电子元件进站检验规程.docx
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电子元件进站检验规程.docx
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电子元件进站检验规程
检验规程
名称
贴片陶瓷电容
卡片编号
A02-004
共1页
第1页
序号
检验项目
检验内容要求
检验频次
检验器具
检验方法
不良等级
示意简图(备注)
A
B
C
1
供货商
是否为合格供应商
一次/每批
目测
B
2
包装
包装良好,附出厂合格证明
一次/每批
目测
B
3
规格、数量
产品规格、名称、数量与实物一致
一次/每批
目测(与标样对比)
B
4
标识
标识清晰、完整、正确
一次/每批
目测(与标样对比)
C
5
外观检查
无破损、变形、污迹,引脚无氧化
10只
目测(与标样对比)
B
6
封装尺寸
详见产品规格或图样
10只
游标卡尺
测量相关尺寸,判断与标准尺寸是否相符
B
7
容值与偏差
符合产品标准
10只
LCR电桥
测试频率:
1KHZ±10%,测试电压0.3Vrms
A
8
可焊性
焊点圆润有光泽,稳固
10只
恒温电烙铁
温度235±5℃,焊接时间2±0.5S,焊点圆润有光泽,稳固
A
备
注
1、封样产品应该在供货商送的第一批合格产品中抽取,原则上以后规格、标识、外观等方面的检验以封样的产品为标准。
2、抽样标准:
一般以10只/每批检验水平:
一般检验水平Ⅱ级。
3、致命缺陷(A):
极重要质量特性不符合规定,导致产品性能完全丧失;AQL——0.065。
严重缺陷(B):
重要质量特性不符合规定,导致产品性能部分失效;AQL——0.65。
一般缺陷(C):
一般质量不符合规定,轻微影响或者不影响产品的正常性能;AQL——1.5。
4、反应计划:
若发现1个或1个以上A类缺陷或B类缺陷以及2个以上C类缺陷则该批产品则判为不合格品,并对不合格品并进行隔离、标识。
同时具备两种以上不合格的进行不合格评审;单项不合格的外检站应将统计结果上交质管部,质管部反馈给供应商。
5、质检单上应记录以上所有A类、B类检验项目的检验结果。
编制/日期
校对/日期
审核/日期
检验规程
名称
贴片铝电解电容
卡片编号
A02-005
共1页
第1页
序号
检验项目
检验内容要求
检验频次
检验器具
检验方法
不良等级
示意简图(备注)
A
B
C
1
供货商
是否为合格供应商
一次/每批
目测
B
2
包装
包装良好,附出厂合格证明
一次/每批
目测
B
3
规格、数量
产品规格、名称、数量与实物一致
一次/每批
目测(与标样对比)
B
4
标识
标识清晰、完整、正确
一次/每批
目测(与标样对比)
C
5
标识附着力
标识附着力良好
10只
酒精(分析醇)、棉球
用酒精棉球拭擦三次,字迹应保持清晰
B
6
外观检查
无破损、变形、污迹,引脚无氧化
10只
目测(与标样对比)
A
B
7
封装尺寸
详见产品规格或图样
10只
游标卡尺
测量相关尺寸,判断与标准尺寸是否相符。
B
8
漏电流
电解电容的漏电流
10只
漏电流测试仪
符合设计要求,详见漏电流测试仪操作说明书
A
9
容值与偏差
电解电容的容值
10只
LCR电桥
测试频率:
1KHZ±10%,测试电压0.3Vrms
A
备
注
1、封样产品应该在供货商送的第一批合格产品中抽取,原则上以后规格、标识、外观等方面的检验以封样的产品为标准。
2、抽样标准:
一般以10只/每批检验水平:
一般检验水平Ⅱ级。
3、致命缺陷(A):
极重要质量特性不符合规定,导致产品性能完全丧失;AQL——0.065。
严重缺陷(B):
重要质量特性不符合规定,导致产品性能部分失效;AQL——0.65。
一般缺陷(C):
一般质量不符合规定,轻微影响或者不影响产品的正常性能;AQL——1.5。
4、反应计划:
若发现1个或1个以上A类缺陷或B类缺陷以及2个以上C类缺陷则该批产品则判为不合格品,并对不合格品并进行隔离、标识。
同时具备两种以上不合格的进行不合格评审;单项不合格的外检站应将统计结果上交质管部,质管部反馈给供应商。
5、质检单上应记录以上所有A类、B类检验项目的检验结果。
编制/日期
校对/日期
审核/日期
检验规程
名称
贴片钽电解电容
卡片编号
A02-006
共1页
第1页
序号
检验项目
检验内容要求
检验频次
检验器具
检验方法
不良等级
示意简图(备注)
A
B
C
1
供货商
是否为合格供应商
一次/每批
目测
B
2
包装
包装良好,附出厂合格证明
一次/每批
目测
B
3
规格、数量
产品规格、名称、数量与实物一致
一次/每批
目测(与标样对比)
B
4
标识
标识清晰、完整、正确
一次/每批
目测(与标样对比)
C
5
标识附着力
标识附着力良好
10只
酒精(分析醇)、棉球
用酒精棉球拭擦三次,字迹应保持清晰
B
6
外观检查
无针孔、破损、变形、污迹,引脚无氧化(发黑)
10只
目测(与标样对比)
B
7
封装尺寸
详见产品规格或图样
10只
游标卡尺
测量相关尺寸,判断与标准尺寸是否相符。
B
8
漏电流
电解电容的漏电流
10只
漏电流测试仪
符合设计要求,详见漏电流测试仪操作说明书
A
9
容值与偏差
电解电容的容值
10只
LCR电桥
详见电桥操作说明书
A
10
耐压
按该产品技术要求
10只
专用工装、直流电源
通过专用工装在其两端加上其所能承受的最大浪涌电压的电压值
A
备
注
1、封样产品应该在供货商送的第一批合格产品中抽取,原则上以后规格、标识、外观等方面的检验以封样的产品为标准。
2、抽样标准:
一般以10只/每批检验水平:
一般检验水平Ⅱ级。
3、致命缺陷(A):
极重要质量特性不符合规定,导致产品性能完全丧失;AQL——0.065。
严重缺陷(B):
重要质量特性不符合规定,导致产品性能部分失效;AQL——0.65。
一般缺陷(C):
一般质量不符合规定,轻微影响或者不影响产品的正常性能;AQL——1.5。
4、反应计划:
若发现1个或1个以上A类缺陷或B类缺陷以及2个以上C类缺陷则该批产品则判为不合格品,并对不合格品并进行隔离、标识。
同时具备两种以上不合格的进行不合格评审;单项不合格的外检站应将统计结果上交质管部,质管部反馈给供应商。
5、质检单上应记录以上所有A类、B类检验项目的检验结果。
编制/日期
校对/日期
审核/日期
检验规程
名称
贴片电阻
卡片编号
A02-007
共1页
第1页
序号
检验项目
检验内容要求
检验频次
检验器具
检验方法
不良等级
示意简图(备注)
A
B
C
1
供货商
是否为合格供应商
一次/每批
目测
B
2
包装
包装良好,附出厂合格证明
一次/每批
目测
B
3
规格、数量
产品规格、名称、数量与实物一致
一次/每批
目测(与标样对比)
B
4
标识
标识清晰、完整、正确
一次/每批
目测(与标样对比)
C
5
标识附着力
标识附着力良好
10只
酒精(分析醇)、棉球
用酒精棉球拭擦三次,字迹应保持清晰
C
6
外观检查
无破损、变形、污迹,引脚无氧化
10只
目测(与标样对比)
B
7
封装尺寸
详见产品规格或图样
10只
游标卡尺
测量相关尺寸,判断与标准尺寸是否相符
B
8
阻值与偏差
符合产品标准
10只
数字万用表
选择合适的量程再进行测量
A
9
可焊性
焊点圆润有光泽,稳固
10只
恒温电烙铁
温度235±5℃,焊接时间2±0.5S,焊点圆润有光泽,稳固
A
备
注
1、封样产品应该在供货商送的第一批合格产品中抽取,原则上以后规格、标识、外观等方面的检验以封样的产品为标准。
2、抽样标准:
一般以10只/每批检验水平:
一般检验水平Ⅱ级。
3、致命缺陷(A):
极重要质量特性不符合规定,导致产品性能完全丧失;AQL——0.065。
严重缺陷(B):
重要质量特性不符合规定,导致产品性能部分失效;AQL——0.65。
一般缺陷(C):
一般质量不符合规定,轻微影响或者不影响产品的正常性能;AQL——1.5。
4、反应计划:
若发现1个或1个以上A类缺陷或B类缺陷以及2个以上C类缺陷则该批产品则判为不合格品,并对不合格品并进行隔离、标识。
同时具备两种以上不合格的进行不合格评审;单项不合格的外检站应将统计结果上交质管部,质管部反馈给供应商。
5、质检单上应记录以上所有A类、B类检验项目的检验结果。
编制/日期
校对/日期
审核/日期
检验规程
名称
贴片二极管
卡片编号
A02-008
共1页
第1页
序号
检验项目
检验内容要求
检验频次
检验器具
检验方法
不良等级
示意简图(备注)
A
B
C
1
供货商
是否为合格供应商
一次/每批
目测
B
2
包装
包装良好,附出厂合格证明
一次/每批
目测
B
3
规格、数量
产品规格、名称、数量与实物一致
一次/每批
目测(与标样对比)
B
4
标识
标识清晰、完整、正确
一次/每批
目测(与标样对比)
C
5
标识附着力
标识附着力良好
10只
酒精(分析醇)、棉球
用酒精棉球拭擦三次,字迹应保持清晰
B
6
外观检查
无破损、变形、污迹,引脚无氧化
10只
目测(与标样对比)
B
7
封装尺寸
详见产品规格或图样
10只
游标卡尺
测量相关尺寸,判断与标准尺寸是否相符
B
8
极性
与外观标示一致
10只
数字万用表
用数字万用表2K档测量,阻值小的为正向导通
A
9
最大反向电压
按该产品技术要求
10只
半导体管特性图示仪
它两端加上其所能承受的最大反向电压
A
备
注
1、封样产品应该在供货商送的第一批合格产品中抽取,原则上以后规格、标识、外观等方面的检验以封样的产品为标准。
2、抽样标准:
一般以10只/每批检验水平:
一般检验水平Ⅱ级。
3、致命缺陷(A):
极重要质量特性不符合规定,导致产品性能完全丧失;AQL——0.065。
严重缺陷(B):
重要质量特性不符合规定,导致产品性能部分失效;AQL——0.65。
一般缺陷(C):
一般质量不符合规定,轻微影响或者不影响产品的正常性能;AQL——1.5。
4、反应计划:
若发现1个或1个以上A类缺陷或B类缺陷以及2个以上C类缺陷则该批产品则判为不合格品,并对不合格品并进行隔离、标识。
同时具备两种以上不合格的进行不合格评审;单项不合格的外检站应将统计结果上交质管部,质管部反馈给供应商。
5、质检单上应记录以上所有A类、B类检验项目的检验结果。
编制/日期
校对/日期
审核/日期
检验规程
名称
贴片稳压二极管
卡片编号
A02-009
共1页
第1页
序号
检验项目
检验内容要求
检验频次
检验器具
检验方法
不良等级
示意简图(备注)
A
B
C
1
供货商
是否为合格供应商
一次/每批
目测
B
2
包装
包装良好,附出厂合格证明
一次/每批
目测
B
3
规格、数量
产品规格、名称、数量与实物一致
一次/每批
目测(与标样对比)
B
4
标识
标识清晰、完整、正确
一次/每批
目测(与标样对比)
C
5
标识附着力
标识附着力良好
10只
酒精(分析醇)、棉球
用酒精棉球拭擦三次,字迹应保持清晰
B
6
外观检查
无破损、变形、污迹,引脚无氧化
10只
目测(与标样对比)
B
7
封装尺寸
详见产品规格或图样
10只
游标卡尺
测量相关尺寸,判断与标准尺寸是否相符
B
8
极性
与外观标示一致
10只
数字万用表
用数字万用表2K档测量,阻值小的为正向导通
A
9
稳压值
稳压值符合产品标准
10只
半导体管特性图示仪
它两端上加一个略超过其额定稳压值的电压
A
备
注
1、封样产品应该在供货商送的第一批合格产品中抽取,原则上以后规格、标识、外观等方面的检验以封样的产品为标准。
2、抽样标准:
一般以10只/每批检验水平:
一般检验水平Ⅱ级。
3、致命缺陷(A):
极重要质量特性不符合规定,导致产品性能完全丧失;AQL——0.065。
严重缺陷(B):
重要质量特性不符合规定,导致产品性能部分失效;AQL——0.65。
一般缺陷(C):
一般质量不符合规定,轻微影响或者不影响产品的正常性能;AQL——1.5。
4、反应计划:
若发现1个或1个以上A类缺陷或B类缺陷以及2个以上C类缺陷则该批产品则判为不合格品,并对不合格品并进行隔离、标识。
同时具备两种以上不合格的进行不合格评审;单项不合格的外检站应将统计结果上交质管部,质管部反馈给供应商。
5、质检单上应记录以上所有A类、B类检验项目的检验结果。
编制/日期
校对/日期
审核/日期
检验规程
名称
贴片三极管
卡片编号
A02-010
共1页
第1页
序号
检验项目
检验内容要求
检验频次
检验器具
检验方法
不良等级
示意简图(备注)
A
B
C
1
供货商
是否为合格供应商
一次/每批
目测
B
2
包装
包装良好,附出厂合格证明
一次/每批
目测
B
3
规格、数量
产品规格、名称、数量与实物一致
一次/每批
目测(与标样对比)
B
4
标识
标识清晰、完整、正确
一次/每批
目测(与标样对比)
C
5
标识附着力
标识附着力良好
10只
酒精(分析醇)、棉球
用酒精棉球拭擦三次,字迹应保持清晰
C
6
外观检查
无破损、变形、污迹,引脚无氧化
10只
目测(与标样对比)
B
7
封装尺寸
详见产品规格或图样
10只
游标卡尺
测量相关尺寸,判断与标准尺寸是否相符
A
8
极性
与外观标示一致
10只
数字万用表
用数字万用表2K档测量,阻值小的为正向导通,依次判断b,e,c
A
9
放大倍数
放大倍数符合产品标准
10只
半导体管特性图示仪
将贴片三极管焊在PCB板上再引线测
A
备
注
1、封样产品应该在供货商送的第一批合格产品中抽取,原则上以后规格、标识、外观等方面的检验以封样的产品为标准。
2、抽样标准:
一般以10只/每批检验水平:
一般检验水平Ⅱ级。
3、致命缺陷(A):
极重要质量特性不符合规定,导致产品性能完全丧失;AQL——0.065。
严重缺陷(B):
重要质量特性不符合规定,导致产品性能部分失效;AQL——0.65。
一般缺陷(C):
一般质量不符合规定,轻微影响或者不影响产品的正常性能;AQL——1.5。
4、反应计划:
若发现1个或1个以上A类缺陷或B类缺陷以及2个以上C类缺陷则该批产品则判为不合格品,并对不合格品并进行隔离、标识。
同时具备两种以上不合格的进行不合格评审;单项不合格的外检站应将统计结果上交质管部,质管部反馈给供应商。
5、质检单上应记录以上所有A类、B类检验项目的检验结果。
编制/日期
校对/日期
审核/日期
检验规程
名称
贴片电感
卡片编号
A02-011
共1页
第1页
序号
检验项目
检验内容要求
检验频次
检验器具
检验方法
不良等级
示意简图(备注)
A
B
C
1
供货商
是否为合格供应商
一次/每批
目测
B
2
包装
包装良好,附出厂合格证明
一次/每批
目测
B
3
规格、数量
产品规格、名称、数量与实物一致
一次/每批
目测(与标样对比)
B
4
标识
标识清晰、完整、正确
一次/每批
目测(与标样对比)
C
5
外观检查
无破损、变形、污迹,引脚无氧化
10只
目测(与标样对比)
B
6
封装尺寸
详见产品规格或图样
10只
游标卡尺
测量相关尺寸,判断与标准尺寸是否相符
B
7
感值与偏差
电感值与符合产品标准
10只
LCR数字电桥
测试频率:
1KHZ±10%,测试电压0.3Vrms
A
8
直流电阻
直流电阻符合产品标准
10只
数字万用表
用数字万用表R×200Ω档测量两端电阻值,若电阻很大,则已损坏
A
备
注
1、封样产品应该在供货商送的第一批合格产品中抽取,原则上以后规格、标识、外观等方面的检验以封样的产品为标准。
2、抽样标准:
一般以10只/每批检验水平:
一般检验水平Ⅱ级。
3、致命缺陷(A):
极重要质量特性不符合规定,导致产品性能完全丧失;AQL——0.065。
严重缺陷(B):
重要质量特性不符合规定,导致产品性能部分失效;AQL——0.65。
一般缺陷(C):
一般质量不符合规定,轻微影响或者不影响产品的正常性能;AQL——1.5。
4、反应计划:
若发现1个或1个以上A类缺陷或B类缺陷以及2个以上C类缺陷则该批产品则判为不合格品,并对不合格品并进行隔离、标识。
同时具备两种以上不合格的进行不合格评审;单项不合格的外检站应将统计结果上交质管部,质管部反馈给供应商。
5、质检单上应记录以上所有A类、B类检验项目的检验结果。
编制/日期
校对/日期
审核/日期
检验规程
名称
集成电路
卡片编号
A02-013
共1页
第1页
序号
检验项目
检验内容要求
检验频次
检验器具
检验方法
不良等级
示意简图(备注)
A
B
C
1
供货商
是否为合格供应商
一次/每批
目测
B
2
包装
包装良好,附出厂合格证明
一次/每批
目测
B
3
规格、数量
产品规格、名称、数量与实物一致
一次/每批
目测(与标样对比)
B
4
标识
标识清晰、完整、正确
一次/每批
目测(与标样对比)
C
5
标识附着力
标识附着力良好
10只
酒精(分析醇)、棉球
用酒精棉球拭擦三次,字迹应保持清晰
B
6
外观检查
无破损、变形、污迹,引脚无氧化
10只
目测(与标样对比)
B
7
封装尺寸
详见产品规格或图样
10只
游标卡尺
测量相关尺寸,判断与标准尺寸是否相符
A
8
功能
符合产品性能标准
10只
专用检测工装
详见相应集成电路检测工装操作说明
A
备
注
1、封样产品应该在供货商送的第一批合格产品中抽取,原则上以后规格、标识、外观等方面的检验以封样的产品为标准。
2、抽样标准:
一般以10只/每批检验水平:
一般检验水平Ⅱ级。
3、致命缺陷(A):
极重要质量特性不符合规定,导致产品性能完全丧失;AQL——0.065。
严重缺陷(B):
重要质量特性不符合规定,导致产品性能部分失效;AQL——0.65。
一般缺陷(C):
一般质量不符合规定,轻微影响或者不影响产品的正常性能;AQL——1.5。
4、反应计划:
若发现1个或1个以上A类缺陷或B类缺陷以及2个以上C类缺陷则该批产品则判为不合格品,并对不合格品并进行隔离、标识。
同时具备两种以上不合格的进行不合格评审;单项不合格的外检站应将统计结果上交质管部,质管部反馈给供应商。
5、质检单上应记录以上所有A类、B类检验项目的检验结果。
编制/日期
校对/日期
审核/日期
检验规程
名称
有源晶振
卡片编号
A02-014
共1页
第1页
序号
检验项目
检验内容要求
检验频次
检验器具
检验方法
不良等级
示意简图(备注)
A
B
C
1
供货商
是否为合格供应商
一次/每批
目测
B
2
包装
包装良好,附出厂合格证明
一次/每批
目测
B
3
规格、数量
产品规格、名称、数量与实物一致
一次/每批
目测(与标样对比)
B
4
标识
标识清晰、完整、正确
一次/每批
目测(与标样对比)
C
5
标识附着力
标识附着力良好
10只
酒精(分析醇)、棉球
用酒精棉球拭擦三次,字迹应保持清晰
B
6
外观检查
无破损、变形、污迹,引脚无氧化
10只
目测(与标样对比)
B
7
频率
频率符合产品标准
10只
专用检测工装、示波器、直流电源
详见示波器操作说明和专用工装操作说明
A
8
可焊性
焊点圆润有光泽,稳固
10只
恒温电烙铁
温度235±5℃,焊接时间2±0.5S,焊点圆润有光泽,稳固
A
备
注
1、封样产品应该在供货商送的第一批合格产品中抽取,原则上以后规格、标识、外观等方面的检验以封样的产品为标准。
2、抽样标准:
一般以10只/每批检验水平:
一般检验水平Ⅱ级。
3、致命缺陷(A):
极重要质量特性不符合规定,导致产品性能完全丧失;AQL——0.065。
严重缺陷(B):
重要质量特性不符合规定,导致产品性能部分失效;AQL——0
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- 电子元件 进站 检验 规程