参数扫描分析.docx
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参数扫描分析.docx
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参数扫描分析
参数扫描分析
概述:
在基本电路特性分析中,每个元器件的参数都取确定值,而在参数扫描和统计分析中,将考虑由于参数变化引起的电路特性变化情况。
因此具有下述两个特点:
(1)这种分析一定与某种基本电路特性分析结合在一起进行。
(2)分析过程中对变化参数的每一个取值都要进行一次基本特性分析,整个过程涉及多次电路特性分析。
参数扫描分析和统计分析
-oloohQS
UUTX
从不同角度考虑参数变化的影响,产生了4种分
析类型。
ti温度扫描分析(TemperatureSweep)
ii参数扫描分析(ParametricAnalysis)
ii蒙托卡诺分析(MC:
Monte-CarloAnalysis)
11最坏情况分析(WC:
Worst-CaseAnalysis)
温度的影响
参数变化的影响
参数统计变化对电路特性影响的两种统计分析技术
莫拟类型分组及每组包含的功能
BiasPoint
DCSweep
ACSweep/NoiseTimeDomain
OPDC
TF
SENS
ACTRAN
NOISEFOUR
Temperature(Sweep)SaveBiasPointLoadBiasPoint
ParametricSweep
MonteCarlo/WorstCase
温度扫描分析TemperatureSW)ep
II只需指定在哪几个温度下分析电路的哪种基本特性。
电阻阻值以及晶体管的许多模型参数值与温度的关系非常密切。
如果改变温度,必然通过这些元器件参数值的变化导致电路特性的变化。
PSpice中的各个元器件模型都考虑了模型参数与温度的关系。
进行电路特性分析时,
PSpice的内定温度为27摄氏度。
在每一个温度下,首先按元器件模型计算该温度下电路中的元器件参数值,然后进行指定的电路特性分析。
温度扫描分析(TemperatureSweep)
ii例:
差分对电路的交流小信号温度特性
Fr«]ucinicg
以温度为变量进行DC分析”与在以电压源作为变量进行DC分析的基础上再进行温度扫描”的结果有什么区别?
r|
温度分析是在不同温度下分析
参数扫描分析ParametricSWeep电路特性的变化,具体地说是
在用户指定的每个温度下均进行一次电路基本特性分析。
参数扫描分析的作用类似,对指定的每个参数变化值,均执行一次电路分析,不过在参数扫描分析中,可变化的参数从温度一种扩展为独立电压源,独立电流源,温度,模型参数和全局参数。
温度分析的任务也可以通过参数扫描分析来完成。
参数扫描分析在电路优化设计
方面有重要的作用,将其与Probe的电路设计性能分析功
能结合在一起,可用于优化确定元器件参数设计值。
DC分析是一种关于电路直流偏置状态的基本电路特性分析,而参数扫描分析是使电路中的某一参数发生变化,然后对每一个变化值重复进行基本电路特性分析,也可以包括DC分析,因此,不能将同一个参数既指定为参数扫描分析中的变化参数,同时又指定为DC分析中的自变量或参变量。
参数扫描分析(ParametricSweep)
例i罰时茂变电阻和只匸2的阻值・弄分刈电暗的腹宰特料樹如何夷优?
参数扫描分析(ParametricSweep)
toloohOS
-Globalparamete(全局参数)的含义与设置
参数扫描分析中,若采用PARAMETE符号设置参数,同时考虑多个元器件的参数变化对电路特性的影响,这种参数称为全局参数。
II参数扫描分析设置步骤(以差分对电路中RC和RC2同时变化为例):
(1)将两个电阻值改为带有大括号的参数
-仏皿
例如{Rval}。
⑵在电路中放置一个名称为PARA的符号。
连击该符号,调出元器件参数编辑器,按NeW按钮,新增设一项属性参数Rval(必须与上述参数名称相同),并将其值设置为一个值,
例如10k,作为进行其他电路特性分析是该参数的取值。
■-1口卜|1
B""・|AppLjr|
LspL-iy^.|itleieFrcpsrljFlliterE
AafaiBkc-i'VataaftnJ
丄
暑fximpla:
PAEfl:
11Q2环.
H
aburx
PARAM位于Specail库中。
在电路分析中,参数Rval的取值将决定电路中每个{Rval}的数值,因此称为全局参数。
电路性能分析
概述
电路性能分析的步骤(方法1)电路性能分析的步骤(方法2)电路性能分析的步骤(方法3)
为了改进电路设计,往往需要知道电路特性值随电路中关键元器件值的变化关系,由此选定最佳的元器件值,实现电路的优化设计。
针对电路设计中的这一要求,电路模拟软件OrCAD/PSpiceJ中提供有电路性能分析(PeformanceAnalysis功能,可以从电路分析得到的节点电压和支路电流数据自动提取出电路特性参数,进而定量分析电路特性随元器件值的变化关系。
进行电路性能分析涉及的几个问题
(1)确定变化的元器件参数。
(2)确定电路模拟分析的类型。
(3)调用GoalFunction并指定相应参数。
(4)显示电路特性分析结果。
其中⑴和
(2)由参数扫描分析完成;(3)和⑷由Probe完成。
(1)
绘制电路图,设置变化的元器件参数。
(2)进行基本特性分析。
(3)设置参数变化范围,进行参数扫描分析。
(4)确定参与电路特性分析的数据批次,进入Probe。
说明:
以上3步为通常的电路分析和波形显示步骤
(5)选择Trace/PerformaneeAnalysis命令,启动电
路特性分析。
⑹跟随电路特性分析向导Wizard完成电路特性分析。
(7)显示电路特性分析结果。
(8)
对结果进行分析。
电路性能分析的步骤(方法1)
(3)设置参数变化范围,进行参数扫描分析。
电路性能分析的步骤(方法1)
(4)确定参与电路特性分析的数据批次
电路性能分析的步骤(方法1)
(5)选择Trace/PerformaneeAnalysis命令,启动
电路特性分析。
⑹跟随电路特性分析向导Wizard完成电路特性分析
Step1:
进入电路特性分析向导Wizard工作状态
PprfnriiirirvhAnwlyuvWirAnj-1斗
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- 参数 扫描 分析