TT220数字式涂层测厚仪使用说明Word文件下载.docx
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⒈测量范围及测量误差(见表一)
表一示值误差(µ
m)
型号工作原理
测量范围(µ
低限分辨力(µ
m)零点校准二点校准TT220磁感应0~12501±
(3%H+1),±
[(1%~3%)H+1]
型号待测基体最小曲率半径(mm)
基体最小面积的直径(mm)
基体临界厚度(mm)
TT220凸1.5凹9∅70.5
注:
H—标称值
⒉使用环境:
温度:
0~40℃
湿度:
20%~75%
无强磁场环境
⒊电源:
镍镉电池3.6V二节
⒋外型尺寸:
150mm×
55.5mm×
23mm
⒌重量:
150g
二、主要功能
●可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
●具有两种测量方式:
连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式
(SINGLE);
●具有两种工作方式:
直接方式和成组方式;
●具有删除功能:
对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
●设有五个统计量:
平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、
测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
●具有打印功能,可打印测量值、统计值;
●具有欠压指示功能;
●操作过程有蜂鸣声提示;
●具有错误提示功能;
●具有自动关机功能。
4
第三章使用方法
一、基本测量步骤
⒈准备好待测试件(参见第五章)。
⒉将测头置于开放空间,按一下“ON/C”键,开机。
⒊检查电源
●无“╪”显示,表示电池电压正常;
●“╪”出现,表示电池电压已低落,应充电;
●开机后,出现“╪”并自动关机,表示电池电压已低至极限,应立即充电。
⒋正常情况下,开机后显示上次关机前的测量值。
⒌是否需要校准仪器,如果需要,选择适当的校准方法进行(参见第四章)。
⒍测量
迅速将测头与测试面垂直地接触并轻轻压住,随着一声鸣响,屏幕显示测量值,提起测头可进行下次测量;
如果在测量中测头放置不稳,显示一个明显的可疑值,可在“DELONE?
”状态删除该值;
重复测量三次以上,在“DISSTATS?
”状态,可依次显示五个统计值,即:
平均值(MEAN)、最大测量值(MAX)、最小测量值(MIN)、测
量次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)。
⒎关机
在无任何操作的情况下,大约2~3min后仪器自动关机。
二、TT220数字式涂层测厚仪各项功能及操作方法
⒈测量方式(单次测量⇔连续测量)
●单次测量方式──测头每接触被测件1次,随着一声鸣响,显示测量结果。
如若再测量,须提起测头离开被测件,然后再压下测头。
●连续测量方式──不提起测头测量,测量过程中不伴鸣响,显示屏连续显示测量结果。
●两种方式的转换方法是:
在关机状态下,按住“MODE”键后,再按“ON/C”键,随着一声鸣响,转换完成。
单次测量方式,屏幕显示如下:
连续测量方式,屏幕显示如下:
30µ
m
SINGLE
CONTINUE5
⒉工作方式(直接方式⇔成组方式)
●直接(DIRECT)方式──此方式用于随意性测量,测量值暂存在内存单元(共有15个存贮单元)。
当存满15个存贮单元,新的测量值将替掉旧测量值,并且参与统计计算的数值,总是最新的15个数据;
●成组方式(BATCH)──此方式便于用户分批记录所测试的数据,一组最多15个数值,每当存满一组(15个)数据,屏幕将显示此时可用“PRINTALL?
”打印出该组数值及其统计计算值。
用“DELALL?
”删除该组数据,否则不能进行新的测量。
成组方式避免了直接方式下新值替旧值的随意性。
a.按“MODE”键直至屏幕显示,按“ON/C”键确认后,屏幕显示进入直接方式。
b.按“MODE”键直至屏幕显示,按“ON/C”键确认后,屏幕显示进入成组方式。
⒊删除
●删除当前值:
当前测量结果如果出现较大误差,且不希望此结果进入统计计算,可按“MODE”键,直至屏幕提示,此时,按“ON/C”键即可将此数据删除(如果不想删除,在
Tested15!
DIRECT?
DIRECT
BATCH?
BATCH
DELONE?
6“DELONE?
”状态下,按▲或▼键即可)。
●删除全部数据:
如果要删除内存中的全部数据以便进行新一轮测量,可按“MODE”键,直至屏幕提示,此时,按“ON/C”键即可将内存全部数据删除(如果不想删除,在“DELALL?
⒋统计计算
只要有3个测量值,即可进行统计计算。
操作方法是:
重复测量3次以上,按“MODE”键直至屏幕显示,按▲或▼键,平均值(MEAN)、最大测量值(MAX)、最小测量值(MIN)、测量次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)可依次显示。
例如:
若要回到测量状态,按“MODE”键或“ON/C”键即可。
⒌打印功能
●单次打印──与单次测量方式相对应,每测量一次,打印一个测量值。
操作方式是:
在单次测量方式下,按“MODE”键直至屏幕显示,按“ON/C”键确认后,屏幕显示
DELALL?
DIS.STATS?
MEAN100µ
MAX103µ
MIN99µ
NO.5
S.DEV1.6µ
PRTONE?
7此后,每次测量都将打印。
若要放丢打印,在“PRTONE?
”状态下,按▲或▼键即可。
●连续打印──连续打印既适用于单次测量方式也适用于连续测量方式,内存中的全部测量值及统计值一并打印输出。
按“MODE”键直至屏幕显示,按“ON/C”键确认后,屏幕显示同时打印输出内存中的所有测量值及统计值。
若要放弃打印,在“PRTALL?
●打印机与本仪器的连接
只有本公司开发设计的打印机可与本仪器连接,进行打印工作。
将打
印连线一头接打印机,另一头接本仪器,打开打印机电源,按上述方法操作即可。
⒍关于“MODE”键
按住“MODE”键不松开,各状态提示将依次出现。
第四章仪器的校准
为使测量准确,应在测量场所对仪器进行校准。
一、校准标准片(包括箔和基体)
已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。
简称标准片。
⒈校准箔
对本仪器“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。
“箔”有利于曲面上的校准。
⒉有覆盖层的标准片
采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。
对于本仪器,覆盖层应是非磁性的。
二、基体
⒈对于本仪器标准基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与待测试件基体金属PRTON、PRTALL?
、PRTON8的磁性和表面粗糙度相似。
为了证实标准片的适用性,可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的读数进行比较。
⒉如果待测试件的基体金属厚度没有超过参数表中所规定的临界厚度,可采用下面两种方法进行校准:
1)在与待测试件的基体金属厚度相同的金属标准片上校准;
2)用一足够厚度的,电学或磁学性质相似的金属衬垫标准片或试件,但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。
对两面有覆盖层的试件,不能采用衬垫法。
⒊如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准,则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率,应与试样的曲率相同。
三、校准方法
本仪器有两种测量中使用的校准方法,零点校准;
二点校准;
还有一种针对测头的基本校准。
⒈零点校准
a.在基体上进行一次测量,仪器显示<×
.×
µ
m>。
b.按一下“ON/C”键,屏显<0.00µ
m>即完成零点校准。
c.要准确地校准零点,须重复上述a、b以获得基体测量值小于1µ
m,这样有利于提高测量精度。
零点校准完成后就可进行测量了。
⒉二点校准
a.先校零点(见上)。
b.在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量,屏幕显示<×
×
c.用▲或▼键修正读数,使其达到标准片上的标称值。
校准已完成,可以开始测量了。
注意:
即使显示结果与标准片值符合,按▲、▼键也是必不可少的,例如按一次▲键一次▼键。
如欲较准确地进行二点校准,可重复b、c过程,以提高校准的精度,减少偶然误差。
⒊在喷沙表面上校准
喷沙表面的特性导致了测量值大大偏离真值,其覆盖层厚度大致可用下面的方法确定
a.仪器要用三、⒈或三、⒉的方法在曲率半径和基材相同的平滑表面校准好。
b.在未涂覆的经过同样喷沙处理的表面测量10次左右,得到平均值Mo。
c.然后,在已涂覆的表面上测量10次得到平均值Mm。
d.(Mm—Mo)±
S即是覆盖层厚度。
其中S(标准偏差)是SMm和
SMo中较大的一个。
⒋仪器的基本校准
在下述情况下,改变基本校准是有必要的:
──测头顶端被磨损
──测头修理后
──特殊的用途
在测量中,如果误差明显地超出给定范围,则应对测头的特性重新进行校准,称为基本校准。
通过输入6个校准值(一个零值和5个厚度值)可重新校9准测头。
基本校准操作方法如下:
a.在仪器关闭状态下按住▼键再按ON/C键开机,随着一声鸣响即进入基本校准方式。
屏幕显示如下:
b.先校零值(见零点校准)。
可连续重复多次,以获得一个多次校准的平均值,这样可提高校准的准确性。
c.使用标准片,按厚度增加的顺序做五个厚度的校准(见二点校准中的(b、c)。
每个厚度应至少是上一个厚度的1.6倍以上,理想的情况是2倍。
50、100、200、400、800µ
m。
最大值应接近、但低于测头的最大测量范围。
d.在输入6个校准值后,测量一下零点,仪器自动关闭,新的校准值已存入仪器。
当再次开机时,仪器将按新的校准值工作。
第五章与仪器使用有关的注意事项
对本仪器影响测量精度的因素主要有:
基体金属磁性、基体厚度、边缘效应、曲率、表面粗糙度、外界磁场、附着物质、测头压力、测头位置、试样的变形等。
一、影响测量精度的因素及有关说明
⒈基体金属磁性
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理及冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
亦可用待涂覆试件进行校准。
⒉基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。
大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。
本仪器的临界厚度值见第二章《技术参数》。
⒊边缘效应
本仪器对试件表面形状
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- TT220 数字式 涂层 测厚仪 使用说明