debug灯常见的错误代码含义如下.docx
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debug灯常见的错误代码含义如下.docx
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debug灯常见的错误代码含义如下
常见的错误代码含义如下:
1、“C1”内存读写测试,如果内存没有插上,或者频率太高,会被BIOS认为没有内存条,那么POST就会停留在“C1”处。
2、“0D”表示显卡没有插好或者没有显卡,此时,蜂鸣器也会发出嘟嘟声。
3、“2B”测试磁盘驱动器,软驱或硬盘控制器出现问题,都会显示“2B”。
4、“FF”表示对所有配件的一切检测都通过了。
但如果一开机就显示“FF”,这并不表示系统正常,而是主板的BIOS出现了故障。
导致的原因可能有:
CPU没插好,CPU核心电压没调好、CPU频率过高、主板有问题等。
实战DEBUG灯——AwardBIOS篇]
DEBUG灯的使用也很简单,下面针对几种常见的故障代码和大家讨论一下解决问题的方法。
需说明的是,目前市场上的主板绝大部分使用的是AWARDBIOS或AMIBIOS,由于目前DEBUG灯实际上是调用了主板BIOS的自检过程,所以主板BIOS程序的不同,DEBUG灯显示的代码也不同,解决问题的方法也不可一概而论。
因此我们也将分两个部分讨论。
以下的说明中将选择最常见的故障代码及解决方法,至于其他更详细的代码含义,请读者参考DEBUG灯的说明手册。
1.AwardBIOS篇
错误代码:
00(FF)
代码含义:
主板没有正常自检
解决方法:
这种故障较麻烦,原因可能是主板或CPU没有正常工作。
一般遇到这种情况,可首先将电脑上除CPU外的所有部件全部取下,并检查主板电压、倍频和外频设置是否正确,然后再对CMOS进行放电处理,再开机检测故障是否排除。
如故障依旧,还可将CPU从主板上的插座上取下,仔细清理插座及其周围的灰尘,然后再将CPU安装好,并加以一定的压力,保证CPU与插座接触紧密,再将散热片安装妥当,然后开机测试。
如果故障依旧,则建议更换CPU测试。
另外,主板BIOS损坏也可造成这种现象,必要时可刷新主板BIOS后再试。
错误代码:
01
代码含义:
处理器测试
解决方法:
说明CPU本身没有通过测试,这时应检查CPU相关设备。
如对CPU进行过超频,请将CPU的频率还原至默认频率,并检查CPU电压、外频和倍频是否设置正确。
如一切正常故障依旧,则可更换CPU再试。
错误代码:
C1至C5
代码含义:
内存自检
解决方法:
较常见的故障现象,它一般表示系统中的内存存在故障。
要解决这类故障,可首先对内存实行除尘、清洁等工作再进行测试。
如问题依旧,可尝试用柔软的橡皮擦清洁金手指部分,直到金手指重新出现金属光泽为止,然后清理掉内存槽里的杂物,并检查内存槽内的金属弹片是否有变形、断裂或氧化生锈现象。
开机测试后如故障依旧,可更换内存再试。
如有多条内存,可使用替换法查找故障所在。
错误代码:
0D
代码含义:
视频通道测试
解决方法:
这也是一种较常见的故障现象,它一般表示显卡检测未通过。
这时应检查显卡与主板的连接是否正常,如发现显卡松动等现象,应及时将其重新插入插槽中。
如显卡与主板的接触没有问题,则可取下显卡清理其上的灰尘,并清洁显卡的金手指部份,再插到主板上测试。
如故障依旧,则可更换显卡测试。
一般系统启动过0D后,就已将显示信号传输至显示器,此时显示器的指示灯变绿,然后DEBUG灯继续跳至31,显示器开始显示自检信息,这时就可通过显示器上的相关信息判断电脑故障了
[实战DEBUG灯——AMIBIOS篇]
错误代码:
00(或FF)
代码含义:
主板没有正常自检
解决方法:
(同AwardBIOS篇相同故障代码)
错误代码:
01
代码含义:
处理器寄存器测试
解决方法:
(同AwardBIOS篇相同故障代码)
错误代码:
0D至0F
代码含义:
CMOS停开寄存器读/写测试
解决方法:
检查CMOS芯片、电池及周围电路部分,可先更换CMOS电池,再用小棉球蘸无水酒精清洗CMOS的引脚及其电路部分,然后看开机检查问题是否解决。
错误代码:
12、13、2B、2C、2D、2E、2F、30、31、32、33、34、35、36、37、38、39、3A
代码含义:
测试显卡
解决方法:
该故障在AMIBIOS中较常见,可检查显卡的视频接口电路、主芯片、显存是否因灰尘过多而无法工作,必要时可更换显卡检查故障是否解决。
错误代码:
1A、1B、20、21、22
代码含义:
存储器测试
解决方法:
同AwardBIOS篇内存故障的解决方法。
注意事项:
如在BIOS设置中设置为不提示出错,则当遇到非致命性故障时,诊断卡不会停下来显示故障代码,解决方法是在BIOS设置中设置为提示所有错误之后再开机,然后再根据DEBUG灯所显示的代码来诊断。
机器出了故障,即使电话求助于高人,那也要想法先把问题说清楚,但对于大多数用户来说,他们都不知道该如何描述故障,是更本不通电?
通电不开机?
还是开机后报警器响个不停?
这时候我们就要靠DEBUG灯来进行诊断。
[主板/诊断卡Debug灯代码解析0x段]
适合AwardBIOSAmiBIOSPhoenixBIOS或Tandy3000BIOS
00:
已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。
01:
处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。
处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。
CPU寄存器测试正在进行或者失败。
02:
确定诊断的类型(正常或者制造)。
如果键盘缓冲器含有数据就会失效。
停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。
CMOS写入/读出正在进行或者失灵。
03:
清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH)通电延迟已完成。
ROMBIOS检查部件正在进行或失灵。
04:
使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。
键盘控制器软复位/通电测试。
可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。
05:
如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。
已确定软复位/通电;即将启动ROM。
DMA初如准备正在进行或者失灵。
06:
使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。
已启动ROM计算ROMBIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。
DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。
07:
处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。
ROMBIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。
08:
使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。
已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT命令。
RAM更新检验正在进行或失灵。
09:
EPROM检查总和且必须等于零才通过。
核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。
第一个64KRAM测试正在进行。
0A:
使视频接口作初始准备。
发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。
第一个64KRAM芯片或数据线失灵,移位。
0B:
测试8254通道0。
写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。
第一个64KRAM奇/偶逻辑失灵。
0C:
测试8254通道1。
键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。
第一个64KRAN的地址线故障。
0D:
1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。
2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。
3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。
已处理NOP命令;接着测试CMOS停开寄存器。
第一个64KRAM的奇偶性失灵。
0E:
测试CMOS停机字节。
CMOS停开寄存器读/写测试;将计算CMOS检查总和。
初始化输入/输出端口地址。
0F:
测试扩展的CMOS。
已计算CMOS检查总和写入诊断字节;CMOS开始初始准备。
主板/诊断卡Debug灯代码解析1x段]
10:
测试DMA通道0。
CMOS已作初始准备,CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。
第一个64KRAM第0位故障。
11:
测试DMA通道1。
CMOS状态寄存器已作初始准备,即将停用DMA和中断控制器。
第一个64DKRAM第1位故障。
12:
测试DMA页面寄存器。
停用DMA控制器1以及中断控制器1和2;即将视频显示器并使端口B作初始准备。
第一个64DKRAM第2位故障。
13:
测试8741键盘控制器接口。
视频显示器已停用,端口B已作初始准备;即将开始电路片初始化/存储器自动检测。
第一个64DKRAM第3位故障。
14:
测试存储器更新触发电路。
电路片初始化/存储器处自动检测结束;8254计时器测试即将开始。
第一个64DKRAM第4位故障。
15:
测试开头64K的系统存储器。
第2通道计时器测试了一半;8254第2通道计时器即将完成测试。
第一个64DKRAM第5位故障。
16:
建立8259所用的中断矢量表。
第2通道计时器测试结束;8254第1通道计时器即将完成测试。
第一个64DKRAM第6位故障。
17调准视频输入/输出工作,若装有视频BIOS则启用。
第1通道计时器测试结束;8254第0通道计时器即将完成测试。
第一个64DKRAM第7位故障。
18:
测试视频存储器,如果安装选用的视频BIOS通过,由可绕过。
第0通道计时器测试结束;即将开始更新存储器。
第一个64DKRAM第8位故障。
19:
测试第1通道的中断控制器(8259)屏蔽位。
已开始更新存储器,接着将完成存储器的更新。
第一个64DKRAM第9位故障。
1A:
测试第2通道的中断控制器(8259)屏蔽位。
正在触发存储器更新线路,即将检查15微秒通/断时间。
第一个64DKRAM第10位故障。
1B:
测试CMOS电池电平。
完成存储器更新时间30微秒测试;即将开始基本的64K存储器测试。
第一个64DKRAM第11位故障。
1C:
测试CMOS检查总和第一个64DKRAM第12位故障。
1D:
调定CMOS配置。
.第一个64DKRAM第13位故障。
1E:
测定系统存储器的大小,并且把它和CMOS值比较。
第一个64DKRAM第14位故障。
1F:
测试64K存储器至最高640K。
.第一个64DKRAM第15位故障。
[主板/诊断卡Debug灯代码解析2x段]
20:
测量固定的8259中断位。
开始基本的64K存储器测试;即将测试地址线。
从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。
21:
维持不可屏蔽中断(NMI)位(奇偶性或输入/输出通道的检查)。
通过地址线测试;即将触发奇偶性。
主DMA寄存器测试正在进行或失灵。
22:
测试8259的中断功能。
结束触发奇偶性;将开始串行数据读/写测试。
主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。
23:
测试保护方式8086虚拟方式和8086页面方式。
基本的64K串行数据读/写测试正常;即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。
从属中断屏蔽存器测试正在进行或失灵。
24:
测定1MB以上的扩展存储器。
矢量初始化之前的任何调节完成,即将开始中断矢量的初始准备。
设置ES段地址寄存器注册表到内存高端。
25:
测试除头一个64K之后的所有存储器。
完成中断矢量初始准备;将为旋转式断续开始读出8042的输入/输出端口。
装入中断矢量正在进行或失灵。
26:
测试保护方式的例外情况。
读出8042的输入/输出端口;即将为旋转式断续开始使全局数据作初始准备。
开启A20地址线;使之参入寻址。
27:
确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。
全1数据初始准备结束;接着将进行中断矢量之后的任何初始准备。
键盘控制器测试正在进行或失灵。
28:
确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的8042键盘控制器。
完成中断矢量之后的初始准备;即将调定单色方式。
CMOS电源故障/检查总和计算正在进行。
29:
已调定单色方式,即将调定彩色方式。
CMOS配置有效性的检查正在进行。
2A:
使键盘控制器作初始准备。
已调定彩色方式,即将进行ROM测试前的触发奇偶性。
置空64K基本内存。
2B:
使磁碟驱动器和控制器作初始准备。
触发奇偶性结束;即将控制任选的视频ROM检查前所需的任何调节。
屏幕存储器测试正在进行或失灵。
2C:
检查串行端口,并使之作初始准备。
完成视频ROM控制之前的处理;即将查看任选的视频ROM并加以控制。
屏幕初始准备正在进行或失灵。
2D:
检测并行端口,并使之作初始准备。
已完成任选的视频ROM控制,即将进行视频ROM回复控制之后任何其他处理的控制。
屏幕回扫测试正在进行或失灵。
2E:
使硬磁盘驱动器和控制器作初始准备。
从视频ROM控制之后的处理复原;如果没有发现EGA/VGA就要进行显示器存储器读/写测试。
检测视频ROM正在进行。
2F:
检测数学协处理器,并使之作初始准备。
没发现EGA/VGA;即将开始显示器存储器读/写测试。
[主板/诊断卡Debug灯代码解析3x段]
30:
建立基本内存和扩展内存。
通过显示器存储器读/写测试;即将进行扫描检查。
认为屏幕是可以工作的。
31:
检测从C800:
0至EFFF:
0的选用ROM,并使之作初始准备。
显示器存储器读/写测试或扫描检查失败,即将进行另一种显示器存储器读/写测试。
单色监视器是可以工作的。
32:
对主板上COM/LTP/FDD/声音设备等I/O芯片编程使之适合设置值。
通过另一种显示器存储器读/写测试;却将进行另一种显示器扫描检查。
彩色监视器(40列)是可以工作的。
33:
视频显示器检查结束;将开始利用调节开关和实际插卡检验显示器的关型。
彩色监视器(80列)是可以工作的。
34:
已检验显示器适配器;接着将调定显示方式。
计时器滴答声中断测试正在进行或失灵。
35:
完成调定显示方式;即将检查BIOSROM的数据区。
停机测试正在进行或失灵。
36:
已检查BIOSROM数据区;即将调定通电信息的游标。
门电路中A-20失灵。
37:
识别通电信息的游标调定已完成;即将显示通电信息。
保护方式中的意外中断。
38:
完成显示通电信息;即将读出新的游标位置。
RAM测试正在进行或者地址故障>FFFFH。
39:
已读出保存游标位置,即将显示引用信息串。
3A:
引用信息串显示结束;即将显示发现信息。
间隔计时器通道2测试或失灵。
3B:
用OPTI电路片(只是486)使辅助超高速缓冲存储器作初始准备。
已显示发现<ESC>信息;虚拟方式,存储器测试即将开始。
按日计算的日历时钟测试正在进行或失灵。
3C:
建立允许进入CMOS设置的标志。
串行端口测试正在进行或失灵。
3D:
初始化键盘/PS2鼠标/PNP设备及总内存节点。
并行端口测试正在进行或失灵。
3E:
尝试打开L2高速缓存。
数学协处理器测试正在进行或失灵。
[主板/诊断卡Debug灯代码解析4x段]
40:
已开始准备虚拟方式的测试;即将从视频存储器来检验。
调整CPU速度,使之与外围时钟精确匹配。
41:
中断已打开,将初始化数据以便于0:
0检测内存变换(中断控制器或内存不良)从视频存储器检验之后复原;即将准备描述符表。
系统插件板选择失灵。
42:
显示窗口进入SETUP。
描述符表已准备好;即将进行虚拟方式作存储器测试。
扩展CMOSRAM故障。
43:
若是即插即用BIOS,则串口、并口初始化。
进入虚拟方式;即将为诊断方式实现中断。
44:
已实现中断(如已接通诊断开关;即将使数据作初始准备以检查存储器在0:
0返转。
)BIOS中断进行初始化。
45:
初始化数学协处理器。
数据已作初始准备;即将检查存储器在0:
0返转以及找出系统存储器的规模。
46:
测试存储器已返回;存储器大小计算完毕,即将写入页面来测试存储器。
检查只读存储器ROM版本。
47:
即将在扩展的存储器试写页面;即将基本640K存储器写入页面。
48:
已将基本存储器写入页面;即将确定1MB以上的存储器。
视频检查,CMOS重新配置。
49:
找出1BM以下的存储器并检验;即将确定1MB以上的存储器。
4A:
找出1MB以上的存储器并检验;即将检查BIOSROM数据区。
进行视频的初始化。
4B:
BIOSROM数据区的检验结束,即将检查<ESC>和为软复位清除1MB以上的存储器。
4C:
清除1MB以上的存储器(软复位)即将清除1MB以上的存储器.屏蔽视频BIOSROM。
4D:
已清除1MB以上的存储器(软复位);将保存存储器的大小。
4E:
若检测到有错误;在显示器上显示错误信息,并等待客户按<F1>键继续。
开始存储器的测试:
(无软复位);即将显示第一个64K存储器的测试。
显示版权信息。
4F:
读写软、硬盘数据,进行DOS引导。
开始显示存储器的大小,正在测试存储器将使之更新;将进行串行和随机的存储器测试。
[主板/诊断卡Debug灯代码解析5x段]
50:
将当前BIOS监时区内的CMOS值存到CMOS中。
完成1MB以下的存储器测试;即将高速存储器的大小以便再定位和掩蔽。
将CPU类型和速度送到屏幕。
51:
测试1MB以上的存储器。
52:
所有ISA只读存储器ROM进行初始化,最终给PCI分配IRQ号等初始化工作。
已完成1MB以上的存储器测试;即将准备回到实址方式。
进入键盘检测。
53:
如果不是即插即用BIOS,则初始化串口、并口和设置时种值。
保存CPU寄存器和存储器的大小,将进入实址方式。
54:
成功地开启实址方式;即将复原准备停机时保存的寄存器。
扫描“打击键”
55:
寄存器已复原,将停用门电路A-20的地址线。
56:
成功地停用A-20的地址线;即将检查BIOSROM数据区。
键盘测试结束。
57:
BIOSROM数据区检查了一半;继续进行。
58:
BIOSROM的数据区检查结束;将清除发现<ESC>信息。
非设置中断测试。
59:
清除<ESC>信息;信息已显示;即将开始DMA和中断控制器的测试。
5A:
显示按“F2”键进行设置。
5B:
测试基本内存地址。
5C:
测试640K基本内存。
[主板/诊断卡Debug灯代码解析6x段]
60:
设置硬盘引导扇区病毒保护功能。
通过DMA页面寄存器的测试;即将检验视频存储器。
测试扩展内存。
61:
显示系统配置表。
视频存储器检验结束;即将进行DMA#1基本寄存器的测试。
62:
开始用中断19H进行系统引导。
通过DMA#1基本寄存器的测试;即将进行DMA#2寄存器的测试。
测试扩展内存地址线。
63:
通过DMA#2基本寄存器的测试;即将检查BIOSROM数据区。
64:
BIOSROM数据区检查了一半,继续进行。
65:
BIOSROM数据区检查结束;将把DMA装置1和2编程。
66:
DMA装置1和2编程结束;即将使用59号中断控制器作初始准备。
Cache注册表进行优化配置。
67:
8259初始准备已结束;即将开始键盘测试。
68:
使外部Cache和CPU内部Cache都工作。
6A:
测试并显示外部Cache值。
6C:
显示被屏蔽内容。
6E:
显示附属配置信息。
[主板/诊断卡Debug灯代码解析7x~8x段]
70:
检测到的错误代码送到屏幕显示。
72:
检测配置有否错误。
74:
测试实时时钟。
76:
扫查键盘错误。
7A:
锁键盘。
7C:
设置硬件中断矢量。
7E:
测试有否安装数学处理器。
80:
键盘测试开始,正在清除和检查有没有键卡住,即将使键盘复原。
关闭可编程输入/输出设备。
81:
找出键盘复原的错误卡住的键;即将发出键盘控制端口的测试命令。
82:
键盘控制器接口测试结束,即将写入命令字节和使循环缓冲器作初始准备。
检测和安装固定RS232接口(串口)。
83:
已写入命令字节,已完成全局数据的初始准备;即将检查有没有键锁住。
84:
已检查有没有锁住的键,即将检查存储器是否与CMOS失配。
检测和安装固定并行口。
85:
已检查存储器的大小;即将显示软错误和口令或旁通安排。
86:
已检查口令;即将进行旁通安排前的编程。
重新打开可编程I/O设备和检测固定I/O是否有冲突。
87:
完成安排前的编程;将进行CMOS安排的编程。
88:
从CMOS安排程序复原清除屏幕;即将进行后面的编程。
初始化BIOS数据区。
89:
完成安排后的编程;即将显示通电屏幕信息。
8A:
显示头一个屏幕信息。
进行扩展BIOS数据区初始化。
8B:
显示了信息:
即将屏蔽主要和视频BIOS。
8C:
成功地屏蔽主要和视频BIOS,将开始CMOS后的安排任选项的编程。
进行软驱控制器初始化。
8D:
已经安排任选项编程,接着检查滑了鼠和进行初始准备。
8E:
检测了滑鼠以及完成初始准备;即将把硬、软磁盘复位。
8F:
软磁盘已检查,该磁碟将作初始准备,随后配备软磁碟。
主板/诊断卡Debug灯代码解析9x段]
90:
软磁碟配置结束;将测试硬磁碟的存在。
硬盘控制器进行初始化。
91:
硬磁碟存在测试结束;随后配置硬磁碟。
局部总线硬盘控制器初始化。
92:
硬磁碟配置完成;即将检查BIOSROM的数据区。
跳转到用户路径2。
93:
BIOSROM的数据区已检查一半;继续进行。
94:
BIOSROM的数据区检查完毕,即调定基本和扩展存储器的大小。
关闭A-20地址线。
95:
因应滑鼠和硬磁碟47型支持而调节好存储器的大小;即将检验显示存储器。
96:
检验显示存储器后复原;即将进行C800:
0任选ROM控制之前的初始准备。
“ES段”注册表清除。
97:
C800:
0任选ROM控制之前的任何初始准备结束,接着进行任选ROM的检查及控制。
98:
任选ROM的控制完成;即将进行任选ROM回复控制之后所需的任何处理。
查找ROM选择。
99:
任选ROM测试之后所需的任何初始准备结束;即将建立计时器的数据区或打印机基本地址。
9A:
调定计时器和打印机基本地址后的返回操作;即调定RS-232基本地址。
屏蔽ROM选择。
9B:
在RS-232基本地址之后返回;即将进行协处理器测试之初始准备。
9C:
协处理器测试之前所需初始准备结束;接着使协处理器作初始准备。
建立电源节能管理。
9D:
协处理器作好初始准备,即将进行协处理器测试之后的任何初始准备。
9E:
完成协处理器之后的初始准备,将检查扩展键盘,键盘识别符,以及数字锁定。
开放硬件中断。
9F:
已检查扩展键盘,调定识别标志,数字锁接通或断开,将发出键盘识别命令。
主板/诊断卡Debug灯代码解析A~F段]
A0:
发出键盘识别命令;即将使键盘识别标志复原。
设置时间和日期。
A1:
键盘识别标志复原;接着进行高速缓冲存储器的测试。
A2:
高速缓冲存储器测试结束;即将显示任何软错误。
检查键盘锁。
A3:
软错误显示完毕;即将调定键盘打击的速率。
A4:
调好键盘的打击速率,即将制订存储器的等待状态。
键盘重复输入速率的初始化。
A5:
存储器等候状态制定完毕;接着将清除屏幕。
A6:
屏幕已清除;即将启动奇偶性和不可屏蔽中断。
A7:
已启用不可屏蔽中断和奇偶性;即将进行控制任选的ROM在E000:
0之所需的任何初始准备。
A8:
控制ROM在E000:
0之前的初始准备结束,接着将控制E000:
0之后所需的任何初始准备。
清除“F2”键提示。
A9:
从控制E000:
0ROM返回,即将进行控制E000:
0任选ROM之后所需的任何初始准备。
AA:
在E000:
0控制任选ROM之后的初始准备结束;即将显示系统的配置。
扫描“F2”键打击。
AC:
进入设置。
AE:
清除通电自检标志。
B
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