实验室再流焊温度控制资料Word下载.docx

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2设计理论基础

2.1再流焊

再流焊接是表面贴装技术（SMT）特有的重要工艺，焊接工艺质量的优劣不仅影响正常生产，也影响最终产品的质量和可靠性。

因此对再流焊工艺进行深入研究，并据此开发合理的再流焊温度曲线，是保证表面组装质量的重要环节

2.1.1再流焊设备的发展

在电子行业中，大量的表面组装组件（SMA）通过再流焊机进行焊接，目前再流焊的热传递方式经历了远红外线—全热风—红外热风三个阶段。

⑴远红外再流焊

八十年代使用的远红外再流焊具有加热快、节能、运行平稳的特点，但由于印制板及各种元器件因材质、色泽不同而对辐射热吸收率有很大差异，造成电路上各种不同元器件以及不同部位温度不均匀，即局部温差。

例如集成电路的黑色塑料封装体上会因辐射吸收率高而过热，而其焊接部位——银白色引线上反而温度低产生假焊。

另外，印制板上热辐射被阻挡的部位，例如在大（高）元器件阴影部位的焊接引脚或小元器件就会因加热不足而造成焊接不良。

⑵全热风再流焊

全热风再流焊是一种通过对流喷射管嘴或者耐热风机来迫使气流循环，从而实现被焊件加热的焊接方法。

该类设备在90年代开始兴起。

由于采用此种加热方式，印制板和元器件的温度接近给定的加热温区的气体温度，完全克服了红外再流焊的温差和遮蔽效应，故目前应用较广。

在全热风再流焊设备中，循环气体的对流速度至关重要。

为确保循环气体作用于印制板的任一区域，气流必须具有足够快的速度。

这在一定程度上易造成印制板的抖动和元器件的移位。

此外，采用此种加热方式就热交换方式而言，效率较差，耗电较多。

⑶红外热风再流焊

这类再流焊炉是在IR炉基础上加上热风使炉内温度更均匀，是目前较为理想的加热方式。

这类设备充分利用了红外线穿透力强的特点，热效率高，节电，同时有效克服了红外再流焊的温差和遮蔽效应，并弥补了热风再流焊对气体流速要求过快而造成的影响，因此这种IR+Hot的再流焊目前在国际上是使用得最普遍的。

随着组装密度的提高、精细间距组装技术的出现，还出现了氮气保护的再流焊炉。

在氮气保护条件下进行焊接可防止氧化，提高焊接润湿力，加快润湿速度，对未贴正的元件矫正力大，焊珠减少，更适合于免清洗工艺。

可靠的连接。

2.1.2温度曲线的建立

温度曲线是指SMA通过回流炉时，SMA上某一点的温度随时间变化的曲线。

温度曲线提供了一种直观的方法，来分析某个元件在整个回流焊过程中的温度变化情况。

这对于获得最佳的可焊性，避免由于超温而对元件造成损坏，以及保证焊接质量都非常有用。

以下从预热段开始进行简要分析。

⑴预热段

该区域的目的是把室温的PCB尽快加热，以达到第二个特定目标，但升温速率要控制在适当范围以内，如果过快，会产生热冲击，电路板和元件都可能受损；

过慢，则溶剂挥发不充分，影响焊接质量。

由于加热速度较快，在温区的后段SMA内的温差较大。

温度最高不要超过120℃。

⑵保温段

保温段是指温度从120℃-150℃升至焊膏熔点的区域。

其主要目的是使SMA内各元件的温度趋于稳定，尽量减少温差。

在这个区域里给予足够的时间使较大元件的温度赶上较小元件，并保证焊膏中的助焊剂得到充分挥发。

到保温段结束，焊盘、焊料球及元件引脚上的氧化物被除去，整个电路板的温度达到平衡。

应注意的是SMA上所有元件在这一段结束时应具有相同的温度，否则进入到回流段将会因为各部分温度不均产生各种不良焊接现象。

⑶回流段

在这一区域里加热器的温度设置得最高，使组件的温度快速上升至峰值温度。

在回流段其焊接峰值温度视所用焊膏的不同而不同，一般推荐为焊膏的溶点温度加20-40℃。

对于熔点为183℃的63Sn／37Pb焊膏和熔点为179℃的Sn62／Pb36／Ag2焊膏，峰值温度一般为210-230℃，再流时间不要过长，以防对SMA造成不良影响。

理想的温度曲线是超过焊锡熔点的“尖端区”覆盖的面积最小。

⑷冷却段

这段中焊膏内的铅锡粉末已经熔化并充分润湿被连接表面，应该用尽可能快的速度来进行冷却，这样将有助于得到明亮的焊点并有好的外形和低的接触角度。

缓慢冷却会导致电路板的更多分解而进入锡中，从而产生灰暗毛糙的焊点。

在极端的情形下，它能引起沾锡不良和减弱焊点结合力。

冷却至75℃即可。

图2-1再流焊的温度流程

测量再流焊温度曲线时需使用温度曲线测试仪（以下简称测温仪），其主体是扁平金属盒子，一端插座接着几个带有细导线的微型热电偶探头。

测量时可用焊料、胶粘剂、高温胶带固定在测试点上，打开测温仪上的开关，测温仪随同被测印制板一起进入炉腔，自动按内编时间程序进行采样记录。

测试记录完毕，将测试仪与打印机连接，便可打印出多根各种色彩的温度曲线。

测温仪作为SMT工艺人员的眼睛与工具，在国外SMT行业中已被相当普遍地使用。

在使用测温仪时，应注意以下几点：

测定时，必须使用已完全装配过的板。

首先对印制板元器件进行热特性分析，由于印制板受热性能不同，元器件体积大小及材料差异等原因，各点实际受热升温不相同，找出最热点、最冷点，分别设置热电偶便可测量出最高温度与最低温度。

尽可能多设置热电偶测试点，以求全面反映印制板各部分真实受热状态。

例如印制板中心与边缘受热程度不一样，大体积元件与小型元件热容量不同及热敏感元件都必须设置测试点。

热电偶探头外形微小，必须用指定高温焊料或胶粘剂固定在测试位置，否则受热松动，偏离预定测试点，引起测试误差。

所用电池为锂电池与可重复充电镍镉电池两种。

结合具体情况合理测试及时充电，以保证测试数据准确性。

2.1.3影响再流焊加热不均匀的主要因素

在SMT再流焊工艺造成对元件加热不均匀的原因主要有：

再流焊元件热容量或吸收热量的差别，传送带或加热器边缘影响，再流焊产品负载等三个方面。

⑴通常PLCC、QFP与一个分立片状元件相比热容量要大，焊接大面积元件就比小元件更困难些。

⑵在再流焊炉中，传送带在周而复始传送产品进行再流焊的同时，也成为一个散热系统。

此外在加热部分的边缘与中心散热条件不同，边缘一般温度偏低，炉内除各温区温度要求不同外，同一载面的温度也有差异。

⑶产品装载量不同的影响。

再流焊的温度曲线的调整要考虑在空载、负载及不同负载因子情况下能得到良好的重复性。

负载因子定义为：

LF=L／（L+S）；

其中L=组装基板的长度，S=组装基板的间隔。

再流焊工艺要得到重复性好的结果，负载因子愈大愈困难。

通常再流焊炉的最大负载因子的范围为0．5-0．9。

这要根据产品情况（元件焊接密度、不同基板）和再流炉的不同型号来决定。

要得到良好的焊接效果和重复性，实践经验是很重要的。

2.1.4再流焊相关焊接缺陷的原因分析

⑴桥联

焊接加热过程中也会产生焊料塌边，这个情况出现在预热和主加热两种场合，当预热温度在几十至一XX范围内，作为焊料中成分之一的溶剂即会降低粘度而流出，如果其流出的趋势是十分强烈的，会同时将焊料颗粒挤出焊区外的含金颗粒，在熔融时如不能返回到焊区内，也会形成滞留的焊料球。

除上面的因素外，SMD元件端电极是否平整良好，电路线路板布线设计与焊区间距是否规范，阻焊剂涂敷方法的选择和其涂敷精度等都会是造成桥联的原因。

⑵立碑（曼哈顿现象）

片式元件在遭受急速加热情况下发生的翘立，这是因为急热使元件两端存在温差，电极端一边的焊料完全熔融后获得良好的湿润，而另一边的焊料未完全熔融而引起湿润不良，这样促进了元件的翘立。

因此，加热时要从时间要素的角度考虑，使水平方向的加热形成均衡的温度分布，避免急热的产生。

防止元件翘立的主要因素有以下几点：

选择粘接力强的焊料，焊料的印刷精度和元件的贴装精度也需提高；

元件的外部电极需要有良好的湿润性和湿润稳定性。

推荐：

温度40℃以下，湿度70％RH以下，进厂元件的使用期不可超过6个月；

采用小的焊区宽度尺寸，以减少焊料熔融时对元件端部产生的表面张力。

另外可适当减小焊料的印刷厚度，如选用100μm；

焊接温度管理条件设定也是元件翘立的一个因素。

通常的目标是加热要均匀，特别在元件两连接端的焊接圆角形成之前，均衡加热不可出现波动。

⑶润湿不良

润湿不良是指焊接过程中焊料和电路基板的焊区（铜箔）或SMD的外部电极，经浸润后不生成相互间的反应层，而造成漏焊或少焊故障。

其中原因大多是焊区表面受到污染或沾上阻焊剂，或是被接合物表面生成金属化合物层而引起的。

譬如银的表面有硫化物、锡的表面有氧化物都会产生润湿不良。

另外焊料中残留的铝、锌、镉等超过0.005％以上时，由于焊剂的吸湿作用使活化程度降低，也可发生润湿不良。

因此在焊接基板表面和元件表面要做好防污措施。

选择合适的焊料，并设定合理的焊接温度曲线。

2.2单片机

单片机是单片微型计算机SCM（singlechipmicro-computer）的译名简称，在国内也常简称为“单片机”。

它包括中央处理器CPU、随机存储器RAM、只读存储器ROM、中断系统、定时器/计数器、串行口和I/O等等。

单片机主要应用于工业控制领域，用来实现对信号的检测、数据的采集以及对应用对象的控制。

它具有体积小、重量轻、价格低、可靠性高、耗电少和灵活机动等许多优点，单片微型计算机（简称单片机）是微型计算机的一个重要分支，也是一种非常活跃和颇具生命力的机种，特别适合用于智能控制系统。

2.2.1单片机温度控制系统方案简介

单片机温度控制系统是数控系统的一个简单应用。

在冶金、化工、建材、机械、食品、石油等各类工业中，广泛使用着加热炉、热处理炉、反应炉等，因此，温度是工业对象中一个主要的