3070测试程式开发流程SOP讲解文档格式.docx
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(1)pinnum>
3的元件要放在pinlibrary里测,要写library文件
(2)resistor阻值<
6ohm的作为jumperclosed测,阻值>
10M的作为jumperopen测
(3)inductanee—般可作为jumperclosed测
(4)电路图里有而Bom里没有的resistor或capacitor可作jumperopen测,预留资源;
IC要做library测,时间紧的话写个setup即可,以后可以完善vector测试部分
图1-1分类标签
2、其他特殊的功能測試,比如FlashProgramming,etc—般用不到
3、義fixture的類型和選項,比如fixturesize的选择:
Fullorbank2,根据测点
数选择,可以在”boarc文件里全局设置里定义,如图
1-2.
图1-2“boar全局设置
4、義其它測試流程需要,比如連接到MES(SFCS系統
可以在testplan里添加上抛系统并定义上抛路径,如图1-3
图1-3SFCS系统连接路径设置
二、开发
1、轉換CAD
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文件,得到“board”“board_xy
图2-1CAMCAD
打开CAMCAD,如图2-1,导入原始设计档,弹出如图
1-4
图2-2导入文件选择
选择”FABMASTERFATFRead导入原始档FAT文件。
DFT分析
1.TestAtrributeAssignment
2.DFTOutlineGeneration
3.AccessAnalysis
Step3:
导入用BOMEXPLORER整理好的BOM表,转出得到board和board_xy文件。
2、完成對board文件信息的描述
用BoardConsultant描述
Step1:
在BT-Basic窗口中输入”boardcons打开,BoardConsultant如图2-3:
图2-3BoardConsultant
选择View/EditTestSystemData如图2-4:
图2-4View/EditTestSystemData
对系统参数进行设置
1.FixtureOption的設置,一般默认,如图2-5
主要是对Fixture的类型尺寸,绕线,探针的属性进行设置,一般FixtureType设
置为Express即使用短绕线算法;
size设置为Bank2,即用到Module2andModule3,
其他默认设置即可
图2-5FixtureOption设置
2、IPGGlobalOption的设置,如图2-6
主要是对IPG程序智能算法的设置,有:
ToleraneeMultiplier:
测量算法的精度,一般选3或5,数字越大,精度越低
测Diode,Zener的安全电流设置
RemoteSensing是否使用a,b,lBus辅助测量,提高精度
CapacitorCompensation:
小电容是否需要补偿(on/off
UpstreamDisable:
是否使用Disable,保护上流IC
PreeonditionLevel:
Safeguard级数的设置
各类测量bus的固有电阻,电感大小的设置
Magic
Agilent测量技术的启用和设置:
BoundSeanTestDriveThruTest、
Test、etc
图2-6IPGGlobalOption设置
3、familyoption的设置,如图2-7
receive
对电路图中用到的电平逻辑进行定义,规定drivehigh、drivelow、high、
receivelow、slewrate,
负载电阻类型,默认逻辑。
图2-7familyoption的设置
4、GPRelay的设置,如图2-8ControlCard中有8对GPRelay资源,用来引
导驱动来控制IC
GPRel^yConnectionsForm
动作
FamilyOptionsForm
1Actions
Options
Notes:
5、FixedNodeOptions的设置,如图2-9电路中有些点的电平是固定的,我们
要定义它们为FixedNode
图2-9FixedNodeOptions的设置
6、powernodeoption的设置,如图2-10
在powertest时,我们需要给板子上电,所以要定义powernode,—般可以定义几组,以得到较大的驱动电流。
我们用的3070系统提供4组电源,所以在定义时需说明用了第几组,在PS#里定义,这里我用了第3组
图2-10Powernodeoption的设置
7、LibraryOption的设置,如图2-11设置library文件的路径,一般定义customlib
PowerNodeOptionsForm
为用户自定义库文件目录
图2-11LibraryOption的设置
8、boardLeveldisable的设置,如图2-12
件,使它们输出高阻抗,停止工作
图2-12boardLeveldisable的设置
Step4:
合理归类元件,编写pinlibrary和digitalsetuptest
1.
2.在BT-basic中输入partforms,打开PartDescriptionEditor,如图2-13:
PDE是用来对电阻、电容、电感、二极管、三级管、场效应管、跳线、开
关、熔丝等测试进行描述的工具,定义时应该参照电路图,准确无误的描述各pin
脚的连接,尤其是极性元器件的描述(Diode、Zener、FET、Transistor、etc
3.在BT-basic中输入setuptesteditor将打开SetupEditor如图2-14:
SetupEditor是用来为数字器件测试建立setuptest描述引脚连接,类型,disable
信息等等,目的是为测试预留资源.Vector测试部分可以有时间补上去.要注意的是类型定义不能有误•
对模拟器件和数字器件的描述,保存为library文件于Custom_lib中.
结合BOM文件,按照测试策略的分类一般原则,对”boarc文件中的元件合理
分类,选择测试方法,比如用library测还是用Testjet测,还是both,等等
鋼怒吕」0毛山uoKuosecl七wdCL"
®
^-5-^3^E«
!
u<
r>
>
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』•■■■"
!
图2-14SetupEditor
Step5:
BoardOutline如图2-15和BoardKeepOut(如图2-16的定义
BoardOutline定义板子的边线,outline包含的区域里的资源我们是无法使用的。
BoardKeepOut定义Testjet预留区域的大小,可以自动捕获,也可以手动定义。
图2-15BoardOutline
图2-16BoardKeepOut
Step6:
编译board和board_xy文件,检查错误
1.在BT-basic窗口里输入checkboard“bo和'
cbfieckboardxy“board_Xy”,
有错误,可以进行下一步
2.在BT-basic窗口里输入com“config”,com“best和”qm“board_xy”;
list,
编译,确保没有错误•
如果有问题,根据buglist查找error,并解决问题
如果没有问题,则board文件描述结束,可以进入下一步
3.BoardPlacement&
ProbeSelection
在BT-Basic里输入fixcons,打开fixtureconsultant如图
2-17:
图2-17fixconsultantStep2:
选择Tasks|PlaceBoarc如图
Tasks
PlaceBoard
ViewNodeInformation
RunProbeSelection
ViewProbingDetailsResignFixture
SearchOptions
View/EditFixtureOptionsVlew/EditFixtureElectronics
2-18:
图2-18PlaceBoard
在弹出的BoardPlacementForm里输入放板位置坐标和旋转角度,选择
ShowPlacementonMainForm完成放板。
如图2-19:
TasksSearchOptionsjView/EditFixtureOptions
View/EditFixtureEleetroriics汁
ViewProbingDetails^DesignFixture
T仇Mi溟奄
■wwniETTEi?
琲#-laixi
hActions
■earthOptions
BfldrdMdccniriilfurin
NotBS!
Thecurrentpl^cdMenti5whowninlheGraphses出
OffsetfromFixtureOrigintoCenlerOfBoard(TenthMils):
v-
A,
图2-19BoardPlacement
我们也可以用鼠标拖动MainForm里的板子,放到适合的位置。
选择EstimateBlockedPins察看有哪些pins资源被挡到了,如果问题比
较多,可以重做Step3,然后再做Step4,直到满意为止。
如图2-20:
图2-20Blockedpins
Update后,选择Tasks|RunProbeSelection^行ProbeSelection如图
Il
X
EH
OffsetfromFixtureOrigintoCenterOfBoard(TenthMils)
mu
11e&
thftdtedthat102pinsivi11beblockedforthi3pl^ccnvnt
BoardPlacrnifi^Form
Z6491-
E0i
90
2081?
20818
70023
2002+
20831
J.U.W.W.UUjMU.WJjMU.W.P
tlons
Rotation:
Degrees
76491?
BorirdPldcenientForm!
2-21:
图2-21Update&
RunProbeSelectionStep6确认ConfirationDialog后,程序将
执行ProbeSelection如图2-22:
NotCS^Iti5e^timatedthat102pinswillbeblockedForthisp\acerneht.
OffsetfromFixtureOrigintoCenterOfBoard(TenthMils):
ConfirmationDialog
Thefixtureobjectdoesnotexistforthisboarddirectory.(BoardPlacementhasautomaticallybeenrunfbutthefixturehasnotbEEiisave<
1.)ProbeSelectionusesthefbctuirdatafromthecurrentboarddirectoryonthedisk,soitwillnotbeabletorununtilyousaveUiefixture.
DoyouwishtosavetothecurrentboarddirectoryonthediskandthenrunProbeSelection?
Thefixtureobjectdoesnotexistfcboarddirectory.(BoardPlacemeiautomaticallybeenrun,butthefi>
hasnotbeensaved,)ProbeSelecusesthefixturedatafromthecurrboarddirectoryonthedisk,soit”notbeabletorununtilyousavetfixture.
DoyouwishtosavetothecurrendirectoryonthediskandthenrurSelection?
YesiNoC
图2-22Confirmation&
ProbeSelectiondone
4、跑IPGTestConsultant生成測試文件和治具文件
在BT-basic窗口下按F6,打开IPGTestConsultant如图
ConfirmationDialog
Thefixtureobjectdoesnotexistforthisboarddirectory.(BoardPlacementhasautomaticallybeenrun,butthefixturehasnotbeensaved,)ProbeSelectionusesthefixturedataIromthecurrent*boarddirectoryonthedisk,soItwill
notbeabletorununtilyousavethefixture.
2-23:
图2-23IPGConsultant
选择Actions|DevelopBoardTest然后是Actions|BeginInteractive
Development,进行人机交互式开发,StepbyStep如图
2-24:
ActionsEditManagersEnterBoardDauDevelopBoardTest
图2-24ActionsSelectionStep3:
按照TestDevelopmentSteps流程,StepbyStep
执行:
如图2-25:
图2-25StepbyStep
IPGConsultantMessage窗口会显示当前步骤的执行结果,如果遇到错误,程序会挂起,我们需要根据错误提示,寻找问题,解决错误,然后重新执行这一步,直到所有Steps顺利完成。
如图
2-26:
图2-26Execution
5、送Fixture文件到治具厂做治具
将生成的fixture文件打包发给治具厂商制作治具
&
修改Testplan
1.添加Smartest參數
2.添加sfcs參數
3.修改電源上電順序
4.添加gprelay开关命令,控制上電和disable動作
7、補充完成SetupTest文件,使其完整
对照电路图和ICSpec用VCL或PCF语言编写数字测试的Vector测试部分,
图2-27VCLLanugage
三、Debug和优化程式,生成测试覆盖率报告
1.FixtureCheck
治具做好后,我们要对其进行检查,确保没有错误
在BT-Basic窗口中输入loadboard|debboardfT开PushbuttonDebug窗
口,如图3-1
将铜板放入治具,选择Macros|TestplanMacros|pins结果为shortOK;
如果有Open,应该检查Probe、治具绕线是否有open或P-pin和M-pin是否接触不良,可以重复运行fixlock|fixunlock,使治具与机台contact无误。
将光板放入治具,选择Macros|TestplanMacros|shorts结果为OpenOK,如果有short,应该檢查fixturewiring是否有Short。
放入一块好板,在BT-basic窗口中输入faon|verifyallmuxcards,如果没有问题,OK,否则,要检查MuxCard
放一块好板,在PushbuttonDebug里选择Debug|DebugTest•弹出的对话框中输入Testjet,然后选择AutoDebug|AutoDebugTest让VTEP自动学值,如果出现0或负值,请检查VTEP的放大器和极性
視檢,檢查治具的Probe是否OK、彈簧是否沾牢固、Tooling孔径是否适合,治具边框、密圭寸垫圈和油压杆是否OK,等等。
Pu^hbuttoiiiDebui|
Failinq
Fils:
BoardLavelDebug
图3-1PushbuttonDebug
2、Debug并优化程式
在确保治具没有问题的前提下,我们用好的板子进行程式的Debug和优化。
DebugShortstest
1、放入好板,在Debug窗口中选择Macros|TestplanMacros|short§
遇到PhantomShorts应该在short文件里调整相应的测试顺序和delaytime,直到没有PhantomShorts出现.
2、调完shorts后,应该comment掉reportphantoms
上電確保powerwiring是正確的
在确保没有short的情况下,选择Macros|TestplanMacros|PowerSupplies#查powerwiring是否正确,保證連到ARSU卡上的powerwiring是OK的,可以在Testplan里用rps命令报告供电电压和电流是否到位。
Step3:
DebugAnalogIncircuit
Test
1、DebugResistors
2、DebugCapacitors
3、DebugInductors
调Analog时应该结合电路图和Bom,适当的加Guarding和参数选项,比如wait,ed,en等等,合理调整上下限和frequenee,—个原则是:
测试稳定。
DebugtestjetTest
用AutoDebug学习好板子的值,然后用其他好板子验证,重复直到Testjet
Pass
DebugDigitalIncircuittests
用gpconnect命令控制CPU或BUS动作,为一些数字测试提供测试条件用
gpconnect命令控制Clock动作,为一些数字测试提供测试条件DebugDigtalIC
DebugAnalogfunctionaltests
1.Debug晶振元件測試程序
2.Debug電源轉換IC的電壓測量程序
适当的用gpconnect命令控制这些IC动作,调用编写的power_check程序,检查转换的电压是否0K.如果Fail,仔细分析PowerSequeneeSpec了解上电顺序,然后用gpconnect命令重新驱动PowerIC工作,debugpower_check程序,直到0K.
3.Debug運算放大器件測試程序Step7:
如果调试过程中,调不稳的测试,我们可以在Testplan里K掉
3.質量檢查
打开PushbuttonDebug运行Macros|TestplanGraderMacros|CreateGradingConfig,生成Config.bdg,分级质量检查的配置文件,如图
Status:
113BiFioBinutiorkBpaciB
text2808
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