粉体的基本性质.docx

粉体的基本性质.docx

《粉体的基本性质.docx》由会员分享，可在线阅读，更多相关《粉体的基本性质.docx（37页珍藏版）》请在冰豆网上搜索。

粉体的基本性质

第一章粉体的基本性质

所谓粉体就是大量固体粒子的集合体，而且在集合体的粒子间存在着适当的作用力。

粉体由一个个固体粒子所组成，它仍具有固体的许多属性。

与固体的不同点在于在少许外力的作用下呈现出固体所不具备的流动性和变形。

它表示物质存在的一种状态，即不同于气体、液体，也不完全同于固体，正如不少国外学者所认为的，粉体是气、液、固相之外的第四相。

粉体粒子间的相互作用力，至今仍无明确的定量概念。

通常是指在触及它时，集合体就发生流动、变形这样大小的力。

粉体粒子间的适当作用力是粒子集合体成为粉体的必要条件之一，粒子间的作用力过大或过小都不能成为粉体。

材料成为粉体时具有以下特征：

能控制物性的方向性；即使是固体也具有一定的流动性；在流动极限附近流动性的变化较大；能在固体状态下混合；离散集合是可逆的；具有塑性，可加工成型；具有化学活性。

个人收集整理勿做商业用途

组成粉体的固体颗粒其粒径的大小对粉体系统的各种性质有很大的影响，同时固体颗粒的粒径大小也决定了粉体的应用范畴。

各个工业部门对粉体的粒径要求不同，可以从几毫米到几十埃。

通常将粒径大于1毫米的粒子称为颗粒，而粒径小于1毫米的粒子称为粉体。

个人收集整理勿做商业用途

在材料的开发和研究中，材料的性能主要由材料的组成和显微结构决定。

显微结构，尤其是无机非金属材料在烧结过程中所形成的显微结构，在很大程度上由所采用原料的粉体的特性所决定。

根据粉体的特性有目的地对生产所用原料进行粉体的制备和粉体性能的调控、处理，是获得性能优良的材料的前提。

个人收集整理勿做商业用途

第一节粉体的粒度及粒度分布

粉体颗粒是构成粉体的基本单位。

粉体的许多性质都由颗粒的大小及分布状态所决定。

粒径或粒度都是表征粉体所占空间范围的代表性尺寸。

对单个颗粒，常用粒径来表示几何尺寸的大小；对颗粒群，则用平均粒度来表示。

任何一个颗粒群不可能是同一粒径的粒子所组成的单分散系统，也就是说颗粒群总是由不同粒度组成的多分散系统。

为此，对于颗粒群来说，最重要的粒度特征是平均粒度和粒度分布。

个人收集整理勿做商业用途

一、单个颗粒的粒径

以一因次值即颗粒的尺寸表示粒度时，该尺寸称为粒径。

若颗粒为球体，则粒子的粒径就为球体直径。

如果颗粒为正方体，则粒子粒径可用其棱边长、主对角线或面对角线长来表征。

总之，几何形状规则的颗粒（如圆柱体、三角锥体）均可以用直径或边长来作粒径的代表尺寸。

但是，实际的粉体形状相当复杂，而且，每一个颗粒都有其独自的形状，对于形状不规则的颗粒，其粒径的确定就比较困难，此时就采用一个虚拟的“直径”来表示其粒径的大小。

这虚拟的“直径”是利用某些与颗粒大小有关的性质（如表面积、体积等）的测定，在一定条件下或通过一定的公式推导出的具有线性量纲的“演算直径”。

“演算直径”常有三轴径、球当量径、圆当量径和统计径四大类。

个人收集整理勿做商业用途

1、三轴径

设有一最小体积的长方体（外接长方体）恰好能装入一个颗粒，如图1-1所示。

以该长方体的长度l、宽度b、高度t定义颗粒的尺寸时，就称为三轴径。

如采用显微镜测定，所观测到的是颗粒的平面图形，将间距最近的两平行线间的距离称为短径b，与其垂直方向的平行线间的距离称为长径l，由显微镜载玻片至颗粒顶面间的距离称为高度t。

用显微镜测定时，通常先确定长径，然后，取垂直方向作为短径。

这种取定方法，对于必须强调长形颗粒存在时较为有利。

三轴径的平均计算式及物理意义列于表1-1。

个人收集整理勿做商业用途

图1-1颗粒的外接长方体

2、球当量径

无论是从几何学还是物理学的角度来看，球是最容易处理的。

因此，往往以球为基础，把颗粒看作相当的球。

与颗粒同体积的球的直径称为等体积球当量径；与颗粒同表面积的球的直径称为等表面积球当量径；与颗粒同比表面积的球的直径称为等比表面积球当量径。

另外，在流体中以等沉降速度下降的球的直径称为等沉降速度球当量径。

个人收集整理勿做商业用途

3、圆当量径

以与颗粒投影轮廓性质相同的圆的直径表示粒度。

与颗粒投影面积相等的圆的直径称为投影圆当量径。

它可通过装在显微镜目镜上的测微尺（尺上画有许多一定尺寸比的圆）观测确定。

另外，还有等周长圆当量径，它是指圆周与颗粒投影图形周长相等的圆的直径。

个人收集整理勿做商业用途

三轴径的平均值计公算式表1-1

序号

计算式

名称

物理意义

1

长短平均径，二轴平均径

（平面图形的算术平均）

2

三轴平均径

（算术平均）

3

三轴调和平均径

同外接长方体有相同比表面积的球的直径，或立方体的边长

4

二轴几何平均径

（平面图形的几何平均）

5

三轴几何平均径

同外接长方体有相同体积的立方体的一边长

6

同外接长方体有相同表面积的立方体的一边长

4、统计平均径

统计平均径是平行于一定方向（用显微镜）测得的线度，又称定向径。

费雷特（Feret）径：

其测定方法如图2-2（a）所示，用微动装置按一定方向移动显微镜下面装有试样的载玻片，同时用目镜测微尺进行测定。

由于载玻片上颗粒的排列无倾向性，因此，所统计的粒子是随机排列的。

个人收集整理勿做商业用途

马丁（Martin）径：

指沿一定方向把颗粒投影面积二等分线的长度，如图2-2（b）所示。

最大定向径：

沿一定方向测定颗粒的最大宽度所得的线度，如图2-2（c）所示。

图2-2投影粒径的种类

二、颗粒群的平均粒度

在实际中，所涉及的不是单个的颗粒，而是包含各种不同粒径的颗粒的集合，即粒子群。

对于不同粒径颗粒组成的粒子群，为简化其粒度大小的描述，常采用平均粒度的概念。

平均粒度是用数学统计方法来表征的一个综合概括的数值。

个人收集整理勿做商业用途

设粒子群中某一微分区段的粒径为di，其相应的粒子数为ni，则其平均粒度的计算方法主要有以下几种：

1、算术平均粒径

2、几何平均粒径

等式两边取对数，则

几何平均粒径特别适用于服从对数正态分布的粉体物料。

3、调和平均粒径

4、平均面积径

5、平均体积径

6、长度平均径

7、面积平均径

面积平均径特别适合于比表面积与平均粒径之间的换算，故又称比表面积粒径，是一个经常用到的平均粒径。

8、体积平均径

上述平均面积径、平均体积径、长度平均径、面积平均径、体积平均径又称为具有物理意义的平均粒径。

这些不同意义的平均粒径可以用一个通式来表示，即个人收集整理勿做商业用途

当q和p（q>p）取不同值时可分别处到前述各具有物理意义的平均粒径的计算公式，见表1-2。

尽管计算粒子群的平均粒径的方法很多，但是对于同一粒子群，用不同方法计算出的平均粒径都不相同。

以常用的算术平均径、几何平均径和调和平均径来说，其结果是算术平均径>几何平均径>调和平均径。

此外，有些平均粒径的计算方法反映了不同的物理意义。

因此，在一定情况下，只能应用某一种计算方法来确定它们的平均粒径。

与任何平均值一样，平均粒径只代表粒子群统计值特征的一个方面，不可能全面地表征出全部数量的性质，而这种性质对于一定的粒子群是完全确定的。

个人收集整理勿做商业用途

此外，安德列耶夫还提出用定义函数来求平均粒径。

设有粒径为d1、d2、、d3……组成的颗粒群，该颗粒群有以粒径函数表示的某物理特征f（d），则粒径函数具有加和性质，个人收集整理勿做商业用途

即：

f（d）=f（d1）+f（d2）+f（d3）+……

f（d）即为定义函数。

对于粒径为d1、d2、、d3……组成的颗粒

群，若以直径为D的等径球形颗粒组成的假

想颗粒群与其对应，如图1-3所示，如双方颗

粒群的有关物理特性完全相等，则下式成立

f（d）=f（D）

也就是说，双方颗粒群具有相同的物理性

质。

这是基本式，如D可求解，则它就是求

平均粒径的公式。

图1-3平均粒径的定义

平均粒径的计算式表1-2

平均径名称

符号

个数基准

质量基准

备注

个数（算术）平均径

D1

颗粒的总数或总长

长度平均径

D2

p=1q=2

面积平均径

D3

p=2q=3

体积平均径

D4

p=3q=4

平均表面积径

DS

p=0q=2

平均体积径

Dv

p=0q=3

调和平均径

Dg

平均比表面积

三、粉体颗粒的粒度分布

严格地讲，粉体的粒度分布都是不连续的。

但在实际测量中，可以将接近于连续的粒度范围视为许多个离散的粒级。

粉体的粒度分布常用粒度分布图谱和粒度特征函数式表示。

个人收集整理勿做商业用途

1、粒度分布图谱

颗粒群经粒度测定的结果可得到大量的测定值，这些大量的测定数据要用适当的方法加以综合处理，以便用来推断出可能的总体性质。

粒度分布图谱就是利用图示法来表征颗粒群的分布特征。

这种方法应用得较为广泛。

个人收集整理勿做商业用途

（1）频度分布

如图1-4和图1-5，这是在实际测量中经常碰到的两种频度分布直方图。

横坐标表示各粒级的起讫粒度；纵坐标表示该粒级的颗粒所占百分数∆φ/∆D。

图1-4是所取粒级的粒度间隔∆D相等的情况，而图1-5是∆D不相等的情况。

实际应用中，用哪种取法因具体粉体物系而异。

显然，各∆φ/∆D等于直方图中所对应矩形面积所占所有矩形总面积的百分数。

个人收集整理勿做商业用途

图1-4粒度间隔相等的矩形图和图1-5粒度间隔不相等的矩形

频率分布曲线图，以∆φ/∆D为纵坐标

在图1-4中，可以看到一条沿矩形图所作的一光滑曲线，这只是当测定的粒度间隔∆D取得无限小时，它才有意义，这条曲线称为频度分布曲线。

其意义是：

任何粒度间隔内颗粒的百分数等于曲线下方该间隔内的面积占曲线下方总面积的百分数。

图1-6是典型的频度分布曲线，在该曲线上表示有三个特征粒度。

它们分别对应于最高点的最多数径或最可几径Dm，对应于累积百分数为50%的中位径

以及平均径

，这三个特征粒度是非常有用的。

个人收集整理勿做商业用途

图1-6频度分布曲线图

Dm—最多数（量）径；

—中位径；

—平均径

如果已知频度分布曲线，那么就可以进行计算

=

式中：

n—粒度间隔的数目；

Di—每一间隔内的平均粒径；

—颗粒在该粒度间隔的个数或质量分数。

这里引用标准偏差σ的概念，它被定义为粒径Di对于平均径

的二次矩的平方根，即

σ反映了分布对于

的分散程度。

σ越大，表明分散性越大，反之，粒度分布越集中。

若图1-6中所示的曲线关于Dm对称，那么，它就符合正态分布，这时，恒有Dm=

=

。

若不对称即表明该分布有一定的偏度，这时Dm、

、

不相同。

用g表示这种偏度时有个人收集整理勿做商业用途

g=

它实际上是粒径Di关于

的三次矩。

若g>0，Dm<

<

，如图2-6，此时说分布是正偏的；若g<0，

<

个人收集整理勿做商业用途

对于任何粉体系统，如果知道了以上五个参数即Dm、

、

、σ以及g，就完全掌握和了解了该分散系的粒度特征。

（2）累积分布

图1-7是粉体粒度分布的另一种表现，即累积分布曲线（当然，更切合实际的是用矩形图表示）。

横坐标表示颗粒粒径；纵坐标F（%）表示在某Di以下的颗粒占总颗粒的个数或质量百分比。

图中F（%）=50%时所对应的

值，使

的物理意义更加明确。

实际上，累积分布曲线与频度分布曲线互为积分与微商的关系。

就各微小的等粒度间隔而言，对应于累积分布曲线越陡处即dF/dD越大处，间隔内的百分数越大。

个人收集整理勿做商业用途

图1-7累积分布曲线

2、粒度特征函数式

粒度特征函数式能很方便且精确地描述粒子群的粒度分布特征，它是用概率理论或近似函数的经验法来寻求出的数学函数。

用分布函数式不但可以表示粒度分布状态，而且，还可以用解析法求出各种平均径、比表面积、单位质量的颗粒数等颗粒特征。

此外，在实际测量时，尚能减少决定分布所需的测定次数。

个人收集整理勿做商业用途

粒度分布函数式有多种，仅对应用最广泛的三种基本分布式作介绍。

（1）正态分布

正态分布是一条钟形对称曲线，在统计学上称为高斯曲线。

对于以个数为基准的粒度分布可用下式表示

式中Dp为粒径，

为平均粒径，n为个数%。

该分布函数中的两参数

和σ，完全决定了粒度分布。

在正态概率纸上绘出的正态分布是一条直线。

因此，上式中的两个参数可方便地加以确定，平均粒径

与累计含量50%的粒径相对应；标准偏差σ是84%粒径与50%粒径之差。

个人收集整理勿做商业用途

前面已指出，标准偏差σ可表征分布的宽窄程度，但这仅对相同的

的若干粉体系统而言，而对不同

的粉体系统，则应以相对标准偏差α=σ/

来表征之。

α越小，频度分布曲线越“瘦”，表明分布越窄。

对于符合上式的粉体，当α=0.2时，则有68.3%的颗粒集中在（

±0.2

）这一狭小范围内。

所以，人们一般把α≤0.2的粉体物系近似地称为单分散系。

个人收集整理勿做商业用途

在工程上，除利用液相沉淀法制得的特种陶瓷粉末外，大多数颗粒粒度分布曲线都是偏钭的，很少符合正态分布。

（2）对数正态分布

通常，对于粉体来说，将是粗颗粒一侧形成长下摆，细颗粒一侧为自然形状，在Dp=0处终结的非对称分布。

如将横坐标的算术坐标改为对数坐标，则非对称分布就成为正态分布，其密度函数为个人收集整理勿做商业用途

式中Dg—几何平均值，lnDg=∑nDp/∑n；

σg—几何标准偏差

其分布函数为

如果粒子群的粒度分布符合于对数正态分布规律，则在对数正态概率格纸上绘制线图，其测定值散点必定在一条直线附近。

这种分布可用于任何总体数量，当用不同总体数量的一组试验数据来绘制线图时，则可得到一组平行线，如图1-8所示。

个人收集整理勿做商业用途

图1-8典型的对数正态分布图解

参数Dg和σg的确定：

令t=lnDp－lnDg/σg

经此标准化后，可应用正态分布表作如下计算

当t=0时，lnDg=lnDp

由正态分布表可知，t=0时，F（lnDp）=50%，则

lnDg=lnD50

式中D50—粒子群的中位径，它是表征粒子群粗强程度的一个参数。

当t=1时，lnσg=lnDp－lnDg

此时，F（lnDp）=84.13%或R（lnDR）=15.87%，则

lnσg=lnD84.13－lnD50=lnDR15.87－lnD50

当t=－1时，lnσg=lnDg－lnDp，

此时，F（lnDp）=15.87%或R（lnDR）=84.13%，则

lnσg=lnD50－lnD15.87=lnD50－lnDR84.13

式中D84.13、D15.87—分别表示筛下累积为84.13%和15.87%所对应的粒径；

DR15.87、DR84.13—分别表示累积筛余为15.87%和84.13%所对应的粒径

从而可知，σg是直线的钭率，它表征了粒子群粒度分布的均匀程度。

一般来说，对数正态分布适用于细磨，特别是超细磨矿物产品，其它如结晶产品，沉淀物料等细微粉体也大都与对数正态分布函数吻合。

个人收集整理勿做商业用途

（3）罗辛—拉姆勒—本尼特分布式

罗辛和拉姆勒等人用鄂式破碎机、对辊机、锤式破碎机和砾磨机等设备处理石英、煤及其它物料得到的筛析曲线说明，破碎产物的粒度特征之不同，既与物料性质又与设备类型有关。

通过整理、归纳出了用指数函数表示的粒度分布式个人收集整理勿做商业用途

F（Dp）=100－100exp（－b

）

如用正累积重量百分数（筛余）R（Dp）来表示，则

R（Dp）=100exp（－b

）

令b=1/

，则指数一项可写成无因次项，即

R（Dp）=100exp[－（Dp/De）m]

式中m—均匀性系数，表示粒度分布范围的宽窄程度。

m值愈小，说明粒度分布范围愈广，对微粒及粉碎产品，往往m≤1；个人收集整理勿做商业用途

De—特征粒径，表示颗粒群的粗细程度。

当Dp=De时，则

R（Dp）=100e-1=100/2.718=36.8%

亦即，De为正累积产率36.8%处的粒径。

对R（Dp）=100exp[－（Dp/De）m]等式两边各除100，并取倒数，其后连续取两次对数，可得个人收集整理勿做商业用途

式中C=log.loge－mlogDp。

在logDp与log[log（100/R（Dp））]坐标系中，上式作图为直线，根据直线钭率可求出m，由R（Dp）=36.8%处可求得De，这种图就称为罗辛—拉姆勒—本尼特图，简称R．R．B图，如图1-9所示。

个人收集整理勿做商业用途

R．R．B分布式对破碎、磨碎产物的粒度分布在大多数情况下均符合，尤其对细磨的煤、细磨的矿石、粉磨的石灰石和水泥等更为合适。

目前许多粒度分析仪都是以R．R．B分布式设计的。

个人收集整理勿做商业用途

图1-9R．R．B分布图

四、粒度的测定方法

粒度是粉体物性的重要特征之一，在粉体工程的研究以及粉体产品的生产中，常常用到诸如平均粒度、粒度组成和粒度分布等数据，这些数据是通过各种粒度测定方法得到的。

因此，粒度测定方法是粉体工程研究的主要内容之一，在研究与生产起着必不可少的作用。

个人收集整理勿做商业用途

最简单也是用得最早和应用最广泛的粒度测定方法是筛分法。

随科学技术的发展，为粉体粒度的测定提供了各种方法和仪器。

如沉降法，显微镜法（包括光学显微镜和电子显微镜），库尔特计数器和激光粒度分析仪等等。

这此测定方法的原理、测定方法和特点大致如表1-3所示。

个人收集整理勿做商业用途

由于各种粒度测定方法的物理基础不同，同一样品用不同的测定方法得到的粒度的物理意义甚至粒度大小也不尽相同。

同时在各种粒度测定方法中，有的较简单、费用较低，但测定时间较长且精度较低；有的测定时间短、精度较高，但费用也较高而且仪器复杂等等。

在选择粒度测定方法时，要根据粒度范围、物料性质、颗粒大小的表现形式、测定结果的用途以及所需的测定精度等综合考虑。

个人收集整理勿做商业用途

粉体粒度物料测定方法表1-3

方法或仪器

名称

基本原理

测定范围

μm

特点

丝网筛

通过一组筛子将样品分散，称重各粒级，可获得粒度重量累积分布。

38~1000

方法简单、快速，可获得平均粒度和粒度分布，分干法和湿法两种筛析法

电沉积筛

物料通过电成型的微孔筛将样品分级

5~56

近年来开始在工程技术上使用的一种新型筛析仪器

重

力

沉

降

移液管法

分散在沉降介质中的样品颗粒，其沉降速度是颗粒大小的函数，通过测定分散体系因颗粒沉降而发生的浓度变化，测定颗粒大小的粒度分布

1~100

仪器便宜，方便简单，安德逊移液管法应用很广。

缺点是测定时间长，分析、计算工作量大

比重计法

利用比重计在一定位置所示悬浊液比重随时间的变化测定粒度分布

1~100

浊度法

利用光透过法或X射线透过法测定因分散体系浓度变化引起的浊度变化，测定样品的粒度分布

0.1~100

自动测定，数据不需处理便可得到分布曲线，可用于在线粒度分析

天平法

通过测定已沉降下来的颗粒的累积重量测定粒度分布

0.1~150

自动测定和自动记录，但仪器较贵，测定小颗粒，误差较大

离心沉降

在离心力场中，颗粒沉降也服从斯托克斯定律，利用圆盘离心机使颗粒沉降，测定分散体系的浓度变化；或者使样品在空气介质离心力场中分级，从而得到粒度分布

0.01~30

测定速度快，是超细粉体颗粒的基本粒度测定方法之一，可得到颗粒大小和粒度分布，是较先进的测定方法之一，用途广泛

方法或仪器

名称

基本原理

测定范围

μm

特点

库尔特计数器

悬浮在电解液中的颗粒，通过一小孔时，由于排出一部分电解液而使液体电阻发生变化，这种变化是颗粒大小的函数，电子仪器自动记录下粒度分布

0.4~200

速度快、精度高、统计性好，完全自动化，近年来应用较广，可得到颗粒粒度和粒度分布

激光粒度

分析仪

根据夫琅和费衍射原理测定颗粒粒度和粒度分布

2~176

自动化程度高，操作简单，测定速度快，重复性好，可用于在线粒度分析

显

微

镜

光学显

微镜

把样品分散在一定的分散液中制取样片，测颗粒影像，将所测颗粒按大小分级，便可求出以颗粒个数为基准的粒度分布

1~100

直观性好，可观察颗粒形状，但分析的准确性受操作人员主观因素影响较大

扫描和透射电子显微镜

与光学显微镜方法相似。

用电子束代替光源，用磁铁代替玻璃透镜。

颗粒由显微镜照片显示出来

0.001~10

测定亚微米颗粒、粒度分布和颗粒形状的基本方法，广泛用于科学研究，仪器昂，需专人操作

透过法

把样品压实，通过测定空气流通过样品床时的阻力，用柯增尼—卡曼理论计算样品的比表面积，引入形状系数，可换算成平均料径

0.01~100

仪器简单、测定迅速、再现性好，但不能测定粒度分布数据。

另外，测定时样品一定要压实

BET法

根据BET吸附方程式，用测定的气体吸附量求比表面积，引入形状系数，可换算成平均粒径

0.003~3

这是常用的比表面积测定法，再现性好，精度较高，但数据处理较复杂

1、筛分法

筛分分析是利用筛孔大小不同的一套筛子进行粒度分级。

对于粒度小于100mm而大于0.038mm的松散物料，一般用筛分测定其粒度组成的粒度分布。

个人收集整理勿做商业用途

筛分分析采用的套筛一般有两种：

一种为非标准筛，实验室可以自己制造，用于筛分粗粒物料。

筛孔大小一般为150、120、80、70、50、25、15、12、6、3、2、1等，根据需要确定。

另一种为标准套筛，用于筛分细粒物料。

标准套筛是由一套筛孔大小有一定比例的、筛孔宽度和筛丝直径都按标准制造的筛子组。

上层筛子的筛孔大，下层筛子的筛孔小，另外还有一个上盖（防止试样在筛分过程中损失）和筛底（用于直接接取最低层筛子的筛下产物）。

个人收集整理勿做商业用途

将标准筛按筛孔由大到小，从上到下排列起来，各个筛子所处的层位叫筛序；在叠好的筛序中，每两个相邻的筛孔尺寸之比叫筛序。

有些标准筛有一个作为基准的筛子叫基筛，如泰勒标准筛以200目筛子作为基筛。

表1-4所列为几种常见的标准筛。

个人收集整理勿做商业用途

粒度范围为6mm至0.038mm的物料的筛分分析，常用实验室标准套筛进行，可以用干法，也可以用湿法。

如果对筛析的精确度要求不甚严格，通常直接进行干法筛析。

但如果试样含水、含泥较多，物料互相粘结时，应采用干湿联合筛析法，筛析得到的结果才比较精确。

个人收集整理勿做商业用途

干法筛析的过程是，先将标准筛按筛序套好，把样品倒入最上层筛面上，盖好上盖，放到振筛机上筛分10~15分钟，然后依次将每层筛子取下，用手在橡皮布上筛分，若一分钟内所得筛下物料量小于筛上物料量的1%，则认为已达筛分终点，否则要继续筛分。

个人收集整理勿做商业用途

干湿联合筛分的过程是，先将试样倒入细孔筛（如200目或325目的筛子）中，盛水的盆内进行筛分，每隔一、二分钟，将盆内的水换一次，直到盆内的水不再混浊不止。

将筛上物料进行干燥和称重，并根据称出和重量和原样品重量之差，推算出洗出的细粒物料的重量。

然后再将干燥后的筛上物料用干法筛分析，并将所得最底层的筛下物料量与湿筛时洗出的细粒物料的含量合在一起计算。

筛析结束后，将各粒级物料用工业天平称重，各粒级物料重量之和与入筛物料重量之差不得超过入筛物料重量的1%，否则应重新筛析。

个人收集整理勿做商业用途

筛分方法可以测定粒度分布，通过绘制累积粒度特征曲线，还可以得到累积产率50%时的平均粒度。

筛分法的特点是设备简单、操作容易，但筛分结果受颗粒形状的影响较大。

另外，丝织筛对于筛析小于0.038mm的物料困难大。

个人收集整理勿做商业用途

使用电沉积筛网，目前可以筛分小至5μm的物料。

这种筛子用电铸镍制成，