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结构光
结构光
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1、激光从激光器发出,经过柱面透镜后汇聚成宽度很窄的光带,称为结构光.该光平面以一定角度入射在工件上,在工件上产生反射和散射
2、已知空间方向的投影光线的集合称为结构光
3、生成结构光的设备可以是将光点、光缝、光栅、格网或斑纹投影到被测物体上的某种投影设备或仪器,也可以是生成激光束的激光器
结构光的英文是structuredlight
结构光标定方法:
基于立体标靶的激光平面标定,斜面标定法。
结构光技术(部分)(2006-10-2617:
12:
56)转载▼
分类:
三维光学测量技术
结构光技术
结构光方法((StructuredLight)是一种主动式光学测t技术,其基本原理是由结构
光投射器向被测物体表面投射可控制的光点、光条或光面结构,并由图像传感器(如摄
像机)获得图像,通过系统几何关系,利用三角原理计算得到物体的三维坐标。
结构光
测量方法具有计算简单、体积小、价格低、大盆程、便于安装和维护的特点,在实际三
维轮廓测量中被广泛使用,但是测量精度受物理光学的限制,存在遮挡问题,测量精度
与速度相互矛盾,难以同时得到提高。
光点式结构光测量方法需要通过逐点扫描物体进行测量,图像摄取和图像处理需要
的时间随着被测物体的增大而急剧增加,难以完成实时测量。
用线结构光代替点光源,
只需要进行一维扫描就可以获得物体的深度图,图像获取和图像处理的时间大大减少
(io)。
如图1.3为线结构光的示意图,利用辅助的机械装置旋转光条投影部分,从而完成
对整个被测物体的扫描。
当采用光面结构光时,将二维的结构光图案投射到物体表面上,这样不需要进行扫
描就可以实现三维轮廓测量,测量速度很快,光面结构光中最常用的方法是投影光栅条
纹到物体表面[}m,i2}。
如图1.4所示为面结构光的示意图。
当投影的结构光图案比较复杂时,为了确定物体表面点与其图像像素点之间的对应
关系,需要对投射的图案进行编码,因而这类方法又称为编码结构光测量法。
图案编码
分为空域编码和时域编码。
空域编码方法只需要一次投射就可获得物体深度图,适合于
动态测量,但是目前分辨率和处理速度还无法满足实时三维测量要求,而且对译码要求
很高。
时域编码需要将多个不同的投射编码图案组合起来解码,这样比较容易实现解码,
但要求投射的空间位置不变,而且难以实现实时测量.主要的编码方法有二进制编码、
二维网格图案编码、随机图案编码、彩色编码、灰度编码、邻域编码、相位编码以及混
合编码等【13,14]0
结构光方法还有一类测量方法,原理是将光栅图案投射到被测物表面,受物体高度
的调制,光栅条纹发生形变,这种变形条纹可解释为相位和振幅均被调制的空间载波信
号。
采集变形条纹并且对其进行解调可以得到包含高度信息的相位变化,最后根据三角
法原理计算出高度,这类方法又称为相位法。
基于相位测量的三维轮廓测量技术的理论
依据也是光学三角法,但与光学三角法的轮廓术有所不同,它不直接去寻找和判断由于
物体高度变动后的像点,而是通过相位测量间接地实现,由于相位信息的参与,使得这
类方法与单纯光学三角法有很大区别。
目前编码结构光法和相位法已成为三维轮廓测盘中的两个发展方向。
相对编码结构
光法而言,相位测量法不需要复杂的编码,同时由于每一个图像像素点都可以获得三维
数据,可以实现真正的全场测量,并且分辨率高,但是相位测量法需要对折叠相位进行
展开,而目前大多数的相位展开方法都需要人为干预,这是实现该方法自动化的最大障
碍。
本文采用基于投影正弦光栅的相位测量法。
近年来基于相位的光栅投影三维轮廓测童技术有了很大的发展,出现了很多新的方
法和算法,但是离实际应用要求还有很大的差距。
光栅条纹所包含的相位信息是关心的
重点,相位法三维轮廓测量的处理步骤主要包括相位解调、相位展开、物体高度与相位
关系标定和三维数据计算。
就目前而言,相位法的主要难点在于投影方式、相位展开和
系统标定:
新出现的投影仪可以在计算机的控制下改变投影图案,具有很好的适应性,
但是分辨率不高;对于相位展开问题,尽管人们提出了很多相位展开算法,但是都只是
针对某一种干扰,无法满足一般要求。
对于结构光三维轮廓测量方法,目前也出现了一种发展趋势,即相位法与其它编码
技术的结合。
光栅投影技术实际上也是一种相位编码方式,如投影正弦光栅,与其它方
式相比其优点在于可实现较高的测量分辨率,不足之处在于由于投影的正弦条纹具有周
期性,以及其他不利因素的影响使得相位展开困难.编码结构光测量方法缺点在于测量
的离散性,每一条光栅有一个离散值,因此仅能进行有限的条纹数编码,限制了测量的
精度,在要求较高测量精度时,需要复杂的编码方式.将两种方法结合起来成为解决两
种方法缺点的很好选择,如将格雷编码(GSM,GrayCodeMethod)与相移法(PSM,Phase
ShiftMethod)结合。
测量原理
将结构光图像投射到被测物表面,从另一角度可以观察到由于受物体高度的调制而
变形的条纹,这种变形可解释为相位和振幅均被调制的空间载波信号。
采集变形条纹并
对其进行解调,恢复出相位信息,进而由相位确定出高度,这就是基于相位的结构光方
法的基本原理。
这里以典型的交叉光轴系统来说明测量原理,如图2.1a
OP是投影系统透镜的光轴,它与成像透镜的光轴OC交于点DoOX所在平面为参
考平面(可以是虚拟的,也可以是真实存在的),OC垂直参考面。
P和C分别为投影
透镜出瞳中心和成像透镜的入瞳中心,两点的连线与参考面平行,距离为d,离参考平
面的距离为1。
正交坐标系的XOY平面位于参考平面上,Y轴垂直于XOZ平面与X轴交
于O点,Z轴平行于成像透镜光轴。
投射光栅交于物体表面点H}H成像在像面上H'
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