新旧规程对照表.docx
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新旧规程对照表.docx
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新旧规程对照表
指示表类量具
序号
位置
主要差异
JJG34-1996
JJG34-2008
1
范围
分度值为0.01mm,测量范围为0~3,0~5,0~10mm的百分表及分度值为0.001mm,测量范围为0~1,0~2,0~3,0~5mm的千分表
分度值为0.01mm、0.002mm,量程不大于10mm的指针式指示表;
分度值为0.001mm,量程不大于5mm的指针式指示表;分辨力为0.01mm、0.005mm、0.001mm,量程不大于10mm的数显式指示表
2
引用文献
有
无
3
概述
图示为百分表和千分表
图示为指示表和数显式指示表
4
检定项目
对应检定项目有11个要求,相同要求10个;
有“示值变动性”的检定要求;指示表测杆行
程包含在“指针与表盘的相互位置”检定要求里
对应检定项目有13个要求;删除了“示值变动性”检定要求,
增加了“重复性”、“示值漂移”的检定要求;“指示表的行程”
一项从“指针与表盘的相互位置”拆分出来单独列出
5
通用技术要求和计量性能要求
外观和各部分相互作用
无数显式指示表要求
增加了“数显式指示表各功能键标准清晰、明确”和“显示屏数字
显示清晰、完整,无黑斑和闪跳现象,功能键稳定、可靠”的要求
指针与刻度盘相互位置
测杆处于自由状态时,指针位置根据50分度、100分度和200分度分表作了规定;指针末端上表面与刻度盘刻线面的距离根据百分表和千分表分别作了规定
测杆在自由位置时,统一要求指针处于零刻线逆时针方向的30°~90°范围内;指针末端上表面与刻度盘刻线面的距离统一要求不大于0.7mm
指针末端宽度和刻线宽度
刻线宽度根据百分表和千分表及其它们的不同测量范围分别作了规定
规定指针末端宽度与刻线宽度一致;刻线宽度根据分度值
0.01mm、0.002mm、0.001mm分别作了规定
测头测量面的表面粗糙度
钢不大于Ra0.1μm;硬质合金不大于Ra0.2μm;宝石不大于Ra0.05μm
删除了对宝石的要求
指示表的行程
规定了指示表测杆行程应超过工作行程终点,
超过的行程根据百分表和千分表分别作了规定
超过量根据分度值为0.01mm、0.002mm、0.001mm
分别作了规定;数显式指示表的行程应超过测量
范围上限,超过量不小于0.5mm
测量力
根据百分表和千分表及其测量范围分别作了规定
根据分度值0.01mm、0.002mm、0.001mm和分辨力
0.01mm、0.005mm、0.001mm对测量力分别作了规定
6
检定方法
重复性
无
根据分度值0.01mm、0.002mm、0.001mm和分辨力
0.01mm、0.005mm、0.001mm对重复性分别作了规定
测杆径向受力对示值的影响
根据百分表和千分表及其测量范围分别作了规定
根据分度值0.01mm、0.002mm、0.001mm和分辨力
0.01mm、0.005mm、0.001mm对测量力分别作了规定
示值误差
根据准确度等级0和1级分别作了规定
取消等级,根据分度值0.01mm、0.002mm、
0.001mm对示值误差分别作了规定
回程误差
根据准确度等级0和1级分别作了规定
取消等级,根据指针式指示表分度值0.01mm、0.002mm、
0.001mm和数显式指示表分辨力0.01mm、0.005mm、
0.001mm对回程误差分别作了规定
示值漂移
无
数显式指示表的测杆在任意位置时,
1小时内的示值漂移不大于其分辨力;
指示类量具检定仪
序号
位置
主要差异
JJG271-1996
JJG201-1999
JJG201-2008
1
范围
(0~10)mm范围内的光栅式和
数控式百分表检定仪
(0~5)mm千分表检定仪和
(0~25)mm百分表检定仪
量程≤50mm的数显式和量程≤25mm
的机械式指示类量具检定仪
2
引用文献
无
无
有
3
概述
数显式百分表检定仪分为数控式和光栅式,
图示主要为数控式和光栅式百分表检定仪
分为千分表检定仪和百分表检定仪,图示主要为机械式千分表检定仪和百分表检定仪外形
按结构等多方面进行分类并增加了立式检定仪图示,删除了附件图示,强调了目力瞄准
4
检定项目
对应检定项目有13个要求,相同要求3个,为“测杆测量面的平面度”、“测杆测量面与测杆旋转轴线的垂直度”、“圆柱轴线与测杆轴线的垂直度和位置度”、“微分筒端面与固定套管毫米刻线的相对位置”等3个要求,有“示值变动性”、“显示屏的指示值与记录示值的一致性”以及测力计等附件要求
对应检定项目有12个要求,对应测微鼓轮有“刻线宽度及宽度差”、“微分筒端面与固定套管毫米刻线的相对位置”等3个要求
通用技术要求2个,计量性能要求9个,共计11个,删除了“刻线宽度及宽度差”、“显示屏的指示值与记录示值的一致性”、“表座与测微头座两孔德同轴度”以及“示值变动性”、测力计等附件的检定要求,增加了“重复性”要求
5
通用技术要求和计量性能要求
外观和各部分相互作用
提出了制造、修理许可证法制要求和对数控和键盘操作、显示灯功能的检查要求
提出制造、修理许可证法制要求和
对机械传动系统的功能要求
综合了数显仪表和机械装置的双重外观要求,删除了制造、修理许可证法制要求
测杆测量面的表面粗糙度
数控式不大于Ra0.05μm;
光栅式不大于Ra0.1μm
机械式不大于Ra0.05μm
统一要求不大于Ra0.1μm
固定套筒刻线面与微分筒棱边上边缘的距离
无此项要求
有此项要求,同时包含指标线
至度盘刻线面的距离要求
有此项要求,删除指标线至度盘
刻线面的距离要求
重复性
无此项要求
无此项要求
有此项要求
示值误差
规定了10mm、任意1mm和
任意0.1mm三个范围内的要求
规定了千分表检定仪的5mm、任意2mm和任意1mm范围内的要求和百分表检定仪的25mm、任意10mm和任意1mm范围内的要求
规定了千分表检定仪5mm、任意2mm和任意1mm范围内的要求;百分表检定仪的50mm、25mm、任意30mm、任意10mm、任意1mm范围内的要求;光栅式指示表检定仪的50mm、25mm、任意30mm、任意10mm、任意2mm、任意1mm范围内的要求
回程误差
规定了数控百分表检定仪的回程误差要求
规定了机械式百分表检定仪和
百分表检定仪的回程误差要求
对各种千分表检定仪和
百分表检定仪均作了规定
6
检定方法
测杆测量面的表面粗糙度
用表面粗糙度比较样块检定
用表面粗糙度比较样块检定,
争议时用表面粗糙度测量仪测量
用表面粗糙度比较样块检定
测杆测量面与测杆旋转轴线的垂直度
找出反射影像最小或最大位置,在自准直仪上读出第一个数,然后将测杆转动180°,读出第二个书,两读数之差的一半为检定结果
找出反射影像最小和最大位置,在自准直仪
上读数,两读数之差的一半为检定结果
同JJG201-1999
圆柱轴线与测杆轴线的垂直度和位置度
垂直度测量图示
垂直度与测量图示
垂直度和位置度图示
示值误差
用四等量块、分辨力为0.1μm的数显式或分辨力为1μm的指针式电感比较仪或分度值为1μm、Ⅱ型的扭簧式比较仪。
测量间隔:
10mm段测量间隔为0.1mm和0.2mm。
千分表检定仪用分度值为0.1μm的电感比较仪和三等量块;百分表检定仪用分度值为1μm的扭簧表和四等量块。
千分表检定仪:
5mm段测量间隔为1mm;1mm段测量间隔为0.1mm。
百分表检定仪:
25mm所用量块尺寸为1mm、5.12mm、10.24mm、15.36mm、21.5mm、25mm;2mm段测量间隔为2mm;1mm段测量间隔为0.2mm
千分表检定仪和光栅式指示表检定仪用示值误差的误差限不超过±0.1μm的指示仪和三等量块;百分表检定仪用示值误差的误差限不超过±1μm的指示仪和四等量块。
千分表检定仪和光栅式指示表检定仪:
50mm段测量间隔为10mm;10mm段测量间隔为2mm;1mm和2mm段测量间隔为0.2mm;5mm段测量间隔为10mm;25mm范围内同JJG201-1999
千分尺
序号
位置
主要差异
JJG21-1995
JJG21-2008
1
范围
分度值为0.01mm,测量范围至50mm的外径千分尺,
以及测量范围至25mm的板厚和壁厚千分尺
分度值为0.01mm,测量范围至50mm的外径千分尺,以及测量范围至25mm的板厚和壁厚千分尺;增加了“分辨力为0.001mm,0.0001mm,测量上限至500mm的数显外径千分尺”一项
2
引用文献
无
有
3
概述
图示为测砧为固定式的千分尺、测砧为可换式或
可调式的千分尺、校对用的量杆、Ⅰ型壁厚千分尺
在原有基础上增加了数显外径千分尺的图示
4
检定项目
对应检定项目有14个要求,相同要求13个;
有“工作面的表面粗糙度”的检定要求
对应检定项目有16个要求;删除了“工作面的表面粗糙度”的检定要求、增加了“数显外径千分尺的示值重复性”、“数显外径千分尺任意位置时数值漂移”和“数显外径千分尺细分误差”的检定要求
5
通用技术要求和计量性能要求
外观和各部分相互作用
无数显式指示表要求
增加了“数显外径千分尺各工作按钮应灵活可靠”的要求
测砧与测微螺杆测量面的相对位移
测量范围0~25mm,25~50mm,50~75mm,75~100mm,100~200mm,200~300mm,300~400mm,400~500mm对应的相对偏移量分别为0.1mm,0.15mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.5mm,0.8mm,1.0mm
测量范围上限25mm,50mm,75mm,100mm,125mm,150mm,175mm对应的相对偏移量分别为0.05mm,0.08mm,0.13mm,0.15mm,0.20mm,0.23mm,0.25mm,测量范围上限为200mm和225mm的为0.30mm,250mm、275mm和300mm的为0.40mm,325mm、350mm和375mm的为0.45mm,400mm和450mm的为0.50mm,475mm和500mm的为0.65mm
测力
6~10N
(5~10)N
刻线宽度及宽度差
固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为
0.15~0.20mm,刻线宽度应不大于0.03mm
微分筒刻线宽度为(0.08~0.20)mm,固定套管上的刻线与微分筒上的刻线的宽度差均不大于0.03mm
工作面的表面粗糙度
无
外径千分尺和校对量杆的表面粗糙度Ra应不大于0.05μm
壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于0.10μm
测量(工作)面的平面度
零级外径千分尺工作面的平面度不大于0.6μm,1级外径千分尺工作面的平面度不大于1μm。
壁厚千分尺测微螺杆工作面的平面度应不大于1.2μm,板厚千分尺工作面的平面度应不大于1μm
外径千分尺测量面的平面度不大于0.6μm。
壁厚千
分尺、板厚千分尺测量面的平面度应不大于1.5μm
数显外径千分尺测量面平面度应不大于0.3μm
测量(工作)面的平行度
根据0级、1级以及不同的测量范围来规定平行度
取消分级,只根据测量范围规定平行度,
增加数显外径千分尺量测量面的平行度要求
数显外径千分尺的示值重复性
无
数显外径千分尺的示值重复性不大于1μm
示值误差
根据0级、1级以及不同的测量范围来规定示值误差;
板厚、壁厚千分尺的示值误差不超过±4μm
取消分级,测量范围更加细分
数显千分尺细分误差
无
数显外径千分尺数显装置的细分误差应不超过±2μm
数显外径千分尺的示值重复性
无
数显外径千分尺的示值重复性应不大于1μm
数显外径千分尺任意位置时数值漂移
无
在任意位置时的数值漂移应不大于1μm/h
校对用量杆
根据0级、1级以及不同的标称尺寸来规定尺寸偏差和工作面平面度
取消分级,只根据标称尺寸规定尺寸偏差和变动量
6
检定方法
测砧与测微螺杆测量面的相对位移
在平板上用杠杆百分表检定。
对于测量
范围大于300mm的千分尺用百分表检定
增加要求:
一般情况下目力观察千分尺测砧与测微螺杆测量的相对偏移,(0~25)mm的千分尺可使两测量面直接接触观察其偏移。
测量上限大于25mm的千分尺可借助校对量杆进行检定。
如有异议时,可按下列方法检定:
测量范围为(0~25)mm的用塞尺比;测量上限大于25mm的外径千分尺用专用检具测出偏移量
工作面的表面粗糙度
无
用表面粗糙度比较样块用比较法检定
测量(工作)面的平面度
用二级平晶用技术光波干涉法检定。
对于使用中的可用1级刀口尺用光隙法检定。
工作面直径为6.5mm的,距离边缘0.2mm范围内不计。
对于8mm的,距离边缘0.5mm范围内不计
对于新制的和修理后的千分尺,用二级平晶以技术光波干涉法检定,将平面平晶的测量面与千分尺测量面研合,调整平晶使测量面上的干涉环或干涉带的数目尽可能少。
外径千分尺测量面不应出现2条以上,壁厚千分尺、板厚千分尺不应出现5条以上,数显千分尺不应出现1条以上相同颜色的干涉环或干涉带
数显外径千分尺的示值重复性
无
在相同测量条件下重复测量?
分别读数。
示值重复性以最大与最小读数的差值确定
数显外径千分尺任意位置时数值漂移
无
在测量范围内的任意位置锁紧测微螺杆
观察1h内显示值的变化不超过规定值
示值误差
零级外径千分尺用4等量块或相应等的专用量块检定。
1级外径千分尺、板厚、壁厚千分尺用5等或相应等的专用量块来检定,各种千分尺的受检点应均匀分布于测量范围的5点上。
外径、壁厚、板厚千分尺示值误差用5等专用量块检定,数显千分尺用4等专用量块检定。
测量上限大于100mm的千分尺,将专用量块依次研合在相当于千分尺测量范围下限的5等量块上依次进行检定。
对于测量范围大于25mm的千分尺应以相应的千分尺测量下限的量块对零
校对用量杆
量杆的尺寸及工作面的平行度在光学计或测长机上采用4等量块用比较法进行检定。
对于平工作面的量杆应采用球面测帽再5点上进行检定。
5点中的最大值与最小值之差即为量杆两工作面的平行度
增加“数显千分尺校对用量杆的尺寸及变动量在立式
接触干涉仪或测长机上采用3等量块以比较法进行
检定”“也可用同等准确度的其他仪器检定”
数显千分尺细分误差
无
在测量范围任意位置上,沿测量方向转动微分筒,
每间隔0.04mm检定1次,共检定12点,分别读
出各受检点数显装置的显示值与微分筒读数值之差
塞尺
序号
位置
主要差异
JJG62-1995
JJG62-2007
1
范围
厚度为0.02~1.00mm
厚度为0.02~3.00mm
2
引用文献
无
有
3
概述
图示为A型和B型塞尺
图示增加了塞尺片的长度规格要求
4
检定项目
对应检定项目有5个要求
对应检定项目有6个要求;增加了“相互作用”的检定要求
5
通用技术要求和计量性能要求
外观
新制塞尺片的测量面上不应有目力观察的划痕、毛刺、锈斑及其他缺陷;使用中的允许有不影响使用的外观缺陷;塞尺片与保护板的联结应可靠,塞尺片绕联接件转动应灵活,不得有松动和卡住现象
首次检定的塞尺的工作面应无划痕、毛刺、锈斑;后续
检定的塞尺工作面允许有不影响使用计量特性的外观缺陷
相互作用
无
塞尺与保护板的联接应可靠,塞尺绕联
接件转动应灵活,不得有松动和卡滞现象
表面粗糙度
塞尺片工作面和塞尺片非工作面粗糙度有不同要求
只要求工作面表面粗糙度
塞尺厚度
根据Ⅰ级和Ⅱ级以及新制造的和使用中的来规定塞尺厚度要求
取消分级,根据首次检定和后续检定来规定塞尺厚度要求;
增加了1.00~2.00、2.00~3.00塞尺厚度要求
塞尺弯曲度
根据Ⅰ级和Ⅱ级来规定塞尺弯曲度要求
取消分级;增加了1.00~2.00、2.00~3.00弯曲度要求
6
检定方法
相互作用
无
手感试验
塞尺硬度
在塞尺片非工作面上用维氏硬度计检定
用显微硬度计测量,标称厚度为(0.02~0.15)mm的载荷
为0.10kg;标称厚度为(0.20~3.00)mm的载荷为0.20kg
表面粗糙度
用表面粗糙比较样板进行比较法检定。
用比较
法检定有争议时可用电动轮廓仪进行直接检定
用表面粗糙度比较样块比较测量或用表面粗糙度测
量仪测量,有争议时以表面粗糙度测量仪方法为准
针规、三针
序号
位置
主要差异
JJG41-1990
JJF1207-2008
1
范围
厚度为0.02~1.00mm
厚度为0.02~3.00mm
2
引用文献
无
有
3
概述
图示为A型和B型塞尺
图示增加了塞尺片的长度规格要求
4
检定项目
对应检定项目有5个要求
对应检定项目有6个要求;增加了“相互作用”的检定要求
5
通用技术要求和计量性能要求
外观
新制塞尺片的测量面上不应有目力观察的划痕、毛刺、锈斑及其他缺陷;使用中的允许有不影响使用的外观缺陷;塞尺片与保护板的联结应可靠,塞尺片绕联接件转动应灵活,不得有松动和卡住现象
首次检定的塞尺的工作面应无划痕、毛刺、锈斑;后续
检定的塞尺工作面允许有不影响使用计量特性的外观缺陷
相互作用
无
塞尺与保护板的联接应可靠,塞尺绕联
接件转动应灵活,不得有松动和卡滞现象
表面粗糙度
塞尺片工作面和塞尺片非工作面粗糙度有不同要求
只要求工作面表面粗糙度
塞尺厚度
根据Ⅰ级和Ⅱ级以及新制造的和使用中的来规定塞尺厚度要求
取消分级,根据首次检定和后续检定来规定塞尺厚度要求;
增加了1.00~2.00、2.00~3.00塞尺厚度要求
塞尺弯曲度
根据Ⅰ级和Ⅱ级来规定塞尺弯曲度要求
取消分级;增加了1.00~2.00、2.00~3.00弯曲度要求
6
检定方法
相互作用
无
手感试验
塞尺硬度
在塞尺片非工作面上用维氏硬度计检定
用显微硬度计测量,标称厚度为(0.02~0.15)mm的载荷
为0.10kg;标称厚度为(0.20~3.00)mm的载荷为0.20kg
表面粗糙度
用表面粗糙比较样板进行比较法检定。
用比较
法检定有争议时可用电动轮廓仪进行直接检定
用表面粗糙度比较样块比较测量或用表面粗糙度测
量仪测量,有争议时以表面粗糙度测量仪方法为准
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