nuinTEK蒸镀膜制造流程介绍PPT推荐.ppt
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f:
频率率()C:
CapacitanceC:
CapacitanceV:
VoltageV:
VoltageS:
S:
散散热面面积()tantan:
电容器容器损耗耗(%)(%)ETR:
0.2%ETR:
0.2%PTR:
0.05%PTR:
0.05%散散热基基数数(KCal/mwm)(KCal/mwm)Al:
7Al:
7石板石板:
7:
7塑料塑料Case:
4Case:
4ACAC用用CapacitorCapacitor的的设计时计算不同算不同电压,容量容量,频率率,损耗的耗的发热量量算出适合的膜的算出适合的膜的种种类(耐耐热或非耐或非耐热),),厚度厚度来来确保确保CapacitorCapacitor的信的信赖性性.最大使用最大使用温温度度+发热温温度度(HR)(HR)的的温温度度,膜超出耐于此膜超出耐于此温温度的情度的情况况设计时将将转位硬度位硬度调低低,发热部分最小化部分最小化,才能确保才能确保CapacitorCapacitor的品的品质.3.PPFilm3.PPFilm的耐的耐热,非耐非耐热的的区区别点点耐耐压非耐非耐压GlossGloss(光光泽度度)CoronaCorona面面%133133124124非非CoronaCorona面面%131131120120拉伸力拉伸力MDMDMpaMpa178178168168TDTDMpaMpa343343344344延伸率延伸率MDMD%137137163163TDTD%44445656绝缘耐力耐力KVKV2.642.642.592.59V/V/527527515515*参参考日本考日本TorayToray公司公司资料料4.4.耐耐压,一般膜的一般膜的热收收缩率的比率的比较*参参考考TreopaphanTreopaphan,Toray,Toray资料料一般一般,耐耐热FilmFilm的可靠性比的可靠性比较DataData区区分分FilmFilm厚度厚度FilmB.D.VFilmB.D.V判定判定试验方法方法KVDCKVDCVDC/VDC/一般一般663.473.47598598合格合格1.1.以以100VDC/sec100VDC/sec的速度的速度电压上升上升耐耐热663.373.37571571合格合格2.2.试验温温度度:
常常温温1).1).击穿穿电压试验(B.D.VTest)(B.D.VTest)KVDC/6KVDC/6VDC/VDC/区区分分长度度(MD(MD方向方向)幅方向幅方向(TD(TD方向方向)判定判定试验方法方法试验前前(mm)(mm)试验后后(mm)(mm)变化率化率(%)(%)试验前前(mm)(mm)试验后后(mm)(mm)变化率化率(%)(%)一般一般99.98899.98895.79095.790-4.2-4.299.67899.67899.00099.000-0.68-0.68合格合格合格合格1.1.试验温温度度:
120:
120耐耐热100.222100.22297.13897.138-3.08-3.0899.13699.13698.55098.550-0.59-0.59合格合格2.2.试验时间:
15:
15分分钟2).2).热收收缩率率试验3).3).可靠性可靠性试验区区分分样品品数数(n)(n)不良不良数数(c)(c)变化率化率(%)(%)判定判定试验方法方法容量容量损耗耗一般一般5544-3.02-3.020.0510.051不合格不合格1.1.试验电压:
500VAC(83V/:
500VAC(83V/)耐耐热5511-3.65-3.650.0380.038合格合格2.2.试验时间:
500Hrs,:
500Hrs,试验温温度度:
80:
804.4.芯子芯子热处理理变化化一般一般耐耐热试验方法方法1.1.试验温温度度:
1202.2.试验时间:
2H30min:
2H30min4.4.可靠性可靠性试验后芯子的后芯子的变化化一般一般耐耐热试验方法方法1.1.连续可靠性可靠性试验2.2.试验电压:
500VAC:
500VAC3.3.试验温温度度:
804.4.试验时间:
500Hrs:
500Hrs膨膨润7.BaseFilm7.BaseFilm制造流程制造流程图原原,辅料入料入库(资材保管材保管)进口口检验蒸蒸镀流程流程流程流程检验时效效(AGING)(AGING)分切流程分切流程PRESSPRESS流程流程金金属属层检验(放大放大镜)蒸蒸镀膜膜电阻阻检验重量确重量确认真真空包装空包装BOXBOX包装包装资材保管材保管进口口检验(B.D.V)(B.D.V)进口口检验(厚度厚度)膜蒸膜蒸镀流程流程流程流程检验时效效(AGING)(AGING)分切流程分切流程PRESSPRESS流程流程金金属属层检验(放大放大镜)蒸蒸镀膜膜电阻阻检验厚度厚度检验真真空包装空包装BOXBOX包装包装8.8.FilmFilm蒸蒸镀流程流程图产品名品名NozzleNozzle形形态蒸蒸镀形形态电阻阻()()长处短短处StandardTypeStandardType2424因因电阻阻损耗率耗率低低(ESR)(ESR)SHSH时因高能量因高能量导致耐致耐压发生生率高率高.RVTypeRVType强化强化:
24:
24非强化非强化:
512:
512付有低付有低,高高电阻阻StandardStandardTypeType的的优点的形点的形态BandBand留留边时留留边的境界面弱的境界面弱于耐于耐电压.LampTypeLampType强化强化:
24:
24非强化非强化:
8:
8留留边:
16:
16将将留留边境界面境界面的的SHEnergySHEnergy最最小化提高可靠小化提高可靠性性留留边境界面的境界面的氧氧化化现象象进行行较快快.蒸蒸镀膜形膜形态及及长,短短处产品名品名NozzleNozzle形形态蒸蒸镀形形态电阻阻优点点缺点缺点SeriestypeSeriestype1.RVType1.RVType2.Standard2.StandardTypeType强化强化:
512与与直直连接的接的CapacitorCapacitor有相有相同的效果所以同的效果所以可以使用在高可以使用在高电压与与面面积对比容比容量是量是1/21/2AATypeAAType强化强化:
512与与熔射金熔射金属属的的ZnZn一起使用一起使用时提高熔射黏提高熔射黏结力力.RX-MarginRX-MarginPatternPattern1.RVType1.RVType2.Standard2.StandardTypeType强化强化:
512可靠性可靠性试验时容量容量变化率少化率少ESRESR值偏高偏高.T-MarginT-MarginPatternPattern1.RVType1.RVType2.Standard2.StandardTypeType强化强化:
512ESRESR值偏低偏低.可靠性可靠性试验时容量容量变化率大化率大.AlAlZnZn产品名品名NozzleNozzle形形态分切形分切形态电阻阻优点点缺点缺点RVWaveCutRVWaveCut-将将熔射接熔射接触触电阻最小化阻最小化卷卷绕时难调整整错位位.MarginWaveMarginWaveCutCut-圆形芯子卷形芯子卷绕时最少化最少化错位位部位的膜折部位的膜折叠叠现象象BothWaveBothWaveCutCut-采取采取RV,RV,MarginWaveMarginWave的所有的所有优点点.蒸蒸镀膜膜留留边蒸蒸镀膜膜蒸蒸镀膜膜10.10.对蒸蒸镀NozzleNozzle的的说明明LampTypeNozzleLampTypeNozzleNormalRVTypeNozzleNormalRVTypeNozzleFilmFilm高高电阻阻低低电阻阻蒸蒸镀膜厚度膜厚度薄薄厚厚Self-healingSelf-healing时能量能量小小大大Self-healingSelf-healing能量引起能量引起绝缘层波及波及ArcArc能量能量小小大大BreakDownVoltageBreakDownVoltage高高低低11.11.受受CapacitorCapacitor的的电阻的影阻的影响响*SelfHealingEnergySelfHealingEnergyEtEtm*m
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- nuinTEK 镀膜 制造 流程 介绍