cpk计算公式及解释.docx
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cpk计算公式及解释.docx
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cpk计算公式及解释
客户来审核了,检查以我们提供PPAP,发现我们计算CPK值小于PPK值,我跟他回复说CPK要求大于1.33,而PPK要求大于1.67,所以这样看应该是要求PPK大于CPK,但是他不认可,说是看到同一组数据计算出来,说应该是CPK值大于PPK值。
查了相关资料也说是PPK大于CPK.到底该是怎么样啊!
何谓工程能力?
所谓工程能力是指在某种产品生产中,是否能够均一地生产优质产品,
这是产品质量管理一个重要部分。
生产工程生产均一产品能力叫做工程能力。
利用±3σ来作为表示这种能力数值。
利用±3σ作为工程能力值原因
如果某种产品质量特征是正态分布话,以平均数为中心,在±3σ范围
内包含有99.73%产品,因此,将工程能力值设定为±3σ就几乎包括了所有产品。
工程能力指数存在一定管理规格时,工程能力值与管理规格比值叫做工程能力指数。
作为工程能力指数,我们学习了Cp和Cpk。
Cp和Cpk
Cp表现了短期内最佳Process状态,因此称为“短期工程能力指数”。
Cpk另一个工程能力指数Cpk则考虑到随着时间流逝,每次抽取测定data样本时,中间值都有些差异,在这种情况下计算工程能力,叫做“长期工程能力指数”。
工程能力指数计算--存在两边规格时候
这是在假定给定data平均数与基准Spec中间值相同情况下计算。
工程能力指数计算--只有一边规格时候
6σ水平工程能力指数
产品质量规格在±6之间,最糟糕情况下,不合格产品率上限、下限也各自不超过3.4ppm。
6σ水平工程能力指数目标值是Cp=2.0,Cpk=1.5。
最佳答案
CPK:
ComplexProcessCapabilityindex缩写,是现代企业用于表示制成能力指标。
CPK值越大表示品质越佳。
CPK=min((X-LSL/3s),(USL-X/3s))
Cpk——过程能力指数
CPK=Min[(USL-Mu)/3s,(Mu-LSL)/3s]
Cpk应用讲议
1.Cpk中文定义为:
制程能力指数,是某个工程或制程水准量化反应,也是工程评估一类指标。
2.同Cpk息息相关两个参数:
Ca,Cp.
Ca:
制程准确度。
Cp:
制程精密度。
3.Cpk,Ca,Cp三者关系:
Cpk=Cp*(1-|Ca|),Cpk是Ca与Cp两者中和反应,Ca反应是位置关系(集中趋势),Cp反应是散布关系(离散趋势)
4.当选择制程站别用Cpk来作管控时,应以成本做考量首要因素,还有是其品质特性对后制程影响度。
5.计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。
6.计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性规格上下限(USL,LSL),才可顺利计算其值。
7.首先可用Excel“STDEV”函数自动计算所取样数据标准差(σ),再计算出规格公差(T),与规格中心值(u)
规格公差=规格上限-规格下限;
规格中心值=(规格上限+规格下限)/2;
8.依据公式:
,计算出制程准确度:
Ca值
9.依据公式:
Cp=,计算出制程精密度:
Cp值
10.依据公式:
Cpk=Cp,计算出制程能力指数:
Cpk值
11.Cpk评级标准:
(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)
A++级Cpk≥2.0特优可考虑成本降低
A+级2.0>Cpk≥1.67优应当保持之
A级1.67>Cpk≥1.33良能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级
B级1.33>Cpk≥1.0一般状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良危险,应利用各种资源与方法将其提升为A级
C级1.0>Cpk≥0.67差制程不良较多,必须提升其能力
D级0.67>Cpk不可接受其能力太差,应考虑重新整改设计制程。
1、首先我们先说明Pp、Cp两者定义与公式
Cp(CapabilityIndiesofProcess):
稳定过程能力指数,定义为容差宽度除以过程能力,不考虑过程有无偏移,一般表达式为:
Pp(PerformanceIndiesofProcess):
过程性能指数,定义为不考虑过程有无偏移时,容差范围除以过程性能,一般表达式为:
(该指数仅用来与Cp与Cpk对比,或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进优先次序)
CPU:
稳定过程上限能力指数,定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限,一般表达式为:
CPL:
稳定过程下限能力指数,定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限,一般表达式为:
2、现在我们来阐述Cpk、Ppk含义
Cpk:
这是考虑到过程中心能力(修正)指数,定义为CPU与CPL最小值。
它等于过程均值与最近规范界限之间差除以过程总分布宽度一半。
即:
Ppk:
这是考虑到过程中心性能(修正)指数,定义为:
或最小值。
即:
其实,公式中K是定义分布中心μ与公差中心M偏离度,μ与M偏离为ε=|M-μ|
3、公式中标准差不同含义
①在Cp、Cpk中,计算是稳定过程能力,稳定过程中过程变差仅由普通原因引起,公式中标准差可以通过控制图中样本平均极差估计得出。
因此,Cp、Cpk一般与控制图一起使用,首先利用控制图判断过程是否受控,如果过程不受控,要采取措施改善过程,使过程处于受控状态。
确保过程受控后,再计算Cp、Cpk。
②由于普通和特殊两种原因所造成变差,可以用样本标准差S来估计,过程性能指数计算使用该标准差。
4、几个指数比较与说明
①无偏离Cp表示过程加工均匀性(稳定性),即“质量能力”,Cp越大,这质量特性分布越“苗条”,质量能力越强;而有偏离Cpk表示过程中心μ与公差中心M偏离情况,Cpk越大,二者偏离越小,也即过程中心对公差中心越“瞄准”。
使过程“质量能力”与“管理能力”二者综合结果。
Cp与Cpk着重点不同,需要同时加以考虑。
②Pp和Ppk关系参照上面。
③关于Cpk与Ppk关系,这里引用QS9000中PPAP手册中一句话:
“当可能得到历史数据或有足够初始数据来绘制控制图时(至少100个个体样本),可以在过程稳定时计算Cpk。
对于输出满足规格要求且呈可预测图形长期不稳定过程,应该使用Ppk。
”
“所谓PPK,是进入大批量生产前,对小批生产能力评价,一般要求≥1.67;而CPK,是进入大批量生产后,为保证批量生产下产品品质状况不至于下降,且为保证与小批生产具有同样控制能力,所进行生产能力评价,一般要求≥1.33;一般来说,CPK需要借助PPK控制界限来作控制。
……
PPK是短期过程能力,即初始过程能力,一般是在初期时确认过程是否稳定,如果大于1.67即可转入长期过程能力管理CPK,至于CMK计算方法是与PPK一样,前提是将模具与设备作为一个整体,即必须使用合格模具,以排除设备以外因素影响..
Ca,Cp,Cpk值计算,
悬赏分:
15|解决时间:
2009-10-1713:
45|提问者:
ewqceone
求教:
某工厂某工序处于统计稳定状态,现有产品中某尺寸,其规格为50±5mm,而制程实际状况为X(bar)=50.12,R(bar)=5.08,小组样本数量为5,请计算Ca,Cp,Cpk值。
最佳答案
Cp=(55-45)/(6*5.08/2.3259)=0.7631
Ca=[50.12-(55+45)/2]/[(55-45)/2]=0.024
Cpk=Cp*(1-Ca)=0.7631*(1-0.024)=0.7448
Ca:
制程准确度。
Cp:
制程精密度
A++级Cpk≥2。
0特优可考虑成本降低
A+级2。
0>Cpk≥1。
67优应当保持之
A级1。
67>Cpk≥1。
33良能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级
B级1。
33>Cpk≥1。
0一般状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良
危险,应利用各种资源与方法将其提升
C级1。
0>Cpk≥0。
67差制程不良较多,必须提升其能力
D级0。
67>Cpk不可接受其能力太差,应考虑重新整改设计制程
可依照上面标准来对过程
cpcpk全称
悬赏分:
0|解决时间:
2009-9-1612:
46|提问者:
sunswshine
英文全程与中文意思和计算方法
最佳答案
1、概述
——前些时间看到不少网友或论坛朋友一直对Ca、Cp、Cpk、Pp、Ppk产生很多疑问,作为过程质量控制一部分,我们有必要对它进行全面了解和精确计算,以便工作顺利开展。
Ppk数量来自长期(一般在3个月或者更长)收集数据,它可能存在各种波动源,比如:
机器老化、员工情绪波动、供应商改变等等。
所以计算Pp和Ppk是有必要。
2、释义
——Ca偏移修正指数,通常简称“偏移系数”
——Cp无偏移短期过程能力指数
——Cpk有偏移短期过程能力指数
——Pp无偏移长期过程能力指数
——Ppk有偏移长期过程能力指数
3、Ca计算
——Ca值是衡量过程平均值与规格中心值(公差中心值)一致性,如果Ca越大,标明过程平均值偏离规格中心值越大,过程能力越差;
——公式Ca=|x¯-μ|/(T/2)(x¯表示样本均值,μ规格中心值,T表示公差值)
——Ca也是常用k,k=ε/(T/2)=2ε/T;ε=|M-x¯|,M=(TU+TL)/2
4、Cp计算,σ≈σ^ST=R¯/d2=S¯/C4
——Cp值是衡量过程满足产品品质标准(规规公差)程度,Cp值越大,表示过程变异越小,过程能力越差;
——公式Cp=T/6σ=(TU-TL)/6σ≈(TU-TL)/6s(TU公差上限,TL公差下限,σ群体标准差,s样本标准差);
——公式σ=R¯/d2≈s(R¯表示级差平均值,d2是系数,可以通过查表得知)
——群体标准差σ,样本标准差s换算公式σ=S/C4
d2系数表
样本数n
2
3
4
5
6
7
8
9
10
系数d2
1.13
1.69
2.06
2.33
2.53
2.7
2.85
2.97
3.02
C4系数
样本数n
2
3
4
5
6
7
8
9
10
C4
0.798
0.886
0.921
0.940
0.952
0.959
0.965
0.969
0.973
5、Cpk计算,σ≈σ^ST=R¯/d2=S¯/C4
——Cpk值是分布中心与公差中心不重合情况下过程能力指数;
——公式Cpk=(1-Ca)Cp=(1-k)Cp;
——当品质规格只有上限单侧公差时:
Cpu=(TU-x¯)/3σ
——当品质规格只有下限单侧公差时:
Cpl=(x¯-TL)/3σ
6、Pp计算,σ≈σ^LT=S
——Pp计算方式和Cp计算方式一样,唯一不同是σ计算公式不一样。
7、Ppk计算,σ≈σ^LT=S
——Ppk计算方式和Cpk计算方式一样,唯一不同是σ计算公式不一样。
8、偏移修正指数(偏移系数)评价表参考
序号
Ca
级别
判定
可采取对策
1
Ca≤0.125
5
过程能力严重不足
必要时,停止生产,直到找出原因或全检
2
0.125 4 过程能力不足 找出原因,采取对策,产品全检 3 0.25 3 过程能力尚可 注意5M1E变化情况,产品要加严检查 4 0.5 2 过程能力充分 理想状态,继续维持现状 5 Ca>1 1 过程能力过高 理想状态,可考虑抽检或免检 9、过程能力评价参考表 序号 Cp(Cpk) 级别 判定 可采取对策 1 Cp<0.67 5 过程能力严重不足 必要时,停止生产,直到找出原因或全检 2 0.67≤Cp<1.0 4 过程能力不足 找出原因,采取对策,产品全检 3 1.0≤Cp<1.33 3 过程能力尚可 注意5M1E变化情况,产品要加严检查 4 1.33≤Cp<1.67 2 过程能力充分 理想状态,继续维持现状 5 1.67≤Cp 1 过程能力过高 理想状态,可考虑抽检或免检 10、Cp结合Cpk对应σ水平 序号 Cp Cpk 对应σ水平 1 Cp<0.67 Cpk<0.17 一西格码水平(无意义) 2 Cp≥0.67 Cpk≥0.17 二西格码水平 3 Cp≥1.0 Cpk≥0.5 三西格码水平 4 Cp≥1.33 Cpk≥0.883 四西格码水平 5 Cp≥1.67 Cpk≥1.17 五西格码水平 6 Cp≥2.0 Cpk≥1.5 六西格码水平 Cp≥2.33 Cpk≥1.83 七西格码水平 11、过程相对稳定系数 ——通常σ^LT>σ^ST,因此过程质量改进就是逐渐减少σ^LT,使其不断向σ^ST靠近。 ——过程稳定系数: dσ=σ^LT-σ^ST ——过程相对稳定系数: drσ=dσ/σ^LT=(σ^LT-σ^ST)/σ^LT ——由于没有公式编辑软件,所以σ和S另外计算公式不在此一一列出 12、过程相对稳定系数drσ范围 序号 drσ 评价 1 drσ<10% 接近稳定 2 10%≤drσ<20% 不太稳定 3 20%≤drσ<50% 不稳定 4 50%≥50% 很不稳定 9 品質管理手法: 6西格碼CA/CP/CPK計算 1.Cpk中文定义为: 制程能力指数,是某个工程或制程水准量化反应,也是工程评估一类指标。 9}$F.\+K;{: U;q2.同Cpk息息相关两个叁数: Ca,Cp. 2}! g"b"o8Q;n"[ H7`2I9CCa: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。 3.Cpk,Ca,Cp三者关系: Cpk=Cp*(1-┃Ca┃),Cpk是Ca与Cp两者中和反应,Ca反应是位置关系(集中趋势),Cp反应是散布关系(离散趋势) 4v'o)B2w%E'B;c$d {#P4.当选择制程站别用Cpk来作管控时,应以成本做考量首要因素,还有是其品质特性对后制程影响度。 D m(_(p9b u5.计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。 ;H%[/L2_1\,l! n6.计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性规格上下限(USL,LSL),才可顺利计算其值。 4? T2o'l-~+T"W7.首先可用Excel“STDEV”函数自动计算所取样数据标准差(σ),再计算出规格公差(T),与规格中心值(u).规格公差=规格上限规格下限;规格中心值=(规格上限+规格下限)/2; 0B-M$t3b! J$E B0m"s8.依据公式: Ca=(X'-U)/(T/2),计算出制程准确度: Ca值 9.依据公式: Cp=T/6Sigma,计算出制程精密度: Cp值 3x S.Q0Z6L M1Q3t*B10.依据公式: Cpk=Cp*(1-绝对值Ca),计算出制程能力指数: Cpk值 11.Cpk评级标准: (可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策) A++级Cpk≥2.0特优可考虑成本降低 %v.H0F%R#A&k8|: OA+级2.0>Cpk≥1.67优应当保持之 *z'P7\4y$|"p: dA级1.67>Cpk≥1.33良能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级 B级1.33>Cpk≥1.0一般状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良 危险,应利用各种资源与方法将其提升为 6e9x(L"O1wA级 C级1.0>Cpk≥0.67差制程不良较多,必须提升其能力 D级0.67>Cpk不可接受其能力太差,应考虑重新整改设计制程。 6R.f9L$u b0E({ ! n3I3H2n1w0I*_.W%@现在很多客户要求了解你生産设备能力,都要求看你Cpk值。 什麽是Cpk值? 我这传载一些介绍给大家,要详细了解,还是要看SPC。 0B'T2P0H'[#@ T r SPC相关术语解释 ---CpkorPpk 0H*I9J)G8y2P%} ([7x%i9s*A客户向你索要你所提供産品或过程能力报告。 您知道要计算Cpk必须要有産品规格、平均值和Sigma,当您收集资讯时,有人可能会问: 他们要哪一个Sigma? 3J @7[8{5V)d3V要使用估计Sigma还是计算Sigma? 哪一个更准确? 很自然,大多数人都想让所使用Sigma使Cpk值看起来更好一点,但是这样Sigma可能并不反映客户所要了解生産过程。 9m0u9e+\5e爲了防止Cpk计算混淆,出现了一个新指数Ppk──工序性能指数。 Ppk使用从单值中计算出来Sigma。 1H1B.h-P4f #a1s(^5e#w8@7F;N应该如何使用它们呢? 利用估计Sigma计算出来能力相关值(Cp、Cpk、Cr)被用於测度一个系统适合客户需要潜在能力。 一般用它分析一个系统自然倾向。 实际或计算出来Sigma以与相关指数(Pp、Ppk、Pr)被用於测度一个系统适合客户需要执行情况或性能。 一般用它分析过程实际性能。 ;e,d)|3|(@8A%c: ~)Y0V 9w4N#q8t)g7J4_---对称度与峰度: )X5n#s({.F*r'L "j;]6{1h5c(\.^9L5b对称度(Skewness,也称爲“歪斜度”): 度量分布离开正态分布程度。 若分布不对称,就称爲歪斜。 如果分布某一边比另一边多(“尾巴”),就都是有“歪斜”。 如果“尾巴”偏向於较大值,就称分布爲正歪斜或向右歪斜;如果“尾巴”偏向於较小值,就称分布爲负歪斜或向左歪斜。 1\ C t.y1N! [ S/g 峰度(Kurtosis)度量分布尖锐程度。 值爲0表示爲正态分布。 若爲正值则说明更多数值集中在均值附近;若爲负值说明曲线有一个比正态分布更尖顶。 +w*S9H;c1l! h2a0X%g&P测量系统分析(MSA)简单介绍 引言: 在工厂日常生産中,我们经常要对各种各样测量资料进行分析,以得到某些结论或采取行动。 爲了保证得到结论或采取行动是正确,除了保证正确分析方法外,必须把注意力集中在测量资料质量上。 %{2t%[! j,N,@+a6g测量资料质量 6V9o&j1C.W;p,},b: T;J 7Q6z5i+C$S*p;C9P.W测量系统指由操作、程式、量具、设备、软体以与操作人员集合来获得测量结果整个过程。 理想测量系统在每次使用时,应只産生“正确”测量结果,然而,几乎不存在具有这样理想统计特性测量系统。 测量资料品质与稳定条件下运行某一测量系统得到多次测量结果统计特性有关,表徵资料品质最通用统计特性是偏倚和方差。 所谓偏倚特性,是指数据相对标准值位置,而所谓方差特性,是指数据分布。 7H8j(T/Y9I7L*q低质量数据最普通原因之一是资料变差太大,一组测量变差大多是由於测量系统和它环境之间交互作用造成。 一个具有大量变差测量系统,用来分析一个制造过程可能是不恰当,因爲测量系统变差可能会掩盖制造过程中变差。 -A5Q: O1p3s)E 我们应该对测量系统变差进行监视和控制,如果测量资料质量是不可接受,则必须改进测量系统。 +B#Q4E;s%d 1]+S.l2E0{(_0Y测量系统统计特性 8i&_)q0o4_ 爲了获得高质量测量资料,测量系统必须具有下述特性: #x7R+i8J%O6~ 1)测量系统必须处於统计控制中,这意味着测量系统中变差只能是由於普通原因而非特殊原因造成,这可称爲统计稳定性; 2)测量系统变异必须比制造过程变异小; 3)测量系统变异应小於公差带; $P-f.U5[8i/u4)测量精度应高於过程变异和公差带两者中精度较高者,一般来说,测量精度是过程变异和公差带两者中精度较高者十分之一; 5)若测量系统统计特性可能随被测专案改变而变化,则测量系统最大变差应小於过程变差和公差带两者中较小者。 $z-`#W(a1F8r8n6b测量系统评价 (['s S3b5K0f.x#c({)X评价一个测量系统时,首先,应看该测量系统是否有足够分辨力,即测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化能力,解析度最多是总过程6Sigma(标准偏差)十分之一。 1[0h-t8Y(i(P7K测量系统误差可以分成五种类型: 偏倚、线性、稳定性、重复性和再线性。 偏倚 'q%Y-b"J: `%l"R)? 2r偏倚指测量结果观测平均值与基准值差值; 9m5R%C$j5t;]: S ! Z+_8j4u6T4R+t+? 4A&|偏倚=观察平均值-基准值 .H5j/q! ~3z-z7U! t线性 5C;j8j/t&n1Y! d+^5y%u4u y,C线性指测量仪器预期工作范围内偏倚值差别;在测量仪器工作范围内选取一些零件可确定线性。 这些被选零件偏倚由基准值与测量观察平均值之间差值确定。 ;Q1L"s p Y2@6j&^: S 5g7\*k&M/F4v%x6p! r稳定性 G,V.T*~.^: k&{-A稳定性指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件单一特性时获得测量值总变差;通过使用控制图来确定统计稳定性,控制图可提供方法来分离影响所有测量结果原因産生变差和特殊条件産生变差 重复性和再现性(R&R) 重复性指测量一个零件某特性时,一位评价人用同一量具多次测量变差;测量过程重复性意味着测量系统自身变异是一致。 由於仪器自身以与零
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