军用电子元器件的质量等年级Word下载.docx
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等效采用的美军标编号
1
GJB33A-97
半导体分立器件总规范
MIL-S-19500H
2
GJB597A-96
半导体集成电路总规范
MIL-M-38510G
3
GJB2438-95
混合集成电路总规范
MIL-H-38534C
4
GJB63B-2001
有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范
MIL-C-39003
5
GJB65B-99
有可靠性指标的电磁继电器总规范
MIL-R-39016
表1-1中序号1~3是器件的总规范,包括了分立器件、集成电路及混合集成电路,每一类器件只有一个总规范,但是对于同一类的元件,就可以有不止一个总规范,例如对于电容器这一大类的元件,已发布了21个总规范。
对于电磁继电器已发布了3个总规范。
每个器件或元件的总规范下面又有若干个详细规范配套,所以元器件的产品规范(总规范和详细规范)的数量在元器件标准体系中占很大的比例。
标准
标准是国家军用标准体系中除了规范、指导性技术文件以外的另一种形式。
它包括的门类很广,对元器件使用方来说,首先要了解有关试验和测量方法的标准。
因为这类标准是规范重要的技术支撑,结合产品规范了解这类标准的内容,一方面有助于更深入地掌握元器件承受各种应力的能力,另一方面对元器件使用方正确制订补充筛选(二次筛选)或失效分析的标准或法规性文件提供了参考依据。
试验方法标准是指导对某一类元器件进行试验、测量或分析的技术性很强的标准,这类标准的数量较少,但对保证元器件的质量起很大作用。
表1-2列出已发布的元器件主要方法标准及其等效采用的MIL标准。
表1-2国军标方法标准及其等效采用的美国军用标准
GJB128A-97
半导体分立器件试验方法
MIL-STD-750H
GJB360A-96
电子及电气元件试验方法
MIL-STD-202F
GJB548A-96
微电子器件试验方法和程序
MIL-STD-883D
GJB1217-91
电连接器试验方法
MIL-STD-1344A
GJB3157-98
半导分立器件失效分析方法和程序
无相应的美军标准
6
GJB3233-98
半导体集成电路失效分析程序和方法
7
GJB4027-2000
军用电子元器件破坏性物理分析方法
MIL-STD-1580A
表1-2中序号1~4是标准化部门等效采用了相应的美军制定的。
这四个标准所列的试验方法分别适用于半导体分立器件、元件、微电子器件和电连接器的试验,这些方法标准在半导体分立器件、元件(包括电连接器)、微电路产品规范的鉴定试验、质量一致性检验中被广泛地引用。
可靠性表征方式
军用电子元器件标准和规范中规定的可靠性保证要求有两种表征方式,即失效率等级和产品保证等级。
前者用于大多数(并非全部)电子元件可靠性水平的评定,后者则用来评价电子器件(包括部分电子元件)的可靠性保证水平。
元件的失效率等级
失效率是量化表征产品可靠性水平的一种特征数,在以其为可靠性表征方式的标准和规范中规定有关从10-5/h和10-8/h的四个等级。
惟须注意的是只有10-5/h才做定级鉴定,高于它的等级则利用已鉴定定级的10-5/h等级后的延长试验和维持试验数据予以确定。
无论等级高低,可靠性保证体系方面的要求(指可靠性保证大纲标准中统一规定并为产品规范所具体明确的要求)都是同一的。
这种表征方式主要用于电容器、电阻器以及继电器等电子元件的可靠性要求及其评价方面。
需要说明的是:
由于这些元件以往的规范,均以“有可靠性指标的×
×
总规范(详细规范)”定名,而容易产生没有冠以“有可靠性指标的×
”就没有可靠性要求甚至无可靠性的误解。
“有可靠性指标”英文缩写为“ER”是“EstablishedReliability”,其基本含义是“确立(或建立)可靠性”包括两方面的含义:
一是确立可靠性保证要求,二是确立可靠性的量化值。
就“确立可靠性保证要求”的含义而言,是军用电子元器件标准或规范共同的内容,而“确立可靠性的量化值”则是失效率等级表征可靠性保证要求的元件规范特有的内容。
为了减少因标准名称而产生的误解,应当考虑用更为合适的修饰语,如可否用“规定失效率等级的×
等”替代“有可靠性指标的×
”来定名规范的名称。
我国于1979年发布了国家标准GB/T1772-79《电子元器件失效率试验方法》,对有可靠性指标(ER)的军用元件,规定了失效率等级,该国标是参照采用了美军标MIL-STD-690B(1968)而制定的,一直沿用到九十年代初期。
1996年发布了国家军用标准GJB2649-96,该国家军标等效采用了美军标MIL-STD-690C(1993),今后国军标有可靠性指标的贯标元件将主要采用GJB2649-96。
但目前大多数列入合格产品目录(QPL)中有可靠性指标的元件,仍沿用GB/T1772-79规定的失效率等级,两者的失效率等级代号很易混淆,现将这两个标准失效率等级的分类及代号同时列于表2-1,供比较。
表2-1失效率等级
失效率等级名称
失效率等级代号
最大失效率
(1/h或1/10次)
GB/T1772-79
GJB2649-96
亚五级
Y
L
3×
10-5
五级
W
M
六级
P
10-6
七级
Q
R
10-7
八级
B
S
10-8
九级
J
-
10-9
十级
10-10
产品保证等级
作为另一种表征方式的产品保证等级,则与失效率等级表征方式有较大不同。
其一是产品保证等级没有直观的量化数值,其二是不同产品保证等级有不同的保证要求。
采用产品保证等级表征可靠性水平的产品最典型的是半导体器件,包括集成电路。
在GJB33《半导体器件总规范》中明确规定产品保证等级为JP(普军级)、JT(特军级)、JCT(超特军级)。
在某些电子元件的总规范中虽未明确指出产品保证等级,实际上产品保证等级为一级——J(军级);
还有的规范明确规定供宇航用,如GJB599《耐环境快速分离高密度圆形电子连接器件总规范》中明确规定供宇航用,即产品保证等级为宇航级。
事实上,具有确定产品保证等级的器件(或元件),当然存在有与该等级相应的固有可靠性水平。
只是由于这类器件(或元件)的失效时间函数不服从指数分布或(和)受设计、结构、材料、工艺等影响甚大,而不采用并通过试验给出相应的失效率。
当然,如果不考虑经济与时间因素而进行常时间恒定应力试验,还是可以得出大体相当的失效率数据。
但是,毕竟经济与时间的投入难以承受。
资料上见到的这类元件、器件的失效率,据分析有两个来源,一个是生产方的最终检验与试验数据的累积处理结果,另一个是使用方的现场失效统计分析。
MIL-STD-11268《电子设备用元器件、材料与工艺》在界定高可靠性元器件时就明确指出,凡按失效率表征可靠性(ER:
EstablishedReliability)的规范供货的P级(10-6/h)及其以上的元件,和按规定有产品保证等级的规范供货的B级及其以上(对于微电路)和JANJX级及其以上(对半导体分立器件)的器件,均属于高可靠性器件,并依这一界定采购使用需要的高可靠元器件。
在军用标准和规范中,对不同产品保证等级规定有不同的保证要求。
保证要求的多少和严格程度的高低,决定了保证等级的高低。
但应当指出,并不是所有的军用标准或规范都明确标明产品保证等级。
当标准和规范只包括一个等级或只包括一个且属较低等级时,标准和规范就仅规定产品鉴定和质量一致性检验要求,而未明确保证等级,因为等级仅用来区别表示两个或两个以上的等级。
军用电子元器件的产品保证要求所包括的典型内容有产品保证大纲审查、工厂或生产线认证、产品鉴定检验、检验批构成、可追溯性、生产过程检验、筛选以及质量一致性检验等。
产品保证等级愈高,所涉及的保证要求内容愈多和愈严。
如用于航天的产品保证等级(S级集成电路,JANS级半导体分立器件)的产品保证要求,就涉及了上述内容的全部;
而用于航空或类似应有场合的产品保证等级的产品保证要求,在保证要求内容和严格程度上则少于和低于航天用产品保证等级。
而不以失效率表示可靠性的元件规范中规定的产品鉴定和质量一致性检验,即是属于产品保证要求内容最少的产品保证等级,标准和规范根据应用场合的不同,在鉴定和质量一致性检验中规定的项目多少和严酷度高低也是不同的。
元器件的质量认证
最早的的质量认证是七专线审查,由当时的五所数据中心审查,依据规定,必须经“七专线”及产品经过审核、批准、公布(七专目录)的产品,才可以打上“G”的标记。
自90年代初期开始的军标认证,是依据国家军用标准的认证。
其认证机构是由原国防科工委授权的中国军用电子元器件质量认证委员会,它独立于元器件的生产方和使用方,所以属于第三方认证。
质量认证包括两方面的内容:
对于元器件生产单位质量保证能力的评定:
对其所生产的元器件进行鉴定或考核,合格者列入合格产品目录(QPL)或合格生产厂目录(QML)。
除了原国防科工委授权的军用元器件质量认证机构外,军工行业也可授权具有认证能力的单位按标准或法规性文件,对元器件生产单位的质量保证能力进行考察,以及对其生产的产品进行鉴定或考核,合格者列入该军工行业合格产品目录。
为了区别于由国家授权的质量认证,将军工行业授权的质量认证,称为质量认定,由于军工行业是元器件的用户,所以质量认定也可称为用户认证或第二方认证。
凡已通过质量认证,其认证条件能满足军工产品质量要求的元器件,可不再进行质量认定。
凡未经过质量认证或其认证条件不能满足军工产品质量要求的元器件及其生产单位,军工行业的有关部门认为必要时可组织人员进行质量认定。
元器件的质量等级
根据用途,元器件的质量等级可分为:
用于元器件生产控制、选择和采购的质量等级和用于电子设备可靠性预计的质量等级两类,两者有所区别,又相互联系。
用于元器件生产控制、选择和采购的质量等级
元器件的质量等级与其生产过程执行的规范是密不可分的,规范要求质量控制的严格程度,决定了元器件质量等级的高低。
在大多数军工产品中采用国产元器件的质量等级分为:
(七专)7905、(七专)8406、(七专)840611A(半导体分立器件)、(七专)补充技术协议、国军标(GJB)等五种。
前四种可以认为是四种质量等级,而国军标由于参照采用了美国军用(MIL)标准,其质量等级的分类方法比较复杂,器件分为3~4个质量保证等级(简称质量等级);
元件分为有可靠性指标的和无可靠性指标的两类,对于有可靠性指标的元件可分为若干个失效率等级。
国军标元器件的质量等级包括了:
器件的质量保证等级和有可靠性指标元件的失效率等级,如表4-1所示。
表4-1国军标元器件质量分级
元器件类别
依据标准
质量分级(从低到高)
半导体分立器件
质量保证等级分为:
JP(普军级)、JT(特军级)、JCT(超特军级)、JY(宇航级)
半导体集成电路
B1级、B级、S级
混合集成电路
H1级、H级、K级
有可靠性指标的元件
相应的元件总规范
失效率等级分为:
L(亚五级)、M(五级)、P(六级)、R(七级)、S(八级)
进口元器件的质量分级更为复杂,考虑到较多的是采用美国军用元器件及部分欧洲空间局(ESA)元器件,所以简要介绍MIL和欧洲空间局空间元器件协调组(ESA/SCC)元器件质量分级的情况。
美军标元器件的质量分级如表4-2所示。
表4-2美军标元器件质量分级
MIL-S-19500
JAN(普军级)、JANTX(特军级)、JANTXV(超特军级)、JANS(宇航级)
微电路
MIL-M-38510
质量等级及保证等级分为:
883级及B级、S级
MIL-PRF-38534
D级、E级、G级、H级、K级
MIL-I-38535
M级、Q级、V级
从1994年6月美国宣布对军用标准实行改革以来,表4-2中涉及的美军标中,MIL-M-38510已并入MIL-I-38535,而且都已改成性能规范(规范代号的字母改为MIL-PRF-,以后的数字不变,如MIL-PRF-38535C),内容也有较大的变化,例如采用统计过程控制(SPC)技术后,原来军用规范规定要100%做的筛选项目,允许减少甚至可以全部免除。
因此,在选择和采购元器件时,必须加以注意。
这里特别要对微电路(包括:
半导体集成电路及混合集成电路)的质量等级作些说明,其中B级与S级是微电路的质量保证等级,此外凡符合MIL-STD-883《微电路试验方法和程序》条规定的微电路,属于质量等级为883级的微电路。
其特点是微电路生产单位声称已按总规范MIL-M-38510及相应的详细规范进行质量控制,但未进行认证。
因此,具有不同信誉的微电路生产单位,电路的质量将有很大差别。
从1995年5月14日开始MIL-M-38510并入MIL-PRF-38535后,已不生产B级、S级微电路,所以现在按MIL-M-38510采购的微电路,其质量等级大多数是883级,在883级微电路中,有些元器件供应商还根据对电路不同的质量控制,分为883B和883S,但其质量等级都不如B级有保证。
ESA/SCC元器件的质量分级较有规律,所有元器件都分为B、C两级,但在采购时还可选择不同的批验收试验(缩写LAT,相当质量一致性检验),由于LAT分为1、2、3类,所以ESA/SCC元器件可分为B1、B2、B3、C1、C2、C3六个质量等级。
用于电子设备可靠性预计的质量等级
当按GJB/Z299或MIL-HDBK-217进行电子设备可靠性预计时,在该标准中列出了另一种质量等级与表4-1或表4-2列出的质量保证等级及失效率等级有一一对应的关系。
由于质量保证等级及失效率等级有时也可简称为质量等级,所以两者很易混淆。
但只有军用级元器件才有质量保证等级及失效率等级,而对于所有元器件都有进行可靠性预计的质量等级,这是两者是主要的差别。
现将GJB/Z299B中所列的单片集成电路、混合集成电路、半导体分立器件、部分电阻器、电容器、继电器开关的质量等级以及相应的质量系数分别列于表4-3~表4-11、进口元器件质量等级对照表(MIL-HDBK-217FnoticeⅡ)列于表4-12~表4-14,以便分析比较。
用于可靠性预计的元器件质量等级,都对应着不同的质量系数πQ参见GJB299B,它反映了同类元器件不同质量等级的相对质量差异。
例如表4-14中的S级微电路的工作失效率,较B级改善了4(1/)倍;
较883级改善了8(2/)倍。
元器件两种质量等级的比较
对表4-1与表4-3~表4-14进行分析对比,可以得出GJB/Z299B规定用于可靠性预计国产元器件的质量等级与国军标产品规范规定的质量等级(包括:
质量保证等级及失效率等级)的对应关系,如表4-15所示。
表4-3.半导体单片集成电路
质量等级
质量要求说明
质量要求补充说明
A
A1
符合GJB597A列入质量认证合格产品目录的S级产品
A2
符合GJB597A列入质量认证合格产品目录的B级产品
A3
符合GJB597A列入质量认证合格产品目录的B1级产品
A4
符合的Ⅲ类产品;
或经中国电子元器件质量认证合格的Ⅱ类产品
按QZJ840614~840615“七专”技术条件组织生产的I、IA产品;
符合SJ331RI、IA类产品
B1
按GJB597A的筛选要求进行筛选的B2质量等级产品;
符合的Ⅱ类产品
按“七九O五”七专质量控制技协议组织生产的产品;
符合SJ331的Ⅱ类产品
B2
符合的I类产品
符合SJ331的Ⅲ类产品
表4-4.混合集成电路质量等级
符合GJB2438列入鉴定合格制造厂一览表的K级产品
符合GJB2438列入鉴定合格制造厂一览表的H级产品
符合GJB2438列入鉴定合格制造厂一览表的H1级产品
符合GB8976和GB1149质量评定水平为K级产品
按QZJ840616混合集成电路“七专”技术条件组织生产的产品
符合GB8976和GB1149质量评定水平为L级产品
按“七九O五”七专质量控制技术协议组织生产的产品;
符合SJ820的产品
符合GB8976和GB11498质量评定水平为M级产品
表4-5.晶体管及二极管质量等级
符合GJB33A列入质量认证合格产品目录的JCT级产品
符合GJB33A列入质量认证合格产品目录的JT级产品
符合GJB33A列入质量认证合格产品目录的JP级产品
按QZJ840611A“七专”技术条件组织生产的产品
符合且经中国电子器件质量认证委员会认证合格的Ⅱ类产品;
符合Ⅲ类的产品
按QZJ840611“七专”技术条件组织生产的产品
符合Ⅱ类产品;
按军用标准筛选要求等进行筛选的B2质量等级产品
按“七九O五”七专质量控制技术协议组织生产的产品
符合类产品
符合SJ614的产品
C
低档产品
表4-6.电阻器质量等级
A1Q
符合GJB244列入质量认证合格产品目录的Q级产品
AIL
符合GJB244列入质量认证合格产品目录的L级产品
A1W
符合GJB244、GJB601、GJB920列入质量认证合格产品
目录的产品
符合GB/T5729、GB7153、GB6663、GB/T10193、GB/T13189、GB/T15654且经中国电子元器件质量认证委员会认证合格的产品
按QZJ840629、QZJ840630“七专”技术条件组织生产的产品
有附加质量要求的B2质量等级的产品
符合GB/T5729、GB6663、GB7153、GB10193、GB/T13189、GB/T15654、SJ1156、SJ1553、SJ1557、SJ1559、SJ2028、SJ2307、SJ2309、SJ2742的产品
符合SJ75、SJ904、SJ1329、SJ2308的产品
表类瓷介电容器质量等级
A1B
符合GJB924列入质量认证合格产品目录的B级产品
A1L
符合GJB924列入质量认证合格产品目录的L级产品
符合GJB924列入质量认证合格产品目录的W级产品
符合GJB1314列入质量认证合格产品目录的产品
按质量认证标准,经中国电子元器件质量认证委员会认证合格的产品
符合QZJ840624“七专”技术条件的产品
符合“七九O五”七专质量控制技术协议的产品:
符合GB2693、GB5968、GB9322、GB9324的产品
表4-8.固体钽电解电容器质量等级
符合GJB63列入质量认证合格产品目录的B级产品
符合GJB63列入质量认证合格产品目录的Q级产品
符合GJB63列入质量认证合格产品目录的L级产品
—
符合GJB63列入质量认证合格产品目录的W级产品;
符合GJB1312列入质量认证合格产品目录的产品
符合QZJ840628“七专”技术条件的产品
符合“七九O五”七专质量控制技术协议的产品
符合GB2693、GB7213的产品
表4-9.机电继电器质量等级
符合GJB65A列入质量认证合格产品目录的W产品
符合GJB65A的Y级产品、符合GJB1042、GJB1434、GJB1436的产品;
按质量认证标准,且经中国电子元器件质量认证委员会认证合格的产品
符合QZJ840617密封电磁继电器“七专”技术条件的产品;
符合QZJ840618密封温度继电器“七专”技术条件的产品
按“七九O五”密封继电器七专质量控制技术协议的产品
符合SJ2386、SJ2456的产品
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