XPS分析元素的含量的方法_精品文档Word文件下载.doc
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Intensity(cps)
横坐标:
bindingenergy(eV)
除了氢氦元素,其他的元素都可以进行分析;
先进行宽扫,确定样品有何种元素,再对该元素进行窄扫。
该元素的不同键接方式都对应不同的峰,所以对元素窄扫的峰要进行分峰(分峰之前要进行调整基线)。
如何分峰,不同的键接方式会对应不同的结合能。
第一步:
先把元素的窄扫峰用origin画出来;
第二步:
调整基线;
选择CeateBaseline-----next------next-----add/modify添加(双击)或去除(delete)基点,保证基线水平-----Finish
最小化图,会出现调整基线后的坐标。
插入一列,
单机右键选择setcolumnvalues输入col(b)-col(d):
即开始纵坐标减去调整基线后的纵坐标。
再用横坐标与刚开始得到的纵坐标作图------调整基线后的XPS窄扫图。
第三步:
对峰求积分面积;
选择integratepeaks-----next-------狂点------完成
即area为峰的面积。
第四步:
分峰较难(有专门的分峰软件,origin也能分峰)
第五步:
求组分元素比:
元素比等于:
窄扫峰面积/XPS灵敏度因子(每一个元素的灵敏度因子不一致)
咱们这边的XPS设备选择的是铝板(AlKα)。
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