SPC统计过程控制作业指导书Word文档下载推荐.docx
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序号检查部门12
序号
项目频数
累积数
累积%
1
1发生问题
2
——————
合计
a)频数为问题发生的次数;
累积数为发生的问题的累计数;
累积数总和之比。
b)统计时频数从多到少依次填入表内。
%,横轴为发生的问题,如下图:
频数累积%
100
041问题问题的问题列为主要问题。
然后针对该问题运用因由有关部门负责将“存在问题”和“人、机、料、法、环”五个因素画在平面图上构完成日期施措造成问题的原因/责任部门人
50
0
问题21.3.1%达到
问题3的统计数据画入上图,即得排列图。
70~80%
5问题
页11共修改/A/00第2页AB/AB-10版本
人料机
11原因原因1原因
12子原因原因2原因
3原因原因原因23
存在问题
11原因原因
22原因原因
13原因子原因
2子原因
法环
针对存在的问题,首先从“人、机、料、法、环”五个方面分析可能造成问题的第一2.3.2
,层层深入,直至把所有原因全部找出并画层次原因,然后再分析第二层次原因(子原因)
在因果图上。
,用方框框起来。
根据实际情况排除不存在的原因,确定存在的原因(特别是主要原因)2.3.3
然后针对存在的原因运用对策表制订纠正措施。
对策表3
作用:
确定解决存在问题的措施。
3.1
应用:
3.2
方法步骤3.3
绘制对策表如下:
3.3.1
人、完成日期(进度)和监督针对存在问题的原因研究确定应采取的措施、责任部门/3.3.2
人,并填入对策表中,报总经理批准后实施。
/检查部门
责任部门负责实施确定的纠正措施并记录实施结果,填写效果统计表。
记录实施结果3.3.3
时,最好不要搞一次性的,应坚持一个时期,分数次进行统计记录。
监督检查部门负责验证实施效果。
实施结果有效时,应按《文件控制程序》规定将有3.3.4
关措施补充到质量体系文件中去。
实施结果无效时,应重新分析原因、研究确定并实施新的
纠正措施。
:
排列图、因果图和对策表统称“两图一表”,可以单独使用,也可与直方图、控制1注
图等结合起来使用。
建议将两图一表综合在一起应用于同一问题的统计分析,防止孤立应用排列图、2注
因果图造成有头无尾的情况。
直方图4
AB/AB-10版本/修改A/00第
4.1作用
a)观察产品质量在某一时间段内的整体分布状况;
b)显示产品质量波动的形态,判断其是否变异;
c)研究或预测过程能力;
d)制定产品的规格界限。
4.2应用:
主要用于过程和产品质量变化的研究。
4.3方法步骤
4.3.1按以下要求收集数据(Xi值),并将数据分类统计:
a)采用随机抽样的方法收集数据;
b)抽样应保持在相同条件(人、机、料、法、环)下进行;
c)收集数据总数不少于50个。
d)将收集的数据分类填入下表,进行统计:
数值
=XminX1X2X3----Xmax
4.3.2计算、分组
a)计算极差RR=Xmax其中:
XmaxXminb)按下表建议分组
c)计算组距4.3.3计算每组的中心、上限和下限值,并列出频数表
组距下限组距上限中心值
次数划记
次数
(又称全距)-Xmin为收集数据中的最大值;
为收集数据中的最小值。
数据总数n
—10050
250以上250100—
m建议分组数
—610
10—207—12
h
h=R/m
组别
组距上下限值
中心值
频数
3
4
5
6
=前一组组距上限;
最小值为Xmin。
=本组组距下限+组距h;
最大值为Xmax。
=(组距下限+组距上限)/2。
AB/AB-10版本/修改A/00
频数=落入该组内的数据个数。
4.3.4按频数画纵、横坐标及直方图
纵坐标为频数,横坐标标出各组距上下限值。
LSLSL
0
为规格中心SL为下公差LSL
为上公差USL根据直方图画分布曲线4.3.5按上图所画分布曲线为正态分布,服从统计规律,说明过程正常。
过程分析4.3.6
若直方图出现下列形状,则可能存在相应问题。
频数
缺齿型:
可能是测量器具精度不够或分组不当造成。
造成。
孤岛型:
可能是测量不当或变换加工条件
1US
5计数型控制图——
5.1
5.2
5.3
5.3.1
P图作用:
在一批产品中,连续监视抽样检验的不合格品率,判断过程是否受控。
主要用于处于稳定状态下的过程和产品质量变化的研究。
方法步骤(举例见《统计过程控制》手册第收集数据
a)选择子组容量、频率和数量
·
子组容量:
一般要求50—200或更大,相对平均不合格品率来说足够大,或使每个组内都有几个不合格品。
分组频率:
根据产品的周期确定,以便及时发现和分析、纠正问题,但时间间隔不宜太短,要保证足够大的子组容量。
子组数量:
一般为25或更多,以很好地检验过程的稳定性。
b)计算每个子组内的不合格品率p
将每个子组被检项目(产品)的数量n值记录在标准p图表中。
计算不合格品率p=np/n。
c)选择控制图的坐标值
纵坐标为不合格品率p,刻度应从0到初步研究数据中最大的不合格品率的
1双峰型:
可能是两种条件下产生的,或
程有变异
偏向型:
可能是设备偏差或加工习惯造
的,如孔的加工往往偏小
II章节值和发现的不合格项目(产品)的数n1.AB/AB-1版修A/01
倍的值
横坐标为子组(小时、天或批
d将不合格品率描绘在控制图
在标图表上描绘每个子组值,并将这些点联成线。
当发现图形有异常
(如任意一点比别的点高出或低下许多,应检查计算是否正确
将过程变化或可能影响过程的异常情况记录图表的“备注”栏内
5.3.计算控制
a计算过程平均不合格品率当子组数个时i=-----b计算上、下控制限UCLC
如果过程受控,当子组数且子组容一定时
1/UCLp3
1/LCLp3
c很小时LC的计算值有时会是负值,在这种情况下,没有下控制限
d不是恒定但子组容量与其平均值相差不超25时,可用平均样本容量)
来计算控制限
c画线并标
过程均值)用水平实线表示
上下控制限UCLC)用水平虚线表示
在初始研究阶段,这些被认为是试验控制限
5.3.分析控制
5.3.3.分析数据点,找出不稳定的证
a出现超出任一控制限的点,说明在那一点可能失出现特殊原或有新的情况
超出上控制限,通常表明存在下列一个或多个情况
——控制限或描点错误
——过程性能恶化
——评价系统(如检验员、量具)已改变
低于下控制限,通常表明存在下列一个或多个情况
——过程性能已改进
——测量系统已改变
b值较大时(点位于均值一侧的链或连点上升或下降的链
表明过程变化或开始有变化的趋势
出现高于均值的长链或连续上升的点,通常表明存在下列情况之一或两者
——过程的性能已恶化,而且可能还在恶化
——评价系统已改变
出现低于均值的长链或连续下降的点,通常表明存在下列情况之一
注:
值很小时以下出现低的链的可能性会增加,因此要用长度
点或更多的点的长链来判断不合格率下降的情况
c明显的非随机图形,如有趋势、周期性、控制限内异常分布的数据点、子组内值相
,也可能存在变差的性(例如子组中所有不合格项目都发生在最初的几个读数中).
AB/AB-10版本/修改A/00第7页
殊原因。
如果明显多于2/3的点位于与均值接近的地方(对于25个子组,如果90%位于控制限中部1/3区域内),意味着存在下列一种或几种情况:
——控制限或描点的计算错误或描点错误;
——过程或取样方法混乱(如子组中包含两个或多个过程流的测量值);
——数据被编辑过(调换或剔除)。
如果大大少于2/3的点位于过程均值较近的区域(对于25个子组,40%于中部1/3的区域内),意味着存在下列情况之一或全部:
——发生了计算错误或描点错误;
——过程或取样方法混乱(如子组中包含不同班组的产品)。
5.3.3.2识别并纠正特殊原因
a)通过对控制图的分析发现失控情况及其特殊原因,然后采取措施尽可能防止其再发生。
b)由于特殊原因具有时效性,应尽可能进行实时
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