数电实验Word格式.docx

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它们的大小标志着器件静态功耗的大小。

器件的最大功耗为PCCL=UCC·

ICCL。

ICCL和ICCH测试电路如图1-2（a）、（b）所示。

（2）低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiH。

在多级门电路中，IiL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数。

在多级门电路中，IiH相当于前级门输出高电平时，前级门的拉电流负载，其大小关系到前级门的拉电流负载能力。

由于IiH较小，难以测量，一般免于测试。

IiL与IiH的测试电路如图1-2（c）、（d）所示。

图1-2TTL与非门静态参数测试电路图

（3）扇出系数N0

扇出系数N0是指门电路能驱动同类门的个数，它是衡量门电路负载能力的一个参数，门电路有两种不同性质的负载，即灌电流负载和拉电流负载，因此有两种扇出系数，即低电平扇出系数N0L和高电平扇出系数N0H。

通常IiH＜IiL，则N0H＞N0L，故常以N0L作为门的扇出系数。

N0L的测试电路如图1-3所示，调节RL使U0L=0.4V，此时的I0L就是允许灌入的最大负载电流，即

，通常N0L≥8

（4）电压传输特性

门的输出电压u0随输入电压ui而变化的曲线u0=f（ui）称为门的电压传输特性。

测试电路如图1-4所示，调节RW，逐点测得Ui及U0，然后绘成曲线。

图1-3扇出系数测试电路图1-4传输特性测试电路

（5）平均传输延迟时间tpd

tpd是衡量门电路开关速度的参数，它是指输出波形边沿的0.5Um至输入波形对应边沿0.5Um点的时间间隔，如图1-5所示。

（a）传输延迟特性（b）tpd的测试电路

图1-5传输延迟特性

图1-5（a）中的tpdL为导通延迟时间，tpdH为截止延迟时间，平均传输延迟时间为

（1-2）

tpd的测试电路如图1-5（b）所示，由于TTL门电路的延迟时间较小，直接测量时对信号发生器和示波器的性能要求较高，故实验采用测量由奇数个与非门组成的环形振荡器的振荡周期T来求得。

其工作原理是：

假设电路在接通电源后某一瞬间，电路中的A点为逻辑“1”，通过三级门的延迟后，使A点由原来的逻辑“1”变为逻辑“0”；

再经过三级门的延迟后，A点电平又重新回到逻辑“1”。

电路中其它各点电平也跟随变化。

说明使A点发生一个周期的振荡，必须经过6级门的延迟时间。

因此平均传输延迟时间为

（1-3）

TTL电路的tpd一般在10ns~40ns之间。

3、CMOS与非门的主要参数

CMOS与非门主要参数的定义及测试方法与TTL电路相仿，从略。

[实验过程]

1、74LS20主要参数的测试

（1）分别按图1-2、1-3、1-5（b）接线并进行测试,将测试结果记入表1-1中。

（2）按图1-4接线，调节电位器RW，使ui从0V向高电平变化，逐点测量ui和uo的对应值，记入表1-2中。

2、CMOS与非门CC4011参数测试（方法与TTL门电路相同）

（1）测试CC4011一个门的ICCL、ICCH、IiL、IiH。

（2）测试CC4011一个门的传输特性（一个输入端作信号输入，另一个输入端接逻辑高电平）。

（3）将CC4011的三个门串接成环形振荡器，用示波器观测输入、输出波形，并计算出tpd值。

[原始纪录]

表1-1

ICCL（mA）

ICCH（mA）

IiL（mA）

I0L（mA）

N0=IOL/IiL

Tpd=T/6（ns）

表1-2

Ui（V）

0.2

0.4

0.6

0.8

1.0

1.2

1.4

1.6

1.8

2.0

2.5

3.0

Uo（v）

3.5

4.0

4.5

5.0

[数据处理]

1、计算N0及Tpd。

2、画出实测的电压传输特性曲线。

[结果分析]

1、整理实验结果，并对结果进行分析。

[问题讨论]

1、TTL门电路和CMOS门电路闲置输入端的处理方法。

实验二集成逻辑门电路功能测试

1、熟悉数字电路实验箱中各种装置的使用方法。

2、掌握TTL型和CMOS型集成门电路的逻辑功能的测试方法。

4、74LS0074LS0274LS0474LS54CC4011CC4001。

1、集成逻辑门电路

本实验中所用集成门电路有与非门（集成块型号为74LS00，内含4个二输入端与非门）、或非门（集成块型号为74LS02，内含4个二输入端或非门）、非门（集成块型号为74LS04，内含6个非门）、与或非门（集成块型号为74LS54，内含1个十输入端的与或非门）。

（a）与非门（b）或非门（c）非门（d）与或非门

图2-1逻辑功能符号图

2、门电路的逻辑函数式：

与非门：

Y=———AB（二输入端）

或非门：

Y=————A+B（二输入端）

非门：

Y=——A

与或非门：

Y=———————AB+CD（四输入端）

异或门：

同或门：

1、测试与非门逻辑功能

选用型号为74LS00的集成块，A、B接电平开关，Y接电平显示器，数据填入表2-1。

2、测试或非门逻辑功能

选用型号为74LS02的集成块，A、B接电平开关，Y接电平显示器，数据填入表2-2。

3、测试非门（反相器）功能

选用型号为74LS04的集成块，A接电平开关，Y接电平显示器，数据填入表2-3。

4、与或非门功能测试

选用型号为74LS54的集成块，该集成块为四路2-3-3-3输入与或非门，如图2-2所示，A、B、I、J接电平开关，Y接电平显示器，C、D、E、F、G、H接地，数据填入表2-4。

图2-274LS54逻辑运算

5、异或门功能测试

选用型号为74LS00和74LS04的集成块，按图2-3接线，数据填入表2-5。

图2-3异或逻辑运算

6、同或门功能测试

选用型号为74LS00和74LS04的集成块，按图2-4接线，数据填入表2-6。

图2-4同或逻辑运算

表2-1

输入端

输出端

A

B

LED状态

Y

1

表2-2

表2-3

表2-4

3

4

5

9

10

11

2

12

13

表2-5

表2-6

1、根据几种集成门电路的相关测试结果，分析其逻辑功能。

1、整理实验数据，分析实验结果。

1、查阅附录部分关于TTL、CMOS型电路互连的注意事项。

实验三组合逻辑电路的分析与设计

1、掌握组合逻辑电路的分析方法。

2、掌握组合逻辑电路的设计与测试方法。

4、CC4011×

2（74LS00）CC4012×

3（74LS20）CC4030（74LS86）CC4081（74LS08）74LS54×

2（CC4085）CC4001（74LS02）

1、一位全加器

全加器的逻辑图及符号见图3-1，该电路接时选用74LS54、74LS86、74LS00集成块。

图3-1

其逻辑表达式为：

Sn=AnBnCn-1

Cn=（AnBn）Cn-1+AnBn

2、四位全加器

本实验中所使用的四位全加器型号为74LS283、其外引线排列图见附录部分。

74LS283是一个内部超前进位的高速四位二进制串行进位全加器。

它能接收两个四位二进制数（A4A3A2A1、B4B3B2B1）和更低位的进位输入（C0），对每一位产生二进制和（∑4∑3∑2∑1）输出，并产生从最高有效位（第4位）产生的进位输出（C4）。

74LS83的内部结构逻辑图如图3-2。

3、一位数码比较器

该电路可以用来比较两个一位二进制数的大小，电路如图3-3，选用74LS00、74LS02集成块。

图3-274LS283的内部结构逻辑图

图3-3

4、四位原码/反码转换器

图3-4四位原码/反码转换器

5、组合逻辑电路设计

（1）组合逻辑电路设计基本流程：

设计要求→真值表→逻辑表达式（或卡诺图）→简化逻辑表达式→逻辑图→实验验证。

（2）组合逻辑电路设计举例

用“与非”门设计一个表决电路。

当四个输入端中有三个或四个为“1”时，输出端才为“1”。

设计步骤：

根据题意列出真值表如表3-1所示，再填入卡诺图表3-2中。

由卡诺图得出逻辑表达式，并演化成“与非”的形式：

Z=ABC+BCD+ACD+ABD

_________________________

=—————ABC·

—————BCD·

—————ACD·

—————ABC

根据逻辑表达式画出用“与非门”构成逻辑电路如图3-5所示。

表3-1

C

D

Z