南京大学物化实验系列X射线粉末衍射法测定晶胞常数.docx
- 文档编号:17400709
- 上传时间:2023-04-24
- 格式:DOCX
- 页数:14
- 大小:59.74KB
南京大学物化实验系列X射线粉末衍射法测定晶胞常数.docx
《南京大学物化实验系列X射线粉末衍射法测定晶胞常数.docx》由会员分享,可在线阅读,更多相关《南京大学物化实验系列X射线粉末衍射法测定晶胞常数.docx(14页珍藏版)》请在冰豆网上搜索。
南京大学物化实验系列X射线粉末衍射法测定晶胞常数
实验二十九X射线衍射法测定晶胞常数一粉末法
一.实验目的和要求
1、了解X射线衍射仪的基本原理、简单结构和操作方法。
2、掌握X射线粉末法的原理,测定NaCl或NH4C1的晶体点阵形式、晶胞参数以及晶胞中内含物的个数。
二.XRD技术的原理和仪器简单介绍
1、X射线的产生
在抽至真空的X射线管中,鸨丝阴极通电受热发射电子,电子在几万伏的高压下加速运动,打在由金属Cu(Fe、Mo)制成的阳靶上,在阳极产生X射线,如书上P256图III-8-1所示。
众所周知,X射线是一种波长比较短的电磁波。
由X射线管产生的X射线,根据不同的实验条件有两种类型:
(1)连续X射线(白色X射线):
和可见光的白光类似,由一组不同频率不同波长的X射线组成,产生机理比较复杂。
一般可认为高速电子在阳靶中运动,因受阻力速度减慢,从而将一部分电子动能转化为X射线辐射能。
(2)特征X射线(标识X射线):
是在连续X射线基础上叠加的若干条波长一定的X射线。
当X光管的管压低于元素的激发电压时,只产生连续X射线;当管压高于激发电压时,在连续X射线基础上产生标识X射线;当管压继续增加,标识X射线波长不变,只是强度相应增加。
标识X射线有很多条,其中强度最大的两条分别称为Ka和仆线,其波长只与阳极所用材料有关。
X射线产生的微观机理:
从微观结构上看,当具有足够能量的电子将阳极金属原子中的内层电子轰击出来,使原子出于激发态,此时较外层的电子便会跃迁至内层填补空位,多余能量以X射线形式发射出来。
阳极金属核外电子层K-L-M-N…,如轰击出来的是K层电子(称为K系辐射),由L层电子跃迁回K层填补空穴,就产生特征谱线Ka,或由M层电子跃迁回K层填补空穴,就产生特征谱线Kb。
当然,往后还有L系、M系辐射等,但一般情况下这些谱线对我们的用处不大。
2、X射线的吸收
在XRD实验中,通常需要获得单色X射线,滤去仆线,保留Ka线。
[提问:
为什么不能用含有多种波长的多色X射线?
事实上就是通过提问对后面的思考题第1题作适当提示。
]
吸收现象经常用于实验种获得单色X射线。
如果在光路中放置一种物质(称为滤光片或单色器),这种物质的吸收限波长正好出于特征X射线Ka和仆波长之间,从而能将绝大部分小线滤去,而透过的Ka线强度损失很小,得到基本上是单色的Ka辐射。
我们实验中的阳极选用CU靶,CU靶产生的特征Ka线的波长仁1.5418?
小线的波长入=1.3922?
因此可以选用Ni(其吸收限波长入=1.4880?
)作滤波片滤去Cu靶中产生的小辐射,得到单色Ka线。
3、X射线衍射仪的构造
这部分不作要求,同学们只要简单知道是由X射线发生器、测角仪、记录仪这三大部分组成。
想要详细了解可以参看《现代仪器分析》、《固体表面分析》等相关参考书。
三.X射线粉末衍射法测定晶胞常数1、晶体与晶胞的概念首先需要明确
晶体是由具有一定结构的原子、原子团(或离子团)按一定的周期在三维空间重复排列而成的。
反映整个晶体结构的最小平行六面体单元称为晶胞。
晶胞的
形状及大小可通过夹角、、的三个边长a、b、c来描述,因此、、
和a、b、c称为晶胞常数。
2、粉末法
当某一波长的单式X射线以一定的方向投射到晶体上时,晶体内的晶面(同一面上的结构单元构成的平面点阵)像镜面一样反射入射线。
但不是任何的反射都是衍射。
只有那些面间距为d,与入射的X射线的夹角为9,且两相邻晶面反射的光程差为波长的整数倍n的晶面簇在反射方向的散射波,才会相互叠加而产生衍射,如图1所示。
光程差&AB+BC=dsin什dsin
0=2dsin0,即有Bragg方程2dsin0=n入,其
中n称为衍射级数。
稍作变换,dhk尸d/n=》2sin0,
图2衍射线方向和入射线方向的夹角
dhki就是XRD图谱中所说的d值,也是PDF
图2说明了衍射角的大小,即如果样品与入射线夹角为9,晶体内某一簇晶
面符合Bragg方程,那么其衍射线方向与入射线方向的夹角为29,称为衍射角。
而8为半衍射角。
图3半顶角为28的衍射圆锥
如图3所示,多品样品中与入射X射线夹角为8面间距为d的晶簇面晶体不止一个,而是无穷多个,且分布在半顶角为28的圆锥面上。
粉末法就是我们所测样品为多晶粉末(很细,20-30。
,因而存在着各种可能的晶面取向。
当单色(标识)X射线照射到多晶试样表面时,不同取向的晶面都会对X射线发生反射,只有与X射线夹角为9,满足Bragg方程的晶面才会发生衍射。
实际测定时,我们将粉末样品压成片放到测角仪的样品架上,当X射线的计数管和样品绕试样中心转动时(试样转动9,计数管同步转动29),利用X射线衍射仪记录下不同角度时所产生的衍射线的强度,就得到了XRD图谱,这叫衍射仪法。
衍射峰白^位置28与晶面间距(晶胞大小和形状)有关,而衍射线的强度(即峰高)与该晶胞内原子、离子或分子的种类、数目以及它们在晶胞中的位置有关。
由于任何两种晶体,具晶胞形状、大小和内含物总存在着差异,所以,XRD图谱上衍射峰的位置28和相对强度I/I0可以作为物相分析的基础。
3、指标化与晶胞常数的测定
对于立方品系,比较简单,其晶胞参数a=b=c,=芹产900o
由几何结晶学的知识可以推出:
1h*2k*2l*2
d\a2
式中h*、k*、l*为密勒(Miller)指数,即晶面符号,密勒指数不带有公约数
将等式两边同乘衍射级数n,
nh2k2l2
da2
此处,h、k、l为衍射指数,它们与密勒指数的关系是h=nh*,k=nk*,l=nl*0
根据Bragg方程n/d=2sin/入,入值已知,每个衍射峰的8值由衍射图谱中
读出,这样每个衍射峰都有一个确定的
2
.2sin
),以其中最小的
对于立方品系,指标化最简单,由于h、k、l为整数,所以各衍射峰的-(或d
n
2
n
2
n
2
n
2
d
2.
d
3.
d
4.
d
5
2:
2:
2:
2
n
n
n
n
d
1
d
1
d
1
d
1
2n
2
n值除之,所得32:
dn2
di
・2・2・2,2・2
)的数
2sin1sin2sin3sin4sin5
<••](或一1:
—产:
一产:
一产:
一2-^:
sin1sin1sin1sin1sin1
列应为一整数列,即是每个衍射峰的衍射指标平方和h2+k2+l2之比。
对于立方晶系,如果是素晶胞(P),该比值为123:
4:
5:
6:
8:
…(缺7,15,23等);如果是体心晶胞(I),该比值为2:
4:
6:
8:
10:
12:
…(偶数之比);而如果是面心晶胞(F),该比值为3:
4:
8:
11:
12:
16:
…(两密一疏)。
因为系统消光的缘故,一些h2+k2+l2值可能不出现。
素晶胞中,衍射指标无系统消光;体心晶胞中,h+k+l=奇数时发生系统消光;而面心晶胞中,h、k、l奇偶混杂时发生系统消光。
由此,我们可以判断立方品系晶胞的点阵型式,再根据教材P127表II-29-1
立方点阵衍射指标规律,确定各个衍射峰所对应的衍射指数。
dhkl
d
n2sin
222
,hkl
CuKa线的波长入=1.5405?
8由衍射图谱上读出,每个衍射峰的h2+k2+l2也已经求得,这样对每个衍射峰,我们都可以求出对应的a值,最后实验测得的晶胞参数a,是对这些a值取平均。
知道了晶胞常数,就知道晶胞体积,在立方品系中,每个晶胞中的内含物(原子,或离子,或分子)的个数n,可按下式求得
3
a
n
M/N0
式中M为欲测样品的摩尔质量;No为阿佛加得罗常数;为该样品的晶体
密度。
四.实验仪器和用品
日本岛津ShimadzuXD-3AX射线衍射仪1台(Cu靶),ShimadzuVG-108R测角仪1台,样品aNaCl(化学纯),样品bNH4cl(化学纯),研钵和研钵棒1套,骨勺1个,装样品的玻片2片,金属刮刀1把,玻璃板1块,卷纸1卷,PDF卡片1盒,PDF卡片索引2本。
五.实验步骤
具体步骤和PDF卡片的使用,至IXRD实验室具体操作时讲解。
1、用水和酒精或者丙酮洗净研钵后,将样品a或b置于研钵内研磨几分钟至粉末状,研细的样品小心倒入玻片上用于装样品的圆型凹槽,至稍有堆起。
用金
属刮刀将粉末样品压于圆型凹槽中,厚薄均一,不能出现空隙。
然后,可将玻片放到样品架上,注意玻片上的缝隙与样品台上的缝隙对齐,盖上盖子。
2、开启ShimadzuX射线衍射仪进行实验。
具体步骤如下:
打开冷却水,调节使水压为2.452X105Pa(本实验中,电闸打开的同时冷却水即打开,水压已预设好)。
然后打开主控面板上Supply电源总开关。
按下Power按钮,等10秒左右,按下Reset键,此时四盏指示灯应该全灭,否则仪器工作不正常,需报修。
然后可以打开X-RayON,调节管压至35kv,管流至15mA。
检查HV-3增益和Interlock开关朝上,仪器参数已预设好[角度测试范围100°〜25,扫描速度4度/min,量程CPS为5K,时间常数为1.0X1,Width为5,Gain为5,记录仪走纸速度20mm/min。
实验过程中要确保走纸机纸墨都够用并调好基线。
待测样品放入样品架后,关紧铅玻璃门,开始调零。
具体方法是将Mode开关打到CAL档,此时测角仪将迅速自动调零。
接下来调节角度测量范围,将Mode开关打到MAN档,用ManSpeed旋钮控制速度,使计数管转到所需的高角度(本实验要求的角度范围是100。
〜25。
,而仪器程序是从高角扫到低角)时,旋动Mode开关打到STOP档。
测量前,按下右边光栅OPEN开关(有咔的一声轻响帮助判断),然后迅速将Mode开关旋至AUTO档。
走纸机的记录笔会自动落下开始记录衍射图谱。
实验过程中,参照角度示数,适当用笔记下衍射峰
峰顶处对应的衍射角28值。
如果没来得及记下也不要紧,可以根据已经记下的角度值,利用每小格0.40推算出。
待扫描至低角25时,将Mode开关旋至STOP,此时走纸机停止,记录笔也会自动弹起。
要先按下右边的光栅OFF按钮才能取
出样品,否则有被辐射的危险,一定要提醒同学们注意。
下面重复上述步骤测试样品。
3、实验完毕后,按开机的反顺序关闭X射线衍射仪。
先缓缓将管流降至0,再将缓缓管压降至0,接下来按X-RayOFF按钮,HV-3增益和Interlock拨至朝下,关闭Supply电源开关。
稍等几分钟后关闭冷却水和电闸。
六.PDF卡片的使用
详见P261-265
要查阅所需的PDF卡片,我们必须先查阅卡片索引Index。
卡片索引又分为数字索引和字母索引。
1、字母索引
如NaCl为SodiumChloride,NH4Cl为AmmoniumChloride,本次实验所用试样已知,因此这种方法变得非常简单而实用。
2、数字索引(d值索引)
分为Hanawalt索引和Fink索引,同学们需要学会Fink索引的使用,即由d值查询未知物,这种方法比较常用。
[练习:
4.05x,2.492,2.841,3.14i,1.87i,2.47i,2.12i,1.93i—〉SiO211-695]
七.数据处理
1、数据记录表格示例
Item
28(。
)
dhkl(?
)
.2sini
.2sin1
Ii
100Ii
Imax
h2+k2+l2
a(?
)
a⑺
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
对数据记录表格的一些说明:
根据X射线粉末衍射图中各衍射峰的28值及峰高值,由28值求出其n值(或
d
sinOi)和面间距dhki值,并以最高的衍射峰为100(Imax),算出各衍射峰的相对衍
射强度(Ii/Imax),由前面讲的指标化的具体方法求出每个衍射峰的
sin2i
~~2~
sin1
和衍
射指标平方和h2+k2+l2,通过查阅(PowderDiffractionfile)卡片集(过去习惯上又称ASTM卡片)确定样品a和样品b分别为何物(a为NaCl,b为NH4Cl),通过P127表II-29-1立方点阵衍射指标规律判断NaCl和NH4Cl分别属于什么品胞类型(NaCl为面心立方F,NH4Cl为简单立方P)。
a是把每个衍射峰求算出的晶胞参数a值求取平均。
3
2、把a代入公式n-a-求晶胞内含物的个数(单位要统一,pNaC=2.164,M/N0
PNH4cl=1.527),NaCl中内含物的个数为4,NH4Cl为1。
八.思考题
1、多晶体衍射能否用含有多种波长的多色X射线?
为什么?
[前面提问问题,已讨论并作提示]
答:
不能。
只有单色X射线才有确定的人值,进而代入Bragg方程进行计算。
如果入不定即X射线为多色光,对某一特定的晶面如(110),不会得到一组对称清晰的谱线,而会得到多组甚至是连续的相互干涉的衍射图谱。
从这种图谱上无法得到确定的衍射角28值和d值,也就无法进行精确的物相组成分析。
2、如若NaCl晶体中有少量Na+位置被K+所替代,其衍射图有何变化?
又若NaCl晶体中混有KCl晶体,具衍射图又如何?
答:
衍射图的变化包括两个方面,衍射峰的位置28值和相对强度I/I°。
由于衍
射峰的位置28与晶面间距(晶胞大小和形状)有关,而衍射峰的强度与该晶胞内原子、离子或分子的种类、数目以及它们在晶胞中的位置有关。
若NaCl晶体中有少量Na+位置被K+所替代,只是离子种类发生了变化,晶面间距d值并没有发生改变,故峰位置28不变,但峰强度发生变化。
若NaCl晶体中混有KCl晶体,相当于是两种晶体的混合物做物相分析,很显然,衍射峰的位置和强度都发生变,化,但考虑到检出限、峰的叠加以及晶体外延生产等因素,比例太小时XRD亦
有可能鉴别不出(衍射图变化不大)。
3.试计算在所给晶体(NaCl或KCl,NH4CI)中,正离子和负离子的接触半径及其半径比R+/R-O
答:
一般离子晶体中的离子都可看作球状。
按照鲍林划分离子半径的方法,离子的大小取决于核外电子分布。
对于相同电子层的离子,其半径与有效核电荷城反
C比,即r-C」。
Z
对于KCl晶体:
由于K+,Cl-均具有稀有气体原子Ar的电子结构,因此可以使用上面的公式,用屏蔽系数方法来计算,即山马——,对于Ar型11.25,rClZk
例rk1711.25
故———0.742
电1911.25
而对于NaCl和NH4Cl,Na+与NH4+为等电子体,且都是Ne的电子结构,这样①值就与Cl-不同,而且Cn值也不尽相同,所以不能简单采用屏蔽系数方法计算阴阳离子半径比。
而应基于以下两点假设:
(1)负离子密堆积;
(2)正负离子相互接触,在晶胞层面上利用几何知识进行计算。
对NaCl晶体,可看作Cl-离子密堆积的结构,Na+离子占据其八面体间隙,
0.414
常温下的NH4C1晶体可视为CsCl型,即简单的立方结构,由几何关系
—11
(,3—2)—a
2r,32rr
0.732
22
1-a
2
九.实验注意事项
1、由于X射线具有很强的辐射能力。
取放样品前,一定要检查一下光栅是否处于CLOSE状态,防止辐射伤害。
2、实验完毕后,在记录本上进行登记。
3、注意计算过程中有效数字和实验精度。
4、如有两人同组实验,衍射图谱可以共用,但数据必须单独处理,并注明同组实验人。
5、报告讨论,尽量不要一味抄书,最好讨论一下对本实验的理解、改进建议和实验中出现的问题和解决办法,也欢迎对实验教学提出意见和建议。
十.讨论
1、因为是大型仪器操作,实验中人干涉的过程比较少,所以压片的好坏变成影响实验结果好坏最直接的因素。
用于测定的粉末样品,一定要磨细,一来便于压片,二来保证品面取向随机分布。
压片时一定要厚薄均一,毋要出现空隙。
有些难以压片的样品,可适当掺杂一定水,但可能对衍射峰强度造成影响。
在样品架上取放样品时,注意尽量不要污染样品架,出现洒落应立即用毛笔扫净样品架。
2、晶体衍射所用单色X射线一般选用范围为0.5-2.5?
是因为:
(1)该波长范围与晶体点阵面间距大致相当。
(2)随着波长的增加,样品和空气对X射线的吸收越来越大,因此波长大于2.5?
的X射线对晶体衍射一般不使用。
(3)波长太短,衍射峰过分集中在低角度区,一些相隔较近的衍射峰不易辨认,因此波长小于0.5?
的X射线一般也不采用。
3、XRD物相分析的优点:
分析比较直接,样品用量少,不破坏样品,一般可回收(本次实验中a样品NaCl实验后变黄,因此均未回收)。
其局限性:
PDF卡片有限(现在可用数据库检索,如PhilipsX'PertPro),混合物分析有检出限问题。
XRD是一种物相分析手段,但不是唯一最佳的手段,所以一般不直接用来进行混合物鉴定,需要其它化学分析手段配合,如光电子能谱XPS,扫描电镜SEM,
电感耦合等离子发射光谱ICP等化学分析和光谱分析手段。
4、X射线是高能粒子,随着实验的进行,样品温度会发生变化,而晶胞体积与温度正相关,因此当精确测定晶胞常数时还应当注明测试温度和可能有的温度偏
5、关于实验误差分析
要得到精确的d值和晶胞参数a,必须借助8值的精确测量。
一种办法是适当加快走纸机的走纸速度,另外就是尽量采用高角度的衍射峰。
由Bragg方程可以得到:
——cot,在8趋向90°时,结果误差较ad
小,所以高角度的d值和a值比较可靠。
6、目前用X射线衍射进行结构分析可分为单晶法和多晶粉末法。
单晶法是全面提供晶体立体结构信息最有效的方法,适用面广。
无论晶体对称性高低,都可以进行处理和解释,且晶胞参数比较容易获得。
但单晶法的缺陷是制备单晶样品比较困难,现成的又非常贵。
而多晶粉末样品制备就相对容易多了,具缺陷在于一般粉末法衍射线比较拥挤,且衍射图指标化比较繁琐。
因此,多晶粉末法,主要应用在结构比较简单,制备单晶比较困难的样品。
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 南京大学 物化 实验 系列 射线 粉末 衍射 测定 晶胞 常数
![提示](https://static.bdocx.com/images/bang_tan.gif)