完整版手机可靠性测试手册.docx
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完整版手机可靠性测试手册
整机和部件测试手册(V1.0)
手机可靠性测试手册
(版本:
V1.0)
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批准:
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版本时间修改内容修改人
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整机和部件测试手册(V1.0)
V1.0
2011-5-5 新建立
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整机和部件测试手册(V1.0)
1.简介…………………………………………………………………………………………………………………….5
1.1 目的………………………………………………………………………………………………………………..5
1.2 适用范围…………………………………………………………………………………………………………..5
1.3 责任………………………………………………………………………………………………………………...5
2.测试内容………………………………………………………………………………………………………………..5
2.1 整机测试项目..........................................................................................................................................................5
2.1.1 电性能测试……………………………………………………………………………………………………5
2.1.2 ESD 测试………………………………………………………………………………………………………5
2.1.3 环境测试………………………………………………………………………………………………………6
2.1.4 寿命测试………………………………………………………………………………………………………6
2.1.5 机械强度测试…………………………………………………………………………………………………6
2.2 部件测试项目……………………………………………………………………………………………………...6
3.测试标准………………………………………………………………………………………………………………..6
3.1 整机测试标准……………………………………………………………………………………………………...6
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整机和部件测试手册(V1.0)
3.1.1 电性能测试标准…………………………………………………………………………………………………6
3.1.2ESD 静电测试标准………………………………………………………………………………………………7
3.1.3 环境测试标准……………………………………………………………………………………………………8
3.1.4 寿命测试标准……………………………………………………………………………………………………12
3.1.5 机械强度测试标准………………………………………………………………………………………………18
3.1.6 机械强度测试(参考测试)…………………………………………………………………………………..22
3.1.7 环境测试标准(参考测试)…………………………………………………………………………………..23
3.1.8 电气性能测试标准(只要求研发阶段测试)……………………………………………………………….24
3.2 部件测试标准………………………………………………………………………………………………………..25
3.3 基本性能测试………………………………………………………………………………………………………..30
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整机和部件测试手册(V1.0)
1 简介
1.1目的
为了规范多美达公司整机和部件测试的各项工作,使宇康各合作公司按照共同的测试项目和测试标准进行测试,
以使合作项目能达到多美达手机的测试要求,特制定本测试手册。
1.2适用范围
本规范适用于多美达公司和相关合作公司合作项目的整机和部件的测试。
1.3责任
多美达公司和相关合作公司都需按本测试手册进行相关测试,对问题进行分析,确定责任部门,由责任部门提出
改善对策。
2 测试内容
2.1 整机测试项目
2.1.1 电性能测试
按照 GSM 规范和移动电话相关标准,测试手机的各项重要电性能指标;
2.1.2 ESD 测试
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整机和部件测试手册(V1.0)
测试手机在静电环境中的性能;
2.1.3 环境测试
模拟手机使用的各种恶劣环境,测试其性能是否达到要求;主要包括高/低温试验、湿热试验、防尘试验等。
2.1.4 寿命测试
测试手机各易损部件的工作寿命是否达到规格要求;主要包括翻盖/滑盖、speaker、SIM 卡座、按键、I/O 口
插拔等试验。
2.1.5 机械强度测试
测试手机机械结构的强度;主要包含振动测试、跌落测试、软压测试等。
2.2 部件测试项目
部件包括听筒、振子、手写笔、有特殊测试要求的结构件等,针对不同的部件进行相关的可靠性测试。
3. 测试标准
3.1 整机测试标准
3.1.1 电性能测试标准
依照 GSM 规范、移动电话相关标准,测试手机的电性能。
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整机和部件测试手册(V1.0)
参考标准:
1.GB/T 15844.2-1995 移动通信调频无线电话机环境要求和试验方法。
2.YD/T 1215900/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动一动通信网通用分组无限业务设备测试方法:
移动台
3.GB/T 15844.3-1995 移动通信调频无线电话机可靠性要求和试验方法。
4.YD/T 965-1998电信终端设备的安全要求和试验方法
5.YD 1032-2000 900/1800MHz TDMA 数字 900/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测
量方法第一部分:
移动台及其辅助设备
3.1.2 ESD 静电测试标准
手机在接充电器和不接充电器的情况下,分别测试手机在常用使用状态下的 ESD 性能,待机和通话状态是必须
要测试的状态。
接触放电为±6KV,对裸露的金属件(如导电装饰圈、装饰牌不同的位置)、水平耦合板、垂直耦合板连续放电
各 10 次后对地放电,要求:
LCD 显示和通话状况应良好,应无数据丢失和功能损坏等;接触放电每点每个测试
电压连续放电 10 次(加严测试±20 次)。
空气放电±10K,对翻盖底壳/面壳、大小 LCD 四周、接缝、受话器、免提接口、I/O 口、主机按键及主机底
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整机和部件测试手册(V1.0)
壳等处进行放电,被选点每点每个测试电压放电 10 次(加严测试±20 次),每放电一次需对地放电,要求 LCD
显示和通话状况应良好,应无数据丢失和功能损坏。
完成后作好记录。
所需手机数为 2 部。
外置天线 ESD 测试要求:
天线电镀装饰要求测试接触放电±8KV,空气放电±15KV,不允许出现破坏性问题
(出现重启或重装电池不可恢复的问题)
参考标准:
GB/T 17626.2 1998 idt IEC-61000-4-21995 电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验
YD/T 1539-2006 移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法
ESD 实验室环境要求:
环境温度:
+15~ +35℃
相对湿度:
ESD 实验室湿度应严格控制到 30%~60%RH
大气压力:
86~106kPa
3.1.3 环境测试标准
测试项目及条件:
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整机和部件测试手册(V1.0)
测试项目测试条件/参考标准主要测试阶段数量注意事项
T=-30±3℃,试验时间 48 小时,回温 2h P1 板必须要测,更
低温储存试 后检测功能、外观、机械和电性能有无异常。
改重 要元器件或元
4
试验状态:
整机+关机状态。
验器件的供应商,结构
材料变更
T=-20±3℃,试验时间 8 小时,测试过程 P1 板必须要测,更
中需进行中间检测,观察信号指示并进行拨 改重 要元器件或元
打测试(或用仪器测试电性能),测试持续 器件的供应商
低温工作试 时间到后立即在该温度下进行电性能和功
验能测试,最终检测:
将试验样品回温 2h 后
检测呼叫连接、外观、机械等应正常。
中
间检测及最终检测均正常测试才为合格。
高温储存试 T=70±2℃,试验时间 48 小时,回温 2H 后 P1 板必须要测,更
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试验中手机处于待机状态(如
果 T=-20±3℃条件下电性能有
异常情况,品质可按照 T=-10
± 3 ℃的实验条件作为最低出
4
货标准。
若选择观测信号指示
与被叫的方式,需将手机工作
在带 SIM 卡的标准用户模式 )
试验状态:
整机+关机状态。
4 试验状态:
整机+关机状态。
整机和部件测试手册(V1.0)
验检测功能、外观、机械和电性能。
改重 要元器件或元
器件的供应商,结构
材料变更
T=55±2℃,试验时间 8 小时,测试过程中
需进行中间检测,进行主叫拨打测试(或用
仪器测试电性能),测试持续时间到后在该
高温工作试
试验状态:
整机+开机状态。
温度下进行电性能和功能测试,最终检测:
验
将试验样品回温 2h 后进行功能、外观、机
械和电性能等检测。
中间检测及最终检测均
正常测试才为合格。
T=40±2℃,RH=95±3%,试验时间 48 小
恒定湿热试 时,测试过程中需进行中间检测, 进行主
可选做 4 主叫可采用直接拔打 112 的方
式。
试验中手机处于待机状态。
翻
盖手机翻盖处于打开状态,使
可选做
4
验叫拨打测试(或用仪器测试电性能),测试
时间到后在该温度下进行电性能和功能测
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用大 LCD 也处于工作状态,主
叫采用拨打 112 的方式)。
整机和部件测试手册(V1.0)
试,回温 2h 后检测呼叫连接、外观、机械
等应正常。
从室温以不大于 1℃/MIN 速度变到 40℃, P1 板必须要测,更
RH:
95±3%,保持 1H;再以不大于 1℃/min 改重 要器件或元器
湿热循环试
速度变到-10℃,保持 1h;循环 13 次。
循 件的供应商
验
环期满,回温 2H 后检测功能、外观、机械
和电性能应正常。
将手机放置在粉尘试验箱内, 样品体积综 P1 板必须要测,或
合不得超过试验箱有效空间的 1/3,底面积 更改结构
不得超过有效水平在积的 1/2;与实验箱内
防尘试验壁距离应不小于100mm 。
启动粉尘试验
箱,使气流能够将灰尘均匀缓慢地沉降在试
验样品上,最大值不得超过 2m/s。
测试时
间到后,将手机在粉尘箱内静置 2H,进行
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4 试验中手机处于待机状态
试验中手机带电池关机。
测试
4 后的手机显示区域内、摄相头
区域内不得有粉尘出现。
整机和部件测试手册(V1.0)
功能、外观及装配检测。
在仪器未到位前,
也可采用袋子装上少许灰尘,把手机装进袋
子且用人手抖动袋子 1 分钟方式)。
备注:
对于本环境测试标准中未涉及的新工艺,新标准,可以根据具体情况采用行业标准来进行测试。
*防尘测试在没有专用测试仪器的情况下,可以采用手动测试的方式代替。
3.1.4 寿命测试标准
测试项目测试条件/参考标准主要测试阶段数量注意事项
以 40~60 次/分钟的速度翻动翻盖,来回为 P1 板必须要测,更换铰
1 次,要求翻盖达到最大转动位置。
每 3000 链/FPC 或供应商
翻/滑盖寿次检查 1 次。
要求翻盖最少测试 8 万次。
测
测试中手机处于待机状态;测试
中手机应无(关机,显示等)异
常; 测试后手机应无结构(进
4
命试验试结束后首先对样品进行功能、结构检测;
然后拆机检查铰链周围壳体以及 FPC 有无
外观异常,并对 FPC 阻值进行测量。
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程中出现干涉,松动,响声等)、
外观(掉漆、裂痕等)异常; 壳
体无异常,FPC 无破裂、刮痕,
整机和部件测试手册(V1.0)
以 40~60 次/分钟的速度滑动滑盖,来回为 P1 板必须要测,更换滑
1 次,要求滑动达到最大行程位置。
每 3000 轨/FPC 或供应商
次检查 1 次。
要求滑盖最少测试 8 万次。
测
各走线导通电阻必须小于 8 欧
姆。
4
试结束后首先对样品进行功能、结构检测;
然后拆机检查滑轨、 FPC 外观,并对 FPC
阻值进行测量。
采用电池加旅充充电的供电方式或者直接用 P1 板必须要测,更换
选用音频较高的歌曲;测试中突
4.2V 直流电源供电方式,将试验样机设置成 speaker 音频参数,或
Speaker 寿
然掉电不超过 1 分钟可以累积
长时间播放状态(采用播放 MP3,循环连续 speaker 的供应商
6
命测试
测试时间,超过 1 分钟必须重
播放),连续播放时间不少于 120H,功能应
新计算。
正常。
以 40~60 次/分钟的速度,不小于 10N 的力 P1 板必须要测,更换按
机械按键寿
度均匀按键,Dome:
15 万次以上;Switch:
键板、按键、 DOME,
2 手机处于关机状态
命测试
10 万次;多维导航键:
6 万次。
每 2 万次检 或供应商
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整机和部件测试手册(V1.0)
查 1 次。
Slide:
1.5 万次;试验后功能应正
常。
装上电池再取下电池。
累计 2000 次以上。
P1 板必须要测,更换电
电池插拔测
测试速度不超过 30 次/分(插
每插拔 100 次开机检查一次, 手机功能应 池/电池连接器,或供应
2
试
入拔出算一次)
正常。
商
插入 SIM 卡再取出,累计 1000 次。
每插拔 P1 板必须要测, 或更
SIM 卡插拔
测试速度不超过 30 次/分(插
50 次开机检查一次,手机不能有不识卡现换 SIM 卡座供应商
2
测试
象,测试完毕手机功能应正常。
插入内存卡再取出,累计 1000 次。
不支持 P1 板必须要测,或更换
热插拔的机型,每插拔 100 次开机检查一 T 卡座供应商
外置内存卡 次,支持热插拔的机型必须在开机状态下测
入拔出算一次)
插拔频率不超过 30 次 / 分钟。
2
插拔试验试,每插拔 100 次检查一次,要求测试后存
储卡结构正常(不能破裂),手机无不识卡
问题,内存卡中的内容不可丢失。
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(插入拔出算一次)
整机和部件测试手册(V1.0)
将耳机垂直插入耳机孔后,再垂直拔出,如 P1 板必须要测,或更换
插拔频率不超过 30~40 次/分
此反复,累计 3000 次。
功能应正常。
耳机插孔供应商
钟。
(插入拔出算一次)若手机
耳机插孔插
2
采用数据线、耳机、充电器三合
拔试验
插入数据线再拔下,累计 3000 次。
每插拔 P1 板必须要测, 或更
一接口,需要采用三种配件对应
同一个母座各测试 3000 次。
插拔频率不超过 30 次 / 分钟。
100 次开机检查一次,手机功能应正常。
换 I/O 口供应商
(插入拔出算一次) 若手机采
I/O 插拔测
2
用数据线、耳机、充电器三合一
试
电池盖插拔 插上电池后盖再拔下,累计 2000 次,外观、 P1 板必须要测,或更换
接口,需要采用三种配件对应同
一个母座各测试 3000 次。
插拔频率不超过 30 次 / 分钟
2
测试功能应正常。
电池盖材料/供应商
手写笔插拔 手写笔垂直插入手机再拔出为一次,插拔第一次送样时测试,更
(插入拔出算一次)
20000 次测试后,手机壳体卡扣
2
测试20000 次,实验中检查手机与手写笔的配合 换手写笔供应商弹片功能正常,无破裂;手写笔
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整机和部件测试手册(V1.0)
有无不顺畅现象。
测试完毕后手机与手写笔
外观、结构应正常。
(试验速率:
≤ 25 次/
分钟)
将手机固定在点击测试仪器上,用固定在尖 第一次送样时测试; 更
端的随机手写笔,加载 150g 的力,对触摸 换 TP、触摸 IC;或更
*触摸屏点 屏点击 25 万次,每 5 万次对屏幕进行检查 换 LCD 供应商
可以锁紧不会滑落,多段设计的
手写笔,拉出后应为伸长状态
采用手机自带手写笔进行测试,
2
击试验并清洁;手机处于待机状态;测试完毕后,
触摸屏表面无损伤,功能正常。
点击速率:
约 1 次/秒
将手机固定在划线测试仪器上,用手机自带 第一次送样时测试;更
的手写笔沿触摸屏的对角线进行划线测试, LCD 或触摸 IC;或更换
*触摸屏划
同时验证手写笔的可靠性。
划线测试距离不小于屏幕对角
划线压力为 150g 力, 测试次数 10 万次 供应商
2
线试验
线距离的 1/3。
(反复来回为 2 次),每 1 万次对触摸屏功
能、结构和外观进行检测,并对触摸屏进行
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整机和部件测试手册(V1.0)
清洁。
测试结束后,触摸屏功能应正常,外
观无损伤(划痕)。
(划线速度:
约 30mm/
秒)
针对电视功能的手机
测试项目测试条件/标准
将电视天线拉杆拉伸再缩进,伸缩为一次,
循环插拔 10000 次;测试后,对天线的外观
电 视 天 线 和机械功能进行检测。
要求:
测试后样品可
拉 杆 伸 缩 以适当变松,但需保证拉伸状态时,自然直
数量 注意事项
2
寿命试验立和倒立状态下,不会自动拉伸及缩入;正
常使用下,拉伸和缩进需保证顺畅,不能有
结构干涉。
电视天线将单体天线尾端固定在摇摆试验机上,要求2
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整机和部件测试手册(V1.0)
拉杆摇摆
寿命试验
摆轴向与仪器摇摆方向平行,并在 CAP 端
挂置 300g 的砝码,启动摇摆试验仪,循环
测试次数 5000。
测试完成后,对天线的转轴
进行外观、功能检测。
要求测试后的样品档
位清楚,摆动自然,天线杆不得自动倒落。
备注:
*触摸屏点击划线试验为选作测试项目,只针对 TP 的新供应商样品做验证测试,标准屏不再安排此测
试
3.1.5 机械强度测试标准
测试项目测试条件/参考标准主要测试阶段数量注意事项
试验样机插 SIM 卡,并装配电池,手机处于 第一次装机必须要测,
正常工作状态。
将样品放置在垂直跌落试验 另外更改电池、壳体、
跌落试验仪上,将高度调到 1.0m ,进行垂直跌落测 屏等大的器件或供应商
试。
每个面各测 2 次,共跌落 12 次。
跌落
测试后,首先对样品进行外观、功能,结构
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试验 从手机的 最小面 开始 跌
落,每个循环中 LCD 面为最后
4 跌落面;有翻盖(滑盖)的移
动电话机应将盖合上; 跌落后
进行外观检查,磨损是可以的,
整机和部件测试手册(V1.0)
检测,记录测试状态后,再进行拆机检测。
但不应有破裂以及裂痕;电池
盖脱落,手写笔拉出,两次以
内的掉卡或掉电以及胶塞拉出
但未脱落等现象不作为不合格
的判定依据。
拆机检测:
内部
壳体无破裂机变形,定位柱等
无变形,确保主板定位良好,
主板元器件无损伤。
试验中,
若因为设计原因,无法满足跌
落后电池后盖任然锁紧状态,
可采用加贴胶纸的方式固定电
池盖后再进行测试
将手机正面朝上,放置在支撑部件的中心位 第一次装机必须要测,
按压头材质为硅树脂,支撑部
软压试验
2
置上,样品处于开机状态并锁住键盘。
弹性 另外更改电池、壳体、
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分材质为帆布。
整机和部件测试手册(V1.0)
挂绳扣
螺钉拆卸
挤压头以 25kg 的力、每分钟 15~30 次的 屏等大的器件或供应商
频率挤压样品中间部位 1000 次,分别在 400、
600、800、1000 次进行外观检查和话音通信
检查,外观、功能应正常,话音通信应能正
常进行。
测试结束后进行功能、外观及装配
检测应无异常。
共 10 次,每次:
5kgf(千克力),持续 10s,
第一次装机必需要测 2
挂绳孔不断就合格(变形不管)
内螺钉:
5 次,装配力矩装卸
外螺钉:
10 次,装配力矩装卸,
第一次装机必需要测 5 实验状态:
裸机测试
试验
滑丝,螺钉断裂不合格
随机振动
振动频率 :
10 ~ 500Hz ASD(加速度频谱密
第一次装机必须要测
4 手机处于待机状态。
试验
度):
0.96m2/S3 持续时间 :
每方向 1 小时
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整机和部件测试手册(V1.0)
(x,y,z 三个方向)。
试验过程中检查手机有无
掉卡、关机等不良现象,测试结束后功能检
查应无异常。
单体测试:
将单体显示屏固定在刚
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