电子元器件的检测方法及识别.docx

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电子元器件的检测方法及识别

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电子元器件的检测方法及识别

电位器选用与代换经验

（一）根据使用要求选用电位器

　　选用电位器时，应根据应用电路的具体要求来选择电位器的电阻体材料、结构、类型、规格、调节方式。

　　例如，大功率电路选用功率型线绕电位器；精密仪器等电路中应选用高精度线绕电位器、精密多圈电位器或金属玻璃釉电位器；中、高频电路可选用碳膜电位器；半导体收音机的音量调节兼电源开关可选用小型带旋转式开关的碳膜电位器；立体声音频放大器的音量控制可选用双连同轴电位器；音响系统的音调控制可选用直滑式电位器；电源电路的基准电压调节应选用微调电位器；通讯设备和计算机中使用的电位器可选用贴片式多圈电位器或单圈电位器。

（二）合理选择电位器的电参数

　　根据设备和电路的要求选好电位器的类型和规格后，还要根据电路的要求合理选择电位器的电参数，包括额定功率、标称阻值、允许偏差、分辨率、最高工作电压、动噪声等。

　　（三）根据阻值变化规律选用电位器

　　各种电源电路中的电压调节、放大电路的工作点调节、副亮度调节及行、场扫描信号调节用电位器，均应使用直线式电位器。

　　音响器材中的音调控制用电位器应选用反转对数式（旧称指数式）电位器，音量控制用电位器可选用对数式电位器。

万用表各挡量程选择及测量误差分析

　　用万用表进行测量时会带来一定的误差。

这些误差有些是仪表本身的准确度等级所允许的最大绝对误差。

有些是调整、使用不当带来的人为误差。

正确了解万用表的特点以及测量误差产生的原因，掌握正确的测量技术和方法，就可以减小测量误差。

　　人为读数误差是影响测量精度的原因之一。

它是不可避免的，但可以尽量减小。

因此，使用中要特别注意以下几点：

1测量前要把万用表水平放置，进行机械调零；2读数时眼睛要与指针保持垂直；3测电阻时，每换一次挡都要进行调零。

调不到零时要更换新电池；4测量电阻或高压时，不能用手捏住表笔的金属部位，以免人体电阻分流，增大测量误差或触电；5在测量RC电路中的电阻时，要切断电路中的电源，并把电容器储存的电泄放完，然后再进行测量。

在排除了人为读数误差以后，我们对其他误差进行一些分析。

　　1．万用表电压、电流挡量程选择与测量误差

　　万用表的准确度等级一般分为0．1、0．5、1．5、2．5、5等几个等级。

直流电压、电流，交流电压、电流等各挡，准确度（精确度）等级的标定是由其最大绝对允许误差△X与所选量程满度值的百分数表示的。

以公式表示：

A％=（△X/满度值）×100％……1

（1）采用准确度不同的万用表测量同一个电压所产生的误差

　　例如：

有一个10V标准电压，用100V挡、0．5级和15V挡、级的两块万用表测量，问哪块表测量误差小

　　解：

由1式得：

第一块表测：

最大绝对允许误差

　　△X1=±％×100V=±0．50V。

　　第二块表测：

最大绝对允许误差

　　△X2=±2．5％×l5V=±。

　　比较△X1和△X2可以看出：

虽然第一块表准确度比第二块表准确度高，但用第一块表测量所产生的误差却比第二块表测量所产生的误差大。

因此，可以看出，在选用万用表时，并非准确度越高越好。

有了准确度高的万用表，还要选用合适的量程。

只有正确选择量程，才能发挥万用表潜在的准确度。

（2）用一块万用表的不同量程测量同一个电压所产生的误差

　　例如：

MF－30型万用表，其准确度为2．5级，选用100V挡和25V挡测量一个23V标准电压，问哪一挡误差小

　　解：

100V挡最大绝对允许误差：

　　X（100）=±％×100V=±。

　　25V挡最大绝对允许误差：

△X（25）=±％×25V=±。

由上面的解可知：

　　用100V挡测量23V标准电压，在万用表上的示值在20．5V－25．5V之间。

用25V挡测量23V标准电压，在万用表上的示值在－之间。

由以上结果来看，△X（100）大于△X（25），即100V挡测量的误差比25V挡测量的误差大得多。

因此，一块万用表测量不同电压时，用不同量程测量所产生的误差是不相同的。

在满足被测信号数值的情况下，应尽量选用量程小的挡。

这样可以提高测量的精确度。

　　（3）用一块万用表的同一个量程测量不同的两个电压所产生的误差

　　例如：

MF－30型万用表，其准确度为级，用100V挡测量一个20V和80V的标准电压，问哪一挡误差小

　　解：

最大相对误差：

△A％=最大绝对误差△X/被测标准电压调×100％，100V挡的最大绝对误差△X（100）=±％×100V=±。

　　对于20V而言，其示值介于－之间。

其最大相对误差为：

A（20）％=（±20V）×100％=±％。

　　对于80V而言，其示值介于－之间。

其最大相对误差为：

　　A（80）％=±80V）×100％=±％。

　　比较被测电压20V和80V的最大相对误差可以看出：

前者比后者的误差大的多。

因此，用一块万用表的同一个量程测量两个不同电压的时候，谁离满挡值近，谁的准确度就高。

所以，在测量电压时，应使被测电压指示在万用表量程的2/3以上。

只有这样才能减小测量误差。

　　2．电阻挡的量程选择与测量误差

　　电阻挡的每一个量程都可以测量0～∞的电阻值。

欧姆表的标尺刻度是非线性、不均匀的倒刻度。

是用标尺弧长的百分数来表示的。

而且各量程的内阻等于标尺弧长的中心刻度数乘倍率，称作“中心电阻”。

也就是说，被测电阻等于所选挡量程的中心电阻时，电路中流过的电流是满度电流的一半。

指针指示在刻度的中央。

其准确度用下式表示：

R％=（△R/中心电阻）×100％……2

（1）用一块万用表测量同一个电阻时，选用不同的量程所产生的误差

　　例如：

MF－30型万用表，其Rxl0挡的中心电阻为250Ω；R×l00挡的中心电阻为Ω。

准确度等级为级。

用它测一个500Ω的标准电阻，问用R×l0挡与R×100挡来测量，哪个误差大解：

由2式得：

　　R×l0挡最大绝对允许误差△R（10）=中心电阻×R％=250Ω×（±）％=±Ω。

用它测量500Ω标准电阻，则500Ω标准电阻的示值介于493．75Ω～506．25Ω之间。

最大相对误差为：

±÷500Ω×100％=±％。

　　R×l00挡最大绝对允许误差△R（100）=中心电阻×R％Ω×（±）％=±Ω。

用它测量500Ω标准电阻，则500Ω标准电阻的示值介于Ω～Ω之间。

最大相对误差为：

±÷500Ω×100％=±％。

　　由计算结果对比表明，选择不同的电阻量程，测量产生的误差相差很大。

因此，在选择挡位量程时，要尽量使被测电阻值处于量程标尺弧长的中心部位。

测量精度会高一些。

检测电子元器件的方法

　　在电子制作或电器维修时，对于电子元器件的筛选和检测是很重要的环节。

这里介绍一种利用电筒电路（即干电池和电珠串灯电路）作测试电子元件的工具，能很方便地检测一些常用电子元件的质量好坏，不仅实用简单而且效果还相当不错，这里整理几例常用电子元器件的检测方法，仅供大家参考。

　　一、检测１Ｎ４００××二极管

　　平时装配和检修各类电子电器的整流电源时，１Ｎ４００××二极管的应用是相当多的。

检测二极管性能采用电筒电路，能迅速地判断其好坏。

让电池的正极接二极管任意一脚，如果小电珠不发光，证明电池正极处是二极管的负极；若电珠发出微弱光，则是正极，同时也说明该二极管性能良好。

如果电池正极碰触二极管任一脚小电珠都能发光，说明此二极管内部已短路；若电珠都不亮，则二极管内部已断路。

注意：

此法不能确定二极管的耐压。

　　二、检测发光二极管

　　发光二极管因其工作电压低，所以用电筒电路能直观地判断其性能和质量好坏。

如果将待测发光二极管跨接入电路后发光二极管不点亮，而将其调换极性后再次接入电路时，发光管微微发光，那么证明该管性能良好，同时可以判断发光管与电池负极相接的管脚即为发光管的负极，另一脚为正极。

但如果通过上述两次接入电路二极管均不发光点燃，则说明该管已坏。

但反过来说，如发光管两次接入电路，虽然发光管均不亮，但电路中的小电珠却已闪亮发光，则说明该发光管已内部击穿导通。

　　三、检测单向可控硅

　　应用电筒电路亦能估测可控硅管子的好坏及导通和阻断情况。

将单向可控硅的Ｋ电极与电池负极相连接，Ａ极与电池正极相接，这时电路中的小电珠若无光亮，则证明可控硅的正向阻断性能基本良好。

再找一根细导线将电池的正极端与可控硅的控制电极（Ｇ）迅速碰触一下，这时电珠若闪光发亮，则说明可控硅的导通性能良好。

若导线碰触时电珠不亮，或小电珠瞬间闪亮一下又即刻熄灭，则说明该管的导通能力很差，根本无法导通。

　　四、检测小功率三极管

　　对于常用的小功率三极管而言，如９０１３、９０１４等三极管，也能利用电筒电路，快速地粗测其性能判断好坏。

将电路中的电池正极接三极管的基极，电池的负极分别碰触三极管的集电极与发射极。

如果在碰触集电极时电珠即发光呈暗红色光亮，而碰触发射极时电珠也发光亮，则证明该管性能基本良好。

若碰触集电极或发射极时，只有其中一次电珠不亮，则说明该管的一个电极存在断路。

但当电池负极碰触集电极和发射极时，电珠均不发光，那么证明该管内部已开路。

压电陶瓷片的功能和检测方法

　　压电陶瓷片是一种结构简单、轻巧的电声器件，因具有灵敏度高、无磁场散播外溢、不用铜线和磁铁、成本低，耗电少、修理方便、便于大量生产等优点而获得了广泛应用。

适合超声波和次声波的发射和接收，比较大面积的压电陶瓷片还可以运用检测压力和振动，工作原理是利用压电效应的可逆性，在其上施加音频电压，就可产生机械振动，从而发出声音。

如果不断对压电陶瓷片施加压力它还会产生电压和电流。

　　其质量的测试方法如下：

　　第一种方法：

将万用表的量程开关拨到直流电压挡，左手拇指与食指轻轻捏住压电陶瓷片的两面，右手持万用表的表笔，红表笔接金属片，黑表笔横放陶瓷表面上，然后左手稍用力压一下，随后又松一下，这样在压电陶瓷片上产生两个极性相反的电压信号，使万用表的指针先向右摆，接着回零，随后向左摆一下，摆幅约为一，摆幅越大，说明灵敏度越高。

若万用表指针静止不动，说明内部漏电或破损。

　　切记不可用湿手捏压电片，测试时万用表不可用交流电压挡，否则观察不到指针摆动，且测试之前最好用R×l0k挡，测其绝缘电阻应为无穷大。

　　第二种方法：

用R×10k挡测两极电阻，正常时应为∞,然后轻轻敲击陶瓷片，指针应略微摆动。

检测集成电路时应注意的事项

　　测试时要注意以下有关知识。

　　检修前要了解集成电路及其相关电路的工作原理

　　查和修理集成电路前首先要熟悉所用集成块的功能、内部电路、主要电参数、各引出脚的作用以及各引脚的正常电压、波形、与外围元件组成电路的工作原理。

如果具备以上条件，那么，进行检查分析就容易多了。

　　测试时不要使引脚间造成短路

　　电压测量或用示波器探头测试波型时，表笔或探头不要由于滑动而造成集成电路引脚间短路，最好在与引脚直接连通的外围印刷电路上进行测量，任何瞬间的短路都容易损坏集成电路，在测试扁平型封装CMOS集成电路时更要加倍小心。

　　严禁在无隔离变压器的情况下，用已接地的测试,设备去接触底板带电的电视、音响、录像设备严禁用外壳已接地的仪器设备直接测试无电源隔离变压器的电视、音响、录像设备，虽然一般的收录机都具有电源变压器，当接触到较特殊的尤其是输出功率较大或对采用的电源性质不太了解的电视或音响设备时，首先弄清该机底盘是否带电，否则极易与底板带电的电视、音响设备造成电源短路，波及集成电路，造成故障进一步扩大。

测试前人体先对大地放掉静电,IC不能放在易带静电的物体上。

　　要注意电烙铁的绝缘性能

　　不允许电路带电使用烙铁焊接，要确认烙铁不漏电，最好把烙铁外壳接地，对MOS电路更应小心。

能采用6－8V低压电烙铁就更安全。

　　要保证焊接质量

　　焊点要确实焊牢，焊锡的堆积、气孔，容易造成虚焊，焊接时间一般不超过3秒钟，烙铁功率应用内热式20W左右。

已焊接好的集成电路要仔细查看，最好用欧姆表测量各引脚间有否短路，确认无焊锡粘连现象再接通电源。

　　不要轻易判定集成电路的损坏

　　不要轻易判定集成电路已经损坏。

因为集成电路绝大多数为直接耦合，一旦某一电路不正常，可能会导致多处电压变化，而这些变化不一定是集成电路损坏引起。

另外，在有些情况下测得各引脚电压与正常值相符或接近时，也不一定都能说明集成电路是好的，因为有些软故障不会引起引脚直流电压的变化。

　　测试仪表内阻要大

　　测量集成电路引脚直流电压时，应选用表头内阻大于20KΩ／V的万用表，否则对某些引脚电压会有较大的测量误差。

　　要注意功率集成电路的散热

　　功率集成电路应散热良好，不允许不带散热器而处于大功率状态下工作。

　　引线要合理

　　如需要加接外围元件代替集成电路内部已损坏部分，应选用小型元器件，且接线要合理以免造成不必要的寄生耦合，尤其要处理好音频功放集成电路和前置放大电路之间的接地端。

边界扫描测试技术

　　扩展到系统级的基础结构是提供单点接入到多扫描链，以支持隔离的诊断能力。

这可以用于CPLD和FPGA系统内配置的最佳化，以及编程闪存时存储器读/写周期的最佳化。

　　它也支持板到板内连测试（用于背投内连失效诊断）到端口连接器引脚级。

另一个优点是在产品装运前提供系统测试，这包括固件检验和简化固件更新。

　　扩展边界扫描到系统级提供执行嵌入式测试结构（即器件级BIST）的基础结构，这可在EPGA、ASIC和SoC中实现。

　　另外，它提供单点接入能力来支持环境重点测试和精确的引脚级诊断。

　　拓扑结构

　　选择边界扫描系统结构对于路由TAP测试接入端口是重要的，并将确定选择哪些系统级器件。

有三种主要的TAP路由方式：

ring（环状）star（星状）multi-drop（多分接）

　　当然，多分接方式是最广泛用于可靠系统控制的。

在这种方式中，5个主要的测试接入信号（TCK，TMS，TDI，TDD，TEST）并联连接到系统配置的所有背板槽中。

　　多分接配置中的每个槽都有一个专门的地址，槽地址多达64/128个专门地址，通常，这些地址在背板中用硬线连接（见图1）

　　通过总体扫描链的TDI信号线，广播每个板的专门背板地址来接入系统中的每块板。

对应于广播地址的置于槽中的板，将唤醒并允许接入到本地扫描链，这如同用系统器件接入协议进行选择哪样。

　　支持器件

　　对边界扫描系统级测试能力的需求增加，促进开发各种支持器件，如3和4端口网关，扫描通路线路和多扫描端口。

　　根据设计结构要求，可得到封装类型、大小和工作电压不同的器件。

一些供应商也提供象IP那样的器件功能，可用CPLD、FPGA或ASIC器件嵌入IP。

　　这些器件的重要功能是提供从主边界扫描总线到特定本地扫描链（LSL）的接入，这如同系统级器件协议选择那样。

扫描链不是单独选择就是任意组合中的菊花链，这为测试分配提供了灵活性（见图2）。

　　这对于支持闪存器件系统内编程而分配板设计是有用的。

在这些环境下，在板上围绕边界扫描移位的向量数应该保持绝对最少，以使闪存编程周期时间最佳。

　　闪存编程

　　理想情况，对于闪存而言，具有对闪存地址、数据和控制信号网直接接入的边界扫描器件可放置在单个LSC上。

此LSC只在闪存编程相被选择。

换句话说，为执行板级内连测试选择所有LSC或为执行功能逻辑组测试可选择专门的LSC。

在此，假设用外部边界扫描控制器驱动测试图形或向量，通过总体扫描链基础结构到各个板。

　　一些嵌入式控制结构通常在系统测试配置中实现，在嵌入式边界扫描控制器件的控制下，这种结构将允许测试向量的时序，测试向量一般存储在闪存中。

　　嵌入式控制器可按排在单系统主机板上或安排在系统环境中的多板上，它支持嵌入向量输送方法。

这最普通的是系统总线主机结构。

　　系统测试总线主机

　　在此，背板中的一个模件是系统主机，而其他模件变成从机（见图3）。

用于测试从模件或多板中执行测试的边界扫描向量安排在系统主机板上的闪存中。

　　在位于系统主机板上的嵌入式扫描控制器件的控制下，这些向量通过总体扫描链发送。

这种系统级基础结构可用于执行从静态结构测试到嵌入式以BIST速度的测试。

这也可以在现场更新可编程逻辑器件中的系统操作固件和配置码的修改版本。

　　用商用软件工具，在实践中实现所设计的理论性测试方法是可能的。

这要考虑不同系统级结构的支持以及系统接口器件和测试配置的各种组合。

　　外部控制

　　图4给出在采用外部控制器时测试向量开发的数据流程，外部控制器包括配备PCI边界扫描控制卡的PC。

一旦进行测试的检验，同样的测试向量格式存储在闪存中，在扫描主机的控制下广播到系统的从机板/模件。

　　图4示出在嵌入式系统主机测试处理器的控制下NS公司的ScanEASE软件驱动器如何用于控制向量传递。

嵌入式向量来自同一ATPG（自动测试程序产生器）输出，这原来是为外部边界扫描测试开发的。

其他测试总线控制器厂家（如Firecron公司）也提供类似的驱动器。

　　这种系统级嵌入式测试方法可提供全面的系统自测试。

它为所有测试时序提供合格/失效状态。

然而，所面对的是诊断出有故障的线路可替代单元，将返回到中心维修实验室进行引脚级诊断，采用的是边界扫描工具厂家的诊断软件。

　　用户的要求驱动边界扫描迅速开发成系统级测试和可编程器件现场重新配置的事实上的标准。

此标准应用已替代专用维护和测试管理总线的需求。

　　嵌入测试总线控制器的开发，进一步增强采用边界扫描做为大规模系统的有效BIST方法，而实际上是用在像3G蜂窝基础结构状置的应用中。

直流电流的测量方法

　　直流电流的测量:

　　a）选档:

直流电流档用础mA表示，在讨mA框内有、、5、500五档。

选档方法同直流电压档。

　　b）表笔接法:

测量直流电流，表笔应串联在电路中间，并且红表笔应接在靠近电源正极一边，黑表笔接在靠近电源负极一边，如图a所示。

一般在电路图申把要测量电流的地方画一个"x"（见图1-5b），即表示从这个地方把电路断开，串人电流表。

　　图:

测直流电流的方法　　a）红表笔靠近电源正极b）画x处表示电流测试点

万用表表笔接法

　　表笔接法:

测量电阻时，直接用万用表的两根表笔接触被测电阻的两根引出线即可。

但应注意两只手不要同时捏住表笔的两根铜头（见图），那样做等于把手的电阻并联在被测电阻两端了，会大大影响测量准确性。

图:

测量电阻的方法　a）正确b）错误

万用表测量电阻选档测量法

　　选档:

欧姆档的标志是队在0档的两条框线内有xl（xlΩ）、xlO、xlOO、xlk、xlOk五档。

根据要测量的电阻数值选择合适的档位。

例如测量一只3OkΩ的电阻器时，可以选择xlk档位，使表针能够指在"Ω"刻度线的中间区域，保证读数最为清晰和准确。

　　选定档位后，先将两根表笔短路（即红、黑两根表笔碰在一起），观察表针是否指在0Ω位置（最上边第一行刻度线最右边），如不在0Ω位置，可以调整欧姆调零旋钮，使表针指在0Ω（见图1-2）。

注意每次换档后要进行上述欧姆调零。

如果调整欧姆调零旋钮不能使表针指在OΩ位置，一般情况下是表内电池的电压不足，需更换新电池。

?

图：

欧姆调零方法

指针式万用表

　　指针式万用表是无线电爱好者必备的仪表。

只有正确、熟练地使用好指针式万用表才能很好地测量元器件的数值和好坏。

目前市场上销售的指针式万用表有几十种，但结构和使用方法都大同小异，只要学会一种万用表的使用方法;其他型号的万用表也就会使用了。

下面以市场上销售比较多，而且质量比较好的MF47型万用表为例，说明指针式万用表的使用方法。

　　　　MF47型万用表呆以测量电阻，直流电压，交流电压和直流电流等物理量。

　　MF47万用表各部分名称如图所示。

驻极体传声器的检测

　　驻极体传声器输出方式一般为两种形式，如图1所示。

　　（a）负接地，S极输出;（b）正接地，S极输出;　　（c）负接地，D极输出;（d）正接地，D极输出;　　图1驻极体传声器输出方式

可变电容器的检测

　　1）可变电容器的故障现象可变电容器的主要故障是转轴松动、动片与定片之间的相碰短路，如是固体介质的密封可变电容器，其动片与定片之间存在杂质与灰尘的还可能有漏电现象。

　　2）检查方法对于碰片短路与漏电的检查方法是:

用万用表的Rx1Ok挡，测量动片与定片之间的绝缘电阻，即用两表笔分别接触电容器的动片、定片，然后慢慢旋转动片，如碰到某一位置阻值为零，则表明有碰片短路现象，应予以排除再用。

如动片转到某一位置时，表针不为无穷大，而是出现一定的阻值，则表明动片与定片之间有漏电现象，应清除电容器内部的灰尘后再用。

如将动片全部旋进、旋出后，阻值均为无穷大，表明可变电容器良好。

检测可变电容器是否碰片的方法如图1所示。

　　图1检测可变电容器

咪头灵敏度测试仪

１．灵敏度测试范围分四档：

－30dB，－40dB，－50dB，－60dB,（0dB=1V/Pa）。

测试精度：

±0.５dB（和标准驻极体传声器比较）。

　注：

环境温度每变化１０℃将增加±０.１dB的附加误差。

２．工作电流范围：

０～５００uA，　精度±２.５％。

３．供电电源电压分五档：

±１.５Ｖ，±２Ｖ，±３Ｖ，±４.５Ｖ，±６Ｖ，精度：

±５％，极性任意选择。

４．测试信号频率：

７０Ｈｚ，１０００Ｈｚ，精度±２％。

　　　输出声压信号大小可分别调节，既能单独信号输出，又能混合信号输出。

５．负载电阻分五档：

６８０Ω，１ＫΩ，１.５ＫΩ，２.２ＫΩ，３ＫΩ，精度１％。

６．交流供电电源电压：

２２0Ｖ±１０％，交流供电频率：

５０Ｈｚ±５％，仪器消耗功率约为２０ＶＡ。

７．仪器在使用条件下，可连续工做作７小时，中间停机２小时，可继续使用。

８．仪器尺寸：

４８0mm×360mm×160mm。

９．仪器质量约为：

１０Ｋg。

电解电容器的检测

　　1）测量电解电容器的漏电电阻依照上述介绍的量程选择方法，选择万用表的合适量程，将红表笔接电解电容的负极，黑表笔接电解电容的正极，此时，表针向R为零的方向摆动，摆到一定幅度后，又反向向元穷大方向摆动，直到某一位置停下，此时指针所指的阻值便是电解电容器的正向漏电电阻，正向漏电电阻越大，说明电容器的性能越好，漏电流也越小。

将万用表的红、黑表笔对调（红表笔接证极，黑表笔接负极），再进行测量，此时指针所指的阻值为电容器的反向漏电电阻，此值应比正向漏电电阻小些。

如测得的两漏电电阻值很小（几百千欧以下），则表明电解电容器的性能不良，不能使用。

检测电解电容器的方法如图1所示。

　　图1电解电容器的检测

　　（a）测量正向漏电阻;（b）测量反向漏电阻

　　2）电解电容器正、负电极的判别电解电容器的正、负电极的判别方法主要是根据上列所述测量漏电电阻的方法。

用万用表的欧姆挡，根据电解电容器的容量选好合适的量程，用两表笔接电容器的两引脚测其漏电电阻，并记下这个阻值的大小，然后将两表笔对调再测一次漏电电阻值，将两次测量的漏电电阻值对比，漏电电阻值小的一次，黑表笔所接触的是电解电容器的负极。

　　用万用表对电容器进行检测时应注意以下三点:

　　①不论对电容器进行漏电电阻的测量，还是短路、断路的测量，在测量过程中要注意手不能同时碰触两根引线。

　　②由于电容器在测量过程中要有充、放电的过程，故当第一次测量后，必须要先放电（用万用表表笔将电容器两引线短路一下即可），然后才可进行第二次测量。

　　③对在路电容器进行检测时，必须弄清所在电路的其他元器件是否影响测量结果，一般情况下应尽量不采用在路测量。

固定电容器的检测

　　1）漏电电阻的测量用万用表的欧姆挡（Rx1Ok或Rx1k挡，视电容器的容量而定。

测大容量的电容时，把量程放小，测小容量电容器时，把量程放大），把两表笔分别接触电容器的两引线脚，此时表针很快向顺