传输测试大全Word文档下载推荐.docx

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眼图把信号的上升时间、下降时间、脉冲过冲、脉冲下冲以及震荡等特性都包含了，其典型测试结果如下：

这个眼图可以这样来理解：

时间轴为一个周期的长度，眼图由四个部分组成：

常“1”，“1”电平，“0”电平，常“0”电平。

“1”电平和“0”电平并不是理想中的方波，而是有一定的上升和下降坡度，因此将这四种波形叠加起来，则就形成上面的眼图。

我们测试的要求是不能有点子落在这个眼图模板内，否则，经过一定的光纤衰减，在接受机处很难分辩出该点是“1”还是“0”。

a.803C测试装置图：

b.754、784测试装置图：

注：

a.光功率过大时（特别是2500M光以上），测试时光纤的输入要加一定的衰减，以免烧坏仪器；

b.由于784和754的光电转换模块有从光信号中提取时钟的能力，因此不需要155M时钟触发线，但803C没有能力提取时钟，因此需要155M时钟触发线。

1.1接收机灵敏度

这个参数指接收机在达到规定的比特差错率所能接收到的最低平均光功率，考虑到余度，一般要求出厂的灵敏度比要求的还要小3dB，比如：

L-16.2接收机的灵敏度为-28dBm，余度为3dB，因此出厂的接收机的灵敏度的指标应该为-31dBm。

1.1.2测试仪表

SDH分析仪，光衰减器，光功率计。

1.1.3指标定义

1）STM-1：

-23dBm；

-28dBm；

-34dBm。

2）STM-4：

局内：

短距、长距：

3）STM-16：

-18dBm；

L-16.1：

-27dBm；

L-16.2：

L-16.3：

1.1.4测试装置图：

1.2接收机过载功率

这个参数指接收机在达到规定的比特差错率所能接收到的最高平均光功率。

1.2.2测试仪表

1.2.3指标定义

-8dBm；

-10dBm；

1dBm；

2dBm；

1.2.4测试装置图：

。

1.3光输入口允许频偏

1.3.1指标含义

这个指标主要是测试接收机的锁相环能力，对光口输入频偏的允许能力。

1.3.2指标定义

±

20ppm。

1.3.3测试装置图：

测试要求：

SDH系统的时钟跟踪仪表的时钟。

1.4输出抖动

1.4.1指标含义

所谓抖动，是指下面的意思：

一个信号由于系统的时钟、芯片的门限等的影响，因此引起了输出数据的前后移动，当前后移抖动的频率大于10HZ时，我们就认为，这一种现象是一种抖动，抖动不能很大，否则会对下游站产生很不利的影响。

抖动的单位为UI，所谓UI指光传送比特率的倒数：

STM-1：

UI=

=6.43ns；

STM-4：

=1.61ns；

STM-16：

=0.40ns；

1.4.2测试仪表

MP1550、MP1552B、MP3620、ANT-20、ANT-20E、HP-37717、HP-37718。

1.4.3指标定义

等级

最大输出抖动峰峰值UIp-p

测量滤波器参数

B1

B2

f1（Hz）

f2（kHz）

f3（MHz）

STM-1

0.75

0.15

500

65

1.3

STM-4

1,000

250

5

STM-16

5,000

20

1.1.1测试装置图：

1.2抖动漂移容限

简单地说，就是指：

SDH分析仪在光的输入口对输入数据加抖动或者漂移，设备所能容忍最大的抖动或者漂移峰峰值应该不小于规范的数值。

这个指标是在G.825规定的，其模板为G.825模板。

下面是抖动和漂移的参数：

STM等级

峰峰抖动和漂移幅度（UI）

频率（Hz）

A0

（18爉s）

A1

（2μs）

A2

（0.25μs）

A3

A4

f0

f12

f11

f10

f9

f8

f1

f2

f3

f4

02800

311

39

1.5

12μ

178μ

1.6m

15.6m

0.13

19.3

6.5k

065k

1.3M

11200

1,244

156

9.65

25k

250k

05M

44790

4,977

622

12.1

100K

1M

20M

下面是抖动和漂移的模板：

这是93年以前规定的模板，93年以后的模板为G.958模板，这个模板将漂移去掉了，因为漂移在仪表上不能进行测试，仪表只能测试抖动容限，新的模板参数如下：

STM-Nlevel

（kHz）

0（kHz）

A1（UIp-p）

A2（UIp-p）

STM-1

0065

0006.5

0250

125

STM-16

1000

100

新的G.958模板为：

测试后出现的实际波形，应该在模板的上面，否则，定为不合格。

以下测试都是测试的G.958模板。

1.1.2测试步骤

2）2M电接口

比特率：

2048kbit/s

比特率容差：

50ppm，即±

50×

10

码型：

HDB3

3）34M电接口

34368kbit/s

20ppm，即±

20×

4）45M电接口

44736kbit/s

±

B3ZS

5）140M电接口

139264kbit/s

15ppm，即±

15×

CMI

6）155M电接口

155520kbit/s

7）2MHz同步信号

频率：

2048Hz

频率容差：

1.1.3测试配置图

支路输出口测试

线路输出口测试

1.1输入口允许频偏

指标含义是当输入口接收到具有规定频偏信号时，输入口应能正常工作〔通常用设备不出现误码来判断〕这个指标主要是测试接收机的锁相环能力。

指标定义

各等级速率电输入口允许频偏要求与相应输出口比特率容差要求相同。

1.1.2测试配置图

支路输入口测试

线路输入口测试

1.1映射抖动

支路映射抖动是为了恢复支路信号，在SDH/PDH边界，需要去掉塞入比特和通道开销，从而留下了空隙，引入抖动和漂移。

HP37717、HP37718、ANT-20E

PDH接口

比特率容差范围

映射抖动

滤波器特性

F1~F4〔UI〕

F3~F4〔UI〕

F1高通

F3高通

F4低通

2M

50

0.4

0.075

20Hz

18kHz

100kHz

34M

100Hz

10kHz

800kHz

45M

0.1（建议）

10Hz

30kHz

400kHz

140M

15

200Hz

3500kHz

1.1.1测试配置图

1.2结合抖动

由于指针调整是按单字节为单位或3字节为单位进行调整的，因而这种相位跃变会在SDH/PDH边界处产生可观的抖动和漂移。

注意测试结合抖动时应注意以下两点：

1、测试过程中应设置仪表和SDH设备同步。

一般设置仪表使用内置时钟，SDH设备跟踪仪表时钟；

2、一般60秒作为一个测试周期，在测试过程中禁止更改仪表设置，包括增加净荷的频偏。

PDH接口（kb/s）

比特率容差范围（ppm）

结合抖动

测试序列参数

f1~f4

UI〔p-p〕

f3~f4

T1

（S）

T2

（ms）

T3

a

b

c

d

2,048

/

>

=10

750

2

34,368

34

0.5

139,264

结合抖动（UI）

f1-f4

f3-f4（待研究）

e

f

i

0.7

1.2

10HZ

30KHZ

400KHZ

t4=0.5ms34ms<

=t5<

10s，注意对于45M板应使用e、f、i（适用于TUGS结构）指针系列测试，不能用g、h系列（适用于AU3结构）

测试用指针序列a、b、c、d分别定义如下：

a－极性相反的单指针；

b－规则指针加一个双指针；

c－漏掉一个指针的规则单指针；

d－极性相反的双指针。

下面以2M信号为例，解释各个指针序列的定义：

a指针序列：

比如说目前的指针值为522相隔T1时间后将指针值减一即为521，再相隔T1时间后将指针值在加一即为522，就这样循环往复就形成了指针序列a。

b指针序列：

比如说目前的指针值为522相隔T2时间后将指针值加一即为523，再相隔T2时间后将指针值加一即为524，如此循环4次后再隔T3的时间将指针值加一。

就这样按照四个T2加一个T3为一个循环周期，循环往复就形成了指针序列b。

c指针序列：

比如说目前的指针值为522相隔T2时间后将指针值加一即为523，再相隔T2时间后将指针值加一即为524，如此循环4次后再隔T2的时间指针值不变。

就这样按照五个T2为一个循环周期，循环往复就形成了指针序列c。

d指针序列：

比如说目前的指针值为522相隔T3时间后将指针值加一即为523，再相隔T1时间后将指针值减一即为522，再相隔一个T3时间后将指针值加一即为523，再相隔一个T1时间后将指针值加一即为524。

就这样以两个T1加T3为周期，循环往复就形成了指针序列d。