AlMg掺杂GaN电子结构及光学性质的第一性原理研究.docx
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AlMg掺杂GaN电子结构及光学性质的第一性原理研究
Al,Mg掺杂GaN电子结构及光学性质的第一性原理研究
3
郭建云1
郑 广
23
何开华
23
陈敬中
1
1(中国地质大学材料科学与化学工程学院,武汉 430074
2(中国地质大学数学与物理学院,武汉 4300743(中国地质大学材料模拟与计算物理研究所,武汉 430074(2007年10月13日收到;2007年12月4日收到修改稿
基于密度泛函理论,采用广义梯度近似方法,计算了Al,Mg掺杂的闪锌矿型GaN的电子结构和光学性质,分析了其电子态分布与结构的关系,给出了掺杂前后GaN体系的介电函数和复折射率函数.计算结果表明掺有Mg的
GaN晶体空穴浓度增大,会明显提高材料的电导率,而Al掺杂GaN晶体的载流子浓度不变,只是光学带隙变宽;通
过分析掺杂前后GaN晶体的介电函数和复折射率函数,解释了体系的发光机理,为GaN材料光电性能的进一步开发与应用提供了理论依据.通过比较可知,所得出的计算结果与现有文献符合得很好.
关键词:
GaN晶体,电子结构,光学性质,掺杂
PACC:
7115,7120,7125,7865K
3湖北省杰出青年科学基金(批准号:
2006ABB031资助的课题.通讯联系人.E2mail:
gzheng25@
11引言
作为第三代半导体材料的代表,氮化镓基半导体材料是新兴半导体光电产业的核心材料和基础器件,不仅带来了IT行业数字化存储技术的革命,也将推动通讯技术发展,并彻底改变人类传统照明的
历史[1]
.氮化镓基半导体材料具有宽的直接带隙、高的击穿场强、高的热导率和非常好的物理与化学稳定性等特点;在短波长光电器件、高温器件和高频大功率器件等方面有广泛的应用前景,其物理性质引起了人们的重视,成为半导体材料和光电子器件的
研究热点[2]
.对理想半导体掺杂可以使其性能得到更好的应用,比如Al掺杂到GaN晶体中可使得光学带隙在3142—6120eV(300K时范围变化,使得其发射波长覆盖整个可见光区及部分紫外线区;Mg掺杂到GaN晶体中可得到p型GaN,p型GaN的实现,解决了制造GaN发光器件的一个难题.实际上,Al,Mg掺杂GaN,不论在实验上还是在理论上都有大量的研究.由于AlGaN能带结构中能带间隙与对应之弯曲系数(bowingparameter与发光波长有直接关系,尤其弯曲系数在设计发光组件的发射波长上扮
演着绝对重要的角色,所以国内外有不少研究者以
实验或理论计算的方法进行研究[3—6]
;GaN高浓度
的p型掺杂一直是个难题,Amano等人[7]
利用低能电子束辐射(LEEBI处理掺Mg的GaN,得到了低阻的p型GaN,取得了p型掺杂的重大突破.但是LEEBI工艺在制造不少器件的时候存在着很多的限制,因为只有GaN薄膜表面很薄的一层p型掺杂浓
度很高.Nakamura等人[8]
发明了快速热退火法(rapidthermalannealing,他们将掺Mg的GaN在N2气氛中、700—800℃下退火,得到了p型GaN,发现空穴浓度和迁移率都大大提高了.至今,如何获得高掺杂浓度以及高质量的p型GaN仍是热点问题,国内外
对此有大量的报道[9—11]
.但对于Al,Mg掺杂闪锌矿结构GaN晶体的电子结构和光学性质理论研究目前报道得比较少,而运用平面波赝势方法(PWP理论研究的目前还未见报道.
本文用平面波赝势方法对闪锌矿结构的GaN晶体中掺入杂质M(M=Al,Mg进行超胞处理,计算了两种掺杂情况下GaN材料的电子结构和光学性能.分析了其电子态分布与结构的关系,并深入研究了掺杂对体系导电性能的影响;研究了掺杂前后GaN晶体的光学性质,解释了体系的发光机理.所得
第57卷第6期2008年6月100023290Π2008Π57(06Π3740207
物 理 学 报
ACTAPHYSICASINICA
Vol.57,No.6,June,2008
ν2008Chin.Phys.Soc.
到的结果与有关文献一致.
21理论模型和计算方法
2111理论模型
GaN通常有纤锌矿和闪锌矿两种结构[12]
本文
采用的是闪锌矿结构.它属于F243m(216空间群,
晶格常数a=b=c=01450nm[13]
α=β=γ=90°,在体对角线的1Π4处为N原子,八个角和六个面心为Ga原子,每个晶胞内含有4个Ga原子和4个N原子.计算时超晶胞为最低对称(P1,并取2×1×1的超晶胞(见图1,每个超晶胞内包含8个Ga原子和8个N原子.掺杂时,M(M=Al,Mg原子直
接取代处于[015,015,015]的Ga原子
.
图1 闪锌矿GaN掺M(M=Al,Mg的2×1×1超晶胞结构图
2121计算方法
本文的计算工作是由基于密度泛函理论的从头
算量子力学程序Castep完成的[14]
.采用平面波基赝势法,对理想和掺杂后的GaN超原胞(2×1×1进行几何优化,交换2关联能用广义梯度近似
(generalizedgradientapproximation,简称为GGA[15]
来描述,为确保计算速度并能满足足够的精度,在计算时平面波截止能量(cutoffenergy都取350eV,迭代
过程中的收敛精度为2×10-5
eVΠ原子,也即作用在每个原子上的力不大于015eVΠnm,内应力不大于011GPa,K网格(K的大小都为2×4×4,保证了体系能量和构型在准完备平面波基水平上的收敛.2131光学性质的理论描述
体系在较小波矢下对光电场的线性响应由复介
电常数ε(ω=ε1(ω+iε2(ω
或者用复折射率函数N=n+ik来描述,其中ε1=n2-k2
ε2=2nk.
由于计算电子结构中无论是带间还是带内跃迁
频率都远超过声子频率
[16]
而且使用的方法是单电
子近似方法,故仅考虑电子激发.从量子力学的观点看,带间跃迁光吸收过程是电子在辐射电磁场微扰作用下从低能态跃迁到高能态过程.从直接跃迁概率的定义和色散关系可推导出晶体介电常数虚部为
[17]
ε2(ω=C
ω
2∑C,V∫
BZ
2
(2π3
|MCV(K|2
×δ(EKC-EK
V-
ωd3K,(1
其中,下标C,V分别表示导带和价带,BZ表示第一
布里渊区,K为倒格矢,|MCV(K|2
为动量矩阵元,
C为常数,ω为圆周频率,EK
C和EK
V分别为导带和
价带的本征能级.
31计算结果与讨论
3111Al,Mg掺杂GaN电子结构311111结构性质
对理想GaN晶体以及两种掺杂情况进行结构优化,优化后的晶胞参数如表1所示.
表1 理想GaN以及Al,Mg掺杂GaN的晶胞参数值(单位:
nm
名称
本文
理论结果
实验值
GaN
014525014497[18],014538[19]014528
[20]
014590
[21]
014500[13],014510[22]
GaN:
Al0144970145063
———GaN:
Mg
014529
———
———
3根据Vergard’s定律计算出来的,其中x取01875,aGaN取
014525nm,aAlN取01437nm[23].
从表1中可以看出,本工作中的晶胞参数计算结果与其他计算结果以及实验值吻合得比较好.从优化后的数据可以看出Al掺杂后晶胞参数略有减少,这是因为Al
3+
的离子半径较Ga
3+
的离子半径
小,用离子半径小的去取代离子半径大的,它的体积应该是减小的,这一点从它们形成的键长也可看出
(Ga—N键为01196nm,Al—N键为01187nm.但是这里有个反常现象,本来Mg2+
的离子半径比Ga3+
的离子半径小,得出的参数也应是减小的,而本文中得出的结果反而略有增大.我们认为出现这一反常现象主要是因为形成的Mg—N键键长(01206nm以及
1
4736期郭建云等:
Al,Mg掺杂GaN电子结构及光学性质的第一性原理研究
远离Mg的Ga—N键键长(01198nm都比Ga—N键
的平均值(01196nm长;而且Mg2+对Ga3+
的替代造成了晶格畸变,在结晶过程中产生了残余应力,使得能量升高,体积增大,所以它的晶胞参数稍微有些增大.这一现象与文献[24]中所论述的类似.311121体系的分波态密度
图2(a—(c给出了理想GaN晶体以及两种掺杂情况的总体态密度
.
图2 理想GaN晶体以及两种掺杂情况的DOS
图
图3 理想GaN晶体以及两种掺杂情况Ga原子的PDOS图
由图2(a可知,理想的GaN晶体的电子所处能级为3组,即带1、带2和带3(见图2(a中标注的1,2,3.Ga原子的3d态电子分布在约-13136eV(即带1处,可看出它的峰值很尖锐,显示出较强的局域性,与其他价带之间无明显的相互作用;带2宽度大约6128eV,这个区域主要分布N2p态和Ga4s态电子,且N2p态电子决定了价带顶的位置;带3(即导带宽度大约4122eV,主要分布Ga原子的4s态电子,还有少量N和Ga原子的p态电子也分布在这个区域.比较图2(a和(b可以发现两者非常相似,图2(b电子所处能级也为3组,只是图2(b中导带位置向高能区移动约013eV,
导致光学带隙宽
图4 理想GaN晶体以及两种掺杂情况N原子的PDOS图
度变大.根据分波态密度图3和图4,导带底的位置主要是由Ga4s态电子决定的,而价带顶主要由N2p态电子决定的.当Al掺杂到GaN晶体中,价带顶的位置还是由N2p态电子决定,且位置基本保持不变,导带底的位置也仍然由Ga4s态电子决定,但它向高能方向微偏移,从而引起光学带隙宽度变大.Mg掺杂的GaN晶体电子所处能级在价带部分(约-40eV处比前两者多了一组能带(见图2(c,根据分态密度图分析这应该是掺杂原子Mg的2p态电子所处能级;整个价带部分向高能方向移动,在价带顶附近存在着一定量的空穴,由于Al和Mg掺杂是两种不同性质的掺杂,Al是等价掺杂它不可提供施主或受主能级;而Mg是异价掺杂,Mg掺杂提供了可接受电子的受主能级,所以它的价带顶附近存在空穴.为了定量分析态密度,我们对整个价带部分做了积分,GaN为144,GaN:
Al为134,GaN:
Mg为140.这些数值分别代表了各体系中外层电子可填充
的能级的电子态数目.在计算中我们所选用的超软赝势考虑的各元素的亚电子层分别是Ga的3d4s4p,Mg的2p3s层,Al的3s3p层,N的2s2p层,这样各元素对电子结构的贡献就分别考虑了13,8,3,5个外层电子.因此每个体系的超晶格结构单元中含有的价电子总数分别为Ga8N8包含144个,AlGa7N8包含134个,MgGa7N8包含139个.通过比较可填充能级电子态数目和价电子的数目,我们知道Ga8N8和AlGa7N8价带处于满填充状态,费米面恰好位于价
带顶,而MgGa7N8的可填充能级电子态数目比价电子数目多1,这样,处于费米面附近的第一个有电子填充的能带,即价带的填充情况是不满的,有一个电子的空穴态出现,费米面降低到价带中.Mg掺杂前后的能带结构变化可归结为图5,其中黑色部分是
2473物 理 学 报57卷
图5 GaN和GaN:
Mg的能带结构图
价带中电子填充的区域.
根据半导体导电机理[25]
具有类似GaN:
Mg这种能带结构的掺杂体系的电导率和发光性能可以大大提高.当然,也可从电荷守恒的角度考虑,在掺杂
前后电荷应守恒的,2Ga3+→Mg2++Ga4+这样Ga4+
的空穴密度增加.本文得到的结果与有关实验结果是一致的,掺Mg后空穴浓度增加;而Al掺杂载流子浓度并没有提高,只是光学带隙宽度加宽了.3121Al,Mg掺杂GaN光学性质
312111理想GaN晶体以及两种掺杂情况的光学
带隙
理想GaN晶体以及两种掺杂情况的光学带隙值如表2所示.
表2 理想GaN以及Al,Mg掺杂GaN的光学带隙值(单位:
eV名称
本文
理论结果
实验值
GaN118022101[26]314[27],31299[28]
GaN:
Al21129317433
———GaN:
Mg
11992
———
———
3根据Vergard’s定律计算出来的,其中EgGaN=314eV[27],EgAlN=
612eV[29],弯曲系数b=0106[26].
从表2可得,我们计算的理想GaN晶体的光学带隙与其他理论结果基本符合,但与实验值相差比较大,这是因为我们使用GGA近似本身具有局限性所造成的,利用这种近似计算的光学带隙值普遍偏低.本文未能找到两种掺杂情况的实验值和Mg掺杂情况的理论值;对于Al掺杂情况的理论值是根据Vergard’s定律计算出来的,由于在公式中GaN和AlN的带隙值都取实验值,因此得出的结果比本次计算的结果要大.比较本文计算结果可以发现,掺杂后的光学带隙值都变宽.
312121理想GaN晶体以及两种掺杂情况的复介电
函数虚部
介电函数作为沟通带间跃迁微观物理过程与固体电子结构的桥梁,反映了固体能带结构及其各种
光谱信息[17]
.Ga8N8,AlGa7N8和MgGa7N8都为直接带隙半导体,其光谱是由能级间电子跃迁所产生的,各个介电峰可以通过能带结构和态密度来解释.
图6给出了理想及Al,Mg掺杂GaN的介电函数虚部.从图6(a中可以看到主要有D1,D2,D3,
D4,D5共5个峰,它们对应的光子能量为3110,
5138,6185,9113,18181eV.根据态密度图分析(见图
2—4,在D1=3110eV处对应于直接跃迁阈,与价
带顶到导带底跃迁有关,但它的值比较小,我们认为是由于导带底附近被能级占据的每单位能量间隔所对应的K空间体积不大而引起的,发生跃迁的主要来源于N2p轨道电子;在D2=5138eV,D3=6185eV,D4=9113eV处分别对应着一介电峰,对应
的跃迁能级可能在带1和带2之间,也可能在带2
和带3之间,跃迁的电子可能是处在带1的Ga3d或N2s轨道的电子,也可能是处在带2的N和Ga原子的p轨道电子或Ga原子的4s轨道电子;D5=18181eV处有个微弱的峰,对应着带1和带3之间的跃
迁,跃迁电子主要来源于带1的Ga3d态电子,因处在带1的电子直接跃迁到带3的数目很少,大多数是先跃迁到带2,再由带2跃迁到带3,所以它的峰值很小.图6(b与图(a图形形态基本相同,但图6(b相对于图6(a来说各个峰值都有稍微向高能方向偏移,与文献[30]相一致的,这是由于掺入杂质后光学带隙增大而引起的.再看图6(c,在约0179eV处有个尖峰是由上价带内部的电子跃迁引起的.原来的D1峰不见了,这是因为在理想GaN中D1峰对
3
4736期郭建云等:
Al,Mg掺杂GaN电子结构及光学性质的第一性原理研究
应的是价带顶N2p电子向导带底的直接跃迁;当掺入Mg后,在价带顶出现空穴,费米能级降到价带
中,由于价带顶是空着的,未参与跃迁过程,所以价带顶没有电子跃迁到导带底,导致D1峰几乎消失.在40—50eV之间还有一尖峰对应Mg原子2p态电子的跃迁;其他尖峰基本与理想GaN相同,但峰值略有减少.
312131GaN本体及Al,Mg掺杂GaN的复折射率函数
在本次工作中还计算了理想GaN及Al,Mg掺杂GaN的复折射率函数,在分析时采用了极化法,极化方向为(100.
图7为本次计算理想GaN及Al,Mg掺杂GaN的复折射率函数以及其他理论计算的理想GaN[31]
.其中图7(a为文献值,图7(b—(d为本次计算值.
从图7(b可知n0=21162,与其他理论值21005
[31]以及实验值21500[32]
比较符合,得到的图形与图7(a[31]
符合得很好,在低能区(光子能量小于2eV虚部几乎为0,而实部为常数;在高能区(光子能量大于15eV虚部的值接近0,实部的值变化比较小,
这表明GaN体系对高频率的电磁波吸收较弱,
在高频区它们的折射率几乎为常数;比较图7(b和(c,图形形状基本一样,只是图7(c各个峰值略微向高能方向偏移,这是由于能带的偏移而引起的.图7(d与图7(b中在高能区(光子能量大于15eV基本与理想GaN相同,但在低能区实部和虚部都有所不同,主要是由于掺入Mg杂质后,电磁波通过的介质不同,引起折射率函数的变化.
图6 理想GaN以及Al,Mg掺杂GaN的介电函数虚部
图7 理想GaN以及Al,Mg掺杂GaN的复折射率函数
41结 论
本文采用密度泛函理论平面波赝势方法和广义
梯度近似,对理想GaN以及Al,Mg掺杂的GaN的超胞结构进行几何优化;计算了它们的电子结构和光学性质.计算结果表明掺有Mg的GaN晶体的载流子浓度增大,明显提高了材料的电导率,改善了GaN
晶体的电学性能,Al掺杂GaN晶体的载流子浓度不变,但光学带隙变宽,改变Al的组分可以得到不同颜色的光;精确的分析了掺杂前后GaN晶体的介电函数和复折射率函数,并解释了体系的发光机理,得出的计算结果与现有的理论和实验符合得很好,为GaN材料在分子原子尺度上进一步设计与应用提供
了理论依据.
4473物 理 学 报57卷
6期郭建云等:
Al,Mg掺杂GaN电子结构及光学性质的第一性原理研究3745[1]ZhaoYJ2006Adv.Mater.Industry1144(inChinese[赵亚娟2006先进材料工业1144][17]ShengXC2003TheSpectrumandOpticalPropertyofSemiconductor(Beijing:
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高等教育出版社第325页][26][27][28]DridiZ,BouhafsB,RuteranaP2005Compu
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