ENVI下的统计分析功能Word文档下载推荐.docx
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感兴趣区统计
背景
it
分类:
ENVI
图像统计是计算表征图像像元值数理统计特征、空间分布特征和空间结构特征的各种参量。
ENVI的统计可对整个图像进行,也可以对某个感兴趣区或某一类地物分布区进行统计,统计结果以数字报表或文件形式给出。
1.
图像像素统计
统计单波段影像的最大、最小值、均值、标准差、协方差和直方图;
多波段之间波段间的统计特征包括协方差矩阵、相关系数矩阵、本征向量和散点分布图等
1)
直接统计
(1)
快速统计
快速统计可以快速的统计图像的最大值、最小值、均值、标准差和直方图分布。
在AvailableBandList下相应的文件或波段列表上点击右键菜单,点击QuickStatics即可弹出统计界面。
基本统计界面见图,可设置不同的绘图显示、统计信息查看等操作。
选择绘图函数
左键的曲线信息查看
中键(滚轮)按下拉框放大
右键弹出图像绘制参数设置功能菜单
可绘制图例、曲线紧凑、恢复原始显示、打开文件、绘图参数和设置绘图函数等功能。
设置绘图显示参数
查看统计报表
(2)
完整统计
选择菜单[BasicTools]-[Statistics]-[ComputeStatistics],选择文件后弹出统计界面。
统计类型包括
BasicStats(基本统计:
最大值、最小值、均值和标准差)
Histograms:
直方图;
Covariance:
协方差矩阵、相关系数矩阵和本征向量;
CovarianceImage:
生成协方差、相关系数和本征向量文件;
OutputtoaStatisticsFile:
生成.sta文件,可通过主菜单[Basic]-[Statics]-[ViewStaticsFile]查看;
OutputtoaTextReportFile:
统计结果输出为文本文件;
ReportPrecision:
设置统计精度(浮点数小数点个数);
2)
去除背景值
很多时候,实际统计只需要统计部分区域,ENVI可通过感兴趣区或掩膜的方式来实现。
ENVI的感兴趣区工具启动点击image窗口的[Overlay]-[RegionOfInterest]。
对已有的ROI进行统计可直接点击ROI工具上的Statics按钮。
需要注意,点击[BasicTools]-[Statistics]-[ComputeStatistics]功能选择文件时,若选择ROI,则统计的是ROI的最小外包矩形围的图像。
掩膜统计
统计时可以通过掩膜的方式将不想统计的区域“掩掉”。
掩膜创建方式:
[BasicTools]-[Masking]-[BuildMask],选择显示窗体后弹出掩膜定义界面。
掩膜创建可选择菜单[Options]下的选项,可以选择数据围、注记、ROI、ROI交集、矢量文件等多种创建方式。
点击[BasicTools]-[Statistics]-[ComputeStatistics]功能选择文件时,选择掩膜文件即可。
3)
统计扩展补丁
如需要单独忽略特定值的统计,可以使用统计扩展补丁。
bbs.esrichina-
4)
多波段统计
多波段影像的波段间统计可以点击主菜单[BasicTools]-[Statistics]-[SumDataBands],弹出操作界面。
可选择波段间的计算函数,有Sum(求和)、Sum^2(平方和)、Mean(波段平均值)、StandardDeviation(标准差)、Variance(方差)、Skewness(偏斜度)、Kurtosis(峰度)和MeanAbsoluteDeviation(平均绝对偏差)。
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- 关 键 词:
- ENVI 统计分析 功能
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