最新硬件测试标准最全可靠性测试0219060734.docx
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最新硬件测试标准最全可靠性测试0219060734
1.目的
此可靠性测试标准的目的是尽可能地挖掘设计,制造中的潜在性问题,在正式生产之前寻找改善方法并解决上述问题点,为正式生产的产品在质量上做必要的保证;并检测产品是否具备设计上的成熟性、使用上的可靠性.具体包括新产品的试验、物料的试验及例行抽检试验等等。
2.围
此指引适用于所有诺亚信高科技集团生产的移动产品。
3.定义
3.1技术员:
设定仪器,完成相关测试项目,并记录测试结果.解决检测过程中的问题;并向工程师反馈检测方法的缺陷和不足。
3.2工程师:
判断测试结果是否可接受;跟进问题的解决情况;改善检测方法。
4.抽样方案
4.1以具体的实验项目要求为准。
5.检验容
5.1环境可靠性试验
5.1.1高温运行试验
试验目的:
验证手机在高温环境的适应性。
试验样品:
2sets
试验容:
551,手机配齐SIH卡/T卡,装电池开机,进行12小时测试,运行时间从到达55£温度始算起.试验后在箱检查,要求产品的功能、外观正常.受测前样机胶塞必须安装归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机,1台开盖,1台合盖.(若屏/主板不同供应商,则样机各选2pcs,共4pcs)o
判定标准:
1、壳体外观检查,缝隙,镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。
2、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
3、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否可恢复)。
4、MP3,FM,耳机,充电,滚轮…。
5、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
5.1.2低温运行试验
试验目的:
验证手机在低温环境下的适应性。
试验样品:
2sets
试验容:
-2(TC,手机配齐SIM卡/T卡,装电池开机并运行老化软件,进行12小时测试,
运行时间从到达-2(TC温度始算起.试验后在箱检查,要求产品的功能、外观正常.受测前样
机胶塞必须安装归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机,2台开盖,1台合盖.(若
屏/主板不同供应商,则样机各选2pcs,共4pcs)o
特别注意:
俄罗斯项目需要测试低温下的充电功能(电池电压是否会升高)。
判定标准:
1、壳体外观检查,缝隙,镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。
2、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
3、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否
可恢复)。
4、MP3,FM,耳机,充电,滚轮…。
5、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
5.1.3高温贮存试验
试验目的:
应力释放和加速材料的老化。
试验样品:
2sets
试验容:
80°C,手机配电池关机,存储时间24小时,贮存时间从温度到达8CTC开始算起.在进行存储到24小时后,直接进行外观检查.受测前样机胶塞必须安装归位.再进行2小时回温后,开机进行电性能检查.对于翻/滑盖手机,2台开盖,1台合盖.(若屏/主板不同供应商,则样机各选2pcs,共4pcs)。
判定标准:
1、壳体外观检查,缝隙,LENS以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。
2、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
3、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否可恢复)。
4、MP3,FM,耳机,充电,滚轮…。
5、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
5.1.4低温贮存试验
试验目的:
加速材料的脆化。
试验样品:
2sets试验容:
-401,手机配电池关机,存储时间24小时,贮存时间从温度到达-4(rc开始算起.在进行存储到16小时后,直接进行外观检查.受测前样机胶塞必须安装归位.再进行2小时回温后,开机进行功能、外观检查.对于翻/滑盖手机,2台开盖,1台合盖.(若屏/主板不同供应商,则样机各选2pcs,共4pcs)o
判定标准:
1、壳体外观检查,缝隙,镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。
2、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
3、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否可恢复)。
4、MP3,FM,耳机,充电,滚轮…。
5、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
5.1.5高温高湿试验
试验目的:
验证手机在高温高湿环境下的适应性,诱发临界状态的问题暴露出来。
试验样品:
2sets
试验容:
60“C,95H%,配齐SIM卡/T卡.手机电池开机并运行老化软件,进行12小时测试,运行时间从到达45「C,95H%温度开始算起.受测前样机胶塞必须安装归位.试验后在箱检查,要求产品的功能、外观正常,射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机,2台开盖,1台合盖.(若屏/主板不同供应商,则样机各选2pcs,共4pcs)。
判定标准:
1、壳体外观检查,缝隙,镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。
2、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
3、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否可恢复)。
4、MP3,FM,耳机,充电,滚轮…。
5、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
5.1.6灰尘试验
试验目的:
验证手机结构密闭性。
试验样品:
2sets
试验容:
将试验样机不包装,装上所配电池,正常位置安装在适合的灰尘砂粒(灰尘量2千克每立方米)试验箱中.其体积综合不得超过试验箱的有效空间的1/3,底部面积不超过有效水平面积的1/2,试验样机之间及与试验箱壁距离应不小于100mm.试验时,试验箱温度为(15-35°C),相对湿度45%-75%,试验箱的气流速度应保持试验用灰尘均匀缓慢沉降在试验样机上,使最大风速不得超过2m/s,试验样机在该试验条件下保持8小时.停止吹风后,待粉尘完全沉降,才能取出试验样品.备注:
测试时视整机出货状况决定是否需要封堵接口。
判定标准:
1、壳体外观检查,缝隙,镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。
2、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
3、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否可恢复)。
4、MP3,FM,耳机,充电,滚轮…。
5、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
6、检查LCD窗口和CAM窗口是否进灰。
7、检查按键手感,按键是否由于进灰产生不灵敏或者失效。
&检查所有I/O口的功能,尤其是没有保护的孔灵敏或者失效。
5.1.7盐雾试验
试验目的:
验证手机结构密闭性和抗腐蚀性能。
试验样品:
2sets
试验容:
将试验样机装上所配电池,不包装状态下放入盐雾箱,在35工下,用PH值为6.5〜7.2(酸性),浓度为(5±1)%的氯化钠(NaCl)盐溶液连续对试验样机喷雾2小时,喷雾结束后将试验样品转移到湿热箱中储存22小时,储存条件为温度(40±2)相对湿度为90%〜95%.按上述规定喷雾并储存,构成一个循环,进行三个循环试验。
备注:
测试时视整机出货状况决定是否需要封堵接口。
判定标准:
1、壳体外观检查,缝隙,镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。
2、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
3、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否可恢复)。
4、MP3,FM,耳机,充电,滚轮…。
5、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
5.1.8随机振动试验
试验目的:
试验样机抗振动性能
试验样品:
2sets
试验容:
将试验样机装上所配电池,不包装.牢固地水平固定在振动台上;在对试验样机进行振动测试时,采用以下频率/幅度:
频率5〜20Hz时,随机振动ASD(加速度谱密度)为
0.96m7S3;频率20〜500Hz时,随机振动ASD(加速度谱密度)为0.96m2/S3(20Hz),其它-3dB/倍频程.将试验样机分别在X、Y、Z轴上振动,每个轴振动10分钟.在振动过程中,试验样机连接综测设备,对试验样机进行射频性能测试。
判定标准:
1、壳体外观检查,缝隙,镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。
2、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
3、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否可恢复)。
4、MP3,FM,耳机,充电,滚轮…。
5、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
5.1.9温度冲击测试
试验目的:
验证手机结构、装饰件、焊接等在快速温变下的寿命。
试验样品:
2sets
试验容:
将试验样机不包装,装上所配套电池,关机状态下,低温-4O°C±2°C/1H,高温8(TC±2°C/1H,转换时间W5min,循环12次,共计24小时。
判定标准:
1、壳体外观检查,缝隙,镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。
2、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
3、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否可恢复)。
4、MP3,FM,耳机,充电,滚轮…。
5、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
5.2机械可靠性试验
5.2.1自由跌落试验
试验目的:
验证手机的结构以及主板器件的可靠性,整机抗多次跌落的能力。
试验样品:
4sets
试验容:
注意点:
A.普通屏,研发阶段1.2米,石地面。
B.2.4—2.8(含2.8)研发阶段1米,石地面。
C.2.8及以上屏,研发阶段0.8米,石地面。
D.3.5—4.5屏,跣落高度为0.6米标准,石地面。
E.4.5屏以及以上,跌落高度为0.5米标准,石地面。
1、进行测试前,先检查手机功能正常;确认结构方面的初始状态(便于跌落后进行比对)。
2、将试验样品装上配套的电池/SI\1卡/T卡,6面/4角,每个部位连续跌2次,总计20次,跌落顺序:
上顶面一下底面一左侧面一右侧面一左上角一右上角一左下角一右下角一B面一A面(屏面)。
3、对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机,先跌开盖状态,每个面跌落1次,再在合盖状态下每个面跌1次,四个角每个角各2次。
判定标准:
1.手机是否壳体开裂,键盘/侧键等弹出,螺丝松动,镜片脱落等现象。
2.手机是否在轻微扭曲/弯折后,正常开机。
3.功能是否正常。
4.跌落完毕,检查关机漏电流/待机的电流(漏电流WlmA,待机的电流W3mA)。
5.拍照后,照片的保存以及删除。
6.FM收台/使用;MP3耳机/外放效果。
7.充电/耳机/USB功能识别/开启蓝牙,是否可以收到蓝牙耳机。
&触摸屏校准2次;手写输入写短信后发出,发出2条。
9.测试完成后,无机械损伤和功能失效。
试验样机部屏蔽罩及其它元器件不能存在松脱或损坏现象,摇动试验样机应不出现任何异响。
跣落过程中,允许有3次以下掉电及重启
5.2.2微跌落试验
试验目的:
验证手机在正常使用中轻微撞击的适应性。
试验样品:
2sets
试验容:
将试验样机不包装,装上所配套电池,插入T卡及SIM卡。
开机播放T卡MP3状态下,跌落髙度为10cm,跌落面为PVC垫面,试验样机跌落方位顺序为:
A面一B面一左面—右面一上顶面一下底面,进行连续跌落每个面跌1000次总次数为6000次,且完成6000次测试时记录测试结果。
跌落后检查试验样机的外观结构及各项功能,并进行电性能测试。
判定标准:
1.手机是否壳体开裂,键盘/侧键等弹出,螺丝松动,镜片脱落等现象。
2.手机是否在轻微扭曲/弯折后,正常开机。
3.功能是否正常。
4.跌落完毕,检查关机漏电流/待机的电流(漏电流WlmA,待机底电流W3mA)。
5.拍照后,照片的保存以及删除。
6.FM收台/使用;MP3耳机/外放效果。
7.充电/耳机/USB功能识别/开启蓝牙,是否可以收到蓝牙耳机。
&触摸屏校准2次;手写输入写短信后发出,发出2条。
9.测试完成后,无机械损伤和功能失效.试验样机部屏蔽罩及其它元器件不能存在松脱或损坏现象,摇动试验样机应不出现任何异响。
10.测试过程中不允许出现手机可装配部件脱落,掉SIH卡现象。
11、允许出现掉电W3次、掉T卡W2次(表现为音乐停止)。
12、允许出现重起现象W2次。
5.2.3挤压试验
试验目的:
检查手机抗挤压能力。
试验样品:
2sets
试验容:
将试验样机不包装,装上所配套电池,开机锁住键盘正面朝上,机身与固定支架的轴向垂直地放在帆布上并用布带将试验样机紧固.长度为12cm的硅橡胶挤压头以(250±10)N的力,每分钟30次垂直作用于试验样机中部的翻盖正面或键盘面。
1次为2秒,包括1秒施力和1秒松开,一共1000次,,每200次做一次检查。
试验环境为常温.试验过程中试验样机保持开机状态.对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机,应在合盖状态下进行试验。
判定标准:
测试过程中手机不能关机,测试完成后手机机械电气功能正常,镜片/LCD无损坏,黑屏,花屏等显示异常。
5.2.4ESD试验
试验目的:
检验手机在使用中抵抗自然静电的能力。
试验样品:
2sets
试验容:
温度159〜35°C,相对湿度30%〜60%RH,气压86〜106kPa.试验样机处于充电状态下,通话状态或进入照相模式进行测试,对每个选取点放电10次,每秒1次.(接触放电)放电电压设置为±6KV,选取点:
试验样机在操作过程中正常被人体接触的导体部分,测试部位至少包括:
充电接口、金属天线等、及金属装饰件等.(空气放电)放电电压设置为:
±10KV,选取点,试验样机在操作过程中正常被人体接触的非导体部分,例如:
前后壳接缝、LCD显示屏、按键面板、I/O口及其它所有的稼孔接缝处。
判定标准:
ESD测试时应能继续保持工作状态,出现的异常现象,如屏幕显示不正常、通话音杂等,应该在试验完毕后能恢复;试验完毕后试验样机通话、充电等功能应正常,试验样机中存储数据应不会产生丢失。
试验后各项功能正常。
5.2.5扭曲试验
试验目的:
检查手机抗扭曲能力
试验样品:
2sets
试验容:
将试验样机不包装,装上所配套电池,开机状态下固定扭曲试验机上,两端各挟持15mm,以2N・m扭矩,顺时针扭曲和逆时针扭曲各一次交错进行,频率为15〜30/次,共扭曲1000次.试验环境为常温.对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机,应在合盖状态下进行试验。
判定标准:
测试过程中手机不能关机,测试完成后手机机械电气功能正常。
5.2.6容:
弹簧锤撞击试验
目的:
检查手机触摸屏抗撞击能力。
试验要求:
撞击能量为0.2J,用弹簧锤撞击锤对触摸屏中心位置和四角各进行一次测试。
判定标准:
触摸屏表面不能有破裂,各项电性能符合要求。
数量:
2sets
5.3部件机械可靠性试验
5.3.1触摸屏点击试验
试验目的:
屏的手写寿命
试验样品:
2sets
试验容:
将试验样机不包装,装上所配套的电池,关机状态下,用0.8R尼龙笔,力量250g,频率3次/秒,点击次数10万,每1W次做一次检查。
打点位置:
动作区围的中央部位.
判定标准:
触摸屏表面不能有破裂,各项功能正常。
5.3.2触摸屏划线试验
试验目的:
屏的手写寿命。
试验样品:
2sets
试验容:
将试验样机不包装,装上所配套电池,关机状态下,用0.8R尼龙笔,力量250g,划一三角形,触控屏右侧和底部预留5mm,速度150mm/sec,重复测试10万次.直线划动位置:
动作区围的中央部位。
判定标准:
触摸屏表面不能有划痕可接受,不能有破裂,各项功能正常。
5.3.3翻/滑盖寿命试验
试验目的:
验证手机壳体材质,滑轨,FPC的寿命.以及滑盖组件结构的配合寿命。
试验样品:
2set
试验容:
翻盖寿命试验将试验样机不包装,装上所配电池,开机装态下,把试验样机滑(族)盖打开再合上为一次开合,操作频率要求35次开合/分,共需要开合10万次.试验结束后,拆机检查FPC不能有明显划痕和刮伤。
滑盖寿命试验A类要求:
将试验样机不包装,装上所配套电池,开机状态下,把试验样机滑盖打开再合上为一次开合,操作频率要求45次开合/分,共需要开合10万次。
B类要求:
将试验样机不包装,装上所配套电池,关机状态下,把试验样机滑(旋)盖打开再合上为一次开合,操作频率要求35次开合/分,共需要开合10万次。
判定标准:
5000,1万,2万,3万,4万,5万,8万,10万次各检查手感良好,滑盖/翻盖可以平稳开合,滑轨无明显松动,变紧,滑动/转动时无明显异音等,以及与测试前状态不一致的结构问题,电气功能正常,打开手机后观察FPC没有明显磨损,转轴的外观结构及灵敏度、LCD显示的情况、按键音是否正常、能否正常呼叫、其它地方的外观是否完好。
5.3.4按键寿命(含侧键)试验
试验目的:
验证手机按键的使用寿命及长期按键对周围器件的影响
试验样品:
2sets
试验容:
开机状态下测试,导航键和确认取消键:
10万次.侧键:
5万次,10N的力度,速度60-100次/分,打在DOME中央。
判定标准:
dome不能失效.按键手感不能明显变差。
5.3.5数据线接口插拔寿命试验
试验目的:
验证手机长期插拔充电器,耳机,数据线对相关器件的影响。
试验样品:
2sets
试验容:
开机状态下,将试验样机的数据线和数据线的插头进行反复插拔,插拔频率为
20次/分,连续进行3000次循环,1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。
判定标准:
试验后数据线I/O口无任何的变形、损伤,数据线功能正常。
5.3.6耳机口插拔寿命试验
试验目的:
验证手机长期插拔耳机对相关器件的影响。
试验样品:
2sets试验容:
开机状态下,将试验样机的耳机座和耳机的插头进行反复插拔,插拔频率为20次/分,连续进行3000次循环,1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。
判定标准:
试验后耳机座无任何的变形、损伤,数据线功能正常。
5.3.7充电器插拔寿命试验
试验目的:
验证手机长期插拔充电器对相关器件的影响。
试验样品:
2sets
试验容:
充电器不接电源,开机状态下,将试验样机的I/O口和充电器的插头进行反复插拔,插拔频率为20次/分,连续进行3000次循环,1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。
判定标准:
试验后I/O口无任何的变形、损伤,试验机充电功能正常。
5.3.8储存卡插拔试验
试验目的:
验证手机长期插拔储存卡对相关器件的影响。
试验样品:
2sets
试验容:
开机状态下,将T卡插入拔出进行反复插拔,插拔频率为20次/分,连续进行1000次循环,1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。
判定标准:
T卡镀金部位是否有被明显磨损和功能正常,结构稳固。
5.3.9SIM卡插拔试验
试验目的:
验证手机长期插拔SIM卡对相关器件的影响试验样品:
2sets
试验容:
将SIM卡和试验样机SIM卡座进行反复装拆,插拔频率为20次/分,连续进行1000次循环,1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。
判定标准:
检查SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常,SIH卡镀金部分是否会被明显磨损和功能正常,结构稳固,手机读卡功能使用正常,开机必须能够辨识SIM卡。
5.3.10触摸笔拉拔试验
试验目的:
验证触摸笔的使用寿命试验样品:
2sets
试验容:
将触摸笔和试验样机进行反复插拔,插拔频率为20次/分,连续进行5000次循环,1次循环为1次装入和取出.试验环境为常温。
判定标准:
触摸笔不能明显松动,甩动手机,触摸笔不能脱落。
5.3.11电池/电池后盖拆装耐久性试验
试验目的:
验证手机在正常使用中,电池及后盖频繁拆装后,对相关器件的影响。
试验样品:
2sets
试验容:
将电池、电池盖和试验样机进行反复装拆,插拔频率为20次/分,电池连续进行1000次循环,电池盖连续进行1000次循环,1次循环为1次装入和取出.试验环境为常温。
判定标准:
电池盖无变形,卡勾无破裂,电池盖无松动。
以20cm微跌掉电池盖的次数小于等于2次做为是否通过插拔测试通过的依据。
5.3.12吊绳孔拉力试验
试验目的:
验证吊绳孔的可靠性.
试验样品:
2sets
试验容:
将试验样机以坚直方向固定住(固定住机身的下半部),用拉力计施加50N的
力(逐渐增大),从水平方向拉吊绳孔,当拉力达到50N时立即释放。
判定标准:
当拉力小于25N时,不允许前后壳嘴,当拉力在25N〜50N围时,允许前后壳嘴,但当拉力释放后前后壳之间要能自动合拢。
5.3.13扬声器寿命试验
试验目的:
验证样机扬声器寿命性能。
试验样品:
2sets
试验容:
连续播放96小时,要求SPK无异常,同时记录下此时SPK的THD失真,要求不大于5%.否则认为此SPK测试Failo
判定标准:
扬声器能正常发音且应无破音,手机各项功能正常。
导入新物料时,必测此项.
如果只是修改线长,泡棉尺寸,其余无变化,可以不用测试。
5.3.14振动器寿命试验
试验目的:
验证样机马达寿命性能。
试验样品:
2sets
试验容:
进入菜单选择马达启动,保持连续震动72小时。
判定标准:
马达能正常工作且应无明显振动强弱变化,手机各项功能正常。
5.3.15听筒寿命试验
试验目的:
验证听筒寿命。
试验样品:
2sets
试验容:
调节硬件和软件放大倍数,要求有效功率略大于额定功率10%以上(在拨打彩铃或用力吹气时,峰峰值不超过2.8v).进入菜单选择听筒开启,保持连续受话96小时。
判定标准:
听简能正常工作且应无明显受话强弱变化,手机各项功能正常;导入新物料时,必测此项.如果只是修改线长,泡棉尺寸,其余无变化,可以不用测试。
5.3.16麦克风寿命试验
试验目的:
验证样机麦克风寿命性能。
试验样品:
2sets
试验容:
调节硬件和软件放大倍数,要求有效功率略大于额定功率10%以上(在拨打彩铃或用力吹气时,峰峰值不超过2.8v).进入菜单选择麦克风开启,保持连续送话48小时。
判定标准:
麦克风能正常工作且应无明显振动强弱变化,手机各项功能正常;导入新物料时,必测此项.如果只是修改线长,泡棉尺寸,其余无变化,可以不用测试。
5.3.17触摸屏(假纯屏)可靠性试验
试验目的:
验证屏的强度。
试验样品:
2sets
试验容:
屏的压力测试.测试最靠近边缘的9个点及中间一个点,要求承受压力要大于4.5Kg,使用直径为10mm的圆柱形压头,在测头与屏接触面垫泡棉,压边缘屏的位置,但不要压边框。
判定标准:
屏不能破裂,失效。
5.3.18LCDLens硬度试验
试验目的:
验证LCD镜片的耐磨性。
试验样品:
2sets
试验容:
用三菱试验铅笔芯,以lkgf压力。
笔尖要磨平的,要放在砂纸上以90度角磨平的。
需按照屏镜片具体材质,具体制定.PET:
1H、普通喷漆:
2H、胶类使用Level3o
判定标准:
测试部位不应出现的明显划痕。
5.3.19插孔保护塞拉拔力测试
试验目的:
验证胶塞的牢固程度
试验样品:
2sets
试验容:
0.8kgf的拉力,保持10秒,共进行2次。
判定标准:
塞子不能拉脱/拉断,测试结束后能收缩回原始状态。
5.3.20插孔保护塞反复拆装试验
试验目的:
验证胶塞多次拆装后,是否配合良好。
试验样品:
2sets
试验容:
1000次
判定标准:
测试结束后,与原始状态一致。
5.3.21Lens(透镜/镜片)静态按压试验
试验目的:
检查Lens(透镜/镜片)在机壳上的牢固性。
试验样品:
2sets
试验容:
A壳显示窗lens为背胶粘贴形式.拆机后,将A壳lens
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