RF测试中干扰的优化思路.docx
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RF测试中干扰的优化思路
RF测试中干扰的优化思路
RF测试过程中,通常遇到的干扰问题分为上行干扰及下行干扰
上行干扰:
可通过性能管理检查底噪RSSI进行判断,若某小区底噪过高却没有相当的话务量,则判断为上行干扰,可通过网管进行RB级别的频谱扫频进一步确定。
下行干扰:
若测试中RSRP覆盖良好但SINR低于一定门限,则认定为下行干扰,若RSRP与SINR均差则为覆盖问题;常见的下行干扰问题有小区间同频干扰、模3干扰、PCI复用等,都会导致下行干扰,这些问题可通过调整天馈、修改基站参数、功率等方案解决。
另外不同运营商之间使用相同的频带资源、也会造成干扰。
还有一些来自外部的干扰,一般表现为周边站点指标异常,可通过网管查询周边站点指标确认。
案例:
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- RF 测试 干扰 优化 思路
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