超声检测二级级开卷考试内容例题.docx
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超声检测二级级开卷考试内容例题
UTⅡ级开卷考试内容
试题类型:
是非题、选择题和操作指导书。
试题内容:
1.特种设备安全监察法规知识;
2.特种设备制造及检验的规程、规则、技术标准中有关无损检测的各项规定;
3.对NB/T47013标准中UT内容的理解与应用;
4.针对具体承压设备试件编检测制操作指导书。
关于操作指导书
NB/T47013.1通用要求规定:
7.2.3操作指导书至少应包含以下内容:
a)操作指导书编号;
b)依据的工艺规程及其版本号;
c)检测技术要求:
执行标准、检测时机、检测比例、合格级别和检测前的表面准备;
d)检测对象:
承压设备类别,检测对象的名称、编号、规格尺寸、材质和热处理状态、检测部位(包括检测范围);
e)检测设备和器材:
名称和规格型号,工作性能检查的项目、时机和性能指标;
f)检测工艺参数;
g)检测程序;
h)检测示意图;
i)数据记录的规定;
j)编制者(级别)和审核者(级别);
k)编制日期。
NB/T47013.3超声检测规定:
4.3.3应根据工艺规程的内容以及被检工件的检测要求编制操作指导书。
其内容除满足NB/T47013.1的要求外,至少还应包括:
a)检测技术要求:
检测技术(直探头检测、斜探头检测、直接接触法、液浸法等)和检测波形等;
b)检测对象:
承压设备类别,检测对象的名称、规格、材质和热处理状态、检测部位等;
c)检测设备器材:
仪器型号、探头规格、耦合剂、试块种类,仪器和探头性能检测的项目、时机和性能指标等;
d)检测工艺相关技术参数:
扫査方向及扫查范围、缺陷定贵方法、检测记录和评定要求、检测示意图等。
表1超声检测工艺规程涉及的相关因素
序号
相关因素的内容
1
工件形状包括规格、材质等
2
检测面要求
3
检测技术(直探头检测、斜探头检测、直接接触法、液浸法等)
4
探头折射角及在工件中的波形(横波、纵波);探头标称频率、晶片尺寸和晶片形状
5
检测仪器类型
6
耦合剂类型
7
校准(试块及校准方法)
8
扫査方向及扫杏范围
9
扫査方式(手动或自动)
10
缺陷定量方法
11
计笄机数据采集(用到时);自动报警和/或记录装置(用到时)
12
人员资格要求;检测报告要求
设计操作指导书应包含的内容:
1.工件介绍;2.仪器及器材;3.技术要求;4.扫描线调节及说明;5.灵敏度校准及说明;6.扫查方式及说明;7.缺陷记录;8.不允许缺陷的规定;9.扫查示意图;10.编制及审核。
例1:
现场安装1000m3球罐,材质16MnR,主要技术参数是:
容器类别:
三类;设计压力:
1.8MPa;设计温度:
50℃;钢板规格:
4900×1800×42mm;
要求:
钢板纵波和横波超声探伤。
执行标准:
NB/T47013.3---2015,球罐钢板100%检验,Ⅱ级合格。
编制钢板超声探伤操作指导书。
工件
工件名称
球壳板
工件编号
规格(mm)
4900×1800×42mm
材料牌号
16MnR
表面状态
轧制面
热处理状态
/
仪器及器材
仪器型号
HS600
耦合剂
水
探头型号
2MHz双晶直探头、2MHzK=1斜探头
试块
2#试块:
V型槽试块:
技术要求
检测标准
NB/T47013.3—2015
检测时机
安装前
检测比例
100%
合格级别
Ⅱ级
检测面
任一轧制面
扫查速度
<150mm/s
扫查范围
板材中部及板材边缘扫查
检测灵敏度
直探头检测灵敏度为φ5平底孔;
斜探头检测灵敏度为1.2mm深V型槽。
表面补偿
4db
扫描线调节及说明
双晶直探头探伤采用深度1:
1调节,使钢板第一次底波位于扫描线内;
K1斜探头探伤采用深度1:
2调节,使第二跨距V型槽回波位于扫描线内。
灵敏度校准及说明
1.双晶直探头探伤时,以2号φ5平底孔试块上15mm、30mm、45mm3个平底孔回波制作距离—波幅曲线,以此作为基准灵敏度。
2.扫查灵敏度提高6db。
3.K1斜探头探伤时,在钢板上加工张角60°的V型槽,长度25mm、深度1.2mm。
探头对准V型槽,找出第一跨距最大反射波幅,使该波达80%满幅;仪器状态不变,移动探头找到第二跨距最大回波。
连接两回波顶点,作为距离—波幅曲线,以此作为检测灵敏度。
扫查方式说明
1.双晶直探头探伤:
板材边缘50mm范围内100%扫查;板材中部区域探头沿垂直和平行于板材压延方向且间距不大于100mm的格子线进行扫查。
2.双晶直探头扫查时,探头的移动方向应与探头的隔声层相垂直。
3.K1斜探头探伤:
在板材的轧制面上以垂直和平行于板材轧制方向的格子线进行扫查,格子线中心距为200mm。
缺陷的记录
1.直探头探伤,缺陷第一次反射波(F1)波幅高于距离—波幅曲线的位置;
2.直探头探伤,底面第一次反射波(B1)波幅低于显示屏满刻度的50%的位置;
3.斜探头探伤,波幅等于或超过距离波幅曲线的缺陷位置;对于波幅低于距离—波幅曲线的缺陷,当指示长度较长时,也应作记录。
不允许的缺陷
1.白点、裂纹不允许;
2.板材中部检测区域:
双晶直探头检测时,单个缺陷指示面积S大于100mm2;任一1m×1m检测面积内,当50<S≤100mm2时,超过10个;
3.板材边缘检测区域:
双晶直探头检测时,单个缺陷指示长度Lmax大于30mm;单个缺陷指示面积S大于100mm2;当15<L≤30时,超过3个。
4.K1斜探头检测时:
等于或超过距离—波幅曲线的任何缺陷信号。
扫查示意图
纵波双晶直探头扫查
横波斜探头扫查
编制人(资格)UTⅡ
年月日
审核人(资格)UTⅢ
年月日
锻件超声检测操作指导书
5.2承压设备用原材料或零部件的超声检测工艺文件
原材料或零部件的超声检测工艺文件除了应满足4.3的要求之外,还应包括表2所列的相关因素。
表2原材料或零部件超声检测工艺规程涉及的相关因素
序号
相关因素的内容
1
产品形式(板材、管材、锻件等)
2
检测时机(如热处理前或后)
3
检测范围
4
质量验收等级
例2:
筒形锻件:
外径2000mm,壁厚200mm,长度2200mm;材质SA508―Ⅲ。
按NB/T47013.3—2015标准进行超声检测,合格级别为Ⅰ级,热处理前第一次探伤。
编制锻件超声探伤操作指导书。
工件
工件名称
筒形锻件
工件编号
规格(mm)
φ2000×2200×200
材料牌号
SA508-Ⅲ
表面状态
机加工
热处理状态
/
仪器及器材
仪器型号
HS600
耦合剂
机油
探头型号
直探头:
2.5P20Z斜探头:
2.5P12×12K1
试块
直探头检测:
工件底面;
斜探头检测:
在工件加工余料部分开V型槽,深2mm、
长25mm、张角60°。
技术要求
检测标准
NB/T47013.3—2015
检测时机
机加工后、热处理前
检测比例
100%
合格级别
Ⅰ级
检测面
筒体外圆面及端面
扫查速度
<150mm/s
扫查范围
筒体整个截面
检测灵敏度
直探头探伤:
φ2平底孔
斜探头探伤:
2mm深V型槽
表面补偿
0db
扫描线调节及说明
1.圆周面直探头探伤:
深度1:
2.5调节,使工件底波位于水平刻度的80%;
2.圆周面斜探头探伤:
深度1:
5调节,使V型槽第二次回波位于扫描线内;
3.端面直探头探伤:
深度1:
250调节,使2200mm处底波位于扫描线内。
灵敏度校准及说明
1.圆周面直探头探伤基准灵敏度:
BG80%+36.5db;
2.端面直探头探伤:
2200mm处底波BG100%,做透声性检测;
3.圆周面K1斜探头探伤:
从锻件外圆面将探头对准内圆面的V型槽,调整增益,使最大反射波高度为满刻度的80%,将该值标在面板上,不改变仪器状态,再移动探头测定外圆面的V型槽,并将最大反射波高度标在面板上。
用直线连接两顶点,绘制距离—波幅曲线,以此作为探伤基准灵敏度;
4.扫查灵敏度提高6db。
扫查方式说明
1.直探头外圆面探伤:
在外圆面100%探伤,探头间应有15%晶片尺寸的覆盖;
2.直探头端面探伤:
在两端面100%探伤,探头间应有15%晶片尺寸的覆盖;
3.斜探头外圆面探伤:
沿周向作正、反两个方向的100%探伤;沿轴向作正、反两个方向的100%探伤;探头间应有15%晶片尺寸的覆盖。
缺陷的记录
1.记录当量直径大于φ4的单个缺陷;
2.记录当量直径大于φ2的密集缺陷区,记录密集缺陷区中的最大缺陷当量及缺陷分布;
3.记录由缺陷引起的底波降低量BG/BF大于6db的区域;
4.用K1斜探头检测时,记录波幅在距离—波幅曲线高度50%以上的缺陷反射波及其位置。
不允许的缺陷
1.白点、裂纹不允许;
2.大于φ4当量直径的单个缺陷;
3.由缺陷引起的底波降低量BG/FG大于6db的区域;
4.缺陷密集区;
5.K1斜探头探伤时,指示长度大于60mm(1/3壁厚)缺陷。
扫查示意图
纵波直探头探伤
横波斜探头探伤
编制人(资格)UTⅡ
年月日
审核人(资格)UTⅢ
年月日
焊缝超声检测操作指导书
6.2承压设备焊接接头超声检测工艺文件
焊接接头超声检测的工艺文件除了应满足4.3的要求之外,还应包括表21所列的相关因素。
表21焊接接头超声检测工艺规程涉及的相关因素
序号
相关因素的内容
1
焊接接头类型和几何形状,包括工件规格、厚度、尺寸和产品形式(如板焊、锻焊等)
2
焊接方法、焊接工艺(如坡口型式、角度等)
3
检测技术等级
4
母材检测
5
检测时机(如焊后或热处理后或耐压试验后等)
6
检测区(范围等)
7
附加检测(如需要)及要求
8
验收级别(质量等级)
例3:
某单位生产一吸附罐,压力0.2MPa,规格Φ1800×18×6000,坡口为X型,焊缝余高内外均为2mm,材质为07MnCrMoVR,焊接方法埋弧自动焊,现对该吸附罐对接环焊缝B2、B3进行UT检测,执行标准为NB/T47013.3—2015
B级检测,Ⅰ级合格。
编制焊缝超声探伤操作指导书。
工件
工件名称
吸附罐
工件编号
规格(mm)
Φ1800×18×6000
材料牌号
07MnCrMoVR
检测部位
环缝B2、B3
坡口型式
X型
表面状态
打磨
焊接方法
埋弧自动焊
仪器及器材
仪器型号
HS600
耦合剂
化学浆糊
探头型号
4MHz9×9K2横波斜探头
试块
CSK—ⅠA试块校准探头入射点及K值;
CSK—ⅡA–1试块,绘制距离—波幅曲线
技术要求
检测标准
NB/T47013.3—2015
检测技术等级
B级
检测比例
Ⅰ级
检测面
容器外表面
检测面
B2、B3100%
扫查速度
<150mm/s
扫查范围
一面两侧扫查,扫查范围是:
自焊缝熔合线始探头移动宽度为100mm,检测纵向缺陷。
即b=1.25PP=2KT
一面两侧斜平行扫查,检测横向缺陷。
检测灵敏度
Φ2×40长横孔
表面补偿
4db
检测时机
焊后24小时
扫描线调节及说明
外圆面斜探头探伤扫描线按深度1:
1调节,使超声检测覆盖整个检测区。
灵敏度校准及说明
1.用CSK—ⅡA—1试块深度为5mm、10mm、15mm、20mm的φ2×40mm长横孔绘制距离—波幅曲线的基准线;
2.评定线为基准线-18db;定量线为基准线-12db;判废线为基准线-4db。
形成距离—波幅曲线。
3.调节仪器增益,使时基线上深度38mm处与评定线垂直相交点至少达到示波屏满刻度的20%,记录此时仪器的db值,即完成扫查灵敏度的设定。
4.检测横向缺陷时,提高灵敏度6db。
扫查方式说明
1.纵向缺陷检测:
在扫查灵敏度下,用锯齿形扫查的方式找出B2、B3环缝中属于检测区内的纵向缺陷。
探头前后移动的范围应保证扫查到焊接接头的整个截面;
2.横向缺陷检测:
以扫查灵敏度为基准,提高灵敏度6db,用斜平形扫查方式找出B2、B3环缝中属于检测区的横向缺陷;
3.探头扫查每次的覆盖范围为探头宽度的15%;
4.为观察缺陷动态波形和区分缺陷信号或伪缺陷信号,确定缺陷的位置、方向和形态,可采用前后、左右、转角和环绕扫查。
缺陷的记录
记录所有回波幅度达到或高于评定线的缺陷信号(位置、波幅和指示长度)。
不允许的缺陷
1.裂纹、未熔合、未焊透不允许;
2.Ⅰ区缺陷大于50mm;
3.Ⅱ区缺陷大于10mm(t/3,最小可为10mm);
4.任意160mm焊缝长度范围内,多个缺陷累计长度大于18mm(任意9t焊缝长度范围内,多个缺陷累计长度不超过t)。
扫查示意图
编制人(资格)UTⅡ
年月日
审核人(资格)UTⅢ
年月日
例4:
插入式管座角焊缝,筒体规格:
φ2600×32mm;Q345R插管规格:
φ625×15mm20g。
焊缝宽度25mm。
要求:
在筒体外表面及插管内表面对管座角焊缝进行检查,执行标准NB/T47013.3—2015
B级检测,Ⅰ级合格。
编制操作指导书。
检测对象
工件名称
插入式管座角焊缝
工件编号
/
规格(mm)
φ2600×32mm/
φ625×15mm
材料牌号
Q345R/20g
检测部位
/
坡口型式
/
表面状态
打磨后外观检查合格
焊接方法
手工电弧焊
仪器及器材
仪器型号
HS600
耦合剂
机油
探头型号
■5Pφ14■2.5P10×12K2□5P13×13K3
试块
CSK--ⅠA
对比试块
CSK--ⅡA--2
技术要求
检测标准
NB/T47013.3-2015
检测技术等级
B级
检测比例
Ⅰ级
检测比例
100%
检测面
斜探头:
筒体外表面
直探头:
接管内表面
检测波形
斜射横波
直射纵波
扫查速度
<150mm/s
表面补偿
实测
检测区宽度
斜探头:
焊缝本身加焊缝两侧熔合线各向外延伸10mm,(一侧在筒体上;一侧在接管上)
直探头:
接管侧焊缝本身加焊缝两侧熔合线各向外延伸10mm。
扫查灵敏度
直探头:
深度50mm处φ2×40—18db,曲线最远端≥20%屏高;
斜探头:
纵向缺陷检测:
深度60mm处φ2×40—18db,曲线最远端≥20%屏高;
横向缺陷检测:
提高灵敏度6db。
检测时机
■焊后24h□返修后□机加工后□轧制后
□热处理后■打磨后
检测设备器材的检查
1.每次检测前检查仪器设备器材外观、线缆连接和开机信号显示等情况是否正常。
2.使用斜探头时,检测前应测定入射点(前沿距离)和折射角(K值)。
灵敏度校准及说明
直探头:
用CSK--ⅡA--2试块制作φ2×40基准线,至少测定5点,孔深范围10~50mm;然后将仪器参数中的判废线调整为φ2×40—4db;定量线调整为φ2×40—12db;评定线调整为φ2×40—18db;即生成三条线。
调整仪器使50mm深度处评定线位于示波屏20%高度或以上,并记录此时仪器db值。
斜探头:
用CSK--ⅡA--2试块制作φ2×40基准线,至少测定5点,孔深范围10~60mm;然后将仪器参数中的判废线调整为φ2×40—4db;定量线调整为φ2×40—12db;评定线调整为φ2×40—18db;即生成三条线。
调整仪器使60mm深度处评定线位于示波屏20%高度或以上,并记录此时仪器db值。
检测横向缺陷时,提高灵敏度6db。
扫查方式说明
1.直探头:
以扫查灵敏度在插管内壁检测区内作锯齿形扫查,主要检测焊接接头中与插管表面平行的缺陷。
2.斜探头:
以纵向缺陷扫查灵敏度在筒体外侧作锯齿形扫查,检测焊缝中的纵向缺陷;
以横向缺陷检测灵敏度在筒体外部作锯齿形扫查,检测焊缝中的横向缺陷;
斜探头检测时,探头移动区域应不小于160mm。
(1.25PP=2KT)
斜探头检测对缺陷定位、定量时,应采用前后、左右、转角、环绕等扫查方式;
3.探头每次扫查应有不少于15%探头直径的覆盖。
缺陷的记录
对达到或超过评定线的缺陷,应记录其位置(包括深度、水平距离)、波幅和指示长度等。
不允许的缺陷
1.不允许裂纹、未熔合、未焊透等缺陷;
2.波幅位于Ⅰ区且指示长度>50mm的缺陷;波幅位于Ⅱ区且指示长度>10mm的缺陷;
3.波幅位于Ⅲ区的所有缺陷;
4.任意270mm焊缝长度范围内,波幅位于Ⅱ区的多个缺陷,累计长度大于30mm。
扫查示意图
编制人(资格)UTⅡ
年月日
审核人(资格)UTⅢ
年月日
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- 超声 检测 二级 开卷 考试内容 例题