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作业指导书RT
承压设备射线检测通用工艺规程
1.范围
1.1本规程规定了承压设备金属熔化焊焊接接头X射线检测技术和质量分级要求。
1.2本规程适用于承压设备制造、安装和在用阶段的焊接接头的射线检测。
用于制作焊接接头的金属为钢。
焊接接头的型式包括板及管的对接接头对接焊缝(以下简称“对接焊缝”)、插入式和安放式接管角接接头对接焊缝(以下简称“管座角焊缝”)和管子-管板角焊缝。
1.3承压设备其它金属材料、支承件和结构件的焊接接头的射线检测,也可参照使用。
1.4引用标准
1.4.1NB/T47013.1-2015《承压设备无损检测.第1部分:
通用要求》
1.4.2NB/T47013.2-2015《承压设备无损检测.第2部分:
射线检测》
1.4.3GBZ117《工业X射线探伤放射卫生防护标准》
1.4.4GB18871《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》
1.4.5JB/T7902《无损检测.射线照相用线型象质计》
2.检测人员
2.1从事射线检测人员应按国家特种设备无损检测人员考核的相关规定取得相应的资格(RT-Ⅲ、Ⅱ、Ⅰ级)后,才能从事与该方法和该资格级别相应的无损检测工作。
从事射线检测的人员在上岗前应进行辐射安全知识的培训,并取得放射工作人员证。
2.2射线检测人员应具有一定的金属材料、焊接及热处理、设备制造安装等基本知识。
2.3射线检测人员的未经矫正或经矫正的近(距)视力和远(距)视力应不低于5.0(小数记录值为1.0),测试方法应符合GB11533的规定。
从事评片的人员应每年检查一次视力。
2.4底片评定和出具报告由RTⅡ级或以上人员进行。
3.检测设备和器材
3.1射线装置
3.1.1可以使用如下射线源:
X射线机
3.1.2经合同双方商定,允许采用其它新型射线源。
采用其他射线源时,有关检测技术要求仍应参照本部分的规定执行。
3.2射线胶片
3.2.1胶片系统按照GB/T19348.1分为六类,即C1、C2、C3、C4、C5和C6类。
C1为最高类别,C6为最低类别,胶片系统的特性指标见附录B。
3.2.2胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数。
胶片处理方法、设备和化学药剂可按照GB/T19348.2的规定,用胶片制造商提供的预先曝光胶片测试片进行测试和控制。
不得使用超过胶片制造商规定的使用期限的胶片。
胶片应按制造商推荐的温度和湿度条件予以保存,并应避免受任何电离辐射的照射。
3.2.3A级和AB级射线检测技术应采用C5类或更高类别的胶片,B级射线检测技术应采用C4类或更高类别的胶片。
3.3观片灯
观片灯的最大亮度应满足评片要求,至少应能观察到最大黑度为4.5的底片,且观片窗口的漫射光亮度可调,并备有遮光板,对不需观察或透光量过强部分屏蔽。
观片灯的主要性能应符合GB/T19802的
有关要求。
3.4黑度计
3.4.1黑度计可测的最大黑度应不小于4.5,测量值的误差应≤±0.05。
3.4.2黑度计首次使用前应进行核查,以后至少每6个月核查一次。
核查方法参照NB/T47013.2-2015附录C的规定进行,核查后应填写核查记录。
在工作开始或连续工作超过8小时后应在拟测量黑度范围内至少两点进行检查。
3.5标准密度片
标准密度片应至少有8个一定间隔的黑度基准,且能覆盖0.3-4.5黑度范围,应至少每2年校准一次。
必须特别注意标准密度片的保存和使用条件。
3.6增感屏
3.6.1射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏,金属增感屏应满足JB/T5075的要求,增感屏应完全干净、抛光和无纹道。
3.6.2使用增感屏时,胶片和增感屏之间应接触良好。
增感屏的选应符合表1的规定。
表1增感屏的材料和厚度
射线源
材料
前屏
后屏
中屏
厚度/mm
厚度/mm
厚度/mm
X射线(≤100KV)
铅
不用或≤0.03
≤0.03
---
X射线(100KV~150KV)
铅
0.02~0.10
0.02~0.15
2×0.02~2×0.10
X射线(>150KV~250KV)
铅
0.02~0.15
0.02~0.15
2×0.02~2×0.10
X射线(>250KV~500KV)
铅
0.02~0.20
0.02~0.20
2×0.02~2×0.10
3.7像质计
3.7.1底片影像质量采用线型像质计或孔型像质计测定。
通用线型像质计和等径线型像质计的型号和规格应符合JB/T7902的规定,孔型像质计型号和规格应满足GB/T23901.2的规定。
3.7.2像质计的材料、材料代号和不同材料的像质计适用的工件材料范围可按照表2的规定执行,像质计材料的吸收系数应尽可能的接近或等同于被检材料的吸收系数,任何情况下不能高于被检材料的吸收系数。
表2不同材料的像质计使用的材料范围
像质计材料代号
AI
Ti
Fe
Ni
Cu
像质计材料
工业纯铝
工业纯钛
碳素钢
镍-铬合金
3#纯铜
适用材料范围
铝、铝合金
钛、钛合金
钢
镍-镍合金
铜、铜合金
3.8暗室安全照明时间确定
胶片应在胶片制造商所推荐的安全灯光条件下进行暗室处理,暗室安全照明时间的确定方法可按照如下方法进行:
3.8.1定义
3.8.1.1可检测黑度变化
能够用对比法目视或通过黑度计测量的底片黑度的微小差别。
3.8.1.2曝光前照射试验
胶片在接受射线曝光前进行的安全灯照射试验。
由此确定的在试验片条上没有检测到黑度变化的最长安全灯照射时间,即为曝光前安全照射时间t1.
3.8.1.3曝光后照射试验
胶片在接受射线曝光后,在显影过程开始之前保持干燥状态下进行的安全灯照射试验。
由此确定的在试验片条上没有检测到黑度变化的最长安全灯照射时间,即为曝光后安全照射时间t2.
3.8.1.4潮湿胶片的曝光后照射试验
胶片自显影过程开始至显影结束(或定影过程开始),在潮湿状态下进行的安全灯照射试验,由此确定的在试验片上没有检测到黑度变化的最长安全灯照射时间,即为潮湿胶片曝光后安全照射时间t3.
3.8.2暗室安全照射时间
通过试验得到的能够确保安全灯照射对底片黑度部产生影响的时间t,为t1、t2、t3中最小值的一半。
3.8.3试验器材
3.8.3.1阶梯试块
为了获得系列阶梯黑度底片,应使用适当的金属材料制作阶梯试块。
采用适当的射线透过阶梯试块对胶片进行曝光,然后按照产品检验时使用的暗室处理参数进行处理,获得与标准适用范围大致对应的阶梯黑度范围。
3.8.3.2遮光卡
遮光卡用适当的不透光材料(如黑纸)制作,用于控制试验用胶片的受照面积。
3.8.3.3计时器
计时器的计时范围应在8min以上,计时分度值不大于1秒,但计时器发出的光不得照射到试验胶片上。
3.8.4安全灯照射试验
安全灯照射试验一般采用安全灯亮度最高一档进行,同时应按照实际工作情况选择胶片与安全灯的距离和角度等试验参数,相关数据应在试验报告中记录说明。
3.8.4.1曝光前照射试验程序
3.8.4.1.1把胶片做成条状,长度略长于阶梯试块,其宽度不小于40mm。
3.8.4.1.2把第一个试验片条用遮光卡沿纵向遮住一半,另一半放在安全灯下依据经验确定的最短时间照射。
3.8.4.1.3其余片条按3.8.4.1.2的方法逐次倍增时间在安全灯下进行照射。
3.8.4.1.4将经安全灯照射后的片条用阶梯试块进行射线曝光。
3.8.4.1.5阶梯试块照射后的片条不能再接受任何安全灯照射,2小时内把所有片条一起按照产品检测时使用的暗室处理参数在全暗的条件下进行处理。
3.8.4.1.6如果最长的安全灯照射时间不能使片条上任何一级产生可检测到黑度变化,可再次进行试验,起始时间为上次最长的安全灯照射时间,重复3.8.4.1.1~3.8.4.1.5的步骤。
3.8.4.2曝光后照射试验程序
3.8.4.2.1把胶片做成条状,长度略长于阶梯试块,其宽度不小于40mm。
3.8.4.2.2把多个片条用阶梯试块进行射线曝光,射线曝光前的片条不能接受任何安全灯照射。
3.8.4.2.3阶梯试块射线曝光后,用遮光卡沿纵向遮住试验片条的一半,另一半放在安全灯下依据实际经验确定的最短时间照射。
3.8.4.2.4其余片条按3.8.4.2.3的方法逐次倍增时间在安全灯下进行照射。
3.8.4.2.5完成安全灯照射后,保持暗室全暗状态,2小时内把所有片条一起按照产品检测时使用的暗室处理参数在全暗的条件下进行处理。
3.8.4.2.6如果最长的安全灯照射时间不能使片条上任何一级产生可检测到黑度变化,可再次进行试验,起始时间为上次最长的安全灯照射时间,重复3.8.4.2.1~3.8.4.2.5的步骤。
3.8.4.3潮湿胶片曝光后照射试验程序
3.8.4.3.1首先按3.8.4.2.1和3.8.4.2.2进行试验。
3.8.4.3.2阶梯试块经射线曝光后,在显影过程开始前,片条不能接受任何的安全灯照射。
3.8.4.3.3第一个片条在全暗条件下进行暗室处理;第二个片条在显影进行到总显影时间的50%时开始使用安全灯;第三个片条在显影一开始就使用安全灯。
3.8.4.3.4如果第二个片条阶梯的任何一级黑度有可检测到黑度的变化,则需要分别按照显影进行到总显影时间的90%、80%、70%和60%时使用安全灯的试验。
3.8.5试验数据评定
3.8.5.1测量时机
经暗室处理的试验片条应在干燥后进行黑度测量。
3.8.5.2黑度计测量及比较
黑度测量应与实际生产情况下底片测量的方法一致。
用黑度计逐条测量试验片条的每一级,记录经安全灯照射和未经安全灯照射的黑度,并进行比较,找出可检测到黑度变化的一级。
一般情况下,黑度变化超过±0.05即可认为是可检测到黑度的变化。
3.8.5.3目视测量及比较
目视观察条件应与实际生产情况下底片观察条件一致。
观察经安全灯照射和未经安全灯照射的黑度,记录并进行比较,找出接受安全灯照射时间最长而又没有可检测到黑度变化的片条。
3.8.6暗室安全照射时间的确定
3.8.6.1以试验得到的t1、t2和t3之中最小值的一半作为胶片在暗室处理过程允许的安全灯照射时间,即暗室安全照射时间。
3.8.6.2如果试验测定的安全照射时间不足以完成整个暗室处理,应考虑更换安全灯,并重新通过试验确定暗室安全照射时间。
3.8.6.3实际生产过程中,胶片暗室处理应在试验确定的安全照射时间、安全距离等参数下进行。
3.8.7试验报告
暗室安全照射时间的确定试验结束后应出具相关的试验报告。
3.9检测技术等级
3.9.1射线检测技术分为三级:
A级-低灵敏度技术;AB级-中灵敏度技术;B级-高灵敏度技术。
3.9.2射线检测技术等级选择应符合相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求,同时还应满足合同双方商定的其它技术要求。
承压设备对接焊接接头的制造、安装、在用时的射线检测,一般应采用AB级射线检测技术进行检测。
对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头,可采用B级技术进行检测。
3.9.3检测的某些条件不能满足AB级(或B级)射线检测技术的要求时,经合同双方商定,在采取有效补偿措施(例如选用更高类别的胶片)的前提下,若底片的像质计灵敏度达到了AB级(或B级)射
线检测技术的规定,则可认为按AB级(或B级)射线检测技术进行
检测。
3.9.4承压设备在用检测中,检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时,经合同双方商定,在采取有效补偿措施(例如选用更高类别的胶片)后可采用A级技术进行射线检测,但应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。
4检测工艺文件
4.1检测工艺文件包括工艺规程和操作指导书。
4.2工艺规程除满足NB/T47013.1的要求外,还应规定下列相关因素的具体范围或要求;
如相关因素的变化超出规定时,应重新编制或修
订工艺规程。
a)适用范围中的结构、材料类别及厚度;
b)射线源种类、能量及焦点尺寸;
c)检测技术等级;
d)透照技术;
e)透照方式
f)胶片型号及等级;
g)像质计种类
h)增感屏和滤光板型号(如使用);
i)暗室处理方法或条件;
j)底片观察技术;
4.3应针对具体检测对象根据标准和工艺规程编写操作指导书,其内容满足NB/T47013.1的要求外,至少还应包括:
a)编制依据;
b)适用范围:
被检测工件的类型(形状、结构等)、尺寸范围(厚度
及其他几何尺寸)、所用材料种类;c)检测设备器材:
射线源(种类、型号、有效焦点尺寸)胶片(牌号及其分类等级)、增感屏(类型、数量和厚度)、像质计(种类、型号)、滤光板、背散射屏蔽铅板、
标记、胶片暗室处理和观察设备等;
d)检测技术与工艺:
采用的检测技术等级、透照技术(单或双胶片)、透照方式(源-工件-胶片相对位置)、射线源、胶片、曝光参数、像质
计种类、摆放位置和数量,标记符号类型和放置、布片原则等;
e)胶片暗室处理方法和条件要求;
f)底片观察技术(双片叠加或单片观察评定);
g)底片质量要求:
几何不清晰度、黑度、底片像质计灵敏度、标记等;
h)验收标准;
i)操作指导书的验证要求。
4.4首次使用的操作指导书应进行工艺验证,以验证底片质量是否能达到标准规定的要求。
验证可通过专门的透照试验进行,或以产品的第一批底片作为验证依据。
在这两种情况下,作为依据的验证底片均应做出标识。
5辐射安全防护
5.1放射卫生防护应符合GB18871、GBZ117和GBZ132的有关规定。
5.2现场进行X射线检测时,应按GBZ117的规定划定控制区和管理区、设置警告标志。
检测工作人员应佩带个人剂量计,并携带剂量报警仪。
6检测工艺及其选择
6.1检测技术等级
一般应采用AB级射线检测技术进行检测。
对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头,可采用B级技术进行检测。
6.2检测时机
6.2.1检测时机应满足相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求,同时还应满足合同各方商定的其它技术要求。
6.2.2除非另有规定,射线检测应在焊后进行,且对有延迟裂纹倾向的材料,至少应在焊接完成24h后进行射线检测。
6.3检测区
6.3.1检测区宽度应满足相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求,同时还应满足合同双方商定的其它技术要求,如无特别要求,应满足以下规定:
a)对于接焊缝,检测区包括焊缝金属及相对于焊缝边缘至少为5mm的相邻母材区域。
b)对于管座角焊缝,检测区包括焊缝金属及相对于焊缝边缘至少为5mm的安放式接管相邻母材区域或插入式主管(或筒体、封头、平板等)相邻母材区域。
6.3.2对于电渣焊焊接接头,其检测区宽度可通过实际测量热影响区确定,或由合同各方商定。
6.4表面要求
在射线检测之前,对接焊接接头的表面应经目视检测并合格。
表面的不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像,否则应对表面作适当修整。
6.5透照布置
6.5.1胶片透照技术
可采用单胶片透照技术或双胶片透照技术。
X射线(≤100kV)只允许采用单胶片透照技术。
6.5.2透照方式
6.5.2.1在可以实施的情况下应优先选用单壁透照方式,在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。
典型的透照方式参见附录E。
6.5.2.2安放式和插入式管座角焊缝应优先选择源在外透照方式。
插入式管座角焊缝源在内透照方式时,应优先选择射线源放置在支管轴
线上的透照布置。
6.5.3透照方向
透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心,并应与工件表面法线重合,需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。
6.5.4一次透照长度
6.5.4.1一次透照长度应以透照厚度比K进行控制。
不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符合表3的规定。
整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参照附录F的曲线图确定。
6.5.4.2采用射线源在内偏心透照(F θ-影像最大失真角 η-有效半辐射角 6.5.4.3管座角焊缝、椭圆形封头、碟形封头小r区的焊缝,以及其他曲率连续变化的焊缝可不采用以K值确定一次透照长度的方法,允许用黑度范围来确定一次透照长度,底片黑度满足NB/T47013.2-2015中5.16.1的长度范围即为允许采用的一次透照长度。 6.5.5有效评定区搭接 6.5.5.1焊缝进行全部射线检测时,采取的曝光次数和有效评定区的重叠应能保证检测到被检测区的整个体积范围。 6.5.5.2如果用暗盒直接搭接透照方式,页应保证整个有效评定区的底片黑度满足6.16.1的要求。 6.5.6小径管透照 6.5.6.1小径管采用双壁双影透照布置,当同时满足T(壁厚)≤8mm和g(焊缝宽度)≤Do/4时应采用倾斜透照方式椭圆成像。 椭圆成像时,应控制影像的开口宽度(上下焊缝投影最大间距)在1倍焊缝 宽度左右。 不满足上述条件或椭圆成像困难时可采用垂直透照方式重叠成像。 6.5.6.2小径管对接接头100%检测的透照次数: 采用倾斜透照椭圆成像时,当T/Do≤0.12时,相隔90°透照2次。 当T/Do>0.12时,相隔120°或60°透照3次。 垂直透照重叠成像时,一般应相隔120°或60°透照3次。 如最少曝光次数不能满足100%覆盖要求,则应增加曝光次数。 6.5.6.3由于结构原因不能进行多次透照时,经合同各方同意,可不按100%检测的透照次数要求,允许采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次,此时应采取有效措施扩大缺陷可检出范围,同时保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求,并在检测报告中注明。 6.6射线能量 6.6.1在保证穿透力的前提下,X射线照相应尽量选用较低的管电压。 在采用较高管电压时,应保证适当的曝光量。 图1规定了不同材料、不同透照厚度允许采用的最高X射线管电压。 6.6.2对截面厚度变化大的工件,在保证灵敏度要求的前提下,允许采用超过图1规定的X射线管电压。 对钢材料,管电压增量不应超过50kV。 对钛及钛合金材料,管电压增量不应超过40kV。 对铝及铝合金管电压增量不应超过30kV。 6.7射线源至工件表面的最小距离 6.7.1射线源至工件表面的最小距离应符合NB/T47013.2-2015之图2 和图3(诺模图)的规定或按下式计算: A级射线检测技术: f≥7.5d·b2/3 AB级射线检测技术: f≥10d·b2/3 B级射线检测技术: f≥15d·b2/3 式中: f-源至被检部位工件表面的距离 d-焦点尺寸(方焦点取边长;长方形、椭圆焦点取长短边之和的1/2;圆焦点为直径) b-被检部位工件表面至胶片的距离。 图2是A级和B级射线检测技术确定f的诺模图,图3是AB级射线检测技术确定f的诺模图。 有效焦点尺寸d按附录的规定计算。 6.7.2采用源在内中心透照时,只要底片质量能符合要求,f可减小,但减小值不能超过规定值的50%。 6.7.3采用源在内单壁透照时,只要底片质量能符合要求,f可减小,但减小值不能超过规定值的20%。 6.7.4安放式和插入式管座角焊缝采用源在内单壁中心透照方式(附录E中图E9和图E13)时,只要得到的底片质量符合5.16.1和5.16.2的要求f值可以减小,但减小值不应超过规定值的50%。 6.7.5安放式和插入式管座角焊缝采用源在内单壁偏心透照方式(附录E中图E10和图E14)时,只要得到的底片质量符合5.16.1和5.16.2的要求f值可以减小,但减小值不应超过规定值的20%。 6.8胶片与被检工件之间的距离 曝光期间,胶片应紧贴工件。 管座角焊缝源在内透照时,胶片应尽可能的靠近被检工件焊缝。 6.9曝光量 X射线照相,当焦距为700mm时,曝光量的推荐值为: AB级射线检测技术不小15mA·min;B级射线检测技术不小于20mA·min。 当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。 6.10曝光曲线 应根据每台X射线探伤机、胶片、增感屏的实际状况做出钢材料的曝光曲线,依据曝光曲线确定曝光参数。 对使用中的曝光曲线,每年至少应核查一次。 射线设备更换重要部件或经较大修理后应及时对曝光曲线进行核查或重新制作。 6.11无用射线和散射线的屏蔽 6.11.1应采用金属增感屏、铅板、滤光板、准直器等适当措施,屏蔽散射线和无用射线,限制照射场范围。 钢制承压设备滤光板推荐的技术要求见附录I。 6.11.2对初次制定的检测工艺,以及在使用中检测条件、环境发生改变时,应进行背散射防护检查。 检查背散射防护的方法是: 在暗盒背面贴附“B”铅字标记,一般B铅字的高度为13mm、厚度为1.6mm,按检测工艺的规定进行透照和暗室处理。 若在底片上出现黑度低于周围背景黑度的“B”字影像,则说明背散射防护不够,应增大背散射防护铅板的厚度。 若底片上不出现“B”字影像或出现黑度高于周围背景黑度的“B”字影像,则说明背散射防护符合要求。 在背散射轻微或后增感屏足以屏蔽背散射线的情况下,可不使用背散射防护铅板。 6.12像质计的使用 6.12.1像质计放置原则 线型像质计一般应放置在工件源侧表面焊缝的一端(在被检区长度的1/4左右位置),金属丝应横跨焊缝,细丝置于外侧。 当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。 像质计放置还应满足以下规定 a.单壁透照规定像质计放置在源侧。 双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。 双壁双影透照像质计可放置在源侧,也可放置在胶片侧。 b.单壁透照中,如果像质计无法放置在源侧,允许放置在胶片侧(球罐全景曝光除外); c.单壁透照中像质计放置在胶片侧时,应进行对比试验。 对比试验方法是在射源侧和胶片侧各放一个像质计,用与工件相同的条件透照,测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异,以此修正像质指数规定,以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。 d.当像质计放置在胶片侧时,应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记,F标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告中注明。 6.12.2像质计数量 原则上每张底片上都应有像质计的影像。 当一次曝光完成多张胶 片照相时,使用的像质计数量允许减少但应符合以下要求: 环形对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时,至少在圆周上等间隔地放置3个像质计。 球罐对接焊接接头采用源置于球心的全景曝光时,在上极和下极焊缝的每张底片上都应放置像质计,且在每带的纵缝和环缝上沿经度方向等间隔至少放置3个像质计。 一次曝光连续排列的多张胶片时,至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置一个像质计. 6.12.3小径管对接焊缝 小径管使用通用丝型和专用等径丝型像质计时,金属丝应横跨垂直焊缝放置。 像质计应放置于源侧,当无法放置在源侧时,可将像质计置于胶片侧,但应在检测记录和报告中说明。 6.12.4不等厚或不同种类材料之间对接焊缝 如果焊接接头的几何形状允许,不同厚度或材料类型不同的部位应分别采用与被检材料厚度或类型相匹配的像质计,并分别放置在焊接接头相对应部位 6.12.5管座角焊缝 推荐采用丝型像质计,根据像质计能够投影到被检测区的位置而放置。 如果允许,像质计尽可能置于黑度
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