晶体管特性图示仪使用方法Word文档下载推荐.docx
- 文档编号:17026926
- 上传时间:2022-11-27
- 格式:DOCX
- 页数:7
- 大小:19.84KB
晶体管特性图示仪使用方法Word文档下载推荐.docx
《晶体管特性图示仪使用方法Word文档下载推荐.docx》由会员分享,可在线阅读,更多相关《晶体管特性图示仪使用方法Word文档下载推荐.docx(7页珍藏版)》请在冰豆网上搜索。
9.电源指示:
接通电源时灯亮。
10.聚焦旋钮:
调节旋钮可使光迹最清晰。
11.荧光屏幕:
示波管屏幕,外有座标刻度片。
12.辅助聚焦:
与聚焦旋钮配合使用。
13.Y轴选择(电流/度开关:
具有22挡四种偏转作用的开关。
可以进行集电极电流、基极电压、基极电流和外接的不同转换。
14.电流/度×
0.1倍率指示灯:
灯亮时,仪器进入电流/度×
0.1倍工作状态。
15.垂直移位及电流/度倍率开关:
调节迹线在垂直方向的移位。
旋钮拉出,放大器增益扩大10倍,电流/度各挡IC标值×
0.1,同时指示灯14亮.
16.Y轴增益:
校正Y轴增益。
17.X轴增益:
校正X轴增益。
18.显示开关:
分转换、接地、校准三挡,其作用是:
⑴转换:
使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换,便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。
⑵接地:
放大器输入接地,表示输入为零的基准点。
⑶校准:
按下校准键,光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度,以达到10度校正目的。
19.X轴移位:
调节光迹在水平方向的移位。
20.X轴选择(电压/度开关:
可以进行集电极电压、基极电流、基极电压和外接四种功能的转换,共17挡。
21.“级/簇”调节:
在0~10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。
22.调零旋钮:
测试前,应首先调整阶梯信号的起始级零电平的位置。
当荧光屏上已观察到基极阶梯信号后,按下测试台上选择按键“零电压”,观察光点停留在荧光屏上的位置,复位后调节零旋钮,使阶梯信号的起始级光点仍在该处,这样阶梯信号的零电位即被准确校正。
23.阶梯信号选择开关:
可以调节每级电流大小注入被测管的基极,作为测试各种特性曲线的基极信号源,共22挡。
一般选用基极电流/级,当测试场效应管时选用基极源电压/级。
24.串联电阻开关:
当阶梯信号选择开关置于电压/级的位置时,串联电阻将串联在被测管的输入电路中。
25.重复--关按键:
弹出为重复,阶梯信号重复出现;
按下为关,阶梯信号处于待触发状态。
26.阶梯信号待触发指示灯:
重复按键按下时灯亮,阶梯信号进入待触发状态。
27.单簇按键开关:
单簇的按动其作用是使预先调整好的电压(电流/级,出现一次阶梯信号后回到等待触发位置,因此可利用它瞬间作用的特性来观察被测管的各种极限特性。
28.极性按键:
极性的选择取决于被测管的特性。
29.测试台:
其结构如图A-24所示。
图A-24XJ4810型半导体管特性图示仪测试台
30.测试选择按键:
⑴“左”、“右”、“二簇”:
可以在测试时任选左右两个被测管的特性,当置于“二簇”时,即通过电子开关自动地交替显示左右二簇
特性曲线,此时“级/簇”应置适当位置,以利于观察。
二簇特性曲线比较时,请不要误按单簇按键。
⑵“零电压”键:
按下此键用于调整阶梯信号的起始级在零电平的位置,见(22项。
⑶“零电流”键:
按下此键时被测管的基极处于开路状态,即能测量ICEO特性。
31、32.左右测试插孔:
插上专用插座(随机附件,可测试F1、F2型管座的功率晶体管。
33、34、35.晶体管测试插座。
36.二极管反向漏电流专用插孔(接地端。
在仪器右侧板上分布有图A-25所示的旋钮和端子:
图A-25XJ4810型半导体管特性图示仪右侧板
37.二簇移位旋钮:
在二簇显示时,可改变右簇曲线的位置,更方便于配对晶体管各种参数的比较。
38.Y轴信号输入:
Y轴选择开关置外接时,Y轴信号由此插座输入。
39.X轴信号输入:
X轴选择开关置外接时,X轴信号由此插座输入。
40.校准信号输出端:
1V、0.5V校准信号由此二孔输出。
7.2测试前注意事项
为保证仪器的合理使用,既不损坏被测晶体管,也不损坏仪器内部线路,在使用仪器前应注意下列事项:
1.对被测管的主要直流参数应有一个大概的了解和估计,特别要了解被测管的集电极最大允许耗散功率PCM、最大允许电流ICM和击穿
电压BVEBO、BVCBO。
2.选择好扫描和阶梯信号的极性,以适应不同管型和测试项目的需要。
3.根据所测参数或被测管允许的集电极电压,选择合适的扫描电压范围。
一般情况下,应先将峰值电压调至零,更改扫描电压范围时,也应先将峰值电压调至零。
选择一定的功耗电阻,测试反向特性时,功耗电阻要选大一些,同时将X、Y偏转开关置于合适挡位。
测试时扫描电压应从零逐步调节到需要值。
4.对被测管进行必要的估算,以选择合适的阶梯电流或阶梯电压,一般宜先小一点,再根据需要逐步加大。
测试时不应超过被测管的集电极最大允许功耗。
5.在进行ICM的测试时,一般采用单簇为宜,以免损坏被测管。
6.在进行IC或ICM的测试中,应根据集电极电压的实际情况选择,不应超过本仪器规定的最大电流,见表A-3。
电压范围/V0~100~500~1000~500
允许最大电流/A510.50.1
表A-3最大电流对照表
7.进行高压测试时,应特别注意安全,电压应从零逐步调节到需要值。
观察完毕,应及时将峰值电压调到零。
7.3基本操作步骤
1.按下电源开关,指示灯亮,预热15分钟后,即可进行测试。
2.调节辉度、聚焦及辅助聚焦,使光点清晰。
3.将峰值电压旋钮调至零,峰值电压范围、极性、功耗电阻等开关置于测试所需位置。
4.对X、Y轴放大器进行10度校准。
5.调节阶梯调零。
6.选择需要的基极阶梯信号,将极性、串联电阻置于合适挡位,调节级/簇旋钮,使阶梯信号为10级/簇,阶梯信号置重复位置。
7.插上被测晶体管,缓慢地增大峰值电压,荧光屏上即有曲线显示。
7.4测试实例
1.晶体管hFE和β值的测量
以NPN型3DK2晶体管为例,查手册得知3DK2hFE的测试条件为VCE=1V、IC=10mA。
将光点移至荧光屏的左下角作座表零点。
仪器部件的置位详见表A-4。
表A-43DK2晶体管hFE、β测试时仪器部件的置位
部件置位部件置位
峰值电压范围0~10VY轴集电极电流1mA/度
集电极极性+阶梯信号重复
功耗电阻250Ω阶梯极性+
X轴集电极电压1V/度阶梯选择20μA
逐渐加大峰值电压就能在显示屏上看到一簇特性曲线,如图A-26所示.读出X轴集电极电压Vce=1V时最上面一条曲线(每条曲线为20μA,最下面一条IB=0不计在内IB值和Y轴IC值,可得
hFE====42.5
若把X轴选择开关放在基极电流或基极源电压位置,即可得到图A-27所示的电流放大特性曲线。
即
β=
图A-26晶体三极管输出特性曲线图A-27电流放大特性曲线
PNP型三极管hFE和β的测量方法同上,只需改变扫描电压极性、阶梯信号极性、并把光点移至荧光屏右上角即可。
2.晶体管反向电流的测试
以NPN型3DK2晶体管为例,查手册得知3DK2ICBO、ICEO的测试条件为VCB、VCE均为10V。
测试时,仪器部件的置位详见表A-5。
逐渐调高“峰值电压”使X轴VCB=10V,读出Y轴的偏移量,即为被测值。
被测管的接线方法如图1-28,其中图A-28(a测ICBO值,图A-28(b测ICEO值、图A-28(c测IEBO值。
图A-28晶体管反向电流的测试
表A-53DK2晶体管反向电流测试时仪器部件的置位
项目
部件位置
ICBO
ICEO
峰值电压范围0~10V0~10V
极性++
X轴集电极电压2V/度2V/度
Y轴集电极电流10μA/度10μA/度
倍率Y轴位移拉出×
0.1Y轴位移拉出×
0.1
功耗限制电阻5KΩ5KΩ
测试曲线如图A-29所示。
读数:
ICBO=0.5μA(VCB=10VICEO=1μA(VCE=10V
图A-29反向电流测试曲线
PNP型晶体管的测试方法与NPN型晶体管的测试方法相同。
可按测试条件,适当改变挡位,并把集电极扫描电压极性改为“—”,把光点调到荧光屏的右下角(阶梯极性为“+”时或右上角(阶梯极性为“—”时即可。
3.晶体管击穿电压的测试
以NPN型3DK2晶体管为例,查手册得知3DK2BVCBO、BVCEO、BVEBO的测试条件IC分别为100μA、200μA和100μA。
测试时,仪器部件的置位详见表A-6。
逐步调高“峰值电压”,被测管按图A-30(a的接法,Y轴IC=0.1mA时,X轴的偏移量为BVCEO值;
被测管按图A-30(b的接法,Y轴IC=0.2mA时,X轴的偏移量为BVCEO值;
被测管按图A-30(c的接法,Y轴IC=0.1mA时,X轴的偏移量为BVEBO值。
表A-63DK2晶体管击穿电压测试时仪器部件的置位
置位项目
部件
BVCBO
BVCEO
峰值电压范围0~100V0~100V0~10V
极性+++
X轴集电极电压10V/度10V/度1V/度
Y轴集电极电流20μA/度20μA/度20μA/度
功耗限止电阻1kΩ~5kΩ1kΩ~5kΩ1kΩ~5kΩ
测试曲线如图A-30所示。
图A-30反向击穿电压曲线(NPN
图A-31反向击穿电压曲线(PNP
BVCBO=70V(IC=100μA
BVCEO=60V(IC=200μA
BVEBO=7.8V(IC=100μA
PNP型晶体管的测试方法与NPN型晶体管的测试方法相似。
其测试曲线如图1-31所示。
4.稳压二极管的测试
以2CW19稳压二极管为例,查手册得知2CW19稳定电压的测试条件IR=3mA。
测试时。
仪器部件置位详见表A-7。
逐渐加大“峰值电压”,即可在荧光屏上看到被测管的特性曲线,如图A-32所示。
表A-72CW19稳压二极管测试时仪器部件的置位
部件置位部件
峰值电压范围AC0~10VX轴集电极电压5V/度
功耗限止电阻5kΩY轴集电极电流1mA/度
正向压降约0.7V,稳定电压约12.5V。
5.整流二极管反向漏电电流的测试
以2DP5C整流二极管为例,查手册得知2DP5的反向电流应≤500nA。
测试时,仪器各部件的置位详见表A-8。
逐渐增大“峰值电压”,在荧光屏上即可显示被测管反向漏电电流特性,如图A-33所示。
IR=4div×
0.2μA×
0.1(倍率=80nA
测量结果表明,被测管性能符合要求。
图A-32稳压二极管特性曲线图A-33二极管反向电流测试
表A-82DP5C整流二极管测试时仪器部件的置位
置位
峰值电压范围0~10VY轴集电极电流0.2μA/度
功耗限制电阻1kΩ倍率Y轴位移拉出×
X轴集电极电压1V/度
6.二簇特性曲线比较测试
以NPN型3DG6晶体管为例,查手册得知3DG6晶体管输出特性的测试条件为IC=10mA、VCE=10V。
测试时,仪器部件的置位详见表A-9。
将被测的两只晶体管,分别插入测试台左、右插座内,然后按表1-8
置位各功能键,参数调至理想位置。
按下测试选择按钮的“二簇”琴键,逐步增大峰值电压,即可要荧光屏上显示二簇特性曲线,如图A-34所示。
表A-9二簇特性曲线测试时仪器部件的置位部件置位部件置位峰值电压范围0~10VY轴集电极电流1mA/度极性+“重复--关”开关重复功耗限制电阻250Ω阶梯信号选择开关10μA/级X轴集电极电压1V/度阶梯极性+当测试配对管要求很高时,可调节“二簇位移旋钮”(37),使右簇曲线左移,视其曲线重合程度,可判定其输出特性的一致程度。
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 晶体管 特性 图示 使用方法