增加。
五、扩散时,某些区域扩散的P很薄,或是没有扩散,那么会造成正极和背场导通造成Irev1专门大。
六、在硅片的生产传递的任何一个环节,对硅片的污染(即便戴上乳胶手套或是吸笔的碰触)均会引发Irev1偏大。
单晶更为明显,板P更为明显。
7、微晶片(1厘米内晶粒数量达到或超过10个),在有微晶的位置,杂质C和O含量较高,更易造成Irev1专门大。
八、网纹存在的位置氧含量较高,更易被侵蚀,绒面更深,所之外观上发暗,也更易击穿或是Irev1偏大。
九、硅片本身的杂质含量较高的硅片强烈依托背场的钝化和吸杂,假设存在背场或是背电极印偏的情形有反面没有被背场Al浆所覆盖的话,那个区域由于没有通过钝化和吸杂容易显现Irev1偏大。
烧结炉温度波动较大:
10-30度属于炉温异样波动,在有电池片在炉内的情形之下,一样炉温波动在5度之内,大体是直线,高功率的加热区所利用的加热管易显现这种问题,烧结炉长期关闭冷却,从头利历时和新换上高功率的加热管时易显现这问题。
缘故:
当烧结区温度太高时,达到温度操纵的上限时,加热管所显示的功率慢慢接近0%,表示加热管停止工作。
现在,炉温开始下降,烧结区的温度急剧下降,降到烧结温度的操纵下限以下,现在加热管全速启动来加热升温,加热管所显示的功率由0%上升到最大值(一样设定为70%),专门快烧结区的温度又变得太高,达到和越过温度操纵的上限,如此周而复始,炉温记录曲线图象接近正弦波,周期为.
解决方案:
一、炉温波动过在大的本质是,加热管功率猛烈起伏,接近于共振,而解决共振的一个方式即是扰动,将烧结炉完全关闭冷却,再从头启动,相当于一次完全的庞大的干搅,但不是必然会好转。
二、在烧结区的炉温超过下界时,加热管的功率加大,正在全速加热时,通过减小加热管输出功率的方式,减缓炉温上升的速度,使炉温慢慢上升到平均值,进而达到稳固,可是容易造成炉温猛烈波动,引发G档和DE档片,同增,要谨慎利用。
3、通过操纵输出功率的大小的将炉温维持在比较稳固的水平,维持一段时刻炉温比较稳固。
炉温急停的处置方式:
一、通知设备尽快将传送带启动,将所有烧结炉内的电池片掏出。
在掏出的进程中要注意,接近出口的3-5片能够正常流入测试,背场发黄,变色或是部份发黄变色,为过烧,过烧的电池片也没必要截下,都能够交给质量组长进行外观判定。
二、将其它所有烧结炉内的电池片尽快掏出(保证正面对正面,反面对反面,避免将正面污染,造成Irve1档),若是烧结停马上刻太长,掏出未烧透的电池片,流出时会有背电场脱落,正电场部份脱落的现象,将这两类片子掏出待处置,将其它片子掏出,再次流入烧结炉,掏出后交给质量组长进行外观判定。
3、将栅线脱落的电池片交给质量组长进行外观判定。
4、将背场脱落严峻的电池片,背场刮净待以后从头印上背场,背场部份脱落,又无法刮净的电池片交给质量。
五、统计由于烧结急停造成的碎片,由栅线脱落背场脱落,铝珠,弯曲等造成碎片,和印残(栅线脱落等造成的印残)。
六、从头开线,确认炉温,冷却水等。
取片子时,针对那些背场未烧透,发白的电池片,要用泡沫盒或用插片盒装盛,现在的背场极易脱落和划伤,警惕拿取,且不益寄存时刻太长,应及时处置。
7、烧结炉报警灯的顶端红灯假设是亮起,代表烧结炉在2分钟之内确信会停止工作,要通知丝印,停止生产。
加热管的结构形式:
为实现烧结段的温度尖峰,需在很短的炉膛空间内布置足够的加热功率,目前,有短波孪管和短波单管两种结构能够选择,其线性功率密度均达到60KW/m2。
尽管短波孪管拥有更高的单根功率(相当于两根单管并联),但由于其制造工艺复杂,对石英玻璃管的质量要求更高,制造本钱约是单管的倍。
因此,在实际利用中,大多采纳单管。
加热管的固定形式:
烧结段的温度峰值在850度左右,现在灯管的表面温度将达到1100度,接近石英管的利用极限,略微过热产动气孔就会立刻烧毁灯管。
而在灯管的引出导线部位,由于焊接导线的金属片和石英玻璃密封在一路,二者热膨胀系数不一致,若是此处温度太高就会产生应力裂纹,造成灯管漏气。
因此,灯管在炉膛中的固定方式十分重要。
炉管结构设计:
太阳能电池片的烧结工艺决定了相邻两个温区的温度会有300度以上的落差。
尽管辐射加热具有专门好的定向性,可是在灯管和大体之间由于炉膛气氛的存在,在一部份能量会因对流和空气的冷却作用而损失,同时,高温区的热量有向相邻低温区扩散的趋势,这种热扩散会举高相邻温区的实际温度,阻碍温度尖峰的形成。
因此,如何减少空气的热损失和相邻温区的热扩散是炉膛结构设计的重点。
整个炉膛采取大加热腔小通道的结构,大加热腔能够提供足够的热量,减少热震荡,提高炉膛的温度均匀性;小通道能够使每一个温区的空间相对独立,减少对流,降低相邻温区间热扩散干扰,由于硅基片厚度曲线测量器件从炉膛通过,一样有效高度在30mm左右。
气氛布置:
一、烘干炉的气氛布置。
辐射加热迅速烘干浆料中的有机溶剂和水分,为有效地将废气排出,需领先合理的气氛流向。
外界的冷空气由鼓风机送入加热器,被加热到约200度,从顶部进入炉膛,分成左右两段,通过对流将烘干进程产生的废气携带至废气搜集管,在抽气烟囱的作用下排出炉膛。
通过这种强制热风对流循环,炉膛内的废气定向有序地排出,减少了对基片的污染。
二、预烧段的气氛布置。
辐射加热在迅速提高大体温度的同时,也会因灯管布置间距,电流通断时刻,辐射角度转变而造成大体受热不均匀。
而在炉膛内通入必然量的热空气,巧妙利用对流搅拌作用,使温度散布加倍均匀,排除基片产生热应力的隐患。
另外,预热时随着温度升高,浆料中的铝离子开始扩散挥发,为避免基片正反两面金属离子交叉污染,如何形成上下温区互不干扰的气氛流向是设计的重点。
3、烧结段的气氛布置。
烧结段灯管的表面温度极高,此处气氛布置的要紧目的是利用空气的冷却效应,使灯管维持在平安的利用温度之内。
冷紧缩空气自炉膛双侧的连接嘴通入,从灯管与安装孔的间隙吹进炉膛,一方面冷空气通过耐火层时被慢慢加热,可不能对温区温度产生扰动;另一方面,冷空气在灯管表面形成一层很薄的冷却层,避免灯管过烧,并给冷端降温。
4、降温段的气氛布置。
降温段的气氛布置相对简单,要紧作用是阻隔烧结段的热量扩散,因此,在烧结段与降温段之间的过度区,布置数道垂直的紧缩空气气幕,并结合水冷钢套的作用使热能被完全阻隔在烧结段内。
金属化工艺烧结进程
下面Ag-Si合金---反面Al-Si合金----H扩散进入Si体相,钝化缺点和杂质。
优化接触需三个进程有机协作:
一、正表面形成均一,低电阻和高分流电阻的欧姆接触,以提高Uoc和FF。
二、H深切扩散进入材料体相并钝化杂质和缺点,以产生高Isc和Uoc。
3、反面Al-Si合金区需形成大的P+-P场,降低反面复合,提高Uoc.
烧结对三个进程的阻碍方式不同:
温和烧结能取得较好的正面接触,可是H无法深度扩散入体相;强力烧结虽可取得好的背电场,但致使正面结合的分流—即并联电阻减小及H的溢出。
使电池效率最大化的一种方式是Tailor三个参数:
氮化硅层,正面的银浆,反面的铝刺,使它们的功能在同一个温度时刻进程中达到极大值。
Al-Si合金共熔温度835度,Ag的熔化温度度,而此刻的温度均低于这两个值。
烧结对电池片的阻碍:
相关于铝浆烧结,银浆的烧结更重要很多,对电池片电性能阻碍要紧体此刻串联电阻和并联电阻,即FF的转变。
铝浆烧结的目的使浆料中的有机溶剂完全挥发,并形成完好的铝硅合金和铝层,局部的受热不均和散热不都可能会致使起包,严峻的会起铝珠。
背场经烧结后形成的铝硅合金,铝在硅片中是作为P型搀杂,它能够减少金属与硅交接处的少子复合,从而提高开路电压和短路电流,改善对红外线的阻碍。
异样情形处置流程
一、Rs偏大
1、将Rs偏大的电池片掏出从头测试,检查是不是为测试误差致使的Rs偏大。
2、测试Rs偏大的电池片的栅线高宽,确认是不是为印刷(只指印刷状态)致使。
3、测试Rs偏大的电池片和正常的电池片的方块电阻,看二者之间是不是存在不同。
4、做交叉对如实验,确以为印刷工序(包括印刷状态和浆料)或烧结工序的问题。
5、拉炉温检测炉温是不是在正常范围内,如超出范围可适当调整。
检查印刷零点和网版刮刀
栅线高宽正常
检查方块电阻
Rs偏大
检查是否为测试导致
测试偏差导致
非测试导致
检查探针及夹手
栅线高宽异常
检查栅线印刷高宽
方块电阻异常
通知扩散,并检查未印刷的电池片,防止方块电阻大的电池片再流入丝网印刷
方块电阻正常
做交叉对比试验,确认浆料或烧结问题
浆料问题
更换网版刮刀,并报废浆料
烧结问题
拉炉温,根据炉温曲线调整
检查电阻率是否
二、Irev1偏大
一、取磨砂纸打磨电池边缘,使边缘露出亮亮的硅本色。
从头测试观测漏电是不是改善。
二、统计两条线数据,检查Irev1是不是有不同
3、检查烘干炉托盘和印刷轨道是不是清理干净
Irev1偏大
打磨电池片边缘
漏电无改善
漏电好转
统计两条线漏电差异(同一片源)
通知扩散检查等离子刻蚀,并要求生产将漏电大的电池片重新打磨
有差异
无差异
做对比试验
可适当根据管P或板P变换调整烧结,但调整幅度要小,无效果恢复
烧结炉导致的漏电大
印刷导致漏电大
清理烘干炉托盘及印刷轨道,
更换正面电极浆料网版及刮刀,确认是否沾污导致。
如为人为操作导致的沾污,记录并通知其领班
拉炉温确认工艺后,可作适当调节;在产能允许的情况下,也可做烧结炉清洗
三、两条线效率不同
一、检查两条线同一片源不同大小。
如数据较稳固,可通过500片以上数据来判定不同。
如数据波动较大
- 配套讲稿:
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