基本逻辑门逻辑试验报告.docx
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基本逻辑门逻辑试验报告
基本逻辑门逻辑功能测试及应用
一、实验目的
1、掌握基本逻辑门的功能及验证方法。
2、学习TTL基本门电路的实际应用。
3、了解CMOS基本门电路的功能。
4、掌握逻辑门多余输入端的处理方法。
二、实验原理
数字电路中,最基本的逻辑门可归结为与门、或门和非门。
实际应用时,它们可以独立使用,但用的更多的是经过逻辑组合组成的复合门电路。
目前广泛使用的门电路有TTL门电路和CMOS门电路。
1、TTL门电路
TTL门电路是数字集成电路中应用最广泛的,由于其输入端和输出端的结构形式都采用了半导体三极管,所以一般称它为晶体管-晶体管逻辑电路,或称为TTL电路。
这种电路的电源电压为+5V,高电平典型值为3.6V(≥2.4V合格);低电平典型值为0.3V(≤0.45合格)。
常见的复合门有与非门、或非门、与或非门和异或门。
有时门电路的输入端多余无用,因为对TTL电路来说,悬空相当于“1”,所以对不同的逻辑门,其多余输入端处理方法不同。
(1)TTL与门、与非门的多余输入端的处理
如图3.2.1为四输入端与非门,若只需用两个输入端A和B,那么另两个多余输入端的处理方法是:
并联悬空通过电阻接高电平
图3.2.1TTL与门、与非门多余输入端的处理
并联、悬空或通过电阻接高电平使用,这是TTL型与门、与非门的特定要求,但要在使用中考虑到,并联使用时,增加了门的输入电容,对前级增加容性负载和增加输出电流,使该门的抗干扰能力下降;悬空使用,逻辑上可视为“1”,但该门的输入端输入阻抗高,易受外界干扰;相比之下,多余输入端通过串接限流电阻接高电平的方法较好。
(2)TTL或门、或非门的多余输入端的处理
如图3.2.2为四输入端或非门,若只需用两个输入端A和B,那么另两个多余输入端的处理方法是:
并联、接低电平或接地。
并联接低电平或接地
图3.2.2TTL或门、或非门多余输入端的处理
(3)异或门的输入端处理
异或门是由基本逻辑门组合成的复合门电路。
如图3.2.3为二输入端异或门,一输入端为A,若另一输入端接低电平,则输出仍为A;若另一输入端接高电平,则输出为A,此时的异或门称为可控反相器。
图3.2.3异或门的输入端处理
在门电路的应用中,常用到把它们“封锁”的概念。
如果把与非门的任一输入端接地,则该与非门被封锁;如果把或非门的任一输入端接高电平,则该或非门被封锁。
由于TTL电路具有比较高的速度,比较强的抗干扰能力和足够大的输出幅度,在加上带负载能力比较强,因此在工业控制中得到了最广泛的应用,但由于TTL电路的功耗较大,目前还不适合作大规模集成电路。
2、CMOS门电路
CMOS门电路是由NMOS和PMOS管组成,初态功耗也只有毫瓦级,电源电压变化范围大+3V~+18V。
它的集成度很高,易制成大规模集成电路。
由于CMOS电路输入阻抗很高,容易接受静电感应而造成极间击穿,形成永久性的损坏,因此,在工艺上除了在电路输入端加保护电路外,使用时应注意以下几点:
(1)器件应在导电容器内存放,器件引线可用金属导线、导电泡沫等将其一并短路。
(2)VDD接电源正极,VSS接电源负极(通常接地),不允许反接。
同样在装接电路,拔插集成电路时,必须切断电源,严禁带电操作。
(3)多余输入端不允许悬空,应按逻辑要求处理接电源或地,否则将会使电路的逻辑混乱并损坏器件。
(4)器件的输入信号不允许超出电源电压范围,或者说输入端的电流不得超过10mA。
(5)CMOS电路的电源电压应先接通,再接入信号,否则会破坏输入端的结构,工作结束时,应先断输入信号再切断电源。
(6)输出端所接电容负载不能大于500pF,否则输出级功耗过大而损坏电路。
(7)CMOS电路不能以线与方式进行连接。
另外,CMOS门不使用的输入端,不能闲置呈悬空状态,应根据逻辑功能的不同,采用下列方法处理:
①对于CMOS与门、与非门,多余端的处理方法有两种:
多余端与其它有用的输入端并联使用;将多余输入端接高电平。
如图3.2.4所示。
图3.2.4CMOS与非门多余输入端的处理
②对于CMOS或非门,多余输入端的处理方法也有两种:
多余端与其它有用的输入端并联使用;将多余输入端接地。
如图3.2.5所示。
图3.2.5CMOS或非门多余输入端的处理
三、实验仪器与器材
1、THD-4型数字电路实验箱
2、GOS-620示波器
3、器材:
74LS00四-2输入与非门
74LS54四-2-3-3-2输入与或非门
74LS86四-2输入异或门
四、实验内容与步骤
1、TTL与非门的逻辑功能及应用
芯片的引脚号查法是面对芯片有字的正面,从缺口处的下方(左下角),逆时针从1数起。
芯片要能工作,必须接电源和地。
本实验所用与非门集成芯片为74LS00四-二输入与非门,其引脚排列如图3.2.6所示。
图3.2.674LS00引脚排列
(1)测试74LS00四-2输入与非门的逻辑功能
选中74LS00一个与非门,将其输入端A和B分别接至电平输出器插孔,由电平输出控制开关控制所需电平值,扳动开关给出四种组合输入。
将输出端接至发光二极管的输入插孔,并通过发光二极管的亮和灭来观察门的输出状态。
如图3.2.7所示,其逻辑函数式为:
,将观测结果填入表3.2.1中。
输入
输出
AB
Y
10
01
10
11
表3.2.1与非门逻辑功能测试表
图3.2.7与非门逻辑功能测试图
(2)用74LS00实现或逻辑:
,写出转换过程逻辑函数式,画出标明引脚的逻辑电路图,测试其逻辑功能,将观测结果填入表3.2.2中。
表3.2.3数据表
表3.2.2或逻辑功能测试表
输入
输出
AB
Y
00
01
10
11
输入
输出
输入
输出
ABC
Y
ABC
Y
000
001
010
011
0
0
0
1
100
101
110
111
0
0
1
1
(3)用74LS00实现表3.2.3所示的逻辑函数。
写出设计函数式,画出标明引脚的逻辑电路图,并验证之。
2、TTL与或非门的逻辑功能及应用
(1)测试74LS54四-2-3-3-2输入与或非门的逻辑功能
74LS54引脚排列如图3.2.8所示。
图3.2.874LS54引脚排列
逻辑表达式为:
现要求测试的逻辑函数式为:
。
接线如图3.2.9所示,用开关改变输入变量A、B、C、D的状态,给出十六种组合输入,通过发光二极管观测输出端Y的状态,将观测结果填入表3.2.4中。
表3.2.4与或非逻辑功能测试表
输入
输出
输入
输出
ABCD
Y
ABCD
Y
0000
0001
0010
0011
0100
0101
0110
0111
1000
1001
1010
1011
1100
1101
1110
1111
图3.2.9与或非门逻辑功能测试图
(2)用74LS54和74LS00实现表3.2.4所示的逻辑函数。
写出设计函数式,画出标明引脚的逻辑电路图,并验证之。
3、TTL异或门的逻辑功能及应用
(1)测试74LS86四-2输入异或门的逻辑功能
74LS86引脚排列如图3.2.10所示。
图3.2.1074LS86引脚排列
接线如图3.2.11所示,用开关改变输入变量A、B的状态,通过发光二极管观测输出端Y的状态,将观测结果填入表3.2.5中。
表3.2.5异或门逻辑功能测试表
输入
输出
AB
Y
00
01
10
11
图3.2.11异或门逻辑功能测试图
(2)用74LS86设计一个四位二进制取反电路。
写出设计函数式,列出功能表,画出标明引脚的逻辑电路图,并通过实验验证之。
五、实验报告要求
1、将实验结果填入各相应表中,总结各门电路的逻辑功能。
2、总结TTL门电路和CMOS门电路的多余输入端的处理方法。
3、通过本次实验总结TTL及CMOS器件的特点及使用的收获和体会。
4、TTL与非门的输入端悬空可视为逻辑“1”吗?
有何缺点?
5、如果与非门的一个输入端接连续脉冲,其余端是何状态允许脉冲通过?
是何状态禁止脉冲通过?
6、欲使一个异或门实现非逻辑,电路将如何连接?
为什么说异或门是可控反相器?
六、实验预习要求
1、详细阅读附录三,了解THD-4数字电路实验箱的基本功能及使用方法。
2、复习教材中基本门电路的逻辑功能和结构原理。
3、了解在使用TTL和CMOS门电路时,与非门和与或非门多余输入端分别如何处理?
4、按实验内容要求设计逻辑电路,写出逻辑函数式。
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