主板检测卡常见代码Word文档下载推荐.docx
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CPU旁排阻是否损坏
测CPU地址线和数据线
测DDR的负载排阻和数据排阻
北桥坏
4、C1~05循环跳变
测32.768MHZ是否正常
BIOS损坏
I/O或南桥损坏
5、C1、C3、C6
刷BIOS、检查BIOS座
换电源、换CPU,换转接卡有时可解决问题
PCB断线、板上粘有导电物
换内存条,PC100、PC133,或速度更快更稳定的内存
换内存插槽,有些主板的内存条插槽要先插最靠里面或最靠外面的槽才可工作
目测内存槽是否有短路等机械类损坏现象
没内存的CLK0、CLK1、CLK2、CLK3、CLK4,内存主供电
打阻值检查是否有断路现象
换I/O芯片、北桥虚焊或北桥坏
6、循环显示C1-C3或C1-C5
刷BIOS
换I/O有时可解决问题、检查I/O外围电路
换电源、换CPU、换内存
南桥坏
7、其它代码
刷BIOS
换电源、CPU、内存
检查I/O外围电路、换I/O芯片
PCB断线、板上粘有导电物、南桥坏
8、bO代码
测内存的数据负载电压1.25V、2.5V(DDR)
清CMOS
测北桥供电或北桥坏
9、25代码
测AGP核心供电4X(1.5V)、8X(0.8V)、2X(3.3V)
北桥供电、北桥坏
10、走od后不亮
测PCI插槽之间电阻和排阻
外频、倍频跳线
11、若显示Ob显示器仍不亮
换显卡,有时主板与显卡不兼容
换电源、换CPU、换内存
换显卡插槽、PCB断线、板上粘有导电物
换I/O
查北桥供电或南北桥坏
查PCI、AGP槽附近的排阻和电容
12、显2d代码
测AGP的AD线
初始化INTR信号
北桥供电不正常或北桥坏
13、显2d代码后不变
时钟发生器不良
清除CMOS
14、显示50代码
I/O供电或I/O芯片坏
南桥供电或南桥坏
BIOS坏、北桥坏
15、显示41
A18跳线
I/O坏、南桥坏
错误代码:
00(FF)
代码含义:
主板没有正常自检
解决方法:
这种故障较麻烦,原因可能是主板或CPU没有正常工作。
一般遇到这种情况,可首先将电脑上除CPU外的所有部件全部取下,并检查主板电压、倍频和外频设置是否正确,然后再对CMOS进行放电处理,再开机检测故障是否排除。
如故障依旧,还可将CPU从主板上的插座上取下,仔细清理插座及其周围的灰尘,然后再将CPU安装好,并加以一定的压力,保证CPU与插座接触紧密,再将散热片安装妥当,然后开机测试。
如果故障依旧,则建议更换CPU测试。
另外,主板BIOS损坏也可造成这种现象,必要时可刷新主板BIOS后再试。
01
处理器测试
说明CPU本身没有通过测试,这时应检查CPU相关设备。
如对CPU进行过超频,请将CPU的频率还原至默认频率,并检查CPU电压、外频和倍频是否设置正确。
如一切正常故障依旧,则可更换CPU再试。
C1至C5
内存自检
较常见的故障现象,它一般表示系统中的内存存在故障。
要解决这类故障,可首先对内存实行除尘、清洁等工作再进行测试。
如问题依旧,可尝试用柔软的橡皮擦清洁金手指部分,直到金手指重新出现金属光泽为止,然后清理掉内存槽里的杂物,并检查内存槽内的金属弹片是否有变形、断裂或氧化生锈现象。
开机测试后如故障依旧,可更换内存再试。
如有多条内存,可使用替换法查找故障所在。
0D
视频通道测试
这也是一种较常见的故障现象,它一般表示显卡检测未通过。
这时应检查显卡与主板的连接是否正常,如发现显卡松动等现象,应及时将其重新插入插槽中。
如显卡与主板的接触没有问题,则可取下显卡清理其上的灰尘,并清洁显卡的金手指部份,再插到主板上测试。
如故障依旧,则可更换显卡测试。
一般系统启动过0D后,就已将显示信号传输至显示器,此时显示器的指示灯变绿,然后DEBUG卡继续跳至31,显示器开始显示自检信息,这时就可通过显示器上的相关信息判断电脑故障了
0D至0F
CMOS停开寄存器读/写测试
检查CMOS芯片、电池及周围电路部分,可先更换CMOS电池,再用小棉球蘸无水酒精清洗CMOS的引脚及其电路部分,然后看开机检查问题是否解决。
12、13、2B、2C、2D、2E、2F、30、31、32、33、34、35、36、37、38、39、3A
测试显卡
该故障在AMIBIOS中较常见,可检查显卡的视频接口电路、主芯片、显存是否因灰尘过多而无法工作,必要时可更换显卡检查故障是否解决。
1A、1B、20、21、22
存储器测试
同AwardBIOS篇内存故障的解决方法。
注意事项:
如在BIOS设置中设置为不提示出错,则当遇到非致命性故障时,诊断卡不会停下来显示故障代码,解决方法是在BIOS设置中设置为提示所有错误之后再开机,然后再根据DEBUG代码
可能出现问题的地方代码
内存接口电路、内存条、内存槽08090A0B0C0D101112131415161718
191A1B1C1E1F2425262A3036384243
4547484A4B4C4D4E4F50515253545C
6084889496C1C2C3C4C5C6EE
键盘接口或试更换键盘072752545667767A808182839EA0A2
A4
显卡262B2C2D2E2F31333738393A404248
898B95A5
CMOS芯片、设置或主板电池020F1C3B3C486872848586878893A3
3546578A979C9DA7
CPU正在进行测试或失灵013546578A979C9DA7
CPT口或者扩展卡323C3D8C8D8E8F9099(打印机)
COM接口9A9B
硬盘接口电路9192
主板蕊片及周边电路03
主板中与定时器相关的电路04
I/O芯片0E80
00(FF)
主板没有正常自检
主板故障诊断卡代码查询手册
查表必读:
(注意事项)
1、特殊代码“00”和“FF”及其它起始码有三种情况出现:
①已由一系列其它代码之后再出现:
“00”或“FF”,则主板OK。
②如果将CMOS中设置无错误,则不严重的故障不会影响BIOS自检的继续,而最终出现“00”或“FF”。
③一开机就出现“00”或“FF”或其它起始代码并且不变化则为板没有运行起来。
2、本表是按代码值从小到大排序,卡中出码顺序不定。
3、未定义的代码表中未列出。
4、对于不同BIOS(常用的AMI、Award、Phoenix)用同一代码所代表的意义有所不同,因此应弄清您所检测的电脑是属于哪一种类型的BIOS,您可查问你的电脑使用手册,或从主板上的BIOS芯片上直接查看,也可以在启动屏幕时直接看到。
5、有少数主板的PCI槽只有前一部分代码出现,但ISA槽则有完整自检代码输出。
且目前已发现有极个别原装机主板的ISA槽无代码输出,而PCI槽则有完整代码输出,故建议您在查看代码不成功时,将本双槽卡换到另一种插槽试一下。
另外,同一块主板的不同PCI槽,有的槽有完整代码送出,如DELL810主板只有靠近CPU的一个PCI槽有完整的代码显示,一直变化到“00”或“FF”,而其它槽走到“38”则不继续变化。
6、复位信号所需时间ISA与PCI不一定同步,故有可能ISA开始出代码,但PCI的复位灯还不熄,故PCI代码停在起始码上。
代码AwardBIOSAmiBIOSPhoenixBIOS或Tandy3000BIOS
00.已显示系统的配置;
即将控制INI19引导装入。
.
01处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。
处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。
CPU寄存器测试正在进行或者失败。
02确定诊断的类型(正常或者制造)。
如果键盘缓冲器含有数据就会失效。
停用不可屏蔽中断;
通过延迟开始。
CMOS写入/读出正在进行或者失灵。
03清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH)通电延迟已完成。
ROMBIOS检查部件正在进行或失灵。
04使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。
键盘控制器软复位/通电测试。
可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。
05如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。
已确定软复位/通电;
即将启动ROM。
DMA初如准备正在进行或者失灵。
06使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。
已启动ROM计算ROMBIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。
DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。
07处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。
ROMBIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。
08使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。
已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT命令。
RAM更新检验正在进行或失灵。
09EPROM检查总和且必须等于零才通过。
核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。
第一个64KRAM测试正在进行。
0A使视频接口作初始准备。
发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。
第一个64KRAM芯片或数据线失灵,移位。
0B测试8254通道0。
写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。
第一个64KRAM奇/偶逻辑失灵。
0C测试8254通道1。
键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;
已发出NOP命令。
第一个64KRAN的地址线故障。
0D1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。
2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。
3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。
已处理NOP命令;
接着测试CMOS停开寄存器。
第一个64KRAM的奇偶性失灵
0E测试CMOS停机字节。
CMOS停开寄存器读/写测试;
将计算CMOS检查总和。
初始化输入/输出端口地址。
0F测试扩展的CMOS。
已计算CMOS检查总和写入诊断字节;
CMOS开始初始准备。
10测试DMA通道0。
CMOS已作初始准备,CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。
第一个64KRAM第0位故障。
11测试DMA通道1。
CMOS状态寄存器已作初始准备,即将停用DMA和中断控制器。
第一个64DKRAM第1位故障。
12测试DMA页面寄存器。
停用DMA控制器1以及中断控制器1和2;
即将视频显示器并使端口B作初始准备。
第一个64DKRAM第2位故障。
13测试8741键盘控制器接口。
视频显示器已停用,端口B已作初始准备;
即将开始电路片初始化/存储器自动检测。
第一个64DKRAM第3位故障。
14测试存储器更新触发电路。
电路片初始化/存储器处自动检测结束;
8254计时器测试即将开始。
第一个64DKRAM第4位故障。
15测试开头64K的系统存储器。
第2通道计时器测试了一半;
8254第2通道计时器即将完成测试。
第一个64DKRAM第5位故障。
16建立8259所用的中断矢量表。
第2通道计时器测试结束;
8254第1通道计时器即将完成测试。
第一个64DKRAM第6位故障。
17调准视频输入/输出工作,若装有视频BIOS则启用。
第1通道计时器测试结束;
8254第0通道计时器即将完成测试。
第一个64DKRAM第7位故障。
18测试视频存储器,如果安装选用的视频BIOS通过,由可绕过。
第0通道计时器测试结束;
即将开始更新存储器。
第一个64DKRAM第8位故障。
19测试第1通道的中断控制器(8259)屏蔽位。
已开始更新存储器,接着将完成存储器的更新。
第一个64DKRAM第9位故障。
1A测试第2通道的中断控制器(8259)屏蔽位。
正在触发存储器更新线路,即将检查15微秒通/断时间。
第一个64DKRAM第10位故障。
1B测试CMOS电池电平。
完成存储器更新时间30微秒测试;
即将开始基本的64K存储器测试。
第一个64DKRAM第11位故障。
1C测试CMOS检查总和。
.第一个64DKRAM第12位故障。
1D调定CMOS配置。
.第一个64DKRAM第13位故障。
1E测定系统存储器的大小,并且把它和CMOS值比较。
.第一个64DKRAM第14位故障。
1F测试64K存储器至最高640K。
.第一个64DKRAM第15位故障。
20测量固定的8259中断位。
开始基本的64K存储器测试;
即将测试地址线。
从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。
21维持不可屏蔽中断(NMI)位(奇偶性或输入/输出通道的检查)。
通过地址线测试;
即将触发奇偶性。
主DMA寄存器测试正在进行或失灵。
22测试8259的中断功能。
结束触发奇偶性;
将开始串行数据读/写测试。
主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。
23测试保护方式8086虚拟方式和8086页面方式。
基本的64K串行数据读/写测试正常;
即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。
从属中断屏蔽存器测试正在进行或失灵。
24测定1MB以上的扩展存储器。
矢量初始化之前的任何调节完成,即将开始中断矢量的初始准备。
设置ES段地址寄存器注册表到内存高端。
25测试除头一个64K之后的所有存储器。
完成中断矢量初始准备;
将为旋转式断续开始读出8042的输入/输出端口。
装入中断矢量正在进行或失灵。
26测试保护方式的例外情况。
读出8042的输入/输出端口;
即将为旋转式断续开始使全局数据作初始准备。
开启A20地址线;
使之参入寻址。
27确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。
全1数据初始准备结束;
接着将进行中断矢量之后的任何初始准备。
键盘控制器测试正在进行或失灵。
28确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的8042键盘控制器。
完成中断矢量之后的初始准备;
即将调定单色方式。
CMOS电源故障/检查总和计算正在进行。
29.已调定单色方式,即将调定彩色方式。
CMOS配置有效性的检查正在进行。
2A使键盘控制器作初始准备。
已调定彩色方式,即将进行ROM测试前的触发奇偶性。
置空64K基本内存。
2B使磁碟驱动器和控制器作初始准备。
触发奇偶性结束;
即将控制任选的视频ROM检查前所需的任何调节。
屏幕存储器测试正在进行或失灵。
2C检查串行端口,并使之作初始准备。
完成视频ROM控制之前的处理;
即将查看任选的视频ROM并加以控制。
屏幕初始准备正在进行或失灵。
2D检测并行端口,并使之作初始准备。
已完成任选的视频ROM控制,即将进行视频ROM回复控制之后任何其他处理的控制。
屏幕回扫测试正在进行或失灵。
2E使硬磁盘驱动器和控制器作初始准备。
从视频ROM控制之后的处理复原;
如果没有发现EGA/VGA就要进行显示器存储器读/写测试。
检测视频ROM正在进行。
2F检测数学协处理器,并使之作初始准备。
没发现EGA/VGA;
即将开始显示器存储器读/写测试。
30建立基本内存和扩展内存。
通过显示器存储器读/写测试;
即将进行扫描检查。
认为屏幕是可以工作的。
31检测从C800:
0至EFFF:
0的选用ROM,并使之作初始准备。
显示器存储器读/写测试或扫描检查失败,即将进行另一种显示器存储器读/写测试。
单色监视器是可以工作的。
32对主板上COM/LTP/FDD/声音设备等I/O芯片编程使之适合设置值。
通过另一种显示器存储器读/写测试;
却将进行另一种显示器扫描检查。
彩色监视器(40列)是可以工作的。
33.视频显示器检查结束;
将开始利用调节开关和实际插卡检验显示器的关型。
彩色监视器(80列)是可以工作的。
34.已检验显示器适配器;
接着将调定显示方式。
计时器滴答声中断测试正在进行或失灵。
35.完成调定显示方式;
即将检查BIOSROM的数据区。
停机测试正在进行或失灵。
36.已检查BIOSROM数据区;
即将调定通电信息的游标。
门电路中A-20失灵。
37.识别通电信息的游标调定已完成;
即将显示通电信息。
保护方式中的意外中断。
38.完成显示通电信息;
即将读出新的游标位置。
RAM测试正在进行或者地址故障>FFFFH。
39.已读出保存游标位置,即将显示引用信息串。
3A.引用信息串显示结束;
即将显示发现<
ESC>
信息。
间隔计时器通道2测试或失灵。
3B用OPTI电路片(只是486)使辅助超高速缓冲存储器作初始准备。
已显示发现<ESC>信息;
虚拟方式,存储器测试即将开始。
按日计算的日历时钟测试正在进行或失灵。
3C建立允许进入CMOS设置的标志。
.串行端口测试正在进行或失灵。
3D初始化键盘/PS2鼠标/PNP设备及总内存节点。
.并行端口测试正在进行或失灵。
3E尝试打开L2高速缓存。
.数学协处理器测试正在进行或失灵。
40.已开始准备虚拟方式的测试;
即将从视频存储器来检验。
调整CPU速度,使之与外围时钟精确匹配。
41中断已打开,将初始化数据以便于0:
0检测内存变换(中断控制器或内存不良)从视频存储器检验之后复原;
即将准备描述符表。
系统插件板选择失灵。
42显示窗口进入SETUP。
描述符表已准备好;
即将进行虚拟方式作存储器测试。
扩展CMOSRAM故障。
43若是即插即用BIOS,则串口、并口初始化。
进入虚拟方式;
即将为诊断方式实现中断。
44.已实现中断(如已接通诊断开关;
即将使数据作初始准备以检查存储器在0:
0返转。
)BIOS中断进行初始化。
45初始化数学协处理器。
数据已作初始准备;
即将检查存储器在0:
0返转以及找出系统存储器的规模。
46.测试存储器已返回;
存储器大小计算完毕,即将写入页面来测试存储器。
检查只读存储器ROM版本。
47.即将在扩展的存储器试写页面;
即将基本640K存储器写入页面。
48.已将基本存储器写入页面;
即将确定1MB以上的存储器。
视频检查,CMOS重新配置。
49.找出1BM以下的存储器并检验;
4A.找出1MB以上的存储器并检验;
即将检查BIOSROM数据区。
进行视频的初始化。
4B.BIOSROM数据区的检验结束,即将检查<ESC>和为软复位清除1MB以上的存储器。
4C.清除1MB以上的存储器(软复位)即将清除1MB以上的存储器.屏蔽视频BIOSROM。
.
4D已清除1MB以上的存储器(软复位);
将保存存储器的大小。
4E若检测到有错误;
在显示器上显示错误信息,并等待客户按<F1>键继续。
开始存储器的测试:
(无软复位);
即将显示第一个64K存储器的测试。
显示版权信息。
4F读写软、硬盘数据,进行DOS引导。
开始显示存储器的大小,正在测试存储器将使之更新;
将进行串行和随机的存储器测试。
50将当前BIOS监时区内的CM
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