11焊缝射线检测通用工艺规程Word文档下载推荐.docx
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3.4.1、黑度计可测的最大黑度应不大于4.5,测量值的误差应不超过±
0.05。
3.4.2、黑度计至少每6个月校验一次。
校验方法可参照JB/T4730.2-2005附录B的规定进行。
3.5、增感屏
3.5.1、射线检测应使用铅箔增感屏。
3.5.2、单张曝光时χ射线前后屏用0.03mm的增感屏+0.1mm以上的背板,γ(192Ir)射线前后屏用0.1mm+0.1mm以上的背板。
3.5.3、周向曝光时χ射线、γ(192Ir)射线前后屏用0.1mm的增感屏,但要注意照射环境散射线的影响。
3.5.4、胶片和增感屏在透照过程中,应始终相互紧贴。
3.6、像质计
3.6.1、底片影像质量采用线型像质计测定。
线型像质计的型号和规格应符合JB/T7902的规定,JB/T7902中未包含的丝径、线号等内容,应符合HB7684的有关规定。
3.6.2、对于厂内常用的碳钢、低合金钢、不锈钢材料使用碳钢或奥氏体不锈钢制作的像质计,像质计材料代号为:
Fe;
其他特殊材料像质计材料的选用应符合JB/T4730.2-2005的规定。
3.7、表面要求和射线检测时机
3.7.1、在射线检测之前,对接接头及热影响区的表面应经外观检测合格,焊接检验员签字认可。
表面的不规则状态在底片上的影象不得掩盖或干扰缺陷影象,否则应对表面作适当修整。
3.7.2、当被探工件表面温度>40℃或容器内部介质未被排放干净之前,均不能进行照相。
3.7.3、除非另有规定,射线检测应在焊后进行。
对有延迟裂纹倾向的材料(常用的Cr-Mo材料),至少应在焊接完成24h后进行射线检测。
3.8、射线检测技术等级选择
3.8.1、射线检测技术等级选择应符合制造、安装的有关标准及设计图样规定。
承压设备制造、安装时对接焊接接头的射线检测,一般应采用AB级射线检测技术进行检测。
对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头,可采用B级技术进行检测。
3.8.2、由于结构、环境条件、射线设备等方面限制,检测的某些条件不能满足AB级(或B级)射线检测技术的要求时,经技术负责人批准,在采取有效补偿措施的前提下,若底片的像质计灵敏度达到了AB级(或B级)射线检测技术的规定,则可认为按AB级(或B级)射线检测技术进行了检测,技术负责人应对检测结果负责。
3.9、辐射防护
3.9.1、放射卫生防护应符合GB18871、GB16357和GB18465的有关规定。
3.9.2、现场进行χ射线检测时,应按GB16357的规定划定控制区和管理区、设置警告标志。
检测工作人员应佩带个人剂量计,并携带剂量报警仪。
3.9.3、现场进行γ射线检测时,应按GB18465的规定划定控制区和监督区、设置警告标志,检测作业时,应围绕控制区边界测定辐射水平。
3.9.4、严禁无关人员跨过控制区。
4、照相前的准备
4.1、接受任务
4.1.1、以焊接检验员签字认可的《无损检测申请书》为依据,对照被探件的名称、规格、材质、焊缝形式、工艺特点及探伤比例等作好照相前的准备工作。
4.1.2、对下列情况应拒绝探伤
1)、无申请书或申请书未经焊接检验员签字认可者;
2)、返修无返修申请书,对于3次及以上返修无技术总工程师签字的批准手续者;
3)、虽有焊接检验员签字手续,但在探伤进程中发现有超标外观缺陷影响正确评定底片者;
4)、酸洗后或维修后容器内有介质未清洗排放干净者。
4.2、透照布置
4.2.1、透照方式
应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。
在可以实施的情况下应选用单壁透照方式,在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。
常见的透照方式见JB/T4730.2-2005附录C.
4.2.2、透照方式
⑴.应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。
典型的透照方式参见附录C。
⑵透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心,需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。
4.2.3、一次透照长度
一次透照长度是指采用分段曝光时,每次曝光所检测的焊缝长度。
一次透照长度应以透照厚度比K进行控制。
不同级别射线检测技术和不同类型对接接头的透照厚度比K应符合JB/T4730.2-2005的规定。
满足AB级射线检测技术要求的环向对接接头100%检测的透照按附表1和表2规定执行。
附表1规定了在满足K值的情况下,采用单壁外透法透照时,各种直径的透照张数和一次透照长度;
附表2规定了满足K值的情况下,采用双壁单影法透照的管子、接管及未开检查孔的筒体环缝的透照张数和一次透照长度;
附表3规定了采用中心法(周向曝光)透照时,透照张数参照表。
4.2.4、小径管环向对接焊接接头的透照布置
小径管采用双壁双影透照布置,当同时满足下列两条件时应采用倾透照方式椭圆成像:
a)、T(壁厚)≤8mm;
b)、g(焊缝宽度)≤D0/4
椭圆成像时,应控制影象的开口宽度(上下焊缝投影最大间距)在1倍焊缝宽度左右。
不满足上述条件或椭圆成像有困难时可采用垂直透照方式重叠成像。
4.2.5、小径管环向对接接头100%检测的透照次数
采用倾斜透照椭圆成像时,当T/D0≤0.12时,相隔900透照2次。
当T/D0>0.12时,相隔1200或600透照3次。
垂直透照重叠成像时,一般应相隔1200或600透照3次。
4.3、胶片的准备
按本规程规定选用胶片,根据焊缝的宽度将胶片切成300mm×
80mm或300mm×
100mm或300mm×
120mm,当一次透照长度在100mm以下时,应将胶片切成150mm长。
4.4、射线能量
4.4.1、根据被检工件的厚度、材质选用不同的曝光参数,曝光参数应参照本机的曝光曲线选取,不允许用提高管电压缩短曝光时间的方法照相,或凭经验任意选取曝光参数。
χ射线照相应尽量选用较低的管电压。
在采用较高管电压时,应保证适当的曝光量,应符合本规程4.6.1的规定。
JB/T4730.2-2005中规定了不同透照厚度允许的χ射线最高透照管电压.。
对截面厚度变化大的承压设备,在保证灵敏度要求的前提下,允许采用超过规定的χ射线管电压,但对钢管电压增量不应超过50KV。
4.4.2、γ射线源(192Ir)适用的透照厚度
a)、γ射线源(192Ir)适用的透照厚度范围:
AB级为:
≥20-100mm;
B级为:
≥20-90mm。
b)、采用源在内中心透照方式周向曝光时,在保证像质计灵敏度达到要求的前提下,允许γ射线最小透照厚度取10mm。
c)、采用其他透照方式曝光时,在采用有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到要求的前提下,经合同各方同意,AB级技术的γ射线最小透照厚度可降至10mm。
4.5、射线源至工件表面的最小距离
4.5.1、所选用的射线源至工件表面的距离f应满足下述要求:
AB级射线检测技术:
f≥10d·
b2/3
B级射线检测技术:
f≥15d·
b2/3
4.5.2、采用源在内中心透照方式周向曝光时,只要得到的底片质量符合JB/T4730.2-2005的要求,f值可以减小,但AB级:
f≥5d·
b2/3,B级:
f≥7.5d·
b2/3。
4.5.3、采用源在内单壁透照方式曝光时,只要得到的底片质量符合JB/T4730.2-2005的要求,f值可以减小,但AB级:
f≥8d·
f≥12d·
4.6、曝光量
4.6.1、χ射线照相,当焦距为700mm时,曝光量的推荐值为:
AB级不小于15mA·
min;
B级不小于20mA·
min。
当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。
但曝光时间不小于2min。
4.6.2、采用γ射线源透照时,总的曝光时间应不少于3min。
4.7、曝光曲线
4.7.1、对每台在用射线设备均应作出经常检测的曝光曲线,依据曝光曲线确定曝光参数。
4.7.2、制作曝光曲线所采用的胶片、增感屏、焦距、射线能量等条件以及底片应达到的灵敏度、黑度等参数均应符合JB/T4730.2-2005的规定。
4.7.3、对使用中的曝光曲线,每年至少应校验一次。
射线设备更换重要部件或经较大修理后应及时对曝光曲线进行校验或重新制作。
4.8、像质计的要求和底片标记及代号的使用应符合Q/CHR012-2005的要求。
4.9、及时、准确详细填写《射线检测业绩表》,曝光参数应准确清楚。
4.10、胶片处理
4.10.1、采用手工冲洗方式处理胶片。
显影、定影液的配方应按胶片制造厂推荐的配方或公认有效的的配方配制。
4.10.2、处理前应检查药液的情况,去除表面的氧化物,使其保持良好状态,显影液的温度应保持在18~20℃。
显影时间应控制在6~8min,严禁通过增加显影时间来弥补曝光量的不足或显影液的老化。
4.10.3、定影时间不小于通透时间的两倍,定影温度不得过高。
4.10.4、水洗应在常温下用流动的无杂质清水进行,水洗时间应不低于20~30分钟。
4.10.5、其余有关事项按厂内《暗室管理制度》规定执行。
4.11、评片要求
4.11.1、评片一般应在专用的评片室内进行。
评片室应整洁、安静,温度适宜,光线应暗且柔和。
4.11.2、评片人员应持有按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》的要求考核取得的Ⅱ级以上(含Ⅱ级)射线检测资格证,在评片前应经历一定的暗适应时间。
从阳光下进入评片的暗适应时间一般为5min~10min;
从一般的室内进入评片的暗适应时间应不少于30s。
4.11.3、评片时,底片评定范围内的亮度应符合下列规定:
a)、当底片评定范围的黑度D≤2.5时,透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m2。
b)、当底片评定范围内的黑度D>2.5时,透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m2。
4.11.4、底片评定范围的宽度一般为焊缝本身及焊缝两侧5mm宽的区域。
4.12、底片质量
4.12.1、底片上,像质计、定位和识别标记影像应显示完整、位置正确。
4.12.2、底片评定范围内的黑度D应符合下列规定:
AB级:
2.0≤D≤4.0;
B级:
2.3≤D≤4.0。
用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时,AB级最低黑度允许降至1.5;
B级最低黑度可降至2.0。
采用多胶片方法时,单片观察的黑度应符合以上要求。
对评定范围内的黑度D>4.0的底片,如有计量检定报告证明观片灯在底片评定范围内的亮度能够满足4.10.3的要求,允许进行评定。
4.12.3、底片的像质计灵敏度
单壁透照、像质计置于源侧时应符合JB/T4730.2-2005表5的规定;
双壁双影透照、像质计置于源侧时应符合JB/T4730.2-2005表6的规定;
双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧时应符合JB/T4730.2-2005表7的规定。
4.12.4、底片评定范围内不应存在干扰缺陷影像识别的水迹、划痕、斑纹等缺陷影像。
5、底片的评定和检测报告
5.1、焊缝质量的评定,严格按JB/T4730.2-2005第5、6条规定进行,不得因外界干扰,放宽标准,有意放行。
5.2、根据申请书,结合图样及有关标准的规定,确定合格级别,发现不符应及时向有关部门反馈。
5.3、原始记录应填写清楚,齐全,签字完善,不得随意涂改。
5.4、探伤底片应进行初评和复评。
5.5、设备完工后,整理好探伤底片,附射线检测报告一份,交厂档案室保存,保存期限应不少于7年。
7年后,若用户需要可转交用户保管。
5.6、射线检测原始记录、申请书、返修通知单、射线检测报告、射线检测部位图应整理装订成册,由无损检测部存档保存。
5.7、其他焊缝的评定事项按本厂《评片管理制度》规定执行。
附加说明:
本标准由XXXX压力容器厂质量管理办公室提出。
本标准编制、审批人员:
编制:
XXX
审核:
批准:
本标准从二OO五年十一月一日起执行。
表1、采用中心法(周向曝光)透照时,透照张数参照表:
筒体内径
(mm)
壁厚
透照张数
100%/20%
φ325(192Ir)
10≤δ≤26
4(δ超过上限的用偏心法)
φ377(192Ir)
10≤δ≤30
5(δ超过上限的用偏心法)
φ480(192Ir)
10≤δ≤46
6(δ超过上限的用偏心法)
φ530(192Ir)
10≤δ≤50
7(δ超过上限的用偏心法)
φ600(192Ir)
10≤δ≤88
按实际周长/260确定
φ700(192Ir)
10≤δ≤90
φ800(192Ir)
φ900(192Ir)
φ1000
≤20
13
φ1050
≤26
14/3(20%L3=250mm)
φ1100
≤14
φ1150
15/3(20%L3=250mm)
φ1200
≤36
16/4(20%L3=250mm)
φ1250
≤18
φ1300
17/4(20%L3=250mm)
φ1350
6﹤δ≤40
18/4(20%L3=250mm)
φ1400
φ1450
≤30
19/4(20%L3=250mm)
φ1500
10﹤δ≤46
20/4(20%L3=250mm)
φ1550
φ1600
21/5(20%L3=250mm)
φ1650
φ1700
22/5(20%L3=250mm)
φ1750
6﹤δ≤46
23/5(20%L3=250mm)
φ1800
≤20
φ1850
≤30
24/5(20%L3=250mm)
φ1900
10﹤δ≤44
25/5(20%L3=250mm)
φ1950
φ2000
≤36
26/6(20%L3=250mm)
φ2050
≤16
φ2100
27/6(20%L3=250mm)
φ2150
≤40
28/6(20%L3=250mm)
φ2200
φ2250
29/6(20%L3=250mm)
φ2300
10﹤δ≤44
30/6(20%L3=250mm)
φ2350
30/7(20%L3=250mm)
φ2400
31/7(20%L3=250mm)
φ2450
16﹤δ≤48
32/7(20%L3=250mm)
φ2500
φ2600
33/7(20%L3=250mm)
φ2700
10﹤δ≤42
35/7(20%L3=250mm)
φ2800
36/8(20%L3=250mm)
φ2900
37/8(20%L3=250mm)
φ3000
14﹤δ≤50
39/8(20%L3=250mm)
φ3100
40/8(20%L3=250mm)
φ3200
41/9(20%L3=250mm)
φ3300
42/9(20%L3=250mm)
φ3400
43/9(20%L3=250mm)
φ3500
10﹤δ≤40
45/9(20%L3=250mm)
φ3600
46/10(20%L3=250mm)
φ3700
47/10(20%L3=250mm)
φ3800
48/10(20%L3=250mm)
φ3900
50/10(20%L3=250mm)
φ4000
51/11(20%L3=250mm)
φ4100
52/11(20%L3=250mm)
φ4200
54/11(20%L3=250mm)
φ4300
≤38
55/11(20%L3=250mm)
φ4400
56/12(20%L3=250mm)
表2
接管及未开检查孔的筒体环缝
(常见规格)
采用双壁单影法透照时,透照张数和一次透照长度参照表:
F=D0+150(mm)
外径
一次透照长度(mm)
有效评定长度(mm)
108
5/1
67.9
127
79.8
133
83.6
159
100.0
219
4/1(δ7以下)
172.0
5/1(δ8以上)
137.6
273
4/1(δ16以下)
214.4
5/1(δ17以上)
171.5
325
4/1(δ26以下)
5/1(δ27以上)
204.1
400
251.2
251.2
500
7/2(20%L3=250)
根据实际周长确定
600
8/2(20%L3=250)
700
10/2(20%L3=250、一次最多照两张)
800
11/3(20%L3=250、一次最多照两张)
900
12/3(20%L3=250、一次最多照两张)
1000
13/3(20%L3=250、一次最多照两张)
筒体内(外)径(mm)
一次透照长
度L3(mm)
有效评片长度Leff(mm)
说明
φ273(外)
16以下
7/2
由实际
周长确定
L3+1.33T
(1)计算外径时应加2倍壁厚。
(2)此表透照张数系以外径计算。
(3)因φ1100以上筒体的K值均大于300mm,为考虑搭接,一次透照长度应控制在260mm左右。
(4)壁厚应就高不就低,满足了厚壁。
以下的就满足厚壁。
式中:
T——母材厚度mm
T1——射线束斜向透照最大厚度mm
L1——射线源至工件表面距离mm
L2——工件表面至胶片距离
L3——一次透照长度
Leff——有效评片长度
φ325(外)
11以下
φ377(外)
4以上~40以下
8/2
φ400
30以下
φ426
6以上~40以下
11/3
L3+0.92T
φ450
5以上~38以下
φ480
36以下
φ500
34以下
φ530
26以下
φ550
20以下
φ600
φ650
φ700
φ800
35以下
13/3
φ900
25以下
L3+0.92T
14/3
10以上~20以下
15/3
10以上~16以下
16/4
18/4
19/4
6以上~16以下
20/4
22/5
23/5
表1、采用单壁外透法时,透照张数和一次透照长度参照表:
f=6
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