阻抗分析仪的操作与应用.pptx
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阻抗分析仪的操作与应用.pptx
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曹明琛、胡亚男2015年1月5日OperationandApplicationofImpedanceAnalyzer无损检测与评价研究所无损检测与评价研究所-现代仪器与仿真技术交流论坛现代仪器与仿真技术交流论坛阻抗分析仪的操作与应用阻抗分析仪的操作与应用目录目录阻抗分析仪简介阻抗参数测量阻抗匹配阻抗分析仪扫频测量数据存储阻抗分析仪简介阻抗分析仪简介厂家:
AgilentTechnologies(美国安捷伦科技公司)名称:
Agilent4294A精密阻抗分析仪(4294APricisionImpedanceAnalyzer)范围:
40Hz-110MHz功能:
对元件和电路进行高效率阻抗测量和分析。
实现高性能网络分析仪、频谱分析仪和阻抗分析仪的功能。
对各种电子器件以及电子材料和非电子材料的精密阻抗进行测量。
40Hz-110MHzAgilent4294A精密阻抗分析仪阻抗分析仪简介阻抗分析仪简介显示区功能选择区数字输入区操作夹持区数据存储区屏幕显示按钮阻抗分析仪简介阻抗分析仪简介阻抗分析仪简介阻抗分析仪简介|技术指标技术指标电子器件的测量无源器件:
测量两个端口或引线的器件的阻抗,包括电容器、电感器、铁氧体磁珠、电阻器、变压器、多芯片模块或阵列/网络元器件。
半导体元件:
l变容二极管的C-V特性分析。
l对二极管、晶体管或IC封装端子/引线的寄生参数进行分析。
l放大器输入/输出阻抗测量。
其他元器件:
测量印刷电路板、继电器、开关、电缆和电池等元件的阻抗。
材料的测量电介质材料:
测量塑料、陶瓷、印刷电路板及其它电介质材料的介电常数和损耗角正切值。
磁性材料:
测量铁氧体、非晶硅和其它磁性材料的导磁率和损耗角正切值。
半导体材料:
半导体材料的电容率、导电性和C-V特性。
阻抗分析仪简介阻抗分析仪简介|典型应用典型应用阻抗分析仪简介阻抗分析仪简介|前面板前面板Meas-激活软键进行测试参数选择Format-可调整曲线的显示方式(线性/对数)Display-可进入选择电路的等效模型等ScaleRef-可调整曲线的刻度Bw/Avg-可调整带宽和平均Cal-进行校准相关操作可选择激活当前操作曲线(曲线A/B)Sweep-对测试信号进行配置Source-调整信号电平,DC偏置等Trigger-触发设置Start-设置起始扫描参数Stop-设置终止扫描参数Center-设置中心频率Span-设置频率范围阻抗分析仪简介阻抗分析仪简介|前面板前面板旋钮-可连续调节数值和-可步进调节数值EntryOff-关闭输入BackSpace-删除键0-9.-可设置具体数值及命名文件名G/nM/k/mx1-设置变量单位Marker-激活标记读数功能Marker-寻找特定读数下的相关参数Search-寻找峰值、选定值等Utility-激活其他标记功能System-对仪器进行全局控制Local-在被远程操控和本地工作状态间切换Preset-将仪器恢复至出厂状态Copy-将屏幕信息打印输出Save-对数据、图标等信息进行存储.Recall-载入目标文件的参数LCD屏右侧软键配合以上屏右侧软键配合以上项进行使用项进行使用目录目录阻抗分析仪简介阻抗参数测量阻抗匹配阻抗分析仪扫频测量数据存储阻抗参数测量阻抗参数测量|校准校准一.开路校准a.按Cal键进入校准菜单b.按FIXTURECOMPEN键c.按OPEN键屏幕短暂显示信息“WAIT-MEASURINGSTANDARD”后,右侧软键旁的标签内容由OPENonOFF变为OPENONoff。
二.短路校准a.首先取下夹具上的一个黄色片状金属“shortbar”,按照图示插入LOW与HIGH的缝间,将螺丝扭紧。
b.按SHORT键屏幕短暂显示信息“WAIT-MEASURINGSTANDARD”后,右侧软键旁的标签内容由SHORTonOFF变为SHORTONoffc.移除夹具上的“shortbar”测试夹具16047E校准阻抗参数测量阻抗参数测量|校准校准阻抗参数测量阻抗参数测量|测量步骤测量步骤1.打开电源2.开机自检、校准3.选择测试模式按Meas键后配合软键操作。
如选择|Z|-模式,其中曲线A代表|Z|,曲线B代表。
阻抗参数测量阻抗参数测量|测量步骤测量步骤4.输入起始、终止扫描参数如:
起始扫描参数为900Hz,终止扫描参数为1.1kHza.按Start键b.输入“900”,依次按900x1键c.按Stop键d.输入“1.1”,依次按1.1k/m键阻抗参数测量阻抗参数测量|测量步骤测量步骤5.显示设置a.按Display键b.软键交替按下实现SPLITonOFF与SPLITONoff,即单、双窗口切换阻抗参数测量阻抗参数测量|测量步骤测量步骤6.自动调整曲线显示为最适合当前窗口a.按A键激活A曲线,A键左侧黄灯亮b.按ScaleRef键c.按AUTOSCALE键自动调整|Z|d.按B键激活B曲线,A键左侧黄灯亮e.按AUTOSCALE键自动调整阻抗参数测量阻抗参数测量|测量步骤测量步骤调整前调整后阻抗参数测量阻抗参数测量|测量步骤测量步骤7.读取某一频率点处阻抗参数值按Maker键输入具体频率值或以旋转钮调整,读取阻抗参数值旋转钮数字输入目录目录阻抗分析仪简介阻抗参数测量阻抗匹配阻抗分析仪扫频测量数据存储阻抗匹配阻抗匹配|原理原理目的:
使磁致伸缩传感器的激励能量主要集中于设计中心频率附近,通过外接电路对线圈进行阻抗匹配。
阻抗测量曲线的斜率变化加剧,进而增加在该频率附近所激励出的超声波的能量。
三段式线圈的原始阻抗测量结果三段式线圈阻抗匹配后的阻抗测量结果结论:
在160kHz附近,阻抗曲线的斜率出现较大变化160kHz阻抗匹配阻抗匹配|测量步骤测量步骤步骤1:
打开前面板左下角的电源开关,开机自检、校准。
步骤2:
单击功能选择区按钮Meas,选择要测量物理量,如“|Z|-”,Cs-Rs等。
步骤3:
选择Start,设置阻抗测量的起始频率点,如需设置起始频率点为20kHz,则依次在前面板右上角的数字键区按下20,再单击“k/m”键,确定输入起始频率点为20kHz。
同样,选择stop按钮,设置阻抗测量的终止频率点,如在数字键区按下200,再单击“k/m”键,确定输入起始频率点为200kHz。
操作夹持区显示区数字输入区功能选择区阻抗匹配阻抗匹配|测量步骤测量步骤步骤4:
选择按钮Display,对照显示屏中最右侧列表中的SPLITonOFF选项,单击其右侧按钮,此时显示屏幕中将由单一视窗改变为上下两栏窗口,分别显示步骤2中所设置的两个物理量的测量结果。
对上下两栏窗口的操作需要注意前面板顶部中央位置的A和B按钮。
当按钮A左侧的黄灯点亮时,可操作窗口为上窗口;当选择按钮B时,其右侧黄灯将点亮,此时可操作窗口为下窗口。
步骤5:
依照步骤4,选择要操作的窗口,再单击scaleRef按钮,选择显示屏中最右侧列表中的AUTOSCALE,此时在操作窗口中将自适应调整测量曲线的显示范围。
步骤6:
读取某个频率点的测量结果时,单击Marker按钮后,依照步骤3,在前面板右上角的数字键区按下所需观察的频率点即可。
阻抗匹配阻抗匹配|匹配步骤匹配步骤步骤1:
运行Smith-Chart软件。
作用:
改变感应线圈的电路特性,调节LCR振荡电路的振荡频率,以符合传感器的中心频率。
方式:
感应线圈大多呈感性,主要通过并联电容方式改变感应线圈的阻抗曲线。
假定一组感应线圈设计中心频率为160kHz,依前述阻抗测量步骤测得160kHz时感应线圈阻抗为|Z|=100.25,相角为72.153。
阻抗匹配阻抗匹配|匹配步骤匹配步骤步骤2:
点击图25左侧图中所示的工具栏的DATAPOINT按钮,弹出右侧图所示窗口,再选择Keyboard按钮,通过键盘输入感应线圈的测量阻抗。
阻抗匹配阻抗匹配|匹配步骤匹配步骤步骤3:
在弹出的DataPoint窗口中进行感应线圈阻抗的输入。
选择默认的impedance(Ohm)按钮;由于测量阻抗为幅值与相角,需在极坐标下输入,点选polar按钮,在magnitude一栏输入阻抗值100.25,在angle一栏输入相角值72.153。
在frequency一栏输入160.000,选择单位为kHz。
再单击OK。
阻抗匹配阻抗匹配|匹配步骤匹配步骤步骤4:
输入数据后,在smith圆图中将出现输入数据点的位置,在图中以红色方框表示并旁注黑色数字1。
阻抗匹配阻抗匹配|匹配步骤匹配步骤步骤5:
阻抗匹配的原则是将原始阻抗中的相角调整为0,通过并联电容的方式可实现。
点选工具栏中的SHUNT(并联)下的C(电容),屏幕中出现从位置1开始的黑色弧线,移动鼠标可调整光标位置。
要实现相角调零,参照界面下方的VSWR一栏的Z值,使得显示数值的虚部为0即可,或者移动光标至黑色弧线与smith圆图水平直径所在的绿色线段的交叉点处,单击鼠标,将出现蓝色弧线段。
阻抗匹配阻抗匹配|匹配步骤匹配步骤步骤6:
匹配结束后,在Schematic一栏下可查看等效电路,其中ZL表示原始输入阻抗,图标“|”为匹配电容,电容值为9.4nF。
由此可知,需对感应线圈并联9.4nF的电容,以使在160kHz频率处,感应线圈的阻抗的相角值为0。
注意:
取消点击鼠标右键,点击两次,完全清除。
阻抗匹配阻抗匹配|匹配步骤匹配步骤步骤7:
要将电路模型导出至word文档,点选主菜单的Edit-Copy,在弹出的CopytoClipboard窗口中进行设置,单击OK,即可在word文档里通过Ctrl+V进行复制。
阻抗匹配完成后,对电容进行容值测量,使其为9.4nF,此处的电容一般为瓷片电容,需具有300V以上的耐压值。
市场购买的电容标称值一般有较大误差,需要通过实际容值测量确定其精确容值。
准备好电容后,将其与感应线圈进行并联,并联后仍需再次利用Agilent4294A型网络分析仪对其精确阻抗进行测量,观察相角是否已调整为0,一般在正负10度范围都可以接受。
目录目录阻抗分析仪简介阻抗参数测量阻抗匹配阻抗分析仪扫频测量数据存储阻抗分析仪扫频阻抗分析仪扫频|原理原理原理:
压电片或传感器谐振频率点即为阻抗值变化最剧烈处。
PZT阻抗分析仪扫频阻抗分析仪扫频|扫频步骤扫频步骤1.打开电源2.开机自检、校准3.选择测试模式按Meas键后配合软键操作。
如选择|Z|-模式,其中曲线A代表|Z|,曲线B代表。
阻抗分析仪扫频阻抗分析仪扫频|扫频步骤扫频步骤4.按Format键,选择样式为LOG。
阻抗分析仪扫频阻抗分析仪扫频|扫频步骤扫频步骤5.显示设置a.按Display键b.软键交替按下实现SPLITonOFF与SPLITONoff,即单、双窗口切换。
阻抗分析仪扫频阻抗分析仪扫频|扫频步骤扫频步骤6.频带宽度设置a.按Bw/Avg键b.软键选择带宽为2。
阻抗分析仪扫频阻抗分析仪扫频|扫频步骤扫频步骤7.扫查类型设置a.按Sweep键b.软键选择TYPE为LOG。
8.输入起始、终止扫描参数如:
起始扫描参数为100Hz,终止扫描参数为300kHza.按Start键b.输入“100”,依次按100x1键c.按Stop键d.输入“300”,依次按300k/m键阻抗分析仪扫频阻抗分析仪扫频|扫频步骤扫频步骤9.自动调整曲线显示为最适合当前窗口a.按A键激活A曲线,A键左侧黄灯亮b.按ScaleRef键c.按AUTOSCALE键自动调整|Z|d.按B键激活B曲线,A键左侧黄灯亮e.按AUTOSCALE键自动调整阻抗分析仪扫频阻抗分析仪扫频|扫频步骤扫频步骤阻抗分析仪扫频阻抗分析仪扫频|扫频结果扫频结果设计中心频率为200kHz,扫频中心频率为207kHz,结果相对吻合。
目录目录阻抗分析仪简介阻抗参数测量阻抗匹配阻抗分析仪扫频测量数据存
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