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X射线荧光分析
读书报告
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目录
X射线荧光分析 1
一、仪器:
1
波长色散X射线荧光光谱 2
能量色散X射线荧光光谱 2
二、原理:
2
元素的特征X射线 2
X射线荧光光谱仪 5
X射线管 5
分光系统 5
检测记录系统 6
能量色散谱仪 7
三、定性定量分析方法:
7
样品制备 7
定性分析 9
定量分析的原理:
9
X荧光光谱半定量分析原理:
9
定量分析 10
X射线荧光光谱法的特点:
11
四、应用:
11
能量色散X射线荧光分析法在垢和腐蚀产物分析中的应用 11
X射线荧光光谱法测定高密度钨合金中铁和镍 11
X荧光光谱法测定Nb-W—Mo合金中钨钼含量 11
X射线荧光光谱法在生料检测中的应用 12
X射线荧光光谱法测定土壤中主、次、微量元素 12
X射线荧光分析
一、仪器:
波长色散X射线荧光光谱仪
能量色散X射线荧光光谱仪
波长色散X射线荧光光谱
采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开,然后进行测量。
波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源,可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。
顺序式通过扫描方法逐个测量元素,因此测量速度通常比同时式慢,适用于科研及多用途的工作。
同时式则适用于相对固定组成,对测量速度要求高和批量试样分析,顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。
能量色散X射线荧光光谱
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。
能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪,分辨率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。
高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。
低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器,它们不需要液氮冷却。
近年来,采用电致冷的半导体探测器,高分辨率谱仪已不用液氮冷却。
同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。
二、原理:
元素的特征X射线
各种元素的核外电子轨道位能互不相同,因此,受激发后发出的X射线光子能量互不相同,即每种元素发射该元素原子所特有能量的X射线,代表了该元素的特征,因此称作该元素的特征X射线,每种元素的特征X射线具有其特定的波长检测到此种波长的X射线,既可以确定物质样品中有该元素存在.
波长色散分光原理
物质样品中有多种元素存在的情况下,当样品受到X光管发出的初级X射线照射时,各种被测元素发出各自的特征X射线,统称X荧光,将这些元素的特征X射线分开和检测称为X荧光的分光.由于不同元素特征X射线的波长不同,根据布拉格公式采用晶体衍射技术即可将不同波长的X射线分光.此种分光方法称为波长色散法.
波长色散光谱仪原理图
能量色散光谱仪原理图
X射线是一种电磁辐射,其波长介于紫外线和γ射线之间。
它的波长没有一个严格的界限,一般来说是指波长为0.001-50nm的电磁辐射。
对分析化学家来说,最感兴趣的波段是0.01-24nm,0.01nm左右是超铀元素的K系谱线,24nm则是最轻元素Li的K系谱线。
1923年赫维西(Hevesy,G.Von)提出了应用X射线荧光光谱进行定量分析,但由于受到当时探测技术水平的限制,该法并未得到实际应用,直到20世纪40年代后期,随着X射线管和分光技术的改进,X荧光分析才开始进入蓬勃发展的时期,成为一种极为重要的分析手段。
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为10-12-10-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。
这个过程称为驰豫过程。
驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。
当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。
它的能量是特征的,与入射辐射的能量无关。
当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。
因此,X射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。
图10.1给出了X射线荧光和俄歇电子产生过程示意图。
K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线,称为K系谱线:
由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。
同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射(见图10.2)。
如果入射的X射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层,此时就有能量ΔE释放出来,且ΔE=EK-EL,这个能量是以X射线形式释放,产生的就是Kα射线,同样还可以产生Kβ射线,L系射线等。
莫斯莱(H.G.Moseley)发现,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下:
λ=K(Z-s)-2
这就是莫斯莱定律,式中K和S是常数,因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。
此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。
X射线荧光光谱仪
用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。
由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:
波长色散型和能量色散型。
现将两种类型X射线光谱仪的主要部件及工作原理叙述如下:
X射线管
两种类型的X射线荧光光谱仪都需要用X射线管作为激发光源。
图10.4是X射线管的结构示意图。
灯丝和靶极密封在抽成真空的金属罩内,灯丝和靶极之间加高压(一般为40KV),灯丝发射的电子经高压电场加速撞击在靶极上,产生X射线。
X射线管产生的一次X射线,作为激发X射线荧光的辐射源。
只有当一次X射线的波长稍短于受激元素吸收限lmin时,才能有效的激发出X射线荧光。
大于lmin的一次X射线其能量不足以使受激元素激发。
X射线管的靶材和管工作电压决定了能有效激发受激元素的那部分一次X射线的强度。
管工作电压升高,短波长一次X射线比例增加,故产生的荧光X射线的强度也增强。
但并不是说管工作电压越高越好,因为入射X射线的荧光激发效率与其波长有关,越靠近被测元素吸收限波长,激发效率越高。
X射线管产生的X射线透过铍窗入射到样品上,激发出样品元素的特征X射线,正常工作时,X射线管所消耗功率的0.2%左右转变为X射线辐射,其余均变为热能使X射线管升温,因此必须不断的通冷却水冷却靶电极。
分光系统
分光系统的主要部件是晶体分光器,它的作用是通过晶体衍射现象把不同波长的X射线分开。
根据布拉格衍射定律2dsinθ=nλ,当波长为λ的X射线以θ角射到晶体,如果晶面间距为d,则在出射角为θ的方向,可以观测到波长为λ=2dsinθ的一级衍射及波长为λ/2,λ/3-----等高级衍射。
改变θ角,可以观测到另外波长的X射线,因而使不同波长的X射线可以分开。
分光晶休靠一个晶体旋转机构带动。
因为试样位置是固定的,为了检测到波长为λ的荧光X射线,分光晶体转动θ角,检测器必须转动2θ角。
也就是说,一定的2θ角对应一定波长的X射线,连续转动分光晶体和检测器,就可以接收到不同波长的荧光X射线见(图10.5)。
一种晶体具有一定的晶面间距,因而有一定的应用范围,目前的X射线荧光光谱仪备有不同晶面间距的晶体,用来分析不同范围的元素。
上述分光系统是依靠分光晶体和检测器的转动,使不同波长的特征X射线接顺序被检测,这种光谱仪称为顺序型光谱仪。
另外还有一类光谱仪分光晶体是固定的,混合X射线经过分光晶体后,在不同方向衍射,如果在这些方向上安装检测器,就可以检测到这些X射线。
这种同时检测不波长X射线的光谱仪称为同时型光谱仪,同时型光谱仪没有转动机构,因而性能稳定,但检测器通道不能太多,适合于固定元素的测定。
此外,还有的光谱仪的分光晶体不用平面晶体,而用弯曲晶体,所用的晶体点阵面被弯曲成曲率半径为2R的圆弧形,同时晶体的入射表面研磨成曲率半径为R的圆弧,第一狭缝,第二狭缝和分光晶体放置在半径为R的圆周上,使晶体表面与圆周相切,两狭缝到晶体的距离相等(见图10.6),用几何法可以证明,当X射线从第一狭缝射向弯曲晶体各点时,它们与点阵平面的夹角都相同,且反射光束又重新会聚于第二狭缝处。
因为对反射光有会聚作用,因此这种分光器称为聚焦法分光器,以R为半径的圆称为聚焦圆或罗兰圆。
当分光晶体绕聚焦圆圆心转动到不同位置时,得到不同的掠射角θ,检测器就检测到不同波长的X射线。
当然,第二狭缝和检测器也必须作相应转动,而且转动速度是晶体速度的两倍。
聚焦法分光的最大优点是荧光X射线损失少,检测灵敏度高。
检测记录系统
X射线荧光光谱仪用的检测器有流气正比计数器和闪烁计数器。
(图10.7)是流气正比计数器结构示意图。
它主要由金属圆筒负极和芯线正极组成,筒内充氩(90%)和甲烷(10%)的混合气体,X射线射入管内,使Ar原子电离,生成的Ar+在向阴极运动时,又引起其它Ar原子电离,雪崩式电离的结果,产生一脉冲信号,脉冲幅度与X射线能量成正比。
所以这种计数器叫正比计数器,为了保证计数器内所充气体浓度不变,气体一直是保持流动状态的。
流气正比计数器适用于轻元素的检测。
另外一种检测装置是闪烁计数器(图10.8)。
闪烁计数器由闪烁晶体和光电倍增管组成。
X射线射到晶体后可产生光,再由光电倍增管放大,得到脉冲信号。
闪烁计数器适用于重元素的检测。
除上述两种检测器外,还有半导体探测器,半导体探测器是用于能量色散型X射线的检测(见下节)。
这样,由X光激发产生的荧光X射线,经晶体分光后,由检测器检测,即得2θ-荧光X射线强度关系曲线,即荧光X射线谱图,图10.9是一种合金钢的荧光X射线谱。
能量色散谱仪
以上介绍的是利用分光晶体将不同波长的荧光X射线分开并检测,得到荧光X射线光谱。
能量色散谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点,将其分开并检测,不必使用分光晶体,而是依靠半导体探测器来完成。
这种半导体探测器有锂漂移硅探测器,锂漂移锗探测器,高能锗探测器等。
X光子射到探测器后形成一定数量的电子-空穴对,电子-空穴对在电场作用下形成电脉冲,脉冲幅度与X光子的能量成正比。
在一段时间内,来自试样的荧光X射线依次被半导体探测器检测,得到一系列幅度与光子能量成正比的脉冲,经放大器放大后送到多道脉冲分析器(通常要1000道以上)。
按脉冲幅度的大小分别统计脉冲数,脉冲幅度可以用X光子的能量标度,从而得到计数率随光子能量变化的分布曲线,即X光能谱图。
能谱图经计算机进行校正,然后显示出来,其形状与波谱类似,只是横座标是光子的能量。
能量色散的最大优点是可以同时测定样品中几乎所有的元素。
因此,分析速度快。
另一方面,由于能谱仪对X射线的总检测效率比波谱高,因此可以使用小功率X光管激发荧光X射线。
另外,能谱仪没有光谱仪那么复杂的机械机构,因而工作稳定,仪器体积也小。
缺点是能量分辨率差,探测器必须在低温下保存。
对轻元素检测困难。
三、定性定量分析方法:
样品制备
进行X射线荧光光谱分析的样品,可以是固态,也可以是水溶液。
无论什么样品,样品制备的情况对测定误差影响很大。
对金属样品要注意成份偏析产生的误差;化学组成相同,热处理过程不同的样品,
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