LED失效分析报告图文精.docx
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LED失效分析报告图文精
上海科锐光电发展有限公司
XPE失效分析报告
申请单位:
北京市京电变电工程处
申请代号:
SH-FA-00311
申请日期:
2011.07.11
鉴定员:
SA60019
审核:
SA60025
批准:
SA60028
一、基本情况
收到客户-北京市京电变电工程处,1盏XPE灯具(参见图-1),要求分析XPE失效的原因。
送检XPE灯具图-1
二、原因分析
1、电学特性
通过晶体管特性仪检测,所有XPE均无法点亮,其电学特性为短路(参见图-2)。
送检失效XPE电特性图-2
2、显微镜检测
取出二颗肉眼观察具代表性的LED进行高倍显微镜观察,失效XPE-NO1金线周围的硅胶有膨胀现象(参见图-3“红圈”处),及芯片电极处有明显发黑现象(参见图-3)。
膨胀现象说明:
LED的金线处过热,曾受到过电冲击;电极处发黑现象说明:
LED受到严重的过电冲击。
从XPE-NO2中暂时无法观察到有明显的损坏痕迹,需进一步解剖(参见图-4)。
送检失效XPE-NO1放大图-3送检失效XPE-NO2放大图-4
3、解剖剥去失效XPE的硅胶透镜后,XPE-NO1芯片电极处发黑,再次说明:
该LED曾受过电严重的过电冲击(参见图-5)。
XPE-NO2金线端的电极处及芯片上的电极处,均发现部分发黑痕迹,此现象说明:
该LED受到过电冲击(参见图-6“红圈”处)。
送检失效XPE-NO1芯片图-5送检失效XPE-NO2芯片图-6
4、驱动电源检测分析:
连接方式为驱动电源+XPE灯板(灯板为客户寄来的完好的XPE灯板),用示波器在0.1Ώ上监视得到开机后的冲击电流约在2.25A(50mV*4.5/0.1Ώ)以上(参见图-7)。
检测纹波电流较大,超过50%(参见图-8)。
该电源的纹波电流及瞬间的冲击电流可能是导致XPE损坏的原因之一。
瞬间冲击电流图
-7
纹波图-8
三、结论
从上述现象分析得:
造成XPE短路的主要原因是由于EOS导致的LED失效。
四、免责声明
本报告为CREE非正式文档,任何正式报告仅由CREE总部提供。
本分析报告的目的旨在协助客户进行样品分析,仅供客户查找相关灯具失效原因所用。
若客户将本报告适用于其他途径,所造成的任何损失均与CREE无关。
本报告最终解释权归上海科锐光电发展有限公司所有。
上海科锐光电发展有限公司
技术中心
2011-07-18
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