《集成电路开发与测试》职业技能等级标准(2020版).pdf
- 文档编号:30855844
- 上传时间:2024-03-23
- 格式:PDF
- 页数:24
- 大小:335.84KB
《集成电路开发与测试》职业技能等级标准(2020版).pdf
《《集成电路开发与测试》职业技能等级标准(2020版).pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《《集成电路开发与测试》职业技能等级标准(2020版).pdf(24页珍藏版)》请在冰豆网上搜索。
集成电路开发与测试职业技能等级标准(2020年1.0版)杭州朗迅科技有限公司制定2020年2月发布2目次前言31范围42规范性引用文件43术语和定义44适用院校专业85面向职业岗位(群)86职业技能要求9参考文献233前言本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。
本标准起草单位:
杭州朗迅科技有限公司。
本标准主要起草人:
徐振、徐守政、周文清、吴建忠、张志岩、陈江华、王艳刚、丁盛峰、夏敏磊、余红娟、卓婧。
声明:
本标准的知识产权归属于杭州朗迅科技有限公司,未经杭州朗迅科技有限公司同意,不得印刷、销售。
41范围本标准规定了集成电路开发与测试职业技能等级对应的工作领域、工作任务及职业技能要求。
本标准适用于集成电路开发与测试职业技能培训、考核与评价,相关用人单位的人员聘用、培训与考核可参照使用。
2规范性引用文件下列文件对于本标准的应用是必不可少的。
凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本标准。
凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GBT2900.66-2004电工术语半导体器件和集成电路国家标准行业规范SJ/T10152-1991集成电路主要工艺设备术语GB/T15876-2015半导体集成电路塑料四面引线扁平封装引线框架规范GB/T4377-2018半导体集成电路电压调整器测试方法GB/T14028-2018半导体集成电路模拟开关测试方法JJG1015-2006通用数字集成电路测试系统检定规程SJ/T11702-2018半导体集成电路串行外设接口测试方法SJ/Z11354-2006集成电路模拟/混合信号IP核规范3术语和定义国家、行业标准界定的以及下列术语和定义适用于本标准。
3.1晶圆Wafer晶圆Wafer一个或多个电路或器件在其中制成的半导体材料或是在某种衬底上淀积的一种材料,一般是扁而圆的片子。
3.2单晶硅片Monocrystallinesiliconchip单晶硅片Monocrystallinesiliconchip由单晶硅锭上切割下的,或经研磨、抛光等后续加工处理的圆盘状硅单晶薄片。
53.3单晶炉CrystalGrowingFurnace单晶炉CrystalGrowingFurnace以高温熔化方法由原材料制备或提纯单质或化合物半导体单晶锭的设备。
3.4切片机切片机SlicingMachineSlicingMachine将半导体单晶等脆硬棒材切割成适当厚度片材的设备。
3.5氧化Oxidation氧化Oxidation指将氧气加入到硅晶圆后在晶圆表面形成二氧化硅的过程。
3.6扩散Diffusion扩散Diffusion只由浓度梯度所引起的粒子运动。
3.7淀积Deposition淀积Deposition又称沉积,是指在晶圆wafer上淀积一层膜的工艺。
3.8光刻Photoetching光刻Photoetching是平面型晶体管和集成电路生产中的主要工艺。
是对半导体晶片表面的掩蔽物(如二氧化硅)进行开孔,以便进行杂质的定域扩散的一种加工技术。
3.9掩膜版Mask掩膜版Mask又称掩膜,是经曝光显影形成在基片上,用以选择性地阻挡辐射线或化学、物理腐蚀媒质穿透的抗蚀剂屏蔽图层。
3.10刻蚀Etch刻蚀Etch是用化学或物理方法有选择地从硅片表面去除不需要的材料的过程。
3.11离子注入IonImplantation离子注入IonImplantation指将被加速的离子注入到半导体晶体中,在该晶体中形成P型、N型或本征电导率区域。
3.12测试机ICTester测试机ICTester测量集成电路管芯或封装后的集成电路器件电器参数的设备。
3.13探针卡ProbeCard探针卡ProbeCard6根据被测芯片电路所需探针的数量及布局,将探针对应固定于一块基板上的测试探头。
3.14探针台ProbeStation探针台ProbeStation利用金属探针将圆片上集成电路芯片的电极与测试机联接,以完成集成电路性能参数中间测试的电子机械设备。
3.15集成电路IntegratedCircuit集成电路IntegratedCircuit将全部或部分电路元件不可分割地联在一起,并形成电互连,以致就结构和产品而言,被视为不可分割的微电路。
3.16封装Package封装Package是对一个或多个半导体芯片、膜元件或其他元器件的包封,它提供电连接及机械和环境的保护。
3.17划片机ScribingMachine划片机ScribingMachine在制有完整集成电路芯片的半导体圆片表面按预定通道刻划出网状沟槽,以便将其分裂成单个管芯的设备。
3.18引线键合WireBonding引线键合WireBonding将管芯上的焊点和管座基板上的焊点用适当的细金属丝进行低阻连接的工序。
3.19点胶头DispenserNeedle点胶头DispenserNeedle属于自动装片机的配件产品,是在引线框架的芯片座上点银浆的部件。
3.20塑料封装机PlasticPackagingMachine塑料封装机PlasticPackagingMachine又称塑封机,是在一定温度下,用模压塑封树脂对键合后的管芯进行封装的设备。
3.21打标机Marker打标机Marker将器件的商标、型号等标志清晰打印在器件封壳表面的设备。
73.22分选机ICSorter分选机ICSorter与集成电路测试仪连接进行常温或高、低温条件下的集成电路测试和分类的设备。
3.23原理图SchematicDiagram原理图SchematicDiagram是表示电路板上各器件之间连接原理的图表。
3.24PCBPrintedCircuitBoardPCBPrintedCircuitBoard中文名称为印制电路板,又称印刷电路板、印刷线路板,是重要的电子部件,是电子元器件的支撑体,是电子元器件电气连接的载体。
3.25PCB图PCBDiagramPCB图PCBDiagram是电路板的映射图纸,它详细描绘了电路板的走线,元件的位置等。
3.26BOM表BillofMaterialBOM表BillofMaterial又称物料清单,描述产品零件、半成品和成品之间的关系。
3.27集成电路版图ICLayout集成电路版图ICLayout简称版图,是指按照一定的集成电路工艺设计规则,将与电路中各种器件相对应的设计层次有序地排列、组合、叠加而形成的一套用于制作掩膜版的数据。
3.28光刻胶Photoresist光刻胶Photoresist一种有机化合物,是微电子技术中微细图形加工的关键材料之一。
3.29飞边Burrs飞边Burrs又称溢边、披锋、毛刺等,大多发生在模具的分合位置上。
3.30测试夹具TestFixture测试夹具TestFixture由众多金黄色的导电触片组成,因其表面镀金而且导电触片排列如手指状,所以又称为“金手指”。
3.31嵌入式系统EmbeddedSystem嵌入式系统EmbeddedSystem8是以应用为中心,以现代计算机技术为基础,能够根据用户需求(功能、可靠性、成本、体积、功耗、环境等)灵活裁剪软硬件模块的专用计算机系统。
3.32单片机Single-ChipMicrocomputer单片机Single-ChipMicrocomputer是采用超大规模集成电路技术把具有数据处理能力的中央处理器CPU、随机存储器RAM、只读存储器ROM、多种I/O口和中断系统、定时器/计数器等功能集成到一块硅片上构成的一个小而完善的微型计算机系统。
3.33版图设计LayoutDesign版图设计LayoutDesign指将前端设计产生的门级网表通过EDA设计工具进行布局布线和进行物理验证并最终产生供制造用的GDSII数据。
4适应院校专业中等职业学校:
微电子技术与器件制造、电子与信息技术、电子技术应用、物联网技术应用、电气技术应用、机电技术应用、电子电器应用与维修、电子材料与元器件制造、机电产品检测技术应用等专业。
高等职业学校:
集成电路技术应用、微电子技术、电子信息工程技术、应用电子技术、智能产品开发、智能终端技术与应用、电子产品质量检测、电子电路设计与工艺、电子制造技术与设备、电子测量技术与仪器、电子工艺与管理、物联网应用技术、嵌入式技术与应用、物联网工程技术等专业。
应用型本科学校:
集成电路设计与集成系统、微电子科学与工程、电子信息工程、电子科学与技术等专业。
5面向职业岗位(群)主要面向集成电路相关行业企业的辅助设计、生产、售前售后维护部门,完成相关制造及前端企业的版图辅助设计、生产工艺管理、质量检测、设备维护,封装测试相关企业的生产管理、测试程序调试、产品质量检验、设备调试维修和改造以及芯片成品使用企业的应用开发等工作。
96职业技能要求6.1职业技能等级划分集成电路开发与测试职业技能等级分为三个等级:
初级、中级、高级,三个级别依次递进,高级别涵盖低级别职业技能要求。
【集成电路开发与测试】(初级):
主要针对集成电路相关行业及企业面向见习流片操作员、见习外观检验员、见习测试员、见习生产保障技术员等岗位,从事工艺和设备的操作、周期性保养、设备维护和简单维修、电子产品装配等基础技术工作。
【集成电路开发与测试】(中级):
主要针对集成电路相关行业及企业,面向助理版图设计工程师、助理设备保障工程师、助理软件调试工程师、外观检验员、测试员、生产保障技术员等岗位,从事版图辅助设计、常规工艺优化及工艺程序修改、软件程序维护、质量检验、现场设备的安装调试和定期维护、电子产品装调等工作。
【集成电路开发与测试】(高级):
主要针对集成电路相关行业及企业,面向版图设计工程师、工艺外观工程师、设备维修工程师、软件调试工程师、外观检验工程师、测试工程师、生产保障工程师等岗位,从事版图设计、工艺参数监控与管理、工艺程序设计、现场设备排故与维修、新设备调试及数据导入、质量评估及优化、电子产品设计等工作。
6.2职业技能等级要求描述表1集成电路开发与测试职业技能等级要求(初级)工作领域工作任务职业技能要求1.职业素养1.1行为规范1.1.1能遵循7S管理方式。
1.1.2能正确穿戴安全工业服装与装备。
1.1.3能遵守净化间的环境、健康、安全(EHS)规定。
1.1.4能遵守设备作业实施安全规范。
1.1.5能准确判别设备的安全风险。
10工作领域工作任务职业技能要求1.2安全操作规范1.2.1能识读设备安全标识。
1.2.2能判断设备周围电源、物料等环境安全。
1.2.3能识别设备开关机安全状态。
1.2.4能遵守设备安全工作守则。
1.2.5能处理设备潜在的安全隐患。
2.晶圆制程2.1单晶硅片制备2.1.1能识别单晶硅片制备工艺的操作流程。
2.1.2能正确操作单晶炉,设置单晶炉的常规参数。
2.1.3能辨识单晶硅锭直径,选择对应的切割方式。
2.1.4能正确操作硅锭切片机,设置硅锭切片机的常规参数。
2.1.5能保存单晶硅片制备工艺过程形成的电子文档。
2.1.6能完成单晶炉、硅锭切片机的日常保养。
2.2晶圆氧化扩散2.2.1能识读氧化、扩散设备的运行参数。
2.2.2能按照工艺要求完成氧化、扩散工艺的生产操作。
2.2.3能保存氧化、扩散工艺过程形成的电子文档。
2.2.4能完成氧化、扩散过程中晶圆的无损、无污染传送。
2.2.5能完成氧化、扩散设备的日常保养。
2.3晶圆薄膜淀积2.3.1能识读薄膜淀积设备的运行参数。
2.3.2能按照工艺要求完成薄膜淀积工序的设备操作。
2.3.3能保存薄膜淀积工艺过程形成的电子文档。
2.3.4能完成薄膜淀积过程中晶圆的无损、无污染传送。
2.3.5能完成薄膜淀积设备的日常保养。
2.4晶圆光刻2.4.1能判断所采用的掩膜版是否符合光刻要求。
2.4.2能按选定的工艺菜单或工作流程完成光刻工艺操作。
2.4.3能保存光刻工艺过程形成的电子文档。
2.4.4能完成光刻过程中晶圆的无损、无污染传送。
2.4.5能进行光刻设备的日常保养。
11工作领域工作任务职业技能要求2.5晶圆刻蚀2.5.1能识读刻蚀设备的运行参数。
2.5.2能按选定的工艺菜单或工作流程完成刻蚀工艺操作。
2.5.3能保存刻蚀工艺过程形成的电子文档。
2.5.4能完成刻蚀过程中晶圆的无损、无污染传送。
2.5.5能进行刻蚀设备的日常保养。
2.6晶圆离子注入2.6.1能识别离子注入的晶圆类型。
2.6.2能识读离子注入设备的运行参数。
2.6.3能按选定的工艺菜单或工作流程完成离子注入工艺操作。
2.6.4能完成离子注入过程中晶圆的无损、无污染传送。
2.6.5能完成离子注入设备的日常保养。
3.晶圆测试3.1晶圆检测3.1.1能识别晶圆检测工艺的操作流程。
3.1.2能对晶圆进行装片和取片操作。
3.1.3能正确连接测试机、探针卡和探针台。
3.1.4能正确操作测试机和探针台,设置测试机和探针台的常规参数。
3.1.5能完成测试机、探针卡、探针台的日常保养。
3.2晶圆打点3.2.1能识别晶圆打点工艺的操作流程。
3.2.2能根据版图要求选择对应的墨盒规格。
3.2.3能根据测试记录信息调用对应的打点MAP图。
3.2.4能根据探针台操作规范完成打点工艺参数设置。
3.3晶圆目检3.3.1能使用显微镜对扎针晶圆进行检查。
3.3.2能使用显微镜对打点晶圆进行检查。
3.3.3能正确填写晶圆检测工艺随件单。
3.3.4能保存晶圆检测工艺过程形成的电子文档。
4.集成电路封装4.1晶圆划片4.1.1能正确选用晶圆贴膜盘。
4.1.2能进行晶圆贴膜操作。
4.1.3能正确操作划片机、减薄机,设置划片深度及减薄尺寸等常规参数。
4.1.4能完成划片机、减薄机的日常保养。
12工作领域工作任务职业技能要求4.2芯片粘接与键合4.2.1能识别引线键合工艺的操作流程。
4.2.2能识别引线键合操作的原材料。
4.2.3能根据晶粒座的大小选择点胶头尺寸。
4.2.4能进行键合拉力实验。
4.2.5能正确操作装片机、键合机,设置装片机和键合机的常规参数。
4.2.6能完成装片机、键合机的日常保养。
4.3芯片塑料封装4.3.1能识别封装工艺、激光打标工艺的操作流程。
4.3.2能识别注塑原材料。
4.3.3能根据不同的封装外形选择对应注塑模具。
4.3.4能完成塑封料的预热、填充工作。
4.3.5能正确操作塑封机、激光打标机,设置塑封机和激光打标机的常规参数。
4.3.6能完成塑封机、激光打标机的日常保养。
4.4芯片切筋成型4.4.1能识别切筋工艺的操作流程。
4.4.2能根据不同的封装外形选择对应的切筋模具。
4.4.3能正确操作切筋机,设置切筋机的常规参数。
4.4.4能完成切筋机和模具的日常保养。
5.集成电路测试5.1芯片检测5.1.1能识别芯片检测工艺的操作流程。
5.1.2能完成待测芯片的物流操作。
5.1.3能完成典型分选机的上料和下料操作。
5.1.4能根据测试机操作规范完成测试工艺参数设置。
5.1.5能区分重力式分选、平移式分选、转塔式分选等不同分选形式。
5.1.6能正确操作测试机、分选机,设置测试机和分选机的常规参数。
5.1.7能完成测试机、分选机、测试夹具的日常保养。
5.2芯片编带5.2.1能识别编带工艺的操作流程。
5.2.2能准确选择编带原材料。
5.2.3能正确选择需要编带的封装芯片。
5.2.4能正确操作编带机,设置编带机的常规参数。
5.2.5能完成编带机的日常保养。
13工作领域工作任务职业技能要求5.3芯片目检5.3.1能区分不同封装形式的芯片外观。
5.3.2能识读芯片检测随件单。
5.3.3能判断出芯片成品中的外观不良品。
5.3.4能正确选择抽真空的铝箔袋型号。
5.3.5能完成料管、料盘和编带包装的芯片的抽真空操作。
6.集成电路应用6.1电子电路元器件辨识6.1.1能正确识读常用元器件及集成电路参数手册。
6.1.2能正确识读电阻、电容、电感等常用元器件的参数,并根据需求选择元器件。
6.1.3能正确识读二极管、三极管、场效应管等半导体器件型号、参数和封装。
6.1.4能正确区分常用数字、模拟及数模混合集成电路。
6.1.5能正确辨识SOP、DIP等集成电路常见封装。
6.1.6能正确完成物料的分拣和分类。
6.2电路识图6.2.1能正确识读系统架构图、原理图、PCB图、装配图和实物图。
6.2.2能正确识别原理图中元器件型号及参数。
6.2.3能正确识别PCB图中元器件封装及极性。
6.2.4能正确识别装配图中元器件的装配位置。
6.3电子产品焊接6.3.1能正确使用焊接工具及焊接辅助材料,并能正确设置焊接参数。
6.3.2能正确使用BOM表准备物料。
6.3.3能根据BOM表、原理图和装配图进行装配及焊接。
6.3.4能目测或利用测量工具进行焊接质量的检查。
6.3.5能完成电子产品焊接及对焊接不良品进行修正。
表2集成电路开发与测试职业技能等级要求(中级)工作领域工作任务职业技能要求1.版图辅助设计1.1版图识别1.1.1能识读常见集成电路元器件的版图。
1.1.2能识读常见集成电路的整体版图。
1.1.3能利用工业显微镜分析集成电路版图的布局。
1.1.4能识读典型集成电路制造工艺剖面图。
1.2版图编辑1.2.1会运用典型集成电路工艺的主要设计规则。
14工作领域工作任务职业技能要求1.2.2能正确设置逻辑设计库和版图设计库。
1.2.3能利用集成电路逻辑设计工具在逻辑设计库中进行简单逻辑图的绘制。
1.2.4能利用集成电路版图设计工具在版图设计库中进行基本逻辑单元的版图输入。
1.2.5能在版图输入过程中正确调用工艺库中的各种元器件的版图。
2.晶圆制程2.1单晶硅片制备2.1.1能进行单晶硅片制备的工艺操作。
2.1.2能识读单晶硅片制备工艺的统计过程数据或控制图。
2.1.3能进行单晶硅锭的质量评估。
2.1.4能检验硅片的切割质量。
2.1.5能判别单晶炉、硅锭切片机运行过程发生的故障类型。
2.1.6能进行单晶炉和硅锭切片机的日常维护。
2.2晶圆氧化扩散2.2.1能根据工艺要求完成氧化、扩散设备的工艺操作。
2.2.2能识读氧化、扩散工艺的统计过程数据或控制图。
2.2.3能完成氧化、扩散工艺后的晶圆质量评估。
2.2.4能判别氧化、扩散设备运行过程发生的故障类型。
2.2.5能进行氧化、扩散设备的日常维护。
2.3晶圆薄膜淀积2.3.1能根据工艺要求完成薄膜淀积的工艺操作。
2.3.2能识读薄膜淀积工艺的统计过程数据或控制图。
2.3.3能完成薄膜淀积工艺后的晶圆质量评估。
2.3.4能判别薄膜淀积设备运行过程发生的故障类型。
2.3.5能进行薄膜淀积设备的日常维护。
15工作领域工作任务职业技能要求2.4晶圆光刻2.4.1能对光刻工艺的流程进行参数确认。
2.4.2能根据光刻胶的类型进行晶圆光刻操作。
2.4.3能识读光刻工艺的统计过程数据或控制图。
2.4.4能完成光刻工艺各工序的晶圆质量评估。
2.4.5能填写光刻工艺的检验记录。
2.4.6能排除光刻工艺设备的常见故障。
2.5晶圆刻蚀2.5.1能核实工艺菜单或工作流程是否满足刻蚀要求。
2.5.2能对刻蚀工艺的流程进行参数确认。
2.5.3能识读刻蚀工艺的统计过程数据或控制图。
2.5.4能检验刻蚀后的几何尺寸及形貌是否满足工艺要求。
2.5.5能完成刻蚀工艺后的晶圆质量评估。
2.5.6能进行刻蚀设备的日常维护。
2.6晶圆离子注入2.6.1能对离子注入工艺的流程进行参数确认。
2.6.2能进行离子注入设备的操作。
2.6.3能识读离子注入工艺的统计过程数据或控制图。
2.6.4能完成离子注入工艺后的晶圆质量评估。
2.6.5能进行离子注入设备的日常维护。
3.晶圆测试3.1晶圆检测3.1.1能进行晶圆检测工艺操作。
3.1.2能根据测试条件要求更换探针卡。
3.1.3能判定晶圆测试过程中扎针位置、深度是否符合要求。
3.1.4能判别测试机、探针台运行过程发生的故障类型。
3.1.5能完成探针卡的焊接和维护保养。
3.1.6能进行测试机和探针台的日常维护。
3.2晶圆打点3.2.1能根据芯片要求加载打点程序。
3.2.2能判定晶圆打点过程中墨点是否满足要求。
3.2.3能判别晶圆打点运行过程发生的故障类型。
3.2.4能完成墨盒的日常维护和保养。
16工作领域工作任务职业技能要求3.3晶圆目检3.3.1能对手动打点使用的墨盒进行灌墨操作。
3.3.2能根据芯片的大小选择合适的打点墨盒。
3.3.3能对扎针、打点不良的晶圆进行判定。
3.3.4能对扎针、打点不良的晶圆进行剔除操作。
3.3.5能进行晶圆墨点烘烤操作。
4.集成电路封装4.1晶圆划片4.1.1能对合格贴膜晶圆进行判定。
4.1.2能进行晶圆划片工艺的操作。
4.1.3能进行晶圆减薄工艺的操作。
4.1.4能判别划片机、减薄机运行过程发生的故障类型。
4.1.5能完成划片机、减薄机的日常维护。
4.2芯片粘接与键合4.2.1能进行引线键合工艺操作。
4.2.2能正确安装点胶头并进行芯片粘接。
4.2.3能根据工艺要求选择键合线的材料与线径。
4.2.4能对键合操作的对准情况进行判断。
4.2.5能判别装片机、键合机运行过程发生的故障类型。
4.2.6能进行装片机、键合机的日常维护。
4.3芯片塑料封装4.3.1能进行封装工艺、激光打标工艺操作。
4.3.2能正确调用打标文件并进行文本编辑。
4.3.3能判断飞边毛刺长度是否超出标准。
4.3.4能判别塑封机、激光打标机运行过程发生的故障类型。
4.3.5能完成塑封机、激光打标机的日常维护。
4.4芯片切筋成型4.4.1能进行切筋成型工艺操作。
4.4.2能正确安装切筋成型模具。
4.4.3能识别塑封体缺损、引脚断裂、镀锡漏铜等不良品并进行剔除。
4.4.4能判别切筋机、切筋模具运行过程发生的故障类型。
4.4.5能完成切筋机、切筋模具的日常维护。
5.集成电路测试5.1芯片检测5.1.1能进行芯判断片检测工艺操作。
5.1.2能根据测试条件要求更换对应的测试夹具。
5.1.3能根据芯片测试过程中良率偏低故障进行测试夹具微调。
5.1.4能判别测试机、分选机运行过程发生的故障类型。
5.1.5能完成测试机、分选机、测试夹具的日17工作领域工作任务职业技能要求常维护。
5.2芯片编带5.2.1能进行编带工艺操作。
5.2.2能进行编带质量检查。
5.2.3能完成编带耗材的更换。
5.2.4能识别编带机在运行过程发生的故障报警。
5.2.5能进行编带机的日常维护。
5.3芯片目检5.3.1能正确完成料管、料盘和编带包装的芯片外观检查。
5.3.2能对外观不良的芯片进行替换。
5.3.3能完成整盒芯片的拼零操作。
5.3.4能判断产品是否需要进行真空包装。
5.3.5能正确完成贴标签操作。
6.集成电路应用6.1简易电子产品设计6.1.1能通过参数手册查询集成电路技术参数。
6.1.2能正确使用数字、模拟、数模混合等集成电路进行简易电子产品设计。
6.1.3能根据设计要求熟练绘制原理图并调用元件库。
6.1.4能根据需求绘制PCB图元器件封装。
6.1.5能按需求正确设置PCB规则并根据原理图完成
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 集成电路开发与测试 集成电路 开发 测试 职业技能 等级 标准 2020