数显高度仪使用规程.docx
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数显高度仪使用规程.docx
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数显高度仪使用规程
广东联塑科技实业有限公司
编号:
LS·QEO·JS·YQ-25-03-2010
数显高度仪使用规程
版本/修改:
A/0
页码:
1/6
生效日期
1、目的
指导使用人员正确使用及维护保养数显高度仪及大理石平台,避免因不按正确操作流程使用,而影响测量数据的准确性及损坏数显高度仪和大理石平台,提高测量精度及使用寿命。
特制定本规程。
2、适用范围
适用于技术部模具品质控制科TESAMICRO—HITE600型数显高度仪和大理石平台的正确使用及维护保养。
3、使用职责
3.1第一次使用人员必须认真阅读完此使用规程方可进行测量操作。
3.2任何使用人员都必须严格按照规程的要求进行使用和保养。
4、测量范围及项目
4.1测量范围
4.1.1TESAMICRO—HITE600型数显高度仪的测量高度或直径范围为≤600mm。
≤500mm零件的直线度、平行度误差及断面跳动量等。
≤600mm的垂直度误差。
4.2测量项目
。
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4.2.7同轴度测量,可测量出同轴度误差值。
4.2.8平面度
5、辅助测量工具及检测测头。
5.1辅助测量工具
可调节支承,找正用的百分表等主要用于测量平面度、直线度等。
5.2检测测头
—13电感测头(暂时未配备)或千分表,IG—13电感测头因价格非常昂贵主要用于垂直度要求非常高的精密零件。
对于要求不是非常高的零件可使用千分表代替垂直度的测量。
、直线度、垂直度等。
6、常用测量
6.1测量前准备
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6.2单向测量流程
6.3测圆流程
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6.4双向测量流程
6.5零件垂直度测量
—0.5mm左右,使千分表指针对准零位。
6.6平行度及断面跳动量的测量
6.6.7显示测量的平行度误差值及断面跳动量值,按F5键退出平行度测量模式。
6.7测量完毕后,请关闭数显高度仪电源,按照下列规程做好维护保养工作。
7、日常维护保养
7.1数显高度仪的维护保养
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灰尘进入高度仪气浮孔,影响测量精度或损坏高度仪。
—40万能防锈润滑剂擦拭保养仪身,不可用其它化学溶剂擦拭。
—12为宜,不能充电时间过长。
7.2大理石平台的维护保养
≥95%)擦拭大理石平台工作表面及各个侧面。
—2分钟酒精挥发干后。
使用保护胶套把大理石平台全部遮盖起来整理平整,防止灰尘落入平台。
8、注意事项
8.1此数显测高仪用于测量精密零件或高要求的样品,常用测量器具就能够满足零件或样品技术要求的,请勿使用此数显高度仪测量。
8.2被测零件或样品的粗糙度值不能过大,粗糙度Ra值应≤3.2,避免零件或样品太粗糙磨损大理石平台及检测测头,降低检测测头的测量精度及检测测头的使用寿命和磨损大理石平台。
8.3测量零件时摇动测头驱动轮的速度不能太快,测头的最快移动速度≤30mm/s,测量垂直度时移动速度≤20mm/s。
测量平行度时零件的移动速度≤20mm/s。
8.4测量零件时,越接近零件或样品测头移动速度越慢,严禁快速移动测头触测零件
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或样品。
以免损坏测头测臂及数显高度仪。
8.5测量前应将零件仔细擦拭干净,被测零件不得有油渍和污垢,测量时注意轻拿轻放,严禁零件或样品碰撞或在大理石平台上快速移动。
以免影响测量数据和弄脏及损坏大理石平台。
8.6测量孔径、轴径、平行度或需使用到驱动轮固定钮时,严禁过度用力向左或向右旋转,以免损坏驱动轮固定钮。
8.7在平移数显高度仪时,应先按住气源开关再推动数显高度仪,严禁不按住气源开关就移动数显高度仪。
8.8数显高度仪的各项系统参数均已设置好,请勿私自随意更改系统设定好的系统参数。
8.9请勿私自调节支撑大理石平台四个支承点的高度调节螺母。
8.10使用过程中发现大理石平台原有损坏或使用人员不小心碰伤、刮花要及时上报。
8.11使用过程中发现数显高度仪原有问题、损坏或因使用人员不按此规程和说明书操作发生问题及损坏要及时上报。
9、其它
9.1本规程只讲解了单向测量、双向测量、垂直度测量、平行度及断面跳动量这几种常用测量项目。
因其它测量项目内容过多并且不常使用,所以本规程将未讲述。
9.2如需要进行其它测量请仔细参阅TESAMICRO—HITE600型数显高度仪操作手册。
9.3使用后需要在《数量高度仪使用记录》进行使用登记。
10、相关报表
《数显高度仪使用记录》
11、相关资料
《TESAMICRO—HITE600型数显高度仪操作手册》
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审核
复审
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- 高度 使用 规程