封装的JEDEC标准.doc

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封装级JEDEC标准

序号

试验标准

JEDEC版本号

JEDEC标准英文版本

JEDEC标准中文版本

采用标准

备注

1

吸湿敏感度试验

（MSL）

J-STD-020D

MSL3

MSL1~MSL6

2

预处理标准

22A113F

FT+MSL3+FT

3

超声扫描判定标准

J-STD-035D

4

高压蒸煮试验

（PCT）

JESD22-A102C

168hrs

5

温度循环试验

（TCT）

JESD22-A104D

500cycles

6

温度循环寿命测试

JESD22-A100C

7

上电温度循环

22A105-B

8

高温储存试验

（HTST）

JESD22-A103C

1000hrs

9

高温环境条件下的工作寿命试验

JESD22-A108C

10

恒温恒湿试验

（THT）

JESD22-A101C

1000hrs

11

高温加速应力试验

（HAST）

JESD22-A110

12

不上电的高加速湿气渗透试验（unbiasedHAST）

JESD22-A118

96hrs

13

低温储存试验

（LTSL）

JESD22-A119A

/

14

管脚疲劳度试验

JESD22-B105C

15

易焊性试验

（Solderability）

JESD22-B102E

16

晶须试验

JESD22A121

17

跌落试验

IMAPS-drop-impact-dynamic-response-2008

18

压力测试判定标准

JESD47G

19

湿气/回流敏感表面安装器件的操作、包装、运输和使用

J-STD-033

21

焊球剪切试验

JESD22-B117A

22

热冲击试验

（TST）

JESD22A106-B

据查是晶圆级的考核

23

盐雾试验

JESD22-A107-B

24

耐焊接热试验标准

JESD22-B106-B

25

温湿度敏感器件的符号与标识

JEP113-B

26

表贴半导体器件的共面性试验

JESD22-B108

HTOL：

hightemperatureoperatinglife高温工作寿命试验

2x）S6B）M*p;J"C6kHTFB：

hightemperatureforwardbias高温正偏试验

.g8s-X.d3Y.@-VHTRB：

hightemperaturereversebias高温反偏试验

HTGB：

hightemperaturegatebias高温栅偏试验

（o+l!

[+g2F:

@