八年级上册物理实验一薄透镜焦距的测定.docx

八年级上册物理实验一薄透镜焦距的测定.docx

《八年级上册物理实验一薄透镜焦距的测定.docx》由会员分享，可在线阅读，更多相关《八年级上册物理实验一薄透镜焦距的测定.docx（33页珍藏版）》请在冰豆网上搜索。

八年级上册物理实验一薄透镜焦距的测定

绪论——光学实验基础知识

§1光学实验的内容

1．学习光学中基本物理量的测量方法

光学中的基本物理量有透镜的焦距、光栅常量、光波波长等。

2．学会使用一些常用的光学仪器

光学中的常用的光学仪器有光具座、分光计、读数显微镜、干涉仪等。

3．学习分析光学实验中的基本光路。

4．继续学习分析误差的方法和提高对实验数据的处理能力。

§2光学实验仪器的结构与调节

在光学实验中，常使用的一些基本光学仪器有光具座、测微目镜、移测显微镜、望远镜、分光计等。

本节将对几种基本的光学仪器及其特性作一介绍。

§2-1光具座

光具座结构的主体是一个平直的导轨，有简易的双杆式和通用的平直导轨式两种。

导轨的长度为1-2m，上面刻有毫米标尺。

另外还有多个可以在导轨面上移动的滑块支架。

一台性能良好的光具座应该是导轨的长度较长，平直度较好；还要保持光具座上各组件的同轴性和滑块支架的平稳性。

图0-2-1示出GP-78型光具座的结构示意图，它是目前光学实验中比较通用的一种光具座，长1.5m，精度较高。

图0—2—1

光具座上的共轴调节如下：

将各种光学元件（透镜、面镜等等）组合成特定的光学系统，运用这些光学系统成像时，要想获得优良的像，必须保持光束的同心结构，即要求该光学系统符合或接近理想光学系统的条件，这样，物方空间的任一物点，经过该系统成像时，在像方空间必有唯一的共轭像点存在，而且符合各种理论计算公式。

为此，在光具座上调节光学系统，必须满足以下几点。

1.光具座水平

调节光具座底角的水平调节螺钉（借助水平尺），使光具座水平。

2.共轴

调节光学系统中各光学元件的光轴,使之共轴。

并让物体发出的成像光束满足近轴光线的要求。

3.等高

因为成像公式中的各段距离,都是指光学系统共轴上的距离,所以要从光具座轨道上的读数求出符合实际的距离,必须做到光学系统的光轴和光具座道轨的基线平行—简称等高。

调节光学系统各元件的共轴等高，是光学实验中的一项基本要求，必须很好掌握，一般的调节可分粗调和细调两步进行。

（1）

图0—2—2

粗调

先把物、透镜、像屏等元件放置于光具座上，如图0-2-2依次检查并调整物、透镜及屏的中心（图中物体P经透镜L成像于P/），使各元件的中心大致在与导轨平行的同一条直线上，并使物平面、像屏平面和透镜面相互平行且垂直于光具座导轨。

（2）细调

依靠成像规律进行调节。

例如在透镜焦距测定实验中，若物和观察光

图0—2—3

屏相距较远，则移动透镜时会有两个不同的位置Ⅰ和Ⅱ，于屏上分别呈现大、小两个实像。

若物的中心处在透镜光轴上面且光轴与导轨基本平行，则移动透镜时，大小两次成像的中心必将重合。

若物的中心偏离光轴或导轨与光轴不平行，则移动透镜时，两次成像时像的中心不再重合。

这时可根据像中心的偏移判断，调节至共轴等高状态。

如图（0-2-3）所示，物体P的中心偏离在透镜光轴之下，则大小两像P/、P//的中心均偏离光轴，分别位于光轴上方的P/和P//处，小像中心P//离轴较近。

一般调节的方法是成小像时，调节光屏位置，使P//与屏中心重合；而在成大像时，则调节透镜的高低或左右，使P/位于光屏中心。

依次反复调节，便可调好。

§2-2分光计

分光计是一种常用的光学仪器，实际上就是一种精密的测角仪。

在几何光学实验中，主要用来测定棱镜角、衍射角等等，而在物理光学实验中，加上分光元件（棱镜、光栅）即可作为分光仪器，用来观察光谱，测量光谱线的波长等等。

下面以（JJY型）分光计为例，说明它的结构原理和调节方法。

一、分光计的结构

分光计主要由底座、望远镜、准直管、载物平台和刻度园盘等几部分组成，每部分

0—2—4

1.狭缝装置；2.狭缝装置锁紧螺丝；3.准直管；4.制动架;5.载物台；6.载物台水平调节螺丝；7.载物台锁紧螺丝;8.望远镜;9.望远镜锁紧螺丝;10.阿贝式自准直目镜;11.目镜视度调节手轮;12.望远镜光轴倾斜度调节螺丝；13.望远镜光轴水平调节螺丝；14.支臂;15.望远镜微调螺丝;16.望远镜微调螺丝;17.转盘与度盘止动螺钉;18.制动

（一）;19.底座；20.转座;21.度盘;22.游标;23.立柱;25.游标盘止动螺钉;26.准直管光轴水平调节螺丝；27.准直管光轴倾斜度调节螺丝；28.狭缝宽度调节手轮;

均有特定的调节螺钉，图0—2—4为JJY型分光计的结构外型图

1．分光计的底座要求平稳而坚实。

在底座的中央固定着中心轴，刻度盘和游标内盘套在中心轴上，可以绕中心轴旋转。

2．准直管固定在底柱的立柱上，它是用来产生平行光的。

准直管的一端装有消色差物镜，另一端为装有狭缝的套管，狭缝的宽度可在0.02—2mm范围内改变。

3．望远镜安装在支臂上，支臂与转座固定在一起，套在主刻度盘上，它是用来观察目标和确定光线进行方向的。

物镜Lo和一般望远镜一样为消色差物镜，但目镜Le的结构有些不同，常用的是阿贝式目镜（其结构如图0—2—5所示）

4．分光计上控制望远镜和刻度盘转动的有三套机构，正确运用它们对于测量很重要，它们是：

（1）

图0—2—5

望远镜止动和微动控制机构，图0—2—4中的16、15；

（2）分光计游标盘止动和微动控制机构，图0—2—4中的25、24；

（3）望远镜和度盘的离合控制机构，图0—2—4中的17。

转动望远镜或移动游标位置时，都要先松开相应的止动用螺钉；微调望远镜及游标位置时要先拧紧止动螺钉

要改变度盘和望远镜的相对位置时，应先松开它们间的离合控制螺钉，调整后再拧紧，一般是将度盘的0o线置于望远镜下，可以减少在测角度时，0o线通过游标引起的计算上的不方便。

5．载物平台是一个用以放置棱镜、光栅等光学元件的圆形平台，套在游标内盘上，可以绕通过平台中心的铅直轴转动和升降。

当平台和游标盘（刻度内盘）一起转动时，控制其转动的方式与望远镜一样，也是粗调和微调两种；平台下有三个调节螺钉，可以改变平台台面与铅直轴的倾斜度

6．

图0—2—6

望远镜和载物平台的相对方位可由刻度盘上的读数确定。

主刻度盘上有0o—360o的圆刻度，分度值为0.5o。

为了提高角度测量精密度，在内盘上相隔180o处设有两个游标V左和V右，游标上有30个分格，它和主刻度盘上29个分格相当，因此分度值为１＇读数方法参照游标原理，如图0—2—6所示读数应为167o11’。

记录测量数据时，必须同时读取两个游标的读数（为了消除度盘的刻度中心和仪器转动轴之间的偏心差）。

安置游标位置要考虑具体实验情况，主要注意读数方便，且尽可能在测量中刻度盘0o线不通过游标。

记录与计算角度时，左、右游标分别进行，注意防止混淆算错角度。

二、分光计的调节

1．调节要求

分光计是在平行光中观察有关现象和测量角度，因此要求：

（1）分光计的光学系统（准直管和望远镜）要适应平行光。

（2）从度盘上读出的角度要符合观测现象中的实际角度。

用分光计进行观测时，其观测系统基本上由下述三个平面构成（0—2—7）。

图0—2—7

①读值平面这是读取数据的平面，由主刻度盘和游标内盘绕中心转轴旋转时形成的。

对每一具体的分光计，读数平面都是固定的，且和中心主轴垂直。

②观察平面由望远镜光轴绕仪器中心转轴旋转时形成的。

只有当望远镜光轴与转轴垂直时，观察面才是一个平面，否则，将形成一个以望远镜光轴为母线的圆锥面。

③待测光路平面由准直管的光轴和经过待测光学元件（棱镜、光栅等）作用后，所反射、折射和衍射的光线所共同确定的。

调节载物平台下方的三个调节螺钉，可以将待测光路平面调节到所需的方位

按调节要求，应将此三个平面调节成相互平行，否则，测得角度将以实际角度有些差异，即引入了系统误差。

2．调节方法

（1）粗调

1旋转目镜手轮（即调节目镜与叉丝之间的距离），看清测量用十字叉丝（如图0—2—5）

2用望远镜观察尽量远处的物体，前后调节目镜镜筒（即调节物镜与叉丝之间的距离），使远处物体的像和目镜中的十字叉丝同时清楚。

3将载物台平面（可调载物台下三个水平调节螺钉顶起载物台的螺距相等）和望远镜轴尽量调成水平（目测）。

在分光计调节中，粗调很重要，如果粗调不认真，可能给细调造成困难。

（2）细调

将分光计附件——平面反射镜（或三棱镜）（如图0—2—8所示）放在载物台上（注意放置方位）。

1

图0—2—8

应用自准直原理调望远镜适合平行光。

点亮“小十字叉丝”照明用电灯；

将望远镜垂直对准平面镜（或三棱镜）的一个反射面，如果从望远镜中看不到绿色“小十字叉丝”的反射像，就慢慢左右转动载物平台去找（粗调认真，均不难找到反射像），如果仍然找不到反射像时，就要稍许调节望远镜光轴高低调节螺钉，在慢慢左右转动载物平台去找；

图0—2—9

调整用叉丝；2.十字叉丝反射像；3.测量用叉丝；4.棱镜p的阴影；5.十字叉丝

1.

看到“小十字叉丝”反射像（如图0—2—9（a））后，在前后微调目镜镜筒，使小十字叉丝反射像清楚且和间无视差。

这样，望远镜就已适合平行光，以后不许在改变望远镜的调焦状态。

2用逐次逼近法调望远镜光轴与中心转轴垂直（即将观察面调成平面，观察平面与读数平面平行）。

由镜面反射的小十字叉丝像和调整叉丝如果不重合，调节望远镜倾斜使二叉丝间的偏离减少一半，在调节平台螺钉b1使二者重合，如图0—2—9（b）；

转载物平台，使另一镜面对准望远镜，左右慢慢转动平台，看到反射的小十字叉丝像，如果它和调整叉丝不重合，再同上由望远镜和螺钉b1各调回一半（参照图0—2—10如下）。

注意：

时常发现从平面镜的第一面见到了绿色小十字像，而在第二面却找不到，这可能是粗调不细致，经第一面调节后，望远镜光轴和平台面均显著不水平，这时要从作粗调；如果望远镜轴及平台面无明显倾斜，这时往往是小十字像在调节叉丝上方视场之外，可适当调节望远镜倾斜（使目镜一侧升高些或降低些）去找。

图0—2—10

反复进行以上的调整，直至不论转到那一反射面，小十字叉丝像均能和调整叉丝重合，则望远镜光轴与中心转轴已垂直。

此调节法称为逐次逼近法或各半调节法（问：

上述调节后载物平台的台面与中心转轴是否已垂直？

）

3调节准直管使其产生平行光，并使其光轴与望远镜的光轴重合。

关闭望远镜叉丝照明灯，用光源照亮准直管狭缝；转动望远镜，对准准直管；

将狭缝宽度适当调窄，前后移动狭缝，使从望远镜看到清晰的狭缝像，并且狭缝像和测量叉丝之间无视差。

这时狭缝已位于准直管准直物镜的焦平面上，即从准直管出射平行光束；

调准直管倾斜，使狭缝的中心位于望远镜测量叉丝的交点上，再将转动900，如果狭缝的中心位于望远镜测量叉丝的交点上这时准直管和望远镜的光轴平行，并近似重合。

§2-3.测量显微镜

1.目镜;2.镜筒;3.调焦手轮4.物镜;5.钠光灯;6.透镜;7.测微螺旋;8.测微鼓轮;9.底座;10.立柱;11.玻璃片;12固定螺旋;13.牛顿环;14.工作台

图0—2—11

仪器结构如图0-2-11所示.。

测量显微镜一方面可以将被测对象成一放大的虚象进行观察，另一方面又可以对它的大小作精密测量。

它由一个俯有叉丝的显微镜和一个工作台组成，用螺旋测微装置带动工作台移动并读出相应的位置。

工作台移动前后，显微镜中的叉丝依次对准被测物象上的两个位置，从测微装置上可以分别读出对应的读数，两者之差就是被测物体上这两个位置间的距离。

在显微镜下面装有一半反射镜，可以将光线反射到工作台上。

旋转调准手轮可以使显微镜筒上下移动，达到调焦的目的。

转动测微鼓轮一周，可使工作台平移1mm.。

测微鼓轮的周边等分为一百小格，所以鼓轮转过一小格，平台相应平移0.01mm。

读数可估计到0.001mm。

§3.光学仪器的正常使用与维护

一个实验工作者，在光学实验中，不但要爱护自己的眼睛，还要十分爱惜实验室的各种仪器，实践经验证明，只有认真注意保养和正确地使用仪器，才能使测量得到符合实际的结果，同时这也是培养良好实验素质的重要方面。

由于光学仪器一般比较精密，光学元件表面加工{磨平、抛光}也比较精细，有的还镀有膜层，而且光学元件又大都是由透明、易碎的玻璃材料制成，因比使用时一定要十分小心，不能粗心大意，如果使用和维护不当，很容易造成以下不必要的损坏。

破损如发生磕碰、跌落、震动或挤压等情况，均会造成光学元件的破损，以致光学元件的部分或全部无法使用。

磨损往往是由于用手或其它粗糙的东西擦拭光学元件的表面，致使光学表面（光线经过的表面）留下擦不掉的划痕，结果严重地影响了光学仪器的透光能力和成像质量，甚至无法进行观察和测量。

污损拿取光学元件不合规范，手上的油污、汗渍或其它不洁液体沉淀在元件的表面上，留下污迹斑痕，对于镀膜的表面，问题将更会严重。

若不及时进行清除，亦将降低光学仪器的透光性能和成像质量。

发霉生锈大多由于保管不善，光学元件长期在空气潮湿、温度变化较大的环境下使用，因沾污霉菌所致；光学仪器的金属机械部分也会产生锈斑，使光学仪器失去原来的光洁度，影响仪器的精度、寿命和美观。

腐蚀、脱胶光学元件的表面受到酸、碱等化学物品的作用时，会发生腐蚀现象；如有苯、乙醚等溶剂流到光学元件之间或光学元件与金属的胶合部分，就会发生脱胶现象。

使用和维护光学仪器的注意事项：

（1）在使用仪器前必须认真阅读仪器使用说明书，详细了解所使用的光学仪器的结构、工作原理，使用方法和注意事项、切忌盲目动手，抱着试试看的侥幸心理。

（2）使用和搬动光学仪器时应轻拿轻放，谨慎小心，避免受震、碰撞，更要避免跌落地面。

光学元件使用完毕，不应随便乱放，要做到物归原处。

图0—3—1

（3）仪器应放在干燥、空气流通的实验室内，一般要求保持空气相对湿度为60%~70%，室温变化不能太快和太大。

也不应让含有酸性或碱性的气体侵入。

（4）保护好光学元件的光学表面，绝对禁止用手触及，只能用手接触经过磨砂的“毛面”，如透镜的侧边，棱镜的上下底面等，正确的方法如图0-3-1所示。

如发现光学表面有灰尘，可用毛笔、镜头纸轻轻擦去。

也可用清洁的空气球吹去。

如果光学表面有脏物或油污，则应向教师说明，不要私自处理。

对于没有镀膜的表面，可在教师的指导下，用干净的脱脂棉花蘸上清洁的溶剂如酒精、乙醚等，仔细地将污渍擦去。

但要注意，不要让溶剂流到元件胶合处，以免产生脱胶。

对于镀有膜层的光学元件，则应送实验室作专门技术处理。

（5）对于光学仪器中机械部分应注意添加润滑剂，以保持各转动部分灵活自如，平稳连续，并注意防锈，以保持仪器外貌光洁美观。

（6）仪器长期不使用时，应将仪器放入带有干燥剂（硅胶）的木箱内，防止光学元件受潮，发生霉变，并做好定期检查，发现问题及时处理。

§4实验数据处理

为了便于在实验中参考和利用，现将实验数据处理的基础知识，简要叙述如下：

1直接测量的最佳值

（1）算术平均值

设对某一物理量在相同条件下，测量N次，测量值分别为x1、，x2…，xn，其算术平均值为

为

（0—4—1）

一般取算术平均值为直接测量的最佳值

（2）标准差

测量列（xi）的标准差s（x）用下式计算

（0—4—2）

平均值的标准差

为

（0—4—3）

（3）测量值的取舍

在N次测量中，可能有的测量值明显偏大或偏小，在误差理论中给出一些数据取舍的判据，在此应用格罗布斯判据。

设平均值为

，测量列标准差为s，测量值个数为n，则可以保留的测量值xi的测量值范围为

（0—4—4）

式中Gn为对应n个测量值的格罗布斯判据系数，可在下表中查出，在上式范围外的测量值为出现概率很小的可疑值，可以舍弃。

舍去可疑值后，应重新计算平均值为最佳值，标准差也应重新计算。

格罗布斯判据系数（Gn）表：

n

3

4

5

6

7

8

9

10

12

14

16

18

20

Gn

1.15

1.46

1.67

1.82

1.94

2.03

2.11

2.18

2.29

2.37

2.44

2.50

2.56

2间接测量的最佳值

设物理量Y是m个物理量（X1，X2，…，Xm）的函数

（0—4—5）

由各个Xi，求Y的方法有二：

（1）将各Xi测量平均值

，代入函数式求Y的测量值y：

（0—4—6）

此为“先平均法”。

（2）将各Xi分别取一值求yi，再求yi的平均值

为Y的最佳值

（0—4—7）

此为“后平均法”。

对于非线性函数，两种方法的结果是不一致的。

但是在多数物理测量中，二者的差异和测量值误差相比并不显著，因此两方法一般均可以使用，不过方法

（2）要求各Xi的测量值的数目相同，所以在使用上受到限制。

3．测量不确定度

测量的理想是获得被测量在测量条件下的真值，但实际上在测量时由于多种原因，必然使测量值有误差。

因而测得值不能准确表达真值，但是测量误差一般不会很大，可以设想真值是在测得值附近的一个范围中，测量不确定度就是对此量值范围的评定。

设测得值为x，测量不确定度为u，则真值可能在量值范围（x-u，x+u）之中。

显然测量不确定度越小，测得值偏离真值也就越小，用测得值表示真值的可靠性就越大。

测量不确定度常以估计标准差去表示，这时称其为标准不确定度。

测量不确定度的来源有许多方面，但可分为两类。

一类来源于偶然效应，如实验者的操作、读数、实验条件的起伏引起的测量值的变化，在多次重复测量时，其影响变化不定，表现为测量值的分散；另一类来源于系统性效应，如计量器的基本误差，实验环境与实验原理的要求有差异等等，在多次重复测量时，其影响基本上恒定，因而此种效应使测定值有一定的偏离，但不会引起分散，对此两类效应引入的不确定度要分别评定。

（1）标准不确定度的A类评定

由于偶然性效应，重复测量的测量值x1、、x2、┅、xn是分散的可用统计方法求其标准差。

这时算术平均值的标准不确定度u（x）等于其标准差

，是不确定度的A类评定，即

（0—4—8）

（2）标准不确定度的B类评定

评定不确定度有的用统计方法，即A类评定，另外有些不能用统计方法，这些用非统计方法评定的不确定度就是B类评定。

例如，用螺旋测微计测一棒的直径d，测量n次，得n个di值，计算平均值¯

及其标准差

，则d的A类标准不确定度uA（d）=

，它是d的标准不确定度的一部分，另外螺旋测微计自身的误差也给d引入不确定度，它不能用统计方法求出，是B类评定uB（d）将uA（d）和uB（d）合成之后，方可得到d的合成标准不确定度。

标准不确定度的B类评定可有几种不同的情况，有的计量器具在说明书或检定书上注明总的不确定度，有些可以从国家有关标准（如国家计量技术规范，符号JJG）查出其允许误差，有些则参照有关资料或仪器的最小分度值去确定其极限误差。

从对计量器具误差的测量与分析来说，一般认为计量仪器的误差服从均匀分布，如极限误差为Δ，则其标准差为Δ/

，所以其B类标准不确定度uB（x）为

uB（x）=Δ/

（0—4—9）

上述关于B类不确定度的评定，只是B类评定问题的一部分，实际上还有其他方面不服从均匀分布的问题，在我们的实验里，可以均用上式处理。

（3）合成标准不确定度

直接测量：

设被测量X的不确定度来源有k项，无论它是A类平定或B类平定，都是等价的，均按方和根去合成，即合成标准不确定度Uc（x）为

（0—4—10）

间接测量：

设y=y（x1、、x2、┅xm）。

已知各xi的合成标准不确定u（xi），则y的合成标准不确定度uc（y）

（0—4—11）

当y是xi的幂函数时，即

（0—4—12）

式中A为无量纲量，则

（0—4—13）

测量不确定度的计算比较繁琐，在一定条件下可以简化。

即当测量误差中，偶然误差为主时，可以只计算A类评定，略去B类评定；当系统误差为主时，可以只计算B类评定，略去A类评定。

4测量结果的评价

由于不确定度是比较全面反映测量的误差，所以评定实验结果的主要依据就是不确定度。

（1）测量结果y与公认值y0之差，是否在测量误差范围内？

判断的依据可粗略地用∣y-y0∣/uc（y）＞3否？

如果不大于3就可以认为∣y-y0∣在测量误差范围内，测量结果是可以接受的。

（2）合成uc（y）的各项中有否比较突大的，原因是什么？

有否可能改进？

（3）各xi的u（xi）评定中，有否A类平定明显大于B类评定？

如果有，就说明该项偶然误差过大，值得分析。

实验一、薄透镜焦距的测定

实验目的

1、学会调节光学系统使之共轴，并了解视差原理的实际应用

2、掌握薄透镜焦距的常用测定方法。

实验仪器

光具座　会聚透镜（两块）　发散透镜　物屏　白屏　平面反射镜　光源。

实验原理

如图1-1所示，设薄透镜的像方焦距为f/,物距为P，对应的像距为P/，则透镜成像的高斯公式为

（1-1）

故

（1-2）

图１－１

应用上式时，必须注意各物理量所适用的符号定则。

本书规定：

距离自参考点（薄透镜光心）量起，与光线进行方向一致时为正，反之为负。

运算时已知量须添加符号，未知量则根据求得结果中的符号判断其物理意义。

一、测量会聚透镜焦距的方法

1、测量物距与像距求焦距

因为实物作为光源，其发散的光经会聚透镜后，在一定条件下成实像，故可用白屏接取实像加以观察，通过测定物距和像距，利用（1-2）式即可算出f/。

2、由透镜两次成像求焦距

图1—2

设保持物体与白屏的相对位置不变，并使其间距离L大于4f/，则当会聚透镜置于物体与白屏之间时，可以找到两个位置，白屏上都能得到清晰的像，如图1—2所示。

透镜两个位置（Ⅰ与Ⅱ）之间的距离的绝对值为d。

（问：

为何要求国L>4f/？

）

运用物像的共轭对称性质，容易证明

（1—3）

式（1—3）表明，只要测出d和L，就可以算出f/。

由于f/是通过透镜两次成像而求得的，因而这种方法称为二次成像法，或称为贝塞耳法。

同时可以看出，利用式（1—1）、（1—2）时，都是把透镜看成无限薄的，物距和像距都近似地用从透镜光心算起的距离来代替，而这种方法中则毋须考虑透镜本身的厚度。

因此，用这种方法测出的焦距一般较为准确。

3、由光的可逆性原理求焦距

图1—3

如图1-3所示，在待测透镜L的一侧放置被光源照明的物屏P，在另一侧适当距离处放一块平面镜Ｍ，移动待测透镜L与平面镜Ｍ，直到物屏上出现清晰的与物等大倒立的实像。

此时，物屏到透镜L的距离即为焦距。

＝

　　　　　　　　　　　　　（１－４）

二、测定发散透镜焦距的方法

图1—4

由辅助透镜成像求焦距

如图1—4所示，设物P发出的光经辅助透镜L1后成实像于P/，而加上待测焦距的发散透镜L后使成实像于P//，则P/和P//相对于L来说是虚物体和实像。

分别测出L到P/和P//的距离，根据式（1—2）即可算出L的像方焦距f/。

（问：

加入凹透镜L后，一定有实像P//吗？

为什么？

）

实验内容

1、粗测待测凸透镜的焦距f/（方法自己考虑）。

2、共轴调节

将照明光源、物屏、待测透镜和成像的白屏依次放在光具座的导轨上，按照§2-1所述方法，调节各光学元件的光轴。

使之共轴，并平行于导轨的基线（等高）。

（问：

为什么要调共轴、等高呢？

）

3、物距像距法测凸透镜焦距

用具有箭形开孔的金属屏为物，用准单色光照明。

如图1—1，在物屏与白屏之间移动待测透镜，直至白屏上呈现出箭形物体的清晰像。

记录物、像及透镜的位置，依式（1—2