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纳米材料地热学性质
纳米材料与团簇物理结课论文
纳米材料的热学性质
纳米材料是一种既不同于晶态,又不同于非晶态的第三类固体材料,通常指三维空间尺寸至少有一维处于纳米量级(1nm~100nm)的固体材料。
由于纳米材料粒径小,比表面积大,处于粒子表面无序排列的原子百分比高达l5~50%。
纳米粒子的这种特殊结构导致其具有不同于传统材料的物理化学特性。
纳米材料的高浓度界面及原子能级的特殊结构使其具有不同于常规块体材料和单个分子的性质,纳米材料具有表面效应,体积效应,量子尺寸效应宏观量子隧道效应等,从而使得纳米材料热力学性质具有特殊性,纳米材料的各种热力学性质如晶格参数,结合能,熔点,熔解焓,熔解熵,热容等均显示出尺寸效应和形状效应。
可见,纳米材料热力学性质在各方面均显现出与块体材料的差异性,研究纳米材料的热力学性质具有极其重要的科学意义和应用价值。
纳米材料的热学性质概述
一、纳米材料的熔点及能
材料热性能与材料中分子、原子运动行为有着不可分割的联系。
当热载子(电子、声子及光子)的各种特征尺寸与材料的特征尺寸(晶粒尺寸、颗粒尺寸或薄膜厚度)相当时,反应物质热性能的物性参数如熔化温度、热容等会体现出鲜明的尺寸依赖性。
特别是,低温下热载子的平均自由程将变长,使材料热学性质的尺寸效应更为明显。
图1几种纳米金属粒子的熔点降低现象
上图(图1)为几种纳米金属粒子的熔点降低现象。
随粒子尺寸的减小,熔点降低。
当金属粒子尺寸小于10nm后熔点急剧下降,其中3nm左右的金微粒子的熔点只有其块体材料熔点的一半,用高倍率电子显微镜观察尺寸2nm的纳米金粒子结构可以发现,纳米金颗粒形态可以在单晶、多晶与孪晶间连续转变。
这种行为与传统材料在固定熔点熔化的行为完全不同,伴随着纳米材料的熔点降低,单位质量粒子熔化时的潜热吸收(焓变)也随尺寸的减小而减少。
人们在具有自由表面的共价半导体的纳米晶体、惰性气体和分子晶体也发现了熔化的尺寸效应现象。
根据固体物理的基本原理,可以说明材料热学性质出现尺寸效应的根本原因,一般情况下,晶体材料的能U可依据其晶格振动的波特性在德拜假设下估计出,即:
(1)
式中,Θ为德拜温度;k为波矢;T为热力学温度;h为普朗克常数;kB为玻尔兹曼常数。
求和是对于所有可能的k值进行的。
k的允许值由其分量表示为:
(2)
式中,L为晶格长度;N为状态度;△kx为特定方向上连续波矢的差。
在其他方向的k分量也存在类似关系。
在块体材料,式
(1)通常简化为:
(3)
式中,ubulk是块体材料单位容积的U值;n为原子数密度;xD为与德拜温度对应的积分限。
上述关于u的表述只给出了来自块体材料声子模式的贡献,而表面声子的贡献则被忽略了。
在块体材料中,表面声子的贡献确实可以忽略;但当材料至少一维尺寸大幅减少至纳米量级时,这种简化并不正确,即对于纳米材料有必要考虑尺寸效应。
随材料尺度的降低,用式(3)计算能U及热容的方法不再有效,此时应直接采用最初的求和表达式
(1)。
若材料至少一个方向的原子数显著降低时,则此方向k的改变量与所有容许k值相比不再小到可以忽略,于是该方向上的k将会在2π/L围以相当大的离散步长增加,使得式(3)采用积分近似式代替离散步长的方法不能应用,从而导致两种效应:
①k空间点的精确数目不同于固体材料的值;②k间体积Ω必须通过离散求和来计算。
于是,k空间一定区域点的精确数目必须通过离散求和确定。
由此可以得出微小体积晶格的能:
(4)
其中:
(5)
这里umicro表示由加和求得的能,即微小晶格体积的能。
可见,由于品格能存在尺寸效应,将不可避免地导致材料基本热学性质对晶体尺寸的依赖性。
2.纳米晶体的热容及特征温度
热容是指材料分子或原子热运动的能量Q随温度T的变化率,在温度T时材料的热容量C的表达式为:
(6)
若加热过程中材料的体积不变,则测得的热容量为定容热容过程中材料的压强不变,则测得的为定压热容(Cp)。
即
(7)
(8)
将式(4)代人式(7)和式(8)中,即可计算得出纳米晶体的热容。
图2为计算得出的几种纳米薄膜材料定容热容Cnano与相应块体热容Cbulk比值与原子层数N的关系。
可见,纳米薄膜热容小于块体热容,而对厚一些的薄膜,二者等价。
值得指出的是,上述计算时假定纳米晶体尺寸极小时仍然保持完整的晶格结构,忽略了表面声子软化效应,计算得到的热容值会较实际值小。
图2Cnano和Cbulk的比值
表1列出了非晶晶化、高能球磨和惰性气体冷凝方法制备的几种纳米晶体材料定压热容Cpnc相对其粗晶材料定压热容Cpc的变化△Cpnc(△Cpnc=(Cpnc-Cpc)/Cpc)。
从测量结果可以看出,惰性气体冷凝法和高能球磨法制备的纳米晶体材料的过剩热容△Cpnc很大,如惰性气体冷凝法制备的纳米晶体Pd的△Cpnc高达48%;而非晶晶化和电解沉积法制备的纳米晶体材料的△Cpnc却很小,通常小于5%。
表1不同方法制备纳米晶体材料的过剩热熔
造成这种差异的原因在于不同制备方法在材料中引入的缺陷密度不同所致。
对于惰性气体冷凝和高能球磨方法制备的纳米材料,材料中存在大量的微孔、杂质和结构缺陷,使材料具有很大△Cpnc,这种极大的差异不能代表纳米材料的本征热容差别。
对于非晶晶化和电解沉积方法制备的纳米晶体,材料是在接近平衡态的条件下形成,所以其部结构缺陷较少,且很少有微孔和杂质,其热容与粗晶相比增加不大。
特别是非晶晶化法还相当于对材料进行了一次退火处理,纳米晶中的界面和晶粒都处于一种弛豫状态,纳米晶部的显微应变极小(要比其他方法所获得的纳米晶部的应力小一个数量级),使非晶晶化纳米材料的过剩热容最小,从而也可以得出晶界组元的过剩热容是很小的。
材料的热容与该材料的结构,或者说与振动熵及组态熵密切相关,而其振动熵和组态熵受到最近邻原子构型的强烈影响。
在纳米材料中很大一部分原子处于晶界上,界面原子的最近邻原子构型与晶粒原子的最近邻原子构型显著不同,或者说晶界相对于完整晶格来说存在一定的过剩体积。
热力学计算表明纳米晶的热容随着晶界过剩体积的增加而增加,因而亦随着晶界能的增加而增加。
晶界组元的过剩热容值越低,其所对应的晶界过剩体积和界面能都将越低。
由于高比例晶界组元的贡献,纳米材料的比热容会比其对应的粗晶材料的高。
根据固体物理理论,德拜特征温度的定义为:
(9)
式中,ωm表征了晶格振动的最高频率;kB为玻尔兹曼常数。
因此,德拜特征温度与材料的晶格振动有关,同时还反映原子间结合力的强弱。
表2列出了不同方法制备的纳米晶体材料特征温度Θ相对于粗晶值的变化率,表中△Θ=(Θnc-Θc)/Θc,其中Θnc、Θc分别为纳米晶体和粗晶体的特征温度。
可见,各方法制备的纳米晶体的特征温度都要小于其粗晶体的值,减小的围为5%—71%。
另外,超细粉Ni和Pd的特征温度也表现出减小趋势:
通常认为,纳米晶体材料的特征温度减小是其结构缺陷(如点阵静畸变、晶界等)使原子振动的非谐效应减弱所致,但目前还无定量解释。
表2纳米晶体材料的特征温度和热膨胀系数的变化率
二、纳米材料的熔化
1.纳米材料的融化的概述
熔点显著降低的原因就是应为,与常规粉体相比,纳米粒子的表面能高,比表面原子数多,这些表面原子近邻配位不全,活性大,以及体积远小于块体材料,因此,其熔化时所需增加的能小得多,这就使得纳米粒子熔点急剧下降。
•银的熔点:
960.5oC;银纳米粒子在低于100oC开始熔化。
•铅的熔点:
327.4oC;20nm球形铅粒子的熔点降低至39oC。
•铜的熔点:
1053oC;平均粒径为40nm的铜粒子,750oC。
•金的熔点:
1064oC;2nm的金粒子的熔点为327oC。
熔化是最基本的自然现象之一,也是材料科学研究的一个重要相变过程。
熔化是指晶体从固态长程有序结构到液态无序结构的相转变。
除了常见的升温过程中晶体转变成液体的熔化外,晶体低温退火时的非晶化过程也是熔化的一种表现。
在近平衡状态下,晶体转变成液体时温度不变,并伴随潜热的吸收和体积变化。
这时,热力学平衡的固相和液相具有相同的吉布斯自由能:
(10)
熔化时体积变化△Vf和熵变△Sf可分别表示为:
(11)
(12)
常压下,固液相自由能相互独立,可以表示为图1所示的固液吉布斯(Gibbs)自由能曲线(其中Tf是两相平衡温度,也是平衡熔化温度)。
两条曲线的交点就是两相的平衡点,式(11)、式(12)表示的是吉布斯自由能曲线的斜率差。
图示曲线隐含着固液转变时熵(或体积)变化的不连续性,这是一级相变的典型特征。
图3固液相吉布斯自由能曲线
理论上讲,如果能阻止另一相的产生,就可以研究固相在高于熔点的温度区间或液相低于熔点温度区间的吉布斯自由能变化。
实际上,过冷液态容易获得,对其已有很多的研究,但使固体过热非常困难,其研究还处于初始阶段。
实际上,晶体不能以无缺陷的理想状态存在,晶体中会有不溶于固液相的杂质,固体自身也存在如晶界、位错等缺陷。
因异质相界面(固/气或固/固)和同质相界面(晶界)的存在,改变了固相或液相局部的热力学状态,使熔化过程发生变化而呈现多样性。
由于晶体的自由表面和界面(如晶界、相界等)处原子的排布与晶体部的完整晶格有很大差异,且界面原子具有较高的自由能,因此熔化通常源于具有较高能量的晶体表面或同质异质界面。
当晶体的界面增多如颗粒尺寸减小使表面积增大、或多晶体晶粒减小使晶界增多时,熔化的非均匀形核位置增多,从而导致熔化在较低温度下开始,即熔点降低。
这就是发生在纳米材料中的熔点降低现。
2.纳米材料的熔点降低
早在20世纪初人们就从热力学上预言了小尺寸粒子的熔点降低,但真正从实验上观察到熔化的尺寸效应还是在1954年。
人们首先在Pb、Sn、Bi膜中观察到熔点的降低,后来相继采用许多方法研究了不同技术制备的小颗粒金属的熔化。
大量的实验表明,随着粒子尺寸的减小,熔点呈现单调下降趋势,而且在小尺寸区比大尺寸区熔点降低得更明显。
当粒子尺寸大于10nm时熔点下降幅度较小,而小于10nm后熔点急剧下降。
图4为原位x射线衍射测定的冷轧Pb/A1多层膜及轧制的自由铅薄膜样品的熔化行为,图中虚线为块体Pb平衡熔点。
可以看出,自由铅薄膜的四个特征衍射的强度到大约326℃开始急剧降低,并在329℃之前均下降为零。
Pb/A1多层膜样品中铅膜的四个特征衍射的强度在326~329℃也会降低,但并未降到零,而是在高于329℃不同的温度降低到零,其中的(111)衍射直到340℃才完全消失。
这说明,Pb/A1多层膜样品中部分铅膜在达到334℃时依然存在,其熔化温度超过了自由铅薄膜的熔化温度,夹在铝中的部分铅薄膜出现了过热现象。
根据经典热力学理论,我们可以近似得出纳米材料熔点与晶粒尺寸的关系。
将固体金属表面的金属蒸气作为理想气体,则金属体系吉布斯自由能可以表示为:
(13)
式中,G0为积分常数;p为温度T时金属的蒸气压;R为气体常数。
图4铅的特征X-射线衍射强度随温度的变化情况
a)受约束铅纳米薄膜b)自由铅薄膜
根据小粒子表面的Gibbs-Thompson方程:
(14)
式中,σ为粒子的表面力;V为摩尔体积;D1和D2分别为粒子晶粒表面的两个主曲率半径。
得出小粒子较平面粒子的吉布斯自由能升高为:
(15)
由于
(16)
式中,Tm(D)为尺寸依赖的熔化温度;D是纳米晶体的等效直径;Tm(∞)表示块体的熔化温度;Hm为Tm(D)温度时的熔化焓。
因此得出:
(17)
对于球形颗粒,D1=D2,则可以得到:
(18)
从式(18)中可见,小粒子的熔化温度变化Tm(D)/Tm(∞)与粒子尺寸的倒数是线性关系。
这一关系式可以近似描述纳米材料的熔化规律。
考虑到实际熔化过程,人们提出了几种熔化机制来描术纳米粒子的熔化过程:
1)根据熔化一级相变的两相平衡理论可以得到,熔点变化与表界面熔化前后的能量差有关,也就是与小粒子所处的环境相关。
对同质粒子,自由态和镶嵌于不同基体中时,粒子熔点降低的规律将会不同。
2)如果把粒子的熔化分为两个阶段,如图5所示,粒子的表面或与异质相接触的界面区域首先发生预熔化,完成表面的熔体形核,继而心部发生熔化,则粒子的熔化发生在一个温度区间。
该理论是建立在忽略环境条件的基础上,所以小粒子的实际熔点降低与所处环境无关。
3)随粒子尺寸的减小,表界面的体积分数较大,而且表界面处的原子振幅比心部原子的更大,均方根位移的增加引起界面过剩吉布斯自由能的增大,会使小粒子的熔点降低。
此外,也有研究者从小粒子曲率引起的压力变化讨论熔点的降低,但这一模型通常应用于两相均为液相的体系,而不能应用于其中之一是固相的体系。
图5小粒子融化过程示意图
无论是自由态还是被基体束缚的状态,处于表界面原子的组态与组成块体材料原子的组态不同,焓也因此不同。
伴随着粒子熔点降低,熔化热随之减少。
如纳米In粒子(5.6nm)的熔化热比块体材料减少了2/3,Sn在Ge/Sn纳米材料中的熔化焓消失。
根据经典热力学计算熔化焓的变化量△Lm=(1-Tm(D)/Tm(∞))/L0,比实验值小得多。
因此,有人认为纳米晶体的界面熔化与心部不同。
纳米晶体界面为非晶态(或熔化层),熔化时界面层原子不吸收或很少吸收熔化热。
尺寸的降低使表界面原子的特性变得突出。
目前,人们正在仔细研究液相层的结构、厚度、形成过程中的熔化焓变,进一步探讨纳米粒子真实的熔化机制。
初步结果表明,表界面熔化并非严格意义上的一级相变(二级相变无潜热的变化),表界面层预熔化的焓变也会随距表界面距离的不同呈梯度变化。
二、纳米晶体的晶粒成长
纳米晶体材料的结构失稳包括晶粒长大、相分离、第二相析出等过程。
由于这些变化过程导致微观结构的改变,尤其足晶界形态和数量的变化必然会影响到纳米晶体材料的性能,从而可能使纳米晶体材料失去其优异的力学或理化性能。
因此,研究纳米晶体材料的热稳定性具有重要的实际意义。
1.纳米晶体的热稳定性
晶粒尺寸的热稳定性是纳米晶体材料热稳定性研究的重要容之一。
由于纳米晶体材料中很高的界面体积分数使之处于较高的能量状态,而晶粒长大会减少界面体积分数,从而降低其能量状态,因此晶粒长大的驱动力很高。
从传统的晶粒长论中可知,晶粒长大驱动力Δμ与晶粒尺寸d的关系可由Gibbs-Thonlson方程描述:
(19)
式中,Ω为原子体积;γ为界面能。
由此可见,当晶粒尺寸d细化到纳米量级时,晶粒长大的驱动力很高,甚至在室温下即可长大。
实验中已发现,纳米晶Cu、此、Pd在室温或略高于室温时的异常长大现象。
表4部分纳米材料的晶粒长大起始温度Tg
然而,大量实验观察表明,通过各种方法制备的纳米晶体材料,无论是纯金属、合金还是化合物,在一定程度上都具有很高的晶粒尺寸稳定性,表现为其晶粒长大的起始温度较高,有时高达0.6Tm(Tm为材料的熔点)。
表4列出了部分单质和合金纳米晶体样品在恒速升温过程中晶粒长大的温度,可以看出大多数纳米晶体尺寸具有很好的热稳定性。
对于单质纳米晶体样品,熔点越高的物质晶粒长大起始温度越高,且晶粒长大温度约在(0.2—0.4)Tm之间,比普通多晶体材料再结晶温度(约为0.5Tm)低。
合金纳米晶体的晶粒长大温度往往较高,通常接近或高于0.5Tm。
对纳米晶体材料晶粒尺寸热稳定性的研究,对深入理解晶粒长大动力学本质机理具有重要价值。
2.纳米晶体的长大动力学表征
虽然纳米晶体材料处于一种热力学亚稳状态,但在室温常压下它又常常是动力学稳定的,其结构转变过程往往需要克服一定的激活能,因此从动力学的角度来研究纳米晶体材料的热稳定性是很必要的。
动力学研究通常分为两个方面:
一是利用动力学公式来表示晶粒尺寸与退火温度或时间的关系;二是通过监测纳米晶体材料物理性能的变化得到失稳过程中的一些特征参数,从而研究其动力学过程。
传统多晶体材料中的晶粒长大过程通常可表示为:
(20)
式中,d0为初始晶粒尺寸;d为经t时间段退火后的晶粒尺寸;N为晶粒长大指数;KT为动力学常数。
该式较准确地反映了较低温度下金属材料中的晶粒长大规律。
根据经典晶粒长大机制,不同的N值代表着不同的晶粒长大机制,N值通常是在2~4之间。
动力学常数KT同温度厂有如下关系:
(21)
式中,kT0为指前因子;R为气体常数;Q为晶粒长大激活能。
在晶粒长大过程中激活能是晶粒尺寸稳定性的另一个重要参数,它代表晶粒长大对应的扩散过程所需克眼的能量势垒。
在研究晶粒长大的过程中,通常是通过计算晶粒长大指数N和晶粒长大激活能Q,然后对比实验值与理论预测值来判断纳米晶晶粒长大的机制。
纳米晶体材料热稳定性的一些动力学参数还可以通过监测其他物理参量的变化而得到,例如,利用差热分析或电阻分析,通过测量晶粒长大过程随升温速率的变化来推断此过程的激活能,即常用的Kissinger方程:
(22)
式中,B为升温速率;C为常数;Q为激活能;T为某一过程的特征温度。
表4纳米晶粒生长激活能
表4收集了一些有关纳米晶粒长大激活能的数据,一般来说,晶粒长大过程激活能越大,晶粒尺寸稳定性越好。
实验结果表明,合金及化合物的晶粒长大激活能往往较高,接近相应元素的体扩散激活能。
而单质纳米晶长大激活能较低,与晶界扩散激活能相近,这说明纳米晶粒长大过程不能简单地沿用经典晶粒长论来描述,其中存在一些纳米晶体结构的本质影响因素,而这些因素并未被人们所充分认识。
纳米晶体材料的热稳定性及在晶粒长大机制不仅与动力学有关,同时与晶粒的微观结构、化学成分及晶粒形态有密切关系,目前,许多有关纳米晶体材料热稳定性的研究是用超细粉冷压样品进行的,样品中一般都含有大量的孔隙、污染、微观应变,缺陷。
另外,纳米晶体材料中的微孔隙,也同样也会因为阻止晶界运动而使其热稳定性增加。
3.晶粒长大的界面能
纳米晶粒的长大过程往往伴随有一定的过剩能释放。
假设:
①晶粒长大过程中对应的热效应都是由于界面减少而导致的界面能释放;②晶界的结构在晶粒长大前后保持不变;③晶粒的能量状态不随晶粒尺寸而变化。
由于通常纳米晶体材料的晶界分数与其晶粒尺寸成反比,对一个体积为矿的样品,可以得到储存于界面的过剩焓为:
(23)
式中,γH为界面过剩能;g为数值因子,依赖于晶粒形状及其尺寸分布;H0和r0分别代表初始态过剩焓和晶粒半径。
当晶粒半径增加到r(t)时,总界面过剩能变为:
(24)
在这段时间,系统的能量变化则为:
(25)
式中W和D分别为所讨论样品的质量和密度。
通常可用示差扫描量热法(DSC)方法测量出其热效应。
Chen及其合作者曾发展了一套较完整的理论来论述DSC测量方法在晶粒长大研究上的应用。
根据式(16),在δt时间,DSC信号的平均强度可表示为δH=ΔH/δt。
图7大角度晶界纳米晶Cu对应不同起始晶粒尺寸时
晶粒长大过程中的热效应
a--5nmb—10nmc—15nmd—20nme—30nm
以纯Cu样品为例,简单地认为晶粒形状因子为常数,D=8.91g/cm3,并取W=5mg,δt=50s,γH=0.1J/m2,可以得到不同初始晶粒尺寸晶粒长大过程中的热效应,如图7所示。
图中水平虚线为目前DSC的能量精度极限。
可以看出,随着晶粒不断长大,DSC信号的强度总是不断变化的,对于较小的晶粒尺寸,δH随d的增大较快,对于较大的晶粒尺寸,曲线则变的乎缓。
就目前DSC设备的灵敏度而言,测量精度能达到0.01mJ/s。
根据这一精度,当初始晶粒尺寸很小时(d0<10nm),晶粒长大过程可以很容易被检测到;而对于初始晶粒尺寸较大的样品,如do=30nm时,只有当晶粒尺寸长大约37nm时,DSC才可检测到其热效应。
因此,DSC测量往往具有一定的滞后效应。
图8所示为具有小角晶界的纳米晶Cu样品的晶粒长大过程的热效应,γD=0.01J/m2,将样品质量增加到30mg,其他参数与图7相同;,水平虚线为目前DSC的能量精度极限。
对于此实验所用纳米晶Cu,在125-175℃围是晶粒长大最快的温度区间,因此该温度区间的热效应最集中。
当晶粒尺寸从37nm(125℃)长大到70nm(175℃)时,单位时间其放热量大约为0.0143mW。
因此,这种纳米晶Cu的晶粒长大热效应太弱,目前的DSC测试设备难以准确检测。
另外,样品量生长孪晶及层错等的存在也会在一定程度上影响晶粒长大过程的热效应。
图8小角度晶界纳米晶Cu对应不同起始晶粒尺寸时
晶粒长大过程中的热效应
a--5nmb—10nmc—15nmd—20nme—30nm
可见,根据DSC测量方法的精度及设备技术条件,并不是所有纳米晶体材料的晶粒长大过程都可以用DSC检测出来。
总的来讲,人们尚无单一测量方法可反映纳米材料晶粒长大中所有的结构和能量变化过程。
某些变化过程难以通过常规分析手段确定其参数,有时只能通过监测样品物理性能的变化来推测相应的结构变化过程,因此,建立物理性能与微观结构的对应关系是很关键的。
在研究纳米晶体材料热稳定性时,除了要考虑样品的微观缺陷外,还需要利用多种测量方法并在不同的测量方法之间进行比较,以揭示纳米晶体材料热稳定性的本质。
三、差热分析(DTA)和热重法(TG)
热分析是测量物质的物理、化学性质随温度变化的重要实验方法。
由于温度变化几乎影响物质的所有物理常数和化学常数,所以热分析方法有多种。
在化学实验中常用的有:
测量吸热/放热引起温度变化的差热分析法(DifferentialThermalAnalysis,简称DTA)、测量质量变化的热重法(ThermoGravimetry,简称TG)。
1.差热分析(DTA)
1)差热分析仪及差热分析的基本概念
进行DTA测定的仪器种类多,但部装置结构大致相同,如图9所示。
DTA仪的组成包括:
炉子(其中有试样和参比物坩埚,温度敏感元件等)、炉温控制器、微伏放大器、气氛控制、记录仪(或微机)等部分。
图9DTA装置示意图
(1)炉温控制器炉温控制系统由程序信号发生器、PID调节器和可控硅执行元件等几部分组成。
程序信号发生器按给定的程序方式(升温、降温、恒温、循环)给出毫伏信号。
若温控热电偶的热电势与程序信号发生器给出的毫伏值有差别时,说明炉温偏离给定值,此偏差值经微伏放大器放大,送入PID调节器,再经可控硅触发器导通可控硅执行元件调整电炉的加热电流,从而使偏差消除,达到使炉温按一定的速度上升、下降或恒定的目的。
(2)差热放大单元用以放大温差电势,由于记录仪量程为毫伏级。
差热分析中温差信号很小,一般只有几微伏到几十微伏,因此差热信号须经放大后再送入记录仪或微机中记录。
(3)信号记录单元由双笔自动记录仪(或微机)将测温信号和温差信号同时记录下来。
在DTA测量过程中,如果升温时试样没有热效应,则温差电势应为常数,DTA曲线为一直线,称为基线。
但是由于两个热电偶的热电势和热容量以及坩埚形态、位置等不可能完全对称,在温度变化时仍有不对称电势产生。
此电势随温度的变化而变化,造成基线不直,这时需要用斜率调整线路加以调整。
差热分析:
是指在程序控制温度下测量物质和参比物的温度差与温度关系的技术。
差热曲线:
描述样品与参比物之间的温度差(ΔT)随温度(T)或时间(t)变化的曲线。
程序控制温度:
指按一定的速率升温(或降温)。
参比物:
指在分析温度围不产生热效应(既不吸热,也不放热)的物质。
炉温程序控制器
气氛控制器
样品支撑测量系统
差热放大系统
电炉
自动记录系统
UT
U△T
RS
kU△T
图10差热分析仪的结构及工作原理
2)差热分析仪的工作原理
把试样(S)和参比物(R)分别装入两个坩埚,放在电炉中
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