超声波检测二级试题库UT含答案二.docx
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超声波检测二级试题库UT含答案二
无损检测
超声波试题
(UT)
第二部分
2.9活塞波声场,声束轴线上最后一个声压极大值到声源的距离称为()
A、近场长度B、未扩散区C、主声束D、超声场
2.10下列直探头,在钢中指向性最好的是()
A、2.5P20ZB、3P14ZC、4P20ZD、5P14Z
2.11下面有关扩散角的叙述-哪一条是错误的()
A、用第一零辐射角表示B、为指向角的一半
C、与指向角相同D、是主声束辐射锥角之半
2.12超声场的来扩散区长度()
A、约等于近场长度B、约等于近场长度0.6倍
C、约为近场长度1.6倍D、约等于近场长度3倍
2.13远场范围的超声波可视为()
A、平面波B、柱面波C、球面波D、以上都不对
2.14在探测条件相同的情况下面积比为2的两个平底孔,其反射波高相差()
A、6dBB、12dBC、9dBD、3dB
2.15在探测条件相同的情况下,孔径比为4两个球形人工缺陷,其反射波高相差()
A、6dBB、l2dBC、24dBD、8dB
2.16在探测条件相同的情况下,直径比为2的两个实心圆柱体,其曲底面同波相差()
A、12dBB、9dBC、6dBD、3dB;
2.17外径为D,内径为d的实心圆柱体,以相同的灵敏度在内壁和外圆探测,如忽略耦合差异,则底波高度比为()
2.18同直径的平底孔在球面波声场中距声源距离增大1倍则回波减弱:
()
A、6dbB、12dbC、3dbD、9db
2.19同直径的长横孔在球面波声场中距离声源距离增大1倍回波减弱()
A、6dbB、12dbC、3dbD、9db
2.20在球面波声场中B平底距声源距离增大I倍回波减弱:
()
A、6dbB、12dbC、3dbD、9db
2.21对于柱面波,距声源距离增大1倍,声压变化是:
()
A、增大6dbB、减小6dbC、增大3dbD、减小3db
2.22对于球面波,距声源距离增大1倍,声压变化是:
()
A、增大6dbB、减小6dbC、增大3dbD、减小3db
2.23比Φ3mm平底孔回波小7db的同声程平底孔直径是:
()
A、Φ1mmB、Φ2mmC、Φ4mmD、Φ0.5mm
2.24比Φ3mm长横孔反射小7db的同声程长横孔直径是()
A、Φ0.6mmB、Φ1mmC、Φ2mmD、Φ0.3mm
2.25以下叙述中哪一条不是聚焦探头的优点()
A、灵敏度高B、横向分辨率高
C、纵向分辨高D、探测粗晶材料时信噪比高
2.26以下叙述中,哪一条不是聚焦探头的缺点()
A、声束细,每次扫查探测区域小,效率低
B、每只探头仅适宜探测某一深度范围缺陷,通用性差
C、由于声波的干涉作用和声透镜的球差,声束不能完全汇聚一点
D、以上都是
3.1A型扫描显示中,从荧光屏上直接可获得的信息是:
()
A、缺陷的性质和大小B、缺陷的形状和取向
C、缺陷同波的大小和超声传播的时问D、以上都是
3.2A型扫描显示,“盲区”是指:
()
A、近场区B、声束扩散角以外区域
C、始脉冲宽度和仪器阻塞恢复时间D、以上均是
3.3A型扫描显示中,荧光屏上垂直显示大小表示:
()
A、超声回波的幅度大小B、缺陷的位置
C、被探材料的厚度D、超声传播时间
3.4A型扫描显示中,水平基线代表:
()
A、超声回波的幅度大小B、探头移动距离
C、声波传播时间D、缺陷尺寸大小
3.5脉冲反射式超声波探伤仪中,产生触发脉冲的电路单元叫做()
A、发射电路B、扫描电路C、同步电路D、显示电路
3.6脉冲反射超声波探伤仪中,产生时基线的电路单元叫做()
A、扫描电路B、触发电路C、同步电路D、发射电路
3.7发射电路输出的电脉冲,其电压通常可达()
A、几百伏到上千伏B、几十伏C、几伏D、1伏
3.8发射脉冲的持续时间叫:
()
A、始脉冲宽度B、脉冲周期C、脉冲振幅D、以上都不是
3.9探头上标的2.5MHz是指:
()
A、重复频率B、工作频率C、触发脉冲频率D、以上都不对
3.10影响仪器灵敏度的旋纽有:
()
A、发射强度和增益旋纽B、衰减器和抑制
C、深度补偿D、以上都是
3.11仪器水平线性的好坏直接影响:
()
A、缺陷性质判断B、缺陷大小判断
C、缺陷的精确定位D、以上都对
3.12仪器的垂直线性好坏会影响:
()
A、缺陷的当量比较B、AVG曲线面板的使用
C、缺陷的定位D、以上都对
3.13接收电路中,放大器输入端接收的同波电压约有()
A、几百伏B、100V左右C、10V左右D、0.001~1V
3.14同步电路每秒钟产生的触发脉冲数为()
A、l—2个B、数十个到数千个
C、与工作频率相同D、以上都不对
3.15调节仪器面板上的“抑制”旋钮会影响探伤仪的()
A、垂直线性B、动态范围C、灵敏度D、以上全部
3.16放大器的不饱和信号高度与缺陷面积成比例的范围叫做放放大器的()
A、灵敏度范围B、线性范围C、分辨力范围D、选择性范围
3.17单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:
()
A、近场干扰B、材质衰减C、盲区D、折射
3.18同步电路的同步脉冲控制是指:
()
A、发射电路在单位时间内重复发射脉冲次数
B、扫描电站每秒钟内重复扫描次数
C、探头晶片在单位时间内向工件重复幅射超声波次数
D、以上全部都是
3.19表示探伤仪与探头组合性能的指标有:
()
A、水平线性、垂直线性、衰减器精度
B、灵敏度余量、盲区、远场分辨力
C、动态范阻。
—题堂皇!
奠搽测瀑度
D、垂直极限、水平极限、重复频率
3.20使仪器得到满幅显示时Y轴偏转板工作电压为80V,现晶片接收到的缺陷信号电压为40mv,若要使此缺陷以50%垂直幅度显示,仪器放大器应有多大增益量?
()
A、74dBB、66dBC、60dBD、80dB
3.21脉冲反射式超声波探伤仅同步脉冲的重复频率决定着:
()
A、扫描长度B、扫描速度
C、单位时间内重复扫描次数D、锯齿波电压幅度
3.22压电晶片的基频是:
()
A、晶片厚度的函数B、施加的脉冲宽度的函数
C、放大器放大特性的函数D、以上都不对
3.23探头的分辨力:
()
A、与探头晶片直径成正比B、与频率宽度成正比
C、与脉冲重复频率成正比D、以上都不对
3.24当激励探头的脉冲幅度增大时:
()
A、仪器分辨力提高B、仪器分辨力降低,但超声强度增大
C、声波穿透力降低D对试验无影响
3.25探头晶片背面加上阻尼块会导致:
()
A、Qm值降低.灵敏度提高B、Qm值增大,分辨力提高
C、Qm值增大,盲区增大D、Qm值降低,分辨力提高
3.26为了从换能器获得最高灵敏度:
()
A、应减小阻尼块B、应使用大直径晶片
C、应使压电晶片在它的共振基频上激励D、换能器频带宽度应尽可能大
3.27超声试验系统的灵敏度:
()
A、取决于探头高频脉冲发生器和放大器
B、取决于同步脉冲发生器
C、取决于换能器机械阻尼
D、随分辨力提高而提高
3.28换能器尺寸不变而频率提高时:
()
A、横向分辨力降低B、声束扩散角增大
C、近场长度增大D、指向性变钝
3.29一般探伤时不使用深度补偿是因为它会:
()
A、影响缺陷的精确定位
B、影响AVG曲线或当量定量法的使用
C、导致小缺陷漏捡
D、以上都不对
3.30晶片共振波长是晶片厚度的()
A、2倍B、1/2倍C、l倍D、4倍
3.31已知PZT-4的频率常数是2000m/s,2.5MHz的PZT-4晶片厚度约为:
()
A、0.8mmB、l.25mmC、1.6mmD、0.4mm
3.32在毛面或曲面工件上作直探头探伤时,应使用:
()
A、硬保护膜直探头B、软保护膜直探头
C、大尺寸直探头D、高频直探头
3.33目前工业超声波探伤使用较多的压电材料是:
()
A、石英B钛酸钡C、锆钛酸铅D硫酸锂
3.34联合双直探头的最主要用途是:
()
A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度
C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷探伤
3.35超声波探伤仪的探头晶片用的是下面哪种材料:
()
A、导电材料B磁致伸缩材料C、压电材料D磁性材料
3.36下面哪种材料最适宜做高温探头:
()
A、石英B、硫酸锂
C、锗钛酸铅D、铌酸锂
3.37下面哪种压电材料最适宜制作高分辨率探头:
()
A、石英B锆钛酸铅C、偏铌酸铅D、钛酸钡
3.38下列压电晶体中哪一种作高频探头较为适宜()
A、钛酸钡(CL=5470m/s)B、铌酸锂(CL=7400m/s)
C、PZT(CL=4400m/s)D、钛酸铅(CL=4200m/S)
3.39表示压电晶体发射性能的参数是()
A、压电电压常数g33B、机电耦合系数K
C、压电应变常数d33D、以上全部
3.40以下关于爬波探头的叙述,哪一条是错误的()
A、爬波探头的外形和结构与横渡斜探头类似
B、当纵波入射角大于或等于第二临界角时,在第二介质中产生爬波
C、爬波用于探测表层缺陷
D、爬波探测的深度范围与频率f和晶片直径D有关。
3.41窄脉冲探头和普通探头相比()
A、Q值较小B、灵敏度较低C、频带较宽D、以上全部
3.42采用声透镜方式制作聚焦探头时,设透镜材料为介质1,欲使声束在介质2中聚焦,选用平凹透镜的条件是()
A、Zl>Z2B、C1 3.43探头软保护膜和硬保护膜相比,突出优点是() A、透声性能好B、材质衰减小C、有利消除耦合差异D、以上全部 3.44以下哪一条,不属于数字化智能超声波探伤仪的优点() A、检测精度高,定位定量准确B、频带宽,脉冲窄 C、可记录存贮信号D、仪器有计算和自检功能 3.45以下哪一条,不属于双晶探头的优点() A、探测范围大B、盲区小 C、工件中近场长度小D、杂波少 3.46以下哪一条,不属于双品探头的性能指标() A、工作频率B、晶片尺寸C、探测深度D、近场长度 3.47斜探头前沿长度和K值测定的儿种方法中,哪种方法精度最高: () A、半圆试块和横孔法B、双孔法 C、直角边法D、不一定,须视具体情况而定 3.48超声探伤系统区别相邻两缺陷的能力称为() A、检测灵敏度B、时基线性C、垂直线性D、分辨力 3.49用以标定或测试超声探伤系统的,含有模拟缺陷的人工反射体的金属块叫() A、晶体准直器B、测角器C、参考试块D、工件 3.50对超声探伤试块材质的基本要求是: () A、其声速与被探工件声速基本一致 B、材料中没有超过Φ2mm平底孔当量的缺陷 C、材料衰减不太大且均匀 D、以上都是 3.51CSK-IIA试块上的Φl×6横孔,在超声远场.其反射波高随声程的变化规律与 ()相同。 A、k值孔B、平底孔C、球孔D、以上B和C 4.1采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度? () A、直探头探伤法B、脉冲反射法 C、斜探头探伤法D、穿透法 4.2超声检验中,当探伤面比较粗糙时,宜选用() A、较低频探头B、较粘的耦合剂 C、软保护膜探头D、以上都对 4.3超声检验中,选用晶片尺寸大的探头的优点是() A、曲面探伤时可减少耦合损失B、可减少材质衰减损失 C、辐射声能大且能量集中D、以上全部 4.4探伤时采用较高的探测频率,可有利于() A、发现较小的缺陷B、区分开相邻的缺陷 C、改善声束指向性D、以上全部 4.5工件表面形状不同时耦合效果不一样,下面的说法中,哪点是正确的() A、平面效果最好B、凹曲面居中 C、凸曲面效果最差D、以上全部 4.6缺陷反射声能的大小,取决于() A、缺陷的尺寸B、缺陷的类型 C、缺陷的形状和取向D、以上全部 4.7声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时,缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是: () A、反射波高随粗糙度的增大而增加 B、无影响 C、反射波高随粗糙度的增大而下降 D、以上A和C都可能 4.8如果声波在耦合介质中波长为λ,为使透声效果好,耦合层厚度为() A、λ/4的奇数倍B、λ/2整数倍 C、小于λ/4且很薄D、以上B和C 4.9表面波探伤时,仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表() A、缺陷深度B、缺陷至探头前沿距离 C、缺陷声程D、以上都可以 4.10探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时,如仪器用平试块按深度1: 1调扫描,下面哪种说法正确? () A、缺陷实际径向深度总是小于显示值 B、显示的水平距离总是大于实际弧长 C、显示值与实际值之差,随显示值的增加而减小 D、以上都正确 4.11采用底波高度法(F/B百分比法)对缺陷定量时,下面哪种说法正确()? A、F/B相同,缺陷当量相同B该法不能给出缺陷的当量尺寸 C、适于对尺寸较小的缺陷定量D、适于对密集性缺陷的定量 4.12在频率一定和材料相同情况下,横渡对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是: () A、横波质点振动方向对缺陷反射有利B、横渡探伤杂波少 C、横波波长短D、横波指向性好 4.13采用下列何种频率的直探头在不锈钢大锻件超探时,可获得较好的穿透能力: () A、1.25MHzB、2.5MHzC、5MHzD、l0MHz 4.14在用5MHzΦlO晶片的直探头作水浸探伤时,水层厚度为20mm,此时在钢工件中的近场区长度还有: () A、10.7mmB、1.4mmC、16.3mmD、以上都不对 4.15使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果: () A、小于实际尺寸B、接近声束宽度 C、稍大于实际尺寸D、等于晶片尺寸 4.16棱边再生波主要被用于测定: () A、缺陷的长度B、缺陷的性质 C、缺陷的位置D、缺陷的高度 4.17从A型显示荧光屏上不能直接获得缺陷性质信息。 超声探伤对缺陷的定性是通过下列方法来进行: () A、精确对缺陷定位B、精确测定缺陷形状 C、测定缺陷的动态波形D、以上方法须同时使用 4.18单斜探头探伤时,在近区有幅度波动较快,探头移动时水平位置不变的回波,它们可能是: () A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声 C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声 4.19确定脉冲在时基线上的位置应根据: () A、脉冲波峰B、脉冲前沿C、脉冲后沿D、以上都可以 4.20用实测折射角7°的探头探测板厚为25mm的对接焊缝,荧光屏上最适当的声程测定范围是: () A、l00mmB、125mmC、l50mmD、200mm 4.21用IIW2调整时间轴,当探头对准R50圆弧面时,示波屏上的回波位置(声程调试)应在;() 4.22能使K2斜探头得到图示深度l: 1调节波形的钢半圆试块半径R为() A、50mmB、60mmC、67mmD、40mm 4.23在厚焊缝斜探头探伤时,一般宜使用什么方法标定仪器时基线? () A、水平定能法B、深度定位法C、声程定位法D、一次波法 4.24在中薄板焊缝斜探头探伤时,宜使用什么方法标定仪器时基线? () A、水平定位法B、深度定位法C、声程定位法D、二次被法 4.25对圆柱形简体环缝探测时的缺陷定位应: () A、按平板对接焊缝方法B、作曲面定位修正 C、使用特殊探头D、视具体情况而定采用各种方法 4.26在探测球形封头上焊缝中的横向缺陷时,缺陷定位应: () A、按平板对接焊缝方法B、作曲面修正 C、使用特殊探头D、视具体情况决定是否采用曲面修正 4.27在筒身外壁作曲面周向探伤时,缺陷的实际深度比按平扳探伤时所得读数: () A、大B、小C、相同D、以上都可能 4.28在筒身内壁作曲面周向探伤,所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数() A、大B、小C、相同D、以上都可艟 4.29在筒身外壁作曲面周向探伤时,实际的缺陷前沿距离比按平扳探伤时所得读数() A、大B、小C、相同D、以上都可能 4.30在筒身内壁作曲面周向探伤时,实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数() A、大B、小C、相同D、以上都可能 4.31为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷,凹曲面周向斜探头探伤应选用 () A、小K值探头B、大K值探头 C、较保护膜探头D、高频探头 4.32在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置,其原因是: () A、侧面反射波带来干涉B、探头太大,无法移至边缘 C、频率太高D、以上都不是 4.33在斜探头厚焊缝探伤时,为提高缺陷定位精度可采取措施是: () A、提高探头声束指向性B、校准仪器扫描线性 C、提高探头前沿长度和K值测定精度D、以上都对 4.34当量大的缺陷实际尺寸: () A、一定大B不一定大C、一定不大D等于当量尺寸 4.35当量小的缺陷实际尺寸: () A、一定小B、不—宝小C、一定不小D、等于当量尺寸 4.36在超声探伤时,如果声束指向不与平面缺陷垂直,则缺陷尺寸一定时,缺陷表面越平滑反射回波越: () D、大B、小C不影响D、不一定 4.37当声束指向不与平面缺陷垂直时,在一定范围内,缺陷尺寸越大,其反射回波强度越: () A、大B、小C、无影响D、不一定 4.38焊缝探伤中一般不宜选用较高频率是因为频率越高() A、探头及平面缺陷型缺陷指性向越强,缺陷方向不利就不易探出 B、裂纹表面不光洁对回波强度影响越大 C、杂波太多 D、AB都对 4.39厚度为600mm的铝试件,用直探头测得一回波的传播时间为l65μs若纵波在铝中声速为6300m/S则此回波是() A、底面回波B、底面二次回波C、缺陷回波D、迟到回波 4.40直探头纵波探伤时,工件上下表面不平行会产生: () A、底面回波降低或消失B、底面回波正常 C、底面回波变宽D、底面回波变窄 4.41直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差为5db,材质衰减均为001dB/mm(双程),今将前者底面回波调至满幅(100%) 高,则后者的底面回波应是满幅度的: () A、40%B、20%C、10%D、5% 4.42厚度均为400mm,但材质衰减不同的两个锻件,采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测,现两个锻件中均发现缺陷,且回波高度和缺陷声程均相同,则: () A、两个缺陷当量相同B、材质衰减大的锻件中缺陷当量小 C、材质衰减小的锻件中缺陷当量小D、以上都不对 4.43在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在? () A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱或消失 C、接收探头接收到的能量的减弱D、AB都对 4.4在直接接触法直探头探伤时,底波消失的原因是: () A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷 C、存住与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都是 4.45在直探头探伤时,发现缺陷回波不高,但底波降低较大,则该缺陷可能是: () A、与表面成较大角度的平面缺陷B、反射条件很差的密集缺陷 C、AB都对D、AB都不对 4.46影响直接接触法耦合损耗的原因有: () A、耦合层厚度,超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗 B、探头接除面介质声阻抗 C、工件被探测面材料声阻抗 D、以上都对 4.47被检工件晶粒粗大,通常会引起: () A、草状回波增多B、信噪比下降 C、底波次数减少D、以上全部 4.48为减少凹面探伤时的耦合损耗,通常采用以下方法: () A、使用高声阻抗耦合剂B、使用软保护膜探头 C、使用较低频率和减少探头耦合面尺寸D、以上都可以 4.49在平整光洁表面上作直探头探伤时宜使用硬保护膜探头,因为这样: () A、虽然耦合损耗大,但有利于减小工件中噪声 B、脉冲窄,探测灵敏度高 C、探头与仪器匹配较好 D、以上都对 4.50应用有人工反射体的参考试块主要目的是: () A、作为探测时的校准基准,并为评价工件中缺陷严重程度提供依据 B、为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具 C、为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证 D、提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体 4.51下面哪种参考反射体与入射声束角度无关: () A、平底孔 B、平行于探测面且垂直于声束的平底槽 C、平行于探测面且垂直于声束的横通孔 D、平行于探测面且垂直于声束的V型缺口 4.52测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外,还包括: () A、声束扩散损失B、耦合损耗 C、工件几何形状影响D、以上都是 4.53沿细长工件轴向探伤时,迟到波声程△x的计算公式是: () 4.54换能器尺寸不变而频率提高时: () A、横向分辨力降低B、声束扩散角增大 C、近场区增大D、指向性变钝 4.55在确定缺陷当量时,通常在获得缺陷的最高回波时加以测定,这是因为: () A、只有当声束投射到整个缺陷反射面上才能得到反射回波最大值 B、只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值 C、只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值 D、人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准 4.56考虑灵敏度补偿的理由是() A、被检工件厚度太大B、工件底面与探测面不平行 C、耦合剂有较大声能损耗D、工件与试块材质,表面光洁度有差异 4.57探测粗糙表面的工件时,为提高声能传递,应选用: () A、声阻抗小且粘度大的耦合剂B、声阻抗小且粘度小的耦合剂 C、声阻抗大且粘度大的耦合剂D、以上都不是 4.58超声容易探测到的缺陷尺寸一般不小于: () A、波长的一半B、一个波长 C、四分之一波长D、若干个波长 4.59与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是: () A、单斜探头法B、单直探头法 C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法 4.60探测距离均为100mm的底面,用同样规格直探头以相同灵敏度探测时,下列哪种底面同波最高。 () A、与探测面平行的大平底面 B、R200的凹圆柱底面 C、R200的凹球底面 D、R200的凸圆柱底面 4.61锻件探伤中,荧光屏上出现“林状波”时,是由于() A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大 C、工件中有密集缺陷D、以上全部 4.62下面有关“幻象波”的叙述哪点是不正确的() A、幻象回波通常在锻件探伤中出现 B、幻象波会在扫描线上连续移动 C、幻想波只可能出现在一次底
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