第4章超声检测技术分类与特点.docx
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第4章超声检测技术分类与特点
第4章超声检测技术的分类与特点
超声检测技术分类的方式有多种,较常用的有以下几种:
1.按原理分类:
脉冲反射法、穿透法、共振法、衍射时差法等;
2.按显示方式分类:
A型显示、B型显示、C型显示;
3.按声束入射方向分类:
直射声束法、斜射声束法(横波法、斜射纵波法、瑞利波法、兰姆波法);
4.按探头数目分类:
单探头法、双探头法、多探头法;
5.按耦合方式分类:
接触法、液浸法;
6.按人工干预的程度分类:
手工检测、自动检测。
每一个具体的超声检测技术都是上述不同分类方式的一种组合,如最常用的单探头纵波垂直入射脉冲反射接触法(A型显示)。
在日常工作中,人们常说的纵波探伤往往就是指这种技术。
每一种检测技术都有其特点与局限性,针对每一检测对象所采用的不同的检测技术,是根据检测的目的及被检件的形状、尺寸、材质等特征来进行选择的。
4.1按检测原理分类
按检测原理分类,超声检测可分为脉冲反射法、穿透法和衍射时差法(TOFD)、共振法等。
4.1.1脉冲反射法
脉冲反射法是由超声波探头发射脉冲波到工件内部,通过观察来自工件的缺陷或工件底面反射波的情况来对工件进行检测的方法。
脉冲反射法又分为缺陷回波法、底波高度法、多次底波法等。
一.缺陷回波法
缺陷回波法就是根据缺陷的反射回波情况来判断缺陷的检测方法。
该方法以回波的传播时间来确定缺陷的位置,以回波的幅度来确定缺陷的大小,是脉冲反射法的基本方法。
1.方法简介:
如图4-1所示,当工件中不存在缺陷时,A型显示的波形中仅有始脉冲(T)和底面回波(B)两个信号。
而当工件中存在缺陷时,在始脉冲与底面回波之间将出现来自缺陷的回波(F)。
缺陷回波的高度与缺陷的反射面大小、取向、形状、缺陷性质及其距探头的距离有关,通过观察缺陷回波(F)的高度可对缺陷的大小进行评估,通过观察缺陷回波(F)在时基线上的位置,可得到缺陷的埋藏深度。
图4-1缺陷回波法
2.缺陷回波法的优缺点:
(1)缺陷回波法的主要优点:
①当材质条件较好且选用探头适当时,脉冲回波法可观察到非常小的缺陷回波,达到很高的检测灵敏度。
②缺陷定位精度高,缺陷判断也较容易
脉冲反射法可以充分地利用缺陷反射波的传播时间,通过调节扫描速度,对缺陷进行精确定位,对缺陷判断也较容易。
③适用性广泛
脉冲反射法可以使用不同的探头,采取不同的耦合方式进行检测,既可进行纵波检测,也可以进行横波、表面波和板波检测,并且能对各类工件从多方面进行检测。
④现场操作方便
脉冲反射法使用单探头检测时,不需要专用的扫查装置,现场操作方便。
由于脉冲反射法具有上述优点,是一种广泛应用的方法。
(2)脉冲反射法的缺点,
①存在一定的盲区,对位于表面和近表面的缺陷检出能力低。
②声波由发射到接收要通过双倍的声程,因而声能衰减大,不利于高衰减材料的检测。
③对取向不良(如倾斜)的缺陷,可能接收不到回波而漏检,如图4-2(a)所示。
(a)脉冲反射法(b)穿透法
图4-2探测取向不良的缺陷
二.底波高度法
底波高度法就是根据工件底面回波的高度变化情况来判断缺陷的检测方法,底波高度法也称为底波衰减法。
1.方法简介
图4-3是底波高度法判断缺陷的原理,当工件的材质和厚度、表面状态不变时,底面回波B的高度基本是不变的。
当工件中存在一定尺寸的缺陷或材质存在较大的变化时,底面回波的高度会下降甚至消失。
因此,对检测面与底面平行的工件进行脉冲回波直射声束法超声检测时,底面回波高度的监测也可作为一种判断缺陷的检测手段。
2.方法特点:
(1)底波高度法对缺陷检测的灵敏度较低,且无法对缺陷定位,定量也较难,因此,常作为辅助手段以发现一些与入射面成一定角度的缺陷或小而密集的缺陷。
这类缺陷往往反射幅度很低,或观察不到反射信号。
(2)仅适应于上下底面平行、形状简单的工件检测,如铸、锻件的检测。
(3)同样投影面积的缺陷可得到大致相同的显示,不存在盲区。
a为完好状态b存在吸收性缺陷c存在倾斜缺陷
图4-3根据底面回波判断缺陷的示意图
三.多次底波法
多次底波法就是根据工件底面多次反射波的情况来判断缺陷的检测方法,多次底波法也称为多次反射法。
图4-4是多次底波法判断缺陷的原理,超声波在互相平行的探测面和底面之间往复多次反射,使示波屏上出现多次底波。
如果工件中无缺陷,超声波从工件底面的反射波,一部分能量被探头接收使示波屏上产生一次回波(B1),另一部分能量又从探测面折回底面再被探头接收,得到二次回波B2,如此往复多次,直至声能损耗完为止,使示波屏上出现的多次底波高度依次递减(如图4-4a);如果工件中存在吸收性的缺陷,由于缺陷的反射和散射增加了声能的损耗,从而使底波次数减少(如图4-4b);另一方面,缺陷的存在打乱了底波高度依次递减的规则,在较高的底波之间出现了较低的缺陷回波(如图4-4c);如工件中存在大的缺陷,则没有底波,只有缺陷波的多次反射(如图4-4d)。
a完好状态b存在吸收性缺陷C存在小缺陷d存在大缺陷
图4-4多次反射法
除了接触法单探头直射声束法以外,脉冲反射法还可与斜射声束法、双探头法、液浸法等相结合,是最常用、最基本的超声检测方法。
4.1.2穿透法
一.穿透法及原理
穿透法通常采用两个探头,分别放置在工件两侧,一个探头发射超声波,而在相对的一面由另一个探头接收穿过工件的超声波,根据超声波穿透工件后的能量变化情况来进行检测的方法。
穿透法的检测原理如图4-5所示。
图4-5穿透法
二.方法特点:
1.穿透法无法得知缺陷深度的信息,即无法对缺陷定位;对于缺陷尺寸的判断也是
十分粗略的。
2.不存在盲区。
对取向不良的缺陷,也能得到较好的探测效果,如图4-2(b)。
3.穿透法没有反射的声程,因此声程短,适宜于探测衰减系数较大的材料。
4.对于形状简单的批量工件,穿透法操作方便,判定缺陷较简单,检测速度较快,容易实现连续地自动化检测。
5.仅适应于上下底面平行、形状简单的工件检测,如铸、锻件的检测。
6.穿透法检测时要保持两个探头的位置相对应,往往需要有专用的扫查装置。
7.灵敏度低,由于绕射,小缺陷容易漏检。
4.1.3衍射时差法(TOFD)
有关衍射时差法(TOFD)的介绍可参见附录Ⅴ。
4.1.4共振法
1.方法简介:
当工件厚度(δ)为超声波波长的整数倍时,入射波与反射波的相位相反,在工件内产生驻波,引起共振。
即:
(4—1)
式中:
C—声速
—共振频率
2.方法应用
(1)可用于判断工件是否存在缺陷,若工件中存在缺陷,引起厚度的变化,从而使共振频率发生变化,因而可根据共振频率的变化判断工件中是否存在缺陷。
(2)用于工件的厚度测量。
4.2按声束入射方向分类
第一章中已经讲到,可用来进行超声检验的波型主要有纵波、横波、瑞利波与兰姆波,每种波型的质点振动方式与波的传播方式均不相同。
除兰姆波法仅在薄板中可以产生以外,其它各波型适用对象较为广泛。
在决定对某一工件选用哪种波型或检测技术进行检验时,所考虑的主要因素并不是振动方式对缺陷检测的影响,而是工件中需要检测的缺陷的位置及取向,选取的原则是要得到缺陷的最大可能显示。
对于脉冲反射法来说,当缺陷的主反射面与声束轴线垂直时,探头得到的回波幅度最大。
以这一原理为依据,选用的技术应根据缺陷的最大可能取向,使声束轴线与缺陷主反射面相垂直。
为此,需使超声波束以不同的倾斜角射入工件,因而又将超声检测技术分为直射声束法和斜射声束法。
作为斜射声束法的一种特殊形式,又产生了表面波法。
对于穿透法来说,主要采用的是直射声束法。
4.2.1直射声束法
一.方法简介:
使声束轴线垂直于检测面进入工件进行检测的技术,称为直射声束法。
直射声束法通常采用的波型是纵波,当采用纵波检测时,也称纵波法。
图4-1和图4-5是直射声束法中脉冲反射法和穿透法的示意图。
纵波法有单晶探头反射法、双晶探头反射法和穿透法等。
经常使用的是单晶探头反射法。
二.直射声束脉冲反射法的特点
1.纵波法可以用于探测铸件、锻件及其制品。
由于纵波对晶界反射和散射的敏感性较差,所以,纵波法还可用于粗晶材料的检测,能有效地检出平行于检测面的缺陷。
2.在同一种介质中,纵波的波长大于其它波型的波长,纵波的穿透能力强,可探测的工件厚度是所有波型中最大的。
3.在检测中,纵波法的入射波方向和波型不发生变化,缺陷定位比较方便、准确。
由于声场接近于按简化模型进行理论推导的结果,可对缺陷尺寸进行当量评定。
4.纵波法的缺点是存在盲区,只能探测盲区以外的缺陷。
三.双晶探头脉冲反射法:
1.方法简介:
双晶探头脉冲反射法利用两个晶片一发一收,可以在很大程度上克服直探头反射法盲区的影响。
其检测原理见图4-6。
2.波形显示情况:
采用双探头检测时,虽然探头中的两个晶片用隔声层隔开,仍能接收到少量界面处直接反射的声波(S),但其幅度通常较低。
无缺陷时接收的第一个较高幅度的回波应为底面回波(B),如图4-6(a)。
如存在缺陷,缺陷回波位于界面回波(S)和底面回波(B)之间,如图4-6(b)。
3.用途:
双晶探头适用于检测近表面缺陷,也可用于薄工件、小直径棒材等的检测。
4.使用注意事项:
(1)应根据工件厚度选择合适的交汇区的深度;
(2)测定缺陷范围(或指示长度)时,探头移动方向应垂直于隔声层方向。
(a)无缺陷(b)有缺陷
图4-6双晶探头脉冲反射法
4.2.2斜射声束法
一.方法概述
使声束以一定入射角(大于0)进入检测面,利用声束在工件中产生的传播方向与检测面成一定角度的波进行检测的技术称为斜射声束法。
根据所选择入射角度的不同,工件中产生的波型可同时有纵波与横波,也可为纯横波、表面波或板波。
当工件中同时存在纵波与横波时,因检测所用的波型主要是纵波,故称为纵波斜射法;当工件中仅存在纯横波,采用纯横波进行检测的方法称为横波法;当工件中仅存在表面波,采用表面波进行检测的方法称为表面波法;同理,采用板波进行检测的方法称为板波法。
二.斜射声束的产生方式:
产生斜射声束的方法通常有下列两种方式:
1.一种是采用接触法斜角探头,由晶片发出的纵波通过一定倾角的斜楔到达接触面,在界面处发生波型转换,产生所需波型和角度的斜射声束;
2.另一种是利用水浸直探头,在水中改变声束入射到检测面时的入射角,从而在工件中产生所需波型和角度的折射波。
三.方法简介
1.横波法:
利用纯横波进行检测的方法称为横波法。
如前所述,产生纯横波的条件是:
纵波入射,在工件中只产生单一的横波,纵波入射角
应大于第一临界角而小于第二临界角,即:
。
(1)方法简介:
图4-7和图4-8是斜射声束横波检验的两种典型情况。
对于接触法斜角探头,斜楔常用材料为有机玻璃(其纵波速度CL=2.73103m/s),根据折射定律,当工件材料为钢时(纵波速度CL=5.9103m/s,横波速度CS=3.23103m/s),可得第一临界角Ⅰ为27.6,第二临界角Ⅱ为57.8,当入射角在这两个角度之间时,可在工件中呈现单一横波。
通常检测所用横波折射角为3880之间。
如图4-7所示,横波斜射声束检测时,声束在上下表面间反射形成W形路径。
如果声波在前进中没有遇到障碍,声波不会返回,A扫描显示除发射脉冲T外无其它回波。
当声束路径中遇到缺陷时,反射回波将出现在相应的声程位置处。
图4-7斜射声束横波接触法平板检测图4-8横波水浸法管材检测
(2)方法应用:
横波法主要用于管材、焊缝的检测,检测其它工件时,常作为一种辅助检测手段,以发现与检测面成较大倾角的缺陷。
其中一种常见的应用是检测与表面垂直或接近垂直的表面开口的平面型缺陷(见图4-9)。
此时利用的是横波入射至缺陷与表面形成的端角处产生的端角反射,缺陷在时基线上出现的位置与一次波入射至底面的位置重合。
图4-9利用斜射横波端角反射检测表面开口缺陷
2.纵波斜射法:
在工件中同时产生纵波和横波,利用纵波进行检测的方法,称为纵波斜射法。
此时纵波入射角
应小于第一临界角,即
,这时工件中同时存在纵波和横波。
这种方法主要是利用纵波在工件中比横波的声速大、材衰小、穿透能力强、信噪比高的特点,常用于晶粒较为粗大的工件(如奥氏体钢焊缝)的检测,也用于厚壁管的检测。
由于纵波在工件中的传播速度比横波大,对厚度大的工件,横波一般不会对检测产生干扰;但对于薄工件,横波会对检测产生干扰,检测时应予以注意。
3.表面波法
利用表面波进行检测的技术称为表面波法。
表面波法通常利用的是瑞利波,因此,又称为瑞利波法。
第一章中已对瑞利波有所介绍,它是一种在厚度远大于波长的固体表面层上传播的一种波型。
(1)瑞利波的产生方式:
瑞利波的产生方式较多,超声检测中最常用的方式与横波斜射声束接触法的产生方式相似,采用斜角探头,在入射角(α)满足下式的条件下,在界面上可产生较强的瑞利波。
(4—2)
式中CL——斜楔中的纵波速度;
CR——工件材料中瑞利波速度。
(2)瑞利波检测原理
瑞利波在传播过程中遇到表面或近表面缺陷时,部分声波在缺陷处被反射,并沿工件表面返回,A显示波形上回波的水平位置与缺陷在工件表面距探头入射点的距离相关(见图4-10)。
图4-10表面波法
(3)瑞利波检测特点:
①瑞利波幅度沿深度方向衰减很快,距表面一个波长以上幅度已很微弱。
另一方面,瑞利波在沿表面传播的过程中,工件表面的油污、不光洁等因素也会引起能量的衰减。
②瑞利波在曲面上传播时,其速度随曲面形状和曲率大小而有所不同,凸面上速度较大,凹面上速度较小,曲率半径与波长之比足够大(约50倍以上)时,基本与平面相同。
在缺陷定位时应注意这一现象。
③不能根据缺陷的反射回波幅高度确定缺陷当量。
各种形状的人工反射体对表面波的反射能力有明显的不同,对于暴露在表面上有棱角的缺陷有较大的反射能力,相反,对圆滑过渡的人工缺陷,则反射能力较小,此外,随缺陷距表面下埋藏深度的增加,反射能力迅速下降。
④可用拈油的手在声的传播方向上触摸并观察缺陷的反射回波幅高度的变化,从而确定缺陷的位置。
(4)瑞利波检测法的主要应用:
①工件表面缺陷(如裂纹)一般都有曲率很大的棱角,故对缺陷有很高的灵敏度,可用于检测工件表面及近表面的缺陷。
②瑞利波在传播过程中遇到工件表面存在裂纹时,除部分声波在缺陷处仍以瑞利波被反射形成缺陷回波外,另一部分声波仍沿裂纹表面传播,使声程发生变化,根据瑞利波传播的声程变化来确定裂纹的深度。
4.板波法
板波法就是使用板波进行检测的方法。
这种方法主要用于探测薄板和薄壁管,其厚度一般小于6mm。
检测时,板波充满整个薄板或薄壁管,既可发现表面缺陷,也可以发现内部缺陷。
对缺陷判定也不复杂,若工件中不存在缺陷时,示波屏上只出现工件端面反射波;若存在缺陷时,会出现缺陷波,且端面反射波波幅度降低,缺陷回波波幅高度取决于迎波面的形状和尺寸。
板波法不能确定缺陷的深度位置。
对于不同的板厚,入射角应不同,因此,采用板波法检测时,由于可变角探头能较方便地调节入射角,从而可确定最佳的入射条件,故在实际检测时,常使用可变角探头。
4.3按探头数目分类
按探头数目分类,可分为单探头法、双探头法、多探头法;
4.3.1单探头法
使用一个探头兼作发射和接收超声波的检测技术称为单探头法。
单探头法操作方便,是目前最常用的一种检测技术。
如前所述,单探头脉冲反射法可分为直射法或斜射法,均要求缺陷主反射面与声束轴线垂直。
当缺陷主反射面与入射面的倾角较大或由于结构和表面状态的原因不能使声束达到所需要的角度时,单探头就可能难以有效地检测出所要求的缺陷。
4.3.2双探头法
使用两个探头,一个发射,一个接收进行检测的方法称为双探头法,主要用于发现单探头法难以检出的缺陷。
根据两个探头的排列方式和工作方式,可分为并列式、交叉式、K形串列式、V形串列式、前后同向串列式。
一.并列式:
两个探头并列放置,检测时,两个探头同步同向移动(类似双晶探头),如图4-11(a),另一种方法是一个探头固定,另一个探头移动,如图4-11(b)。
前者主要用于提高信噪比、减少盲区,适应于较薄工件的检测,后者主要用于检测倾斜的缺陷。
(a)(b)
图4-11并列式图4-12交叉式
二.交叉式:
两个探头轴线交叉,两线相交之点为要检测的部位,如图4-12所示,这种检测方法可发现与检测面垂直的片状缺陷,在焊缝检测中,常用于检测横向缺陷。
三.K形串列式:
两个探头以相同的方向分别放置于工件的上下表面上,一个探头发射的声波被缺陷反射,被缺陷反射的声波正好落在另一个探头的入射点上,如图4-13所示,此种检测方法主要用于检测与检测面垂直的片状缺陷。
图4-13K形串列式图4-14V形串列式
四.V形串列式:
两个探头相对方向放置在工件的检测表面上,一个探头发射的声波被缺陷反射,被缺陷反射的声波正好落在另一个探头的入射点上,如图4-14所示,此种检测方法主要用于检测与检测面平行的片状缺陷。
五.前后同向串列式:
1.方法简介
前后同向串列式的检测方法如图4-15所示,将两个入射角相同的斜探头一前一后、以相同的方向放置在工件的同一检测表面上,当试件中无缺陷时,接收探头接收不到回波;当工件中存在缺陷(F)时,发射探头发射的声波经缺陷反射到达底面,再从底面反射至接收探头。
此种检测方法主要用于检测与检测面垂直的片状缺陷,如U形坡口焊缝或窄坡口焊缝中的未熔合。
由于两个探头在同一检测面上,操作比较方便,是常用的一种方法。
图4-15串列式
2.串列式的检测特点:
(1)采用前后同向串列式时,只能检出检测截面上的缺陷,所谓检测截面,是指串列式检测时,作为检测对象的截面,焊缝检测时,一般以焊缝坡口面作为检测截面。
(2)前后同向串列式检测时,应确定串列基准线。
所谓串列基准线,是指串列式扫查时作为一收一发两探头等间距移动的基准线,如图4-15所示,串列基准线与检测截面的水平距离(y)为Kδ(即y=Kδ)。
检测时,只有当探头相对于串列基准线等距离移动(即a前=a后)时,接收探头才能接收到经底面反射的缺陷回波,在这种情况下,其声程恒定为0.5跨距。
而且,对于一定厚度的工件和一定角度的探头,缺陷在时基线上的位置是恒定的,它不随缺陷深度的改变而改变。
缺陷的深度位置可根据探头的K值和后一探头距串列基准线的距离(a)求出。
从图4-15中可看到:
若测得后一探头距串列基准线的距离为a,因y=Kδ,可求得前探头距检测截面的距离(L)为:
L=y-a,由此可求得缺陷的深度(H)为:
H=L/K。
(3)由于探头存在前沿和后沿,故存在检测的盲区。
若设斜探头的折射角为β,前沿距离为l0,后沿距离为l1,则下底面的盲区高度(H下盲)可由下式求得:
在实际检测中,经常选用折射角β为450的斜探头(即K=1),根据上式,可知下底面的
盲区高度为前、后沿距离之和的二分之一。
若焊缝的余高未磨平,上表面也存在盲区,其高度(H上盲)可由下式求得:
式中L—探头入射点至检测截面的水平距离
例.检测板厚δ=100mm钢焊缝,采用前沿距离均为15mm的两个2.5P13X13K1探头作前后同向串列式扫查。
扫查中发现一缺陷,测得后一个探头的前沿距串列基准线的距离为45mm。
试计算缺陷的深度和简化水平距离?
解:
已知δ=100mml0=15mmK=1l后=45mm
求Lf=?
Hf=?
后探头的入射点至基准线的水平距离:
a后=l后+l0=45+15=60mm
前探头的入射点至基准线的水平距离:
a前=a后=60mm
缺陷距前探头入射点的水平距离:
Lf=Y-a=Kδ-a前=100-60=40mm
简化水平距离:
L’f=Lf-l0=40-15=25mm
缺陷的深度:
Hf=Lf/K=40/1=40mm
答:
缺陷的深度和简化水平距离分别为40mm和25mm。
4.3.3多探头法
除了单探头法与双探头法以外,有时,还使用两个以上的探头组合起来进行检测,称为
多探头法。
采用这类技术的目的是为了提高检测效率,通常采用多通道仪器和自动扫查装置。
4.4按耦合方式分类
从探头与工件间声耦合的方式来看,还可将超声检测技术分为接触法与液浸法两大类。
4.4.1接触法
接触法检测是将探头与工件表面直接接触进行检测的技术(见图4-1),通常在探头与检测面之间涂有一层很薄的耦合剂,以改善探头与检测面之间声波的传导。
前面4.1节至4.3节所述的各种检测技术,均可采用接触法实现。
4.4.2液浸法
一.液浸法及其特点
液浸法是将探头和工件全部或部分浸于液体中,以液体作为耦合剂,声波通过液体进入工件进行检测的技术。
液浸法最常用的耦合剂为水,此时,又称为水浸法。
由于液体中不存在剪切力,只有纵波能够在液体中传播,但随着声束在工件表面入射角的不同,工件中同样可以产生纵波、横波、表面波、兰姆波等波型,从而实现不同波型的检测。
图4-16为液浸法直射声束纵波检测的示意图。
从图中可以看出,液浸法A扫描显示与接触法有不同特征。
在发射脉冲之后,首先出现的是声波经过液层以后在液体与工件的界面反射回来的波,称为界面回波(S)。
之后,出现与接触法时相似的缺陷回波和底面回波。
观察A扫描显示时,常用延迟功能将始波调到显示屏之外,仅观察界面回波以后的部分。
图4-16液浸法直射声束纵波检测
二.液浸法的分类
在超声检测中,常按检测方式、液层厚度和所使用的探头种类进行分类
1.按检测方式分类
按不同的检测方式,液浸法可分为全浸没式和局部浸没式。
(1)全浸没式:
全浸没式是把被检工件全部浸没于液体中,全浸没式适于体积不大,形状简单的工件检测,如图4-16所示。
(2)局部浸没式:
把被检工件的一部分浸没在液体中或被检工件与探头之间保持一定的水层距离进行检测的方法,它适于大体积工件的检测。
局部浸没式又可分为喷液式、通水式和满溢式。
①喷液式:
超声波通过一定压力喷射至工件检测表面的水柱耦合方式,如图4-17(a)所示。
②通水式:
借助于一个专用的液罩,液罩有进、出水口,以保持液罩内有一定容量的液体,超声波通过液罩内的液体进入工件的检测方式,如图4-17(b)所示。
③满溢式:
满溢式的液罩结构与通水式相似,但只有进水口,多余液体从罩上溢出,这种方式称为满溢式,如图4-17(c)所示。
(a)(b)(c)
图4-17局部浸没式
2.按液层厚度分类
根据探头现工件检测面之间液层的厚度,液浸法可分为高液层和低液层。
3.按探头种类分类
根据所使用探头的类型,液浸法可分为水浸直探头法和水浸聚焦探头。
三水浸聚焦探头的特点
1.使用聚焦探头的优点
液浸法便于采用聚焦探头进行检测,由于聚焦探头具有聚焦区域内声能集中、焦点附近声束直径小的特点,使聚焦探头在使用时具有以下优越性:
(1)可提高聚焦区内小缺陷检测的信噪比,这对于需要检测尺寸特别小的缺陷以及衰减和噪声大的材料时非常有利。
(2)由于焦区声束直径小,故横向分辨力较好,对于面积大于声束直径的缺陷,有利于确定缺陷的面积和形状。
(3)缺陷反射面相对于探头轴线的倾角对回波幅度的影响远小于使用平探头时的情况,有利于减少缺陷取向对缺陷检出的影响。
2.使用聚焦探头必须注意的问题
(1)焦点处声束直径比要求检测的平底孔当量小时,需采用特殊的方法调整仪器灵敏度和进行缺陷评定。
(2)由于焦点直径小,必须减小扫查间距,因而使检测效率降低,因此,需要综合考虑检测时间与分辨力、信噪比的要求,选择合适的探头参数。
4.4.3接触法与液浸法的特点比较
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