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焊锡耐热性试验‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧(LTPD=20%)
温度循环试验‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧(LTPD=10%)
支架弯折试验‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧(LTPD=20%)
支架拉拔试验‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧(LTPD=20%)
冷热冲击试验‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧(LTPD=10%)
自然落下试验‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧(LTPD=10%)
振动试验‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧(LTPD=10%)
全尺寸测量‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧(LTPD=20%)
注:
LTPD:
一个批量中允许的不良百分比。
4.作业规定:
4.1依客户要求之数量取样及时间试验。
4.2或依本规范之第5项所列“试验条件及规格”中之数量及时间试验。
4.3试验前材料均在常温Ta=23±
5℃RH=55±
20%RH,IF=30mA通电2hrs后,在常温停留2hrs后进行测试,筛选良品进行试验。
2/18
5.试验条件及规格:
5.1连续点亮寿命试验
目的:
验证产品在连续点亮状态下对性能变化之程度。
试验环境:
(23℃±
5℃),RH=55±
20%RH
试验仪器:
电源供应器
试验数量:
22PCS
试验条件:
IF=30mAT=1,000hours
试验步骤:
a.试验前测试材料亮度/波长与VF/IR值,并将其数值记录在试验报告表内。
b.将已测试好材料置于上述试验环境通电点亮,每200hrs测试一次亮度。
c.每测试亮度前,材料先在常温下放置2小时后测试,并记录其测试值。
d.试验后测试材料的亮度、VF/IR及波长值,并将其数值记录在试验报告表内。
e.算出每次测试的AVG及百分率,描点绘图,并判定其试验结果。
判定标准:
顺向电压(VF)<
U.S.L
逆向电流(IR)<
亮度读值(IV)>
L.S.L
外观正常
3/18
5.2高温保存试验
目的:
验证产品装置保存在高温时之耐久性试验。
Ta=100℃±
10℃
高温箱
T=1,000hours
a.试验前测试材料的亮度、VF/IR值,并将其数值记录在高温保存试验记录表上试验报告表内
b.将测试好材料放置高温箱1000hrs。
c.放置1000hrs后,在常温下放置2小时以上,若附着水滴时,应事先擦拭干净后测试。
d.试验后测试材料的亮度、VF/IR值,并将其数值记录在高温保存试验记录表上。
e.算出每组数据的AVG、MAX、MIN值,并判定其结果。
1.1xU.S.L
2.0xU.S.L
0.5xL.S.L
4/18
5.3低温保存试验
验证产品装置保存在低温时之耐久性试验。
Ta=-40℃
℃
低温箱
a.试验前测试材料的亮度、VF/IR值,并将其数值记录在低温保存试验报表内。
b.将测试好材料放置低温箱1000hrs。
c.放置1000hrs后,先在常温下放置2小时,若附着水滴时,应事先擦拭干净后测试。
d.试验后测试材料的亮度、VF/IR值,并将其数值记录在低温保存试验记录表上。
5/18
+5
-10
5.4高温高湿保存试验
验证产品装置保存在高温高湿下时之耐劣性试验。
Ta=85℃±
℃,RH=85
%RH
高温高湿箱
a.试验前测试材料的亮度、VF/IR、波长值,并将其数值记录在高温高湿保存报表内。
b.将测试好材料放置于高温高湿1000hrs。
c.放置1000hrs后,在常温下放置2小时,若附着水滴时,应事先擦拭干净后测试。
d.试验后测试材料的亮度、VF/IR、波长值,并将其数值记录在高温高湿保存试验记录表上。
外观正常:
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5.5高温高湿点亮试验
验证产品装置保存在高温高湿下点亮时之耐劣性试验。
Ta=85℃
IF=5mAT=1,000hours
a.试验前测试材料的亮度、VF/IR值,并将其数值记录在试验报告上。
b.将测试好材料放置于上述环境通电点亮,每200hrs测试一次亮度。
c.测试亮度值材料在先常温下放置2小时后测试,若附着水滴时,应事先擦拭干净后测试。
d.试验后测试材料的亮度、VF/IR及波长值,并将其数值记录在试验报表上。
7/18
LAMPLED
5.6焊锡附着性试验
验证产品对锡之附着性。
Ta=230℃±
5℃
温控锡炉
18PCS
T=5±
1sec
a.确认锡炉温度达到规定之温度。
b.除去锡槽内锡面之锡渣。
c.支架沾附助焊剂。
d.将材料浸入锡炉内(LED:
锡面距离LED胶体1~1.5mm)。
e.用定时器计算支架浸入锡炉时间5±
1sec后取出。
f.观察锡附着于支架之状况,并将判定结果记录在焊锡附着试验报表上。
锡沾附着于支架表面积95%以上。
8/18
5.7焊锡耐热性试验
验证产品装置于焊锡作业期间,所能耐热程度之试验。
Ta=260℃±
试验设备:
1sec
a.试验前测试材料的亮度、VF/IR值,并将其数值记录在焊锡耐热试验记录表。
b.确认锡炉温度达到规定之温度。
c.除去锡槽内锡面之锡渣。
d.支架沾附助焊剂。
e.将材料浸入锡炉内。
f.用定时器计算支架浸入锡炉时间5±
g.于常温下置放2小时后测试。
h.试验后测试材料的亮度、VF/IR值,并将其数值记录在焊锡耐热试验记录表上。
i.算出每组数据的AVG、MAX、MIN值,并判定其结果。
U.S.L
L.S.L
外观正常
9/18
測試
時間
-40℃
-3
循環1‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧‧循環10
室溫
溫度
5.8温度循环试验
目的:
验证产品对外在环境变化所能忍受之程度。
Ta=(-40
℃~室温~100
℃~室温)
温度循环机
T=(30min~5min~30min~5min)x10回
a.试验前测试材料的亮度、VF/IR值,并将其数值记录在温度循环试验记录表上。
b.做温度循环试验。
c.试验完成后,测定前先在常温下放置2小时若附着水滴时,应事先擦拭干净后测试。
d.试验后测试材料的亮度、VF/IR值,并将其数值记录在温度循环试验记录表上。
10/18
5.9温度循环通电试验
验证产品于动作状态下,对外在环境变化所能忍受之程度。
Ta=(-40
℃~室温~100
℃~室温)
T=(30min~5min~30min~5min)x10回,IF=20mA
a.试验前测试材料的亮度、VF/IR值,并将其数值记录在温度循环通电试验记录表.
b.做温度循环通电试验。
c.试验完成后,测试前先在常温下放置2小时若附着水滴时,应事先擦拭干净后测试。
d.试验后测试材料的亮度、VF/IR值,并将其数值记录在温度循环通电试验记录表上.
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15mmTYPP
5.10支架弯折试验
验证产品装置PIN脚所能承受弯折之程度。
Ta=23℃±
平口钳
将正负支架在帽缘下方15mmTYP处弯折90°
来回弯折三回。
a.试验前测试材料的亮度、VF/IR值,并将其记录在支架弯折试验记录表上.
b.支架弯折90°
来回弯折三回。
c.试验后测试材料的亮度、VF/IR值,并将其记录在支架弯折试验记录表上。
d.算出每组数据的AVG、MAX、MIN值,并判定其结果。
支架不可断
12/18
10mmTYPP
5.11支架拉拔试验
验证产品负载1Kg受力性能评估。
Ta=23±
拉力器
W=1KgT=30±
5sec
a.将正负支架在帽缘下方10mmTYP处进行弯脚,正负支架各弯折90°
(如图标)。
b.试验前测试材料的亮度、VF/IR值,并将其记录在支架拉拔试验记录表上。
c.将LED支架正负极各弯折成90°
。
d.材料固定于拉力器之固定夹上并加上1Kg±
10%之负载,材料固定后,悬空停留30秒钟。
e.试验后测试材料的亮度、VF/IR值,并将其记录在支架拉拔试验记录表上。
f.算出每组数据的AVG、MAX、MIN值,并判定其结果。
13/18
5.12冷热冲击试验
验证产品装置,所能承受极端温度变化之耐抗性试验。
Ta=100℃
℃~-40℃
℃
冷热冲击机
22PCS
T=5min~5minx100回
a.试验前测试材料的亮度、VF/IR值,并将其测试数据记录在冷热冲击试验记录表上。
b.做冷热冲击试验。
c.试验完成后,测试前先在常温下放置2小时,若附着水滴时,应事先擦拭干净后测试。
d.试验后测试材料的亮度、VF/IR值,并将其测试数据记录在冷热冲击试验记录表上。
14/18
5.13自然落下试验
验证产品包装后运送过程中之可靠度。
室温(23±
20%RH。
栈板=100cmx100cm,厚=3cm
1箱(九号箱封装)
H=75m,T=3cycles
a.取材料1箱。
b.将栈板平放在地面上。
c.将材料置于距栈板面75cm的高度,做一角三棱六面,自由落下3次。
d.摔落后从中抽取22PCS测其电性,并将其测试数值记录在自然落下试验记录表上。
15/18
5.14振动试验(此项试验因现无设备,故需外派)
验证产品装置振动环境下所能承受振动后电气特性程度。
5℃,RH=55±
振动试验机
加速度=196m/s2
震动频率=100~2000Hz
T=48min,三方向,四次
a.记录试验前测试材料的亮度、VF/IR值。
b.材料放入振动试验机依规范试验。
c.记录试验后测试材料的亮度、VF/IR值。
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5.15全尺寸测量
检测材料相关尺寸是否符合工程规格。
光标卡尺、投影机、KB三代分光计算机、TS-2角度试验机、单测机。
11PCS
a.测试材料的亮度、波长、VF/IR及角度,并将其数值记录在全尺寸测量窗体上。
b.量测材料相关尺寸(参见相关工程图),并将量测数据记录在全尺寸测量窗体上。
c.算出每组数据的AVG、MAX、MIN值,并判定其结果。
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参考文件:
JISC7035
JISC7021:
A1
A2
A4
A11
B10
B11
B12
MIL–S–19500D
备注:
VF:
顺向电压
IR:
逆向电流
IV:
亮度读值
U.S.L.:
规格上限值
L.S.L.:
规格下限值
芯片、VF、IR、规格值参见工程图。
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- LED 实验
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