线束测试仪硬件电路设计参考文档格式.docx
- 文档编号:20473466
- 上传时间:2023-01-23
- 格式:DOCX
- 页数:17
- 大小:613.45KB
线束测试仪硬件电路设计参考文档格式.docx
《线束测试仪硬件电路设计参考文档格式.docx》由会员分享,可在线阅读,更多相关《线束测试仪硬件电路设计参考文档格式.docx(17页珍藏版)》请在冰豆网上搜索。
本方案采用的扩展控制芯片主要为EP2C5T144C8,用于对负责通道切换的继电器进行逻辑控制。
它是Altera公司推出的CycloneⅡFPGA。
CycloneⅡ芯片制造使用90nm工艺,1.2v内核供电,属于低成本FPGA,CycloneIIFPGA的成本比第一代Cyclone器件低30%,逻辑容量大了三倍多,可满足应用需求。
图3扩展控制原理图
1.1.1.2CAN通讯接口单元
本系统采用的主控芯片支持增强型CAN(eCAN)通信,其接口与CAN2.0B标准接口完全兼容。
图4eCAN总线模块功能框图
eCAN通信缩短了通信时间,减少了通信时DSP资源开销,误码率低,能很好的解决与上位机的通信问题。
另外DSP的CAN总线模块作为总线结点,还需要在模块处理器和和总线间增加电平转换和隔离电路,以确保正确的CAN通信数据收发。
CAN接口电路原理图如下:
图5CAN通讯接口图
1.1.1.3测试激励单元
激励源设计主要包括导通测试激励源、低压绝缘测试激励源、电容测试激励源、20VDC-2000VDC绝缘测试激励源以及100~800VAC交流耐压测试激励源。
其中,导通测试激励源和低压绝缘测试激励源使用<9V的低压三端线性稳压器完成;
电容测试激励源由FPGA模块产生一定频率的正弦波(如400HZ)再经过电压跟随器提高驱动能力后提供。
20VDC-2000VDC、100~800VAC50~60HZ,采用程控电源设计。
1)20VDC-2000VDC程控电源
电源模块通过采购市面成熟的工业级引线式高压电源模块,其主要的性能指标如下:
a)输入电压12VDC/24VDC
b)输出高达2000VDC
c)电压稳定度≤0.1%
d)负载稳定度≤0.5%
e)时漂/小时≤0.05%
f)温漂/℃≤0.05%
其对输出电压的控制有一个控制端,如控制端输入0-5V对应输出20VDC-2000VDC电压。
为避免电压突变带来的电磁干扰和对电子元器件可靠性的破坏,增加防浪涌的RC吸收电路并对电压的上升过程采取适当的步进控制。
为进一步提高电源模块的输出精确度,系统对模块进行二次开发,对系统输出电压做监控并实时调整。
模块自身带有限流式保护设计,确保使用过程中的安全。
可以满足系统需求。
2)100~800VAC50~60HZ程控电源
高压交流电源模块是基于STM32芯片DAC模块输出的设计,输出一个50~60HZ的低压正弦信号,通过功率放大电路进行功率放大,并经工频变压器升压,对应最大输出电压可达700VAC,并已在其他项目中取得验证,通过电路中的低压正弦信号的控制,可以对应输出100~800VAC。
为避免电压突变带来的电磁干扰和对电子元器件可靠性的破坏,增加防浪涌的RC吸收电路并对电压的上升过程采取适当的步进控制,电压稳定后关闭RC吸收电路以避免测量误差。
另采用限流式保护设计,确保使用过程中的安全。
可以满足客户的需求。
针对高压激励源的输出,为了提高输出精度特别制作了高压电源板。
高压电源板整合了交直流高压,针对输出做一路回馈采集,通过信号采集调理可以计算出实际输出的电压值。
根据计算出实际输出电压值和设定值比较,自适应地去调整电源输出,使其无线逼近于设定值,并与主控板通信。
如此以来可以大幅提高绝缘耐压测试结果的精度。
电源板直流输出采样图
1.1.1.4测试通道切换单元
系统测试需求的测试总点数为1024点,单台测试仪总点数为512点,使用两台测试仪联机组成1024点的测试。
由于测试中使用到20VDC-2000VDC以及100~800VAC,所以选用的开关器件工作电压需要大于等于2000VDC和800VAC。
通常的模拟开关和普通继电器都无法满足该测试条件,需要选用2000V以上的高压继电器。
单台测试仪通道切换原理如下图:
图6通道切换电路示意图
如图所示,Ai和Bi分别为A组和B组继电器阵列与测试回路的公共端。
当线缆测试时,线缆两端需要一端接入公共端Ai,另一端接入公共端Bi。
为实现1024点的联机测试,需将两台的公共端进行连接,采用主从机模式,从机只做开关切换,同时主从机可进行互换。
双机联机时的通道切换原理如下:
图7联机通道切换原理图
测试时将待测线缆两端接入任意两个测试针点形成测试回路,如下选取PIN1点和PIN3点示意:
图8通道切换电路原理图
如图,PIN1和PIN3每个点对应2个继电器,可以称其主继电器和从继电器,分别与Vstim和VTest相连。
当上位机下发测试数据测试1和3时,PIN1的主继电器闭合,PIN3的从继电器闭合,信号回路建立为VStim-PIN_1–外部Rx–PIN_3–VTest;
当上位机下发测数据测试3和1时,PIN1的从继电器闭合,PIN3的主继电器闭合,信号回路建立VStim-PIN_3–外部Rx–PIN_1–VTest。
VStim对应激励源,VTest对应参考电阻档位测试端。
继电器作为整个通道单元切换电路的核心,其选型至关重要。
根据市场调研,由于固态继电器耐压只能达到1500V,而本系统输出电压最高为2000V,故本系统不选择固态继电器而选择耐压性能更高的干簧继电器。
本方案继电器选择上海斯丹麦德电子有限公司负责销售提供的mederelectronicLI05-1A85和HE05-1A83两款继电器。
其中,HE05-1A83切换电压达到DCorPeakAC7500V,耐压达到10000V,主要用于直流高压源的控制开关,支持带电切换2000V;
LI05-1A85切换电压支持DCorPeakAC1000V,耐压达到2500V,可用作建立测试通道,不支持带电切换2000V。
由于HE05-1A83的体积约超LI05-1A85两倍,继电器体积过大将会导致测试仪整体体积过大,因此本方案选择以HE05-1A83控制激励源通断电,以LI05-1A85选择通道的方式进行控制。
两款继电器工作示意如下图所示:
图9继电器工作示意图
工作流程如下:
1)打开HE05-1A83继电器,使通道断电;
2)操作LI05-1A85继电器阵列选择通道;
3)闭合HE05-1A83继电器,通电测量。
二款继电器主要参数如下:
表1HE05-1A83高压继电器主要参数
参数
条件
最小值
典型值
最大值
单位
线圈电阻
45
50
55
Ω
线圈电压
5
VDC
线圈功率
500
mW
吸合电压
3.8
释放电压
0.5
触点负载
W
开关电压
DCorPeakAC
7500
V
开关电流
3
A
负载电流
静态接触电阻
150
mΩ
绝缘电阻
10
GΩ
击穿电压
KVDC
操作时间
1.1
ms
释放时间
0.1
电容
10kHzacrossopenswitch
pF
寿命
5V以下,mA级
1000
百万次
1000V以下,mA级
100
2000V以下,mA级
表2LI05-1A85高压继电器主要参数
180
200
220
125
线圈电流
25
mA
3.5
0.75
1
2.5
TΩ
3.2
1.5
1.1.1.5测量电路单元
测量电路单元包含导通测试、绝缘测试、耐压测试和电容测试,这几项测量电路一致,只是激励源和采样方式有所不同。
测量电路原理如下:
图10测量电路示意图
可以考虑更换被测电阻与限流电阻的顺序,有利于使用万用表校准被测两针点间的电压,以避免现有情况限流电阻和万用表内阻造成的压降。
如图,Vstim为测试激励源,R1为限流电阻,Rx为假想的等效导通电阻或绝缘阻抗,Rf为高精度的参考电阻(多档位可选)。
Ai和Bi如通道切换中提到为继电器阵列的两个公共端,通过Ai和Bi可以选择接通1024点中的任意两个测试点。
测量电路的原理建立在高精度参考电阻的电压采样的基础上。
当采集Bi端点的电压时,Bi处的电压信号通过高精度、低漂移的低功耗仪表运算放大器进行调理,调理后的信号送入DSP内部高速ADC模块做信号采集、处理和分析。
ADC模块通道输入电压的范围为0-3V,为避免电压过大造成损坏,在每个通道放置一颗钳位二极管构成保护。
当DSP分析出电压过大或过小时,可以程序自动切换Rf(多档位可选),信号再通过运放调理供DSP内部ADC采样。
参考电阻是测试回路上极为重要的元件,直接关乎测试取样电压的精准度。
为此本方案选取的参考电阻均为RJ24金属膜电阻器,0.25W0.1%精度,金属膜电阻温度系数小,精度高,低噪声,高频性能好。
使用环境温度:
-55℃~+155℃,本体颜色为天蓝色,用于电路的限流或分压,温漂25PPM,性能稳定。
下图示意的为参考的档位设计图,示意图选取了5个档位分别为0.1Ω、25Ω、1KΩ、50KΩ、100KΩ,每一个测试项都会有一个初始化的默认档位测试,当接入量程内不同阻值的电阻时,系统会自动根据测试需要判断是否需要换挡,以实现自动化的最佳测试。
配用的继电器为低压的欧姆龙G5V-1。
图11档位设计图
运放主要是为了将参考电阻上的电压信号根据需要放大固定倍数给ADC采样处理和分析,运放的指标直接关系计算精度,其选型极为重要。
本方案选用的运放为INA128,它是一款低功耗、高精度的通用仪表放大器。
INA128使用激光进行修正微调,具有高输入阻抗、非常低的偏置电压、低温度漂移和高共模抑制,内部输入保护能够经受±
40V电压而无损坏。
INA128提供标准的工业增益等式,可以单个外部电阻实现从1至10000的任一增益选择。
INA128:
G=1+50KΩ/Rg
Rg为引脚1和引脚8之间外接的一个电阻,可对增益进行控制。
下图示意的为ADC采样通道的运放调理电路,通过INA128_G1与INA128_G2的切换,选择不同的Rg,分别放大26倍和251倍供ADC采样。
前期采用的INA128都为DIP插件封装,后期可以考虑使用SOP封装,减小布板面积,提升工艺。
图12运放参考电路
当测试交流耐压或电容测试时,交流电压信号通过AD736RMS-TO-DC芯片转换后,信号再经运放调理供DSP内部ADC采样。
实际的调试发现,AD8027针对DC放大的精度并不理想,需要更换成INA128,也可以考虑贴片的。
图13交流采样示意图
1.1.1.6导通测试原理
图14导通测试原理图
导通测试采用二线法进行测试,如图所示,Vstim为导通测试激励源,R1为已知的限流电阻,Rx为假想的接入测试网络被测线缆未知待测的等效电阻,Rf为已知的参考电阻(档位可选)。
通过选用高精度、低漂移的仪表运放,对Rf两端的的电压信号Uf做适当调理,送ADC采样供DSP主控芯片处理,经过校准算法后可准确测得电压Uf。
同理,经过类似处理后可准确测得Rx两端电压Ux。
由简单的欧姆定律得
If=Uf/Rf
Ix=Ux/Rx
由If=Ix可推导出Rx=(Ux/Vf)*Rf
由于Ux采样的为Rx两端的真实电压,计算出的If为流经Rx的真实电流,故此方法的测试精度比较高。
关于电阻测试的二线法测试和四线法测试,如下图所示:
图15二线法测试原理图
图16四线法测试原理
四线法比二线法的优势就是排除了接线电阻的误差,但接线更多;
而二线法存在接线电阻,但通过校准补偿可大大减小误差,且二线法接线少,可靠性和稳定性更高。
二线法的校准补偿可在设备出厂时或使用过程中,将对外接口短接,测出设备内阻,并在导通测试中将内阻进行补偿。
通过精确测量以及内阻补偿,可大大提高二线法的测量精度,可以满足设计测试量程0.1Ω~10MΩ、测试精度±
5%的要求。
1.1.1.7绝缘测试原理
图17绝缘测试原理图
如图所示,绝缘测试大致的原理与导通测试相同,R1为限流电阻,Rx等效为待测线缆对其它线缆的绝缘电阻,Rf为参考电阻(多档位可选)。
考虑到绝缘电阻值通常比较大,无法直接对Rx两端的电压进行ADC取样,只能采样出Uf的电压。
经过推导,Rx可以采用公式Rx=(Vstim*Rf)/Vf-(R1+Rf)。
实际绝缘测试时,Rf通常可以忽略不计。
绝缘测试直流加压稳定后的保持时间可以通过上位机软件进行设置。
过了保持时间后开始连续采样转换,如采样转换30次求平均。
当进行高压测试模式时,激励源Vstim电压为20VDC-2000VDC,通过设计验证,可以满足测试量程50KΩ–2GΩ。
(主要验证的为1000VDC,测试范围50KΩ–5GΩ)
1.1.1.8耐压测试原理
耐压测试只针对高压测试模式,激励源电压为100~800VAC50~60HZ。
耐压测试原理整体与高压绝缘测试一致,R1为限流电阻,Rx等效为待测线缆对其它线缆的等效阻抗(容抗),Rf为参考电阻(多档位可选)。
交流电压信号Uf通过AC/DC转换,交流电压有效值转换为DC信号,通过高精度运放调理以后,ADC采样送到主控芯片处理。
耐压测试结果体现在漏电流,即计算出电流If=Vf/Rf即可。
耐压测试交流加压稳定后的保持时间可以通过上位机软件进行设置。
通过设计和验证,漏电流可以实现量程0.1mA–8mA(即支持漏电流阈值设置0.1mA–8mA)。
(8mA待确认)
1.1.1.9电容测试原理
电容测试主要用于电容器及线缆屏蔽电容的容量测试。
其设计思想是首先利用一定频率(如400Hz)的正弦波信号将被测量电容量Cx变成容抗Xc,Xc=1/(2πfCx),然后进行C/V转换,把Xc转换成交流信号电压,再经过AC/DC转换期取出平均值电压V0,送至A/D转换器。
由于平均值电压V0∝Cx,只要适当调节电路参数,即可直读电容量。
容抗法测电容的优点是能自动调零,缩短了测量时间。
电容测试原理如下图:
图18电容测试原理图
图19
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 测试仪 硬件 电路设计 参考
![提示](https://static.bdocx.com/images/bang_tan.gif)