SOP03011可靠性测试规范E.docx
- 文档编号:4256188
- 上传时间:2022-11-28
- 格式:DOCX
- 页数:18
- 大小:268.17KB
SOP03011可靠性测试规范E.docx
《SOP03011可靠性测试规范E.docx》由会员分享,可在线阅读,更多相关《SOP03011可靠性测试规范E.docx(18页珍藏版)》请在冰豆网上搜索。
SOP03011可靠性测试规范E
SOP
文件编号:
SOP-030-11
文件名称:
可靠性测试规范
版本号:
E
RevisionSummary(每次创建或修改时使用空白表格在第一行写入本次变更内容)
版本号:
文件生成时间:
变更描述:
变更原因:
变更人:
A
2011-11-9
新增
新增
钟鸣
B
2012-11-9
1、改名为“可靠性测试规范”
2、由于新增“物料认可SOP”,调整相应内容以保持一致;
3、调整LTOL条件为PowerON/OFF;
4、MSL、TS后增加热测、ΔVF等检视手段;
5、对于非COB产品,材料焊在FR4板上,再进行TS、HTS、TH等试验;
6、测试申请由email方式,改为以《可靠性测试申请单》书面方面;
变更
袁友行
C
2013-7-4
1、6.3中新增可靠性试验失败后的应对措施。
变更
袁友行
D
2013.12.25
1、实验项目WHTOL取消ON/OFF,时间由500H1000H;
2、光通量失效判定标准0.70.9;
3、增加色漂判定标准Du’v’>0.004;
变更
袁友行
E
2015.3.30
1、6.2实验项目按照不同客户、不同项目进行区分说明;
2、6.3增加新产品,衍生产品的定义及其可靠性测试要求;
变更
袁友行
变更人/核准人员
变更人:
核准人:
会签:
会签部门:
签字、日期
会签核准部门:
签字、日期
1.0目的:
对可靠性测试各流程进行有效管理,确保可靠性测试结果准确;通过对公司新产品、新物料、常规产品进行可靠性测试,确保公司产品的可靠性符合客户要求;
2.0范围:
适用于公司所有产品(新产品、新物料、常规产品等)的各项可靠性测试项目;
3.0职责:
可靠性工程师:
1.制定可靠性测试规范,配备相应的软硬件以实现各实验项目;
2.按照《测试申请单》进行相应可靠性测试;
3.采取措施,确保老化过程严格执行实验要求;
4.当公司内部缺乏某些实验手段时,选择合格的第三方实验室执行试验;
5.总结《可靠性测试报告》;
物料工程师:
制定物料评估、认证计划,并负责提交试样阶段的可靠性试验申请单;
研发工程师:
制定新产品评估、认证计划,并负责提交试样阶段的可靠性试验申请单;
品质工程师:
制定常规产品可靠性评估计划,并负责提交常规产品的可靠性试验申请;
4.0安全:
无
5.0定义:
可靠性:
一个系统在规定条件下,在规定时期内,能成功实现其预定功能的可能性。
新产品:
新增产品,即新开发产品;
衍生产品:
在成熟产品的基础上,根据客户需求,或者自主开发,不变更支架,只是变更芯片,荧光粉等对整体制程不产生影响的产品。
6.0流程:
6.1一般流程与要求
6.1.1研发工程师、物料工程师、品质工程师以书面形式向实验室提交《测试申请单》,提交相应样品,在申请单中详细填写实验样品的各项信息,及委托项目;
6.2实验项目
6.2.1常规SMD产品的实验项目及判定标准:
No.
测试项目
Testitem
参考标准
Referencestandard
测试条件
Testcondition
测试时间
Testduration
判定标准
Criteria
样品数Unit
Failed/Tested
1
高温老化HTOL
JESD22-A108
Ts=85℃,TypicalIF
1000h
deltaflux≥90%
deltax/y≤0.005
0/10
2
高温老化HTOL2
JESD22-A108
Ts=105℃,TypicalIF
1000h
供参考
0/10
3
高温高湿老化WHTOL
JEITAED-4701/102
Ta=85℃,85%RH,TypicalIF
500h
deltaflux≥70%
deltax/y≤0.03
0/10
4
潮气敏感度MSL
IPC/JEDECJ-STD-020
85℃/85%环境下吸湿12h以上贴片三遍回流焊
无死灯、缺亮
0/20
5
温度冲击TS
JESD22-A106B
-45℃∽125℃,15mindwell,lessthan20sectransfertime
100cycle
无死灯、缺亮
sequencefromMSL
6
高温存储HTS
JEITAED-4701/201
Ta=100℃
1000h
deltaflux≥90%
deltax/y≤0.005
0/10
7
高温高湿存储TH
JEITAED-4701/103
Ta=60℃,90%RH
1000h
deltaflux≥90%
deltax/y≤0.005
0/10
8
静电放电人体模式ESDHBM
JESD22-A114ESDHBMmode
2KV@85%fornormalLED,
8KV@100%forLEDwithzener
供参考
0/20
9
硫渗透试验SP
将1g硫磺粉末置于400ml容器底部,把LED放入容器内,LED与硫粉不接触,密闭容器,然后将整个容器放入75℃烤箱中储存 4h,8h,12h,……
供参考
0/10
10
热阻测试TR
JESD51-14
供参考
0/2
6.2.2常规COB产品的实验项目及判定标准:
No.
测试项目
Testitem
参考标准
Referencestandard
测试条件
Testcondition
测试时间
Testduration
判定标准
Criteria
样品数Unit
Failed/Tested
1
高温老化HTOL
JESD22-A108
Ts=85℃,TypicalIF
1000h
deltaflux≥95%
deltax/y≤0.005
0/3
2
高温老化HTOL2
JESD22-A108
Ts=105℃,TypicalIF
1000h
供参考
0/3
3
高温高湿老化WHTOL
JEITAED-4701/102
Ta=85℃,85%RH,TypicalIF
1000h
deltaflux≥90%
deltax/y≤0.03
0/3
4
温度冲击TS
JESD22-A106B
-45℃∽125℃,15mindwell,lessthan20sectransfertime
100cycle
无死灯、缺亮
0/5
5
高温存储HTS
JEITAED-4701/201
Ta=100℃
1000h
deltaflux≥95%
deltax/y≤0.005
0/3
6
高温高湿存储TH
JEITAED-4701/103
Ta=60℃,90%RH
1000h
deltaflux≥95%
deltax/y≤0.005
0/3
7
静电放电人体模式ESDHBM
JESD22-A114ESDHBMmode
2KV@85%fornormalLED,
8KV@100%forLEDwithzener
供参考
0/5
8
硫渗透试验SP
将1g硫磺粉末置于400ml容器底部,把LED放入容器内,LED与硫粉不接触,密闭容器,然后将整个容器放入75℃烤箱中储存 8h,24h,48h……
供参考
0/3
9
热阻测试TR
JESD51-14
供参考
0/2
6.2.3TCLBLU产品的实验项目及判定标准:
No.
实验名称
实验方法
判断依据
数量
备注
1
80℃极限高温试验
Ta=80℃;1000h;额定电流;实际散热片;平置;
deltaflux≥85%
deltax/y≤0.015
5*N
(N:
单台整机所用LB条数;)
实验后无黄化等显性不良
2
45℃高温老化试验
Ta=45℃;1000h;最大电流;散热片确保LED结温<110℃;平置;
deltaflux≥85%
deltax/y≤0.015
3
ESD
ESDHBMmode,±4KV,10次,LB引脚地,不接地,不驱动
灯条试验后能正常点亮
5
4
硫渗透试验SP
将1g硫磺粉末置于400ml容器底部,把LED放入容器内,LED与硫粉不接触,密闭容器,然后将整个容器放入75℃烤箱中储存8h
deltaflux≥80%
10
6.2.4创维BLU产品的实验项目及判定标准:
No.
测试项目
Testitem
测试条件
Testcondition
测试时间
Testduration
判定标准
Criteria
样品数Unit
Failed/Tested
1
高温老化HTOL
Ta=65℃,TypicalIF
500h
deltaflux≥70%
deltaVF<10%
IR<2倍初始值
不可有外观性不良
0/6
2
高温存储HTS
Ta=85℃
500h
0/6
3
低温老化LTOL
Ta=-40℃,TypicalIF
500h
0/6
4
低温存储LTS
Ta=-40℃
500h
0/6
5
高温高湿老化WHTOL
Ta=85℃,85%RH,TypicalIF
179h
0/6
6
温度冲击TS
-45℃∽125℃,15mindwell,lessthan20sectransfertime
100cycle
无死灯、缺亮
sequencefromMSL
7
静电人体模式
ESDHBMmode
接触放电,参考国际静电协会(ANSI)标准中电压等级:
2级(2KV)
0/2
6.2.5L项目的实验项目及判定标准:
No.
测试项目
Testitem
参考标准
Referencestandard
测试条件
Testcondition
测试时间
Testduration
判定标准
Criteria
样品数Unit
Failed/Tested
(non-COB)
1
高温老化HTOL
JESD22-A108
Ts=55℃,MaxIF
1000h
deltaflux≥85%
deltax/y≤0.007
deltaVF≤10%
0/20
2
高温老化HTOL2
JESD22-A108
Ts=85℃,MaxIF
1000h
0/20
3
低温老化LTOL
JESD22-A108
Ta=-40℃,MaxIF
1000h
0/20
4
高温高湿老化WHTOL
JEITAED-4701/102
Ta=85℃,85%RH,MaxIF,30minON/OFF
500h
0/20
5
高温存储HTS
JEITAED-4701/201
Ta=100℃
1000h
0/20
6
低温存储LTS
JEITAED-4701/201
Ta=-40℃
1000h
0/20
7
温度冲击TS
JESD22-A106B
-45℃∽125℃,15mindwell,lessthan20sectransfertime
300cycle
无死灯、缺亮
0/20
6.2.6光引擎产品的实验项目及判定标准:
No.
测试项目
Testitem
参考标准
Referencestandard
测试条件
Testcondition
测试时间
Testduration
判定标准
Criteria
样品数Unit
Failed/Tested
1
高温老化HTOL
JESD22-A108
Ts=85℃,120Vac/230Vac驱动
1000h
deltaflux≥90%
deltax/y≤0.005
0/3
2
Rapid-CycleStressTest
快速循环压力测试
ENERGY_STAR_Integral_LED_Lamps_Program_Requirements_V1.4
Ts=85℃,120Vac/230Vac驱动,2minON/OFF
1000h
deltaflux≥90%
deltax/y≤0.005
0/5
3
高温老化HTOL2
JESD22-A108
Ts=105℃,120Vac/230Vac驱动
1000h
供参考
0/3
4
高温高湿老化WHTOL
JEITAED-4701/102
Ta=60℃,90%RH,120Vac/230Vac驱动
1000h
deltaflux≥70%
deltax/y≤0.03
0/3
5
温度冲击TS
JESD22-A106B
-45℃∽125℃,15mindwell,lessthan20sectransfertime
100cycle
无死灯、缺亮
0/5
6
高温存储HTS
JEITAED-4701/201
Ta=100℃
1000h
deltaflux≥90%
deltax/y≤0.005
0/3
7
高温高湿存储TH
JEITAED-4701/103
Ta=60℃,90%RH
1000h
deltaflux≥90%
deltax/y≤0.005
0/3
8
静电测试
IEC61000-4-2(GBT17626)2KV
供参考
0/5
9
浪涌测试
供参考
0/5
10
抗雷击测试
供参考
0/5
(备注:
Rapid-CycleStressTest、HTOL2测试3000h供参考;)
6.2.7RG高色域产品的实验项目及判定标准:
No.
测试项目
Testitem
参考标准
Referencestandard
测试条件
Testcondition
测试时间
Testduration
判定标准
Criteria
样品数Unit
Failed/Tested
1
高温老化HTOL
JESD22-A108
Ts=85℃,TypicalIF
1000h
deltaflux≥70%
deltax/y≤0.03
0/10
2
高温老化HTOL2
JESD22-A108
Ts=105℃,TypicalIF
1000h
供参考
0/10
3
高温高湿老化WHTOL
JEITAED-4701/102
Ta=85℃,85%RH,TypicalIF
500h
deltaflux≥70%
deltax/y≤0.03
0/10
4
潮气敏感度MSL
IPC/JEDECJ-STD-020
85℃/85%环境下吸湿12h以上贴片三遍回流焊
无死灯、缺亮
0/20
5
温度冲击TS
JESD22-A106B
-45℃∽125℃,15mindwell,lessthan20sectransfertime
100cycle
无死灯、缺亮
sequencefromMSL
6
高温存储HTS
JEITAED-4701/201
Ta=100℃
1000h
deltaflux≥70%
deltax/y≤0.03
0/10
7
高温高湿存储TH
JEITAED-4701/103
Ta=60℃,90%RH
1000h
deltaflux≥70%
deltax/y≤0.03
0/10
8
静电放电人体模式ESDHBM
JESD22-A114ESDHBMmode
2KV@85%fornormalLED,
8KV@100%forLEDwithzener
供参考
0/20
9
硫渗透试验SP
将1g硫磺粉末置于400ml容器底部,把LED放入容器内,LED与硫粉不接触,密闭容器,然后将整个容器放入75℃烤箱中储存 4h,8h,12h,……
供参考
0/10
6.2.8FLASH产品的实验项目及判定标准:
No.
测试项目
Testitem
参考标准
Referencestandard
测试条件
Testcondition
测试时间
Testduration
判定标准
Criteria
样品数Unit
Failed/Tested
(non-COB)
1
高温老化HTOL
JESD22-A108
Ts=85℃,MaxIF
1000h
deltaflux≥90%
deltax/y≤0.005
0/10
2
高温老化HTOL2
JESD22-A108
Ts=105℃,MaxIF
1000h
供参考
0/10
3
高温高湿老化WHTOL
JEITAED-4701/102
Ta=85℃,85%RH,MaxIF
500h
deltaflux≥70%
deltax/y≤0.03
0/10
4
Pulsed operatinglife
—
Ta=25C,IF=MaxIFP,
TON=400msandToff=3600ms
30,000cycles
deltaflux≥90%
deltax/y≤0.005
无死灯
0/20
5
潮气敏感度MSL1
IPC/JEDECJ-STD-020
85℃/85%环境下吸湿168h以上贴片三遍回流焊
无死灯、缺亮
(供参考)
0/20
6
潮气敏感度MSL
IPC/JEDECJ-STD-020
85℃/85%环境下吸湿12h以上贴片三遍回流焊
无死灯、缺亮
0/20
7
温度冲击TS
JESD22-A106B
-45℃∽125℃,15mindwell,lessthan20sectransfertime
100cycle
无死灯、缺亮
sequencefromMSL
8
高温存储HTS
JEITAED-4701/201
Ta=100℃
1000h
deltaflux≥90%
deltax/y≤0.005
0/10
9
高温高湿存储TH
JEITAED-4701/103
Ta=60℃,90%RH
1000h
deltaflux≥90%
deltax/y≤0.005
0/10
10
静电放电人体模式ESDHBM
JESD22-A114ESDHBMmode
2KV@85%fornormalLED,
8KV@100%forLEDwithzener
供参考
0/20
11
硫渗透试验SP
将1g硫磺粉末置于400ml容器底部,把LED放入容器内,LED与硫粉不接触,密闭容器,然后将整个容器放入75℃烤箱中储存 4h,8h,12h,……
供参考
0/10
12
热阻测试TR
JESD51-14
供参考
0/2
6.2.9可靠性测试项目、判定标准不是一成不变的,应适应项目的实际情况,以符合客户要求为第一准则。
研发工程师、物料工程师、品质工程师可以根据项目的实际情况(如客户特殊要求,特殊的加速实验条件等),设计特殊的测试项目,也可以根据实际需要申请延长测试时间;
6.2.10常规实验项目的作业方法参考《环境实验标准作业规范》、《老化样品制样操作规范》;
6.2.11硫渗透试验(SP,sulfurpenetratetest):
将1g硫磺粉末置于400ml容器底部,把LED放入容器内,LED与硫粉不接触,密闭容器,然后将整个容器放入75℃烤箱中储存,每4h测试一次或按照委托单特殊要求,当光通量维持率低于80%时,实验停止。
应采取措施防止硫磺粉末、硫化试验箱污染其它老化烤箱。
从容器中取出LED后应立即密闭容器。
6.3新产品、衍生产品可靠性测试项目
(●代表必做,○代表选做)
6.3.1新产品在设计总结评审完成,即设计完成后,应参考6.2或下表进行验证;
6.3.2衍生产品是在新产品开发初期有经过全部信赖度验证,且所用物料也经过正式评估导入的合格物料。
如果衍生产品只涉及色温、亮度、显指等规格参数的变更,无需重复进行可靠性测试;如果变更支架厂商,芯片,荧光粉,封装胶水等物料,应参考下表进行验证;
HTOL
LTOL
WHTOL
MSL
TS
HTS
LTS
TH
ESD(HBM)
SP
TR
新产品
●
○
●
●
●
●
○
○
○
○
○
更换芯片
●
●
●
●
○
○
更换支架
●
○
●
●
●
●
○
○
○
更换封装胶
●
○
●
●
●
○
○
○
○
更换固晶胶
●
○
●
●
●
○
更换金线
●
○
●
●
更换荧光粉
●
●
○
○
备注1:
●代表必做,○代表选做;
备注2:
其中更换支架是指不变更整体结构,只是供应商的更换,或者支架工艺端的微小变更等。
6.4测试报告
6.4.1所有可靠性试验的测试数据都需要被保留在服务器上的相应文件夹中。
6.4.2可靠性工程师应该关注阶段性测试数据,如果阶段性数据有异常,可靠性工程师应立即通知FA工程师分析,并及时将测试报告、分析结果反馈测试申请者。
6.4.3当所有测试结束,可靠性工程师负责将结果总结成《可靠性测试报告》,并以邮件分发相关人员。
6.4.4如果新物料、新产品、衍生产品的可靠性测试NG,可靠性工程师应协同FA工程师、研发工程师进行失效分析;可靠性测试NG的新物料、新产品、衍生产品不能被正常导入。
6.4.5如果量产产品的可靠性测试NG,可靠性工程师应以“异常通知单”形式通知品质工程师,并立即协同FA工程师、品质工程师进行失效分析;
6.4.6品质工程师收到“异常通知单”后应按照品质事故处理流程,召集品质会议,排查、hold相关库存,排查可能原因,并关注客户使用情况等。
7.0记录:
可靠性试验的电子或纸本数据以及试验样品需要被保留至少3年,3年之后的电子试验数据可以被压缩存贮至有效的存储媒介。
纸本数据和试验样品可以根据公司规定进行销毁或做其他处理。
8.0
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- SOP03011 可靠性 测试 规范