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6能带结构:
固体的能带结构(又称电子能带结构)描述了禁止或允许电子所带有的能量,这是周期性晶格中的量子动力学电子波衍射引起的。
第2章半导体中杂质和缺陷能级
1、杂质类型:
杂质原子进入半导体硅以后,只可能以两种方式存在。
一种方式是杂质原子位于晶格原子间的间隙位置常称为间隙式杂质:
另一种方式是杂质原子取代晶格原子位于晶格点处,常称为替位式杂质。
2、使电子挣脱束缚成为导电电子所需要的能量称为杂质电离能。
能释放电子而产生导电电子并形成正电中心的杂质,称为施主杂质;
受主杂质:
能接受电子而产生导电空穴并形成负电中心的杂质。
把被受主杂质所束缚的空穴的能量状态称为受主能级;
and施主能级
3N,P型半导体,施主杂质失去电子,受主杂质得到电子。
5施主电子刚好够填充受主能级,虽然杂质很多,但不能向导带和价带提供电子和空穴,这种现象称为杂质的高度补偿.(控制不当)误认高纯半导体。
a、当ND远大于NA时n型半导体:
自由电子浓度远大于空穴浓度的杂质半导体。
。
n电子浓度。
b、当NA远大于ND时p型。
.p空穴浓度
热/点缺陷的数目随温度升高而增热
第三章半导体中载流子的统计分布
1状态密度:
在能量E附近每单位能量间隔内的量子态数。
费米能级EF由温度及施主杂质浓度所决定。
2费米能级的物理意义:
费米能级标志了电子填充能级的水平.
3记忆费米分布函数?
?
【计算题?
】,玻尔兹曼分布函数,前者重点
在热力学温度零度时,费米能级EF可看成量子态是否被电子占据的一个界限。
系统热力学温度>
0时,如量子态的能量比费米能级低,则该量子态被电子占据的概率>
50%;
量子态的能量比费米能级高,则该量子态被电子占据的概率<
50%。
量子态的能量等于费米能级时,则该量子态被电子占据的概率是50%
4服从玻耳兹曼统计律的电子系统-----非简并性系统;
服从费米统计律的电子系统-----------简并性系统。
7.N型半导体的载流子浓度:
低温弱电离区(中间电离区强电离区过渡区高温本征激发区)
温度很低,大部分施主杂质能级仍为电子占据,极少量施主杂质电离,极少量电子进入了导带,称之为弱电离。
导带中的电子全部由电离施主杂质所提供。
显然低温弱电离区费米能级与温度、杂质浓度以及掺入何种杂质原子有关。
8决定杂质全电离的因素:
1)杂质电离能2)杂质浓度3)温度
9高温本征激发区
继续升高温度,本征激发占主导,
1)杂质全部电离
2)本征激发产生的本征载流子数远多于杂质电离产生的载流子数,n0》ND,p0》ND这时电中性条件是n0=p0,与未掺杂的本征半导体情形一样,因此称为杂质半导体进入本征激发区。
10禁带宽度越宽、杂质浓度越高,达到本征激发起主要作用的温度也越高。
第四章半导体的导电性
1电子迁移率:
表示单位场强下电子的平均漂移速度,单位m2/V.s
迁移率和单位载流子的电荷量、载流子的平均自由时间和载流子有效质量有关。
2影响迁移率的相关因素:
迁移率主要受材料内部的散射因素影响。
3解释寿命
4散射几率:
单位时间内一个载流子被散射的次数。
5在外力和散射的影响下,使载流子以一定的平均速度沿力的方向漂移,这个平均速度是恒定的平均漂移速度。
6半导体中载流子在运动过程中被散射原因?
周期性势场的被破坏!
引入附加势场
导致电子运动过程中状态不断发生改变。
7平均自由时间和散射概率是描述散射过程两重要参量。
8电阻率决定于载流子浓度和迁移率,与杂质浓度和温度有关。
9载流子在电场力的作用下加速理论上应该无限加速,电流密度无限增大,实际上保持不变,引入散射.
10主要散射机制
电离杂质的散射(Ni越大,载流子遭受散射的机会越多T↑,载流子热运动的平均速度越大,不易散射)
晶格振动的散射(T定,晶格中原子都各自在其平衡位置附近作微振动。
波的叠加原理)
第5章非平衡载流子
2统一的费米能级是热平衡状态的标志。
3非平衡载流子的平均生存时间称为非平衡载流子的寿命。
寿命意义:
寿命标志着非平衡载流子浓度减小到原值1/e所经历的时间。
寿命不同,非平衡载流子衰减的快慢不同。
与半导体材料、材料制备工艺等因素有关..掺金、辐照
寿命值的大小在很大程度上反映了晶格的完整性。
它是衡量材料质量的一个重要指标。
硅中掺金后寿命为什么会明显降低?
?
4△n和△p就是非平衡载流子浓度。
非平衡电子称非平衡多子,空穴为非平衡少子(p型相反)。
光照半导体产生非平衡载流子,称非平衡载流子的光注入。
光注入时△n=△p△n、△p《多子浓度------小注入。
主要是非平衡少子起重要作用,说非平衡载流子都是指非平衡少数载流子。
5许多半导体器件,如晶体管、光电器件(太阳能电池)等,都是利用非平衡载流子效应制成的。
6产生过剩载流子的办法:
光注入电注入热激发高能粒子辐照
7准费米能级:
分别就价带和导带中的电子讲,它们各自基本上处于平衡态,而导带和价带之间处于不平衡状态。
因而费米能级和统计分布函数对价带和导带各自仍然是适用的,可以分别引入导带费米能级和价带费米能级,它们都是局部的费米能级,称为“准费米能级”.
为了方便讨论非平衡载流子的统计分布以及载流子浓度的能级而引入的。
费米能级代表电子的填充情况。
8复合理论:
非平衡载流子的复合。
系统由非平衡态到平衡态。
A.直接复合:
由电子在导带与价带间直接跃迁而引起非平衡载流子的复合过程。
B.间接复合:
是指非平衡载流子通过(禁带的能级)复合中心进行的复合。
半导体中的杂质和缺陷有促进复合的作用,称促进复合的杂质和缺陷为复合中心
复合中心在禁带中引入能级
复合中心对少数载流子的俘获决定着寿命,因复合中心总是基本上被多数载流子所填满。
位于禁带中央附近的深能级是最有效的复合中心。
为什么深能级才能起有效的复合中心作用?
C.表面复合:
是指在半导体表面发生的复合过程。
属于间接复合
D.俄歇复合:
载流子从高能级向低能级跃迁,发生电子空穴复合时,把多余的能量传给另一个载流子,使这个载流子被激发到能量更高的能级上去,当它重新跃迁回低能级时,多余的能量常以声子形式放出,这种复合称为俄歇复合。
是一种非辐射复合
9载流子复合时,要释放出多余的能量。
放出能量的方法有三种:
①发射光子。
伴随着复合,将有发光现象,常称为发光复合或辐射复合;
②发射声子。
载流子半多余的能量传给晶格,加强晶格的振动;
③将能量给予其他载流子,增加它们的动能。
称为俄歇(Auger)复合。
10杂质能级的积累非平衡载流子的作用称为陷阱效应,把有显著陷阱效应的杂质能级称为陷阱,相应的杂质和缺陷称为陷阱中心。
陷阱的作用:
增加少数载流子寿命
11复合中心和陷阱中心的区别?
1)对于有效复合中心,rn≈rp电子陷阱:
rn≧rp;
空穴陷阱:
rp≧rn
2)复合中心和电子陷阱中电子的运动途径不同。
复合中心的电子直接落入价带与空穴复合;
电子陷阱中的电子要和空穴复合,它必须重新激发到导带,再通过有效复合中心完成和空穴的复合。
3)位于禁带中央附近的深能级是最有效的复合中心
对于电子陷阱:
EF以上的能级,越接近EF,陷阱效应越显著
12扩散运动是由于粒子浓度不均匀引起的
扩散:
由于浓度不均匀而导致载流子(电子或空穴)从高浓度处向低浓度处扩散的过程。
13由于表面不断有注入,半导体内部各点的空穴浓度也不随时间改变,形成稳定的分布,称为稳定扩散。
14Lp标志非平衡载流子深入样品的平均距离,称为扩散长度。
扩散长度由扩散系数和材料的寿命所决定。
材料的扩散系数有标准数据,扩散长度测量是测量寿命方法之一。
15迁移率是反映载流子在电场作用下运动难易程度物理量,而扩散系数反映存在浓度梯度时载流子运动难易程度。
爱因斯坦从理论上找到了扩散系数和迁移率之间的定量关系。
爱因斯坦关系式将扩散和漂移两个过程整合
16扩散、漂移电流区别:
扩散—非平衡载流子浓度梯度有关
漂移—总的载流子有关
17漂移和扩散运动同时存在时少子所遵守的运动方程,称为连续性方程式。
第6章PN结
1空间电荷区:
通常把在pn结附近的电离施主和电离受主所带电荷称为空间电荷,它们所存在的区域称为空间电荷区,空间电荷区又叫势垒区。
2引起pn结电流电压特性偏离理想方程的原因:
1、表面效应2、势垒区中的产生及复合3、大注入条件4、串联电阻效应
3获取PN结方法:
合金法,扩散法,注入法
4内建电场的作用,载流子作漂移运动。
电子和空穴的漂移运动方向与相应扩散运动方向相反。
5qVD称pn结势垒高度计算:
P161.?
6理想p-n结:
♦①小注入条件
♦②突变结,耗尽层近似—可认为外加电压全降落于耗尽层
①+②在扩散区,少子电流只需考虑扩散
♦③忽略耗尽层中的产生,复合通过耗尽层时,可认为电子电流和空穴电流均保持不变
♦④玻耳兹曼边界条件
7理想p-n结的电流电压方程计算!
!
9电容效应的应用?
10Pn结击穿:
对pn结施加反向偏压增大到某一数值VBR时,反向电流密度突然开始迅速增大的现象称为pn结击穿。
(雪崩击穿、隧道击穿、热电击穿)
p-n结击穿的基本原因:
载流子数目的突然增加.
.11电容击穿原理?
12击穿机理:
♦雪崩击穿—强电场下的碰撞电离,使载流子倍增
♦隧道击穿—大反向偏压下,隧道贯穿使反向电流急剧增加
♦热电击穿—不断上升的结温,使反向饱和电流持续地迅速增大
分别怎么计算?
13为什么势垒区很薄得不到雪崩击穿?
载流子动能的增加需要一个加速过程如果势垒区很薄即使电场很强载流子在势垒区中加速达不到产生雪崩倍增效应所必须的动能就不能产生雪崩击穿。
14Pn结隧道效应:
对于两边都是重掺杂的pn结,随着电压的增大电流反而减小的现象称为负阻,这一段电流电压特性曲线的斜率为负的,这一特性为负阻特性。
反向时,反向电流随反向偏压增大而迅速增加,由重掺杂的p区和重掺杂的n区形成的pn结称为隧道结。
15隧道效应—能量低于势垒的粒子有一定的几率穿越势垒.这是一种量子力学效应.
隧穿几率与势垒的高度有关,与势垒的厚度有关.
隧道二极管—利用量子隧穿现象的器件效应
第七章金属和半导体接触
1功函数:
E0表示真空中静止电子的能量,金属功函数的定义是E0与EF能量差。
Wm=E0-EFm表示一个起始能量等于费米能级的电子,由金属内部逸出到真空中所需要的最小能量。
半导体功函数是E0与费米能级EF之差Ws=E0-EF
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