LED638T测试机使用说明20.docx
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LED638T测试机使用说明20.docx
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LED638T测试机使用说明20
LED-638T
LEDTESTER
使用說明
維明企業股份有限公司
台中縣大雅鄉上楓村民豐街117號
TEL:
886-4-25676189
FAX:
886-4-25676188
2005年9月二十版
§1.0
LED-638T可測試發光二極體(LED)之電氣特性:
VF(順向電壓),VZ(BVR逆向耐壓),IR(漏電流),DVF(IF加熱前後的VF差值),VFD(VF的暫態峰值)以及光學特性:
LOP(亮度),λp(峰波長),xyz(顏色圖座標),λd(主波長),Purity(顏色純度),HW(波寬),λc(中心波長),CCT(色溫)等項目.
LED-638T可適用於單晶或雙晶或全彩三晶等不同結構的LED封裝,它可先對個別的LED逐一測試,然後再進行混光測試.測試後可將測試結果分為30類,外加不良品及接觸不良1類.並且另可細分65535等級.測試條件及分類條件可由鍵盤輸入.測試結果以液晶顯示器(LCD)顯示.顯示項目分為五頁.第一頁為測試條件設定及測試值顯示,第二頁為分類條件設定,第三頁為各分類計數器及等級條件,第四頁為亮度與光譜校正值設定,第五頁為光譜圖形.
LED-638T具備RS232通信功能,並有於PC視窗作業系統下執行的應用程式支援,提供規格管理,數據存檔,報表印製,自動白平衡測試等等操作,並提供由PC處理的255等級的分類能力.有關該應用程式的操作說明,請另行參閱相關手冊.
§1.1
開機後或按[第一頁]鍵,顯示器顯示測試條件及測試值,共分4頁,第一次顯示第1~1頁,每再按[第一頁]鍵,可於第1~1/1~2/1~3/1~4等4頁間作順序切換.
1~1頁畫面如下:
(1)ID:
光譜感知器的編號.每一個光譜感知器都有個別的光譜校正係數,因此每一台測試機均須安裝特定編號的程式(ROM)
(2)~(18)項為R-LED的電性測試條件:
(2)IFH:
測試前,使用此順向電流預先加熱待測LED
0.000~4.000mA,4.01~40.00mA,40.1~400.0mA
(3)為IFH之脈衝寬度,0.0~99.9mS
(4)IF1:
測試VF1所供應之順向電流源
0.000~4.000mA,4.01~40.00mA,40.1~400.0mA
(5)為IF1之脈衝寬度,0.0~99.9mS
經過指定的脈衝寬度後才讀取VF1值.如果設定此時間>=16.7mS(60HZ)或>=20mS(50HZ),則讀取VF1將自動採用電源濾波方式(可得到較穩定的讀值),總脈衝寬度則維持不變
(6)IF2:
測試VF2所供應之順向電流源.請參閱(4)
(7)為IF2之脈衝寬度.請參閱(5)
(8)IF3:
測試VF3所供應之順向電流源.請參閱(4)
(9)為IF3之脈衝寬度.請參閱(5)
(10)IFM:
測試DVF時,讀取VF所供應之順向電流源.請參閱(4)
(11)為IFM之脈衝寬度.請參閱(5)
(12)IFP:
測試DVF時,加熱使用的順向電流源.請參閱(4)
(13)為IFP之脈衝寬度.請參閱(5)
(14)IFD:
指定測試VFD暫態峰值時的掃描電流範圍
0=OFF,1=0100uA(大約值),2=025mA(大約值),3=AUTO(自動判別)
(15)IZ:
為測量VZ(BVR)所須之逆向電流源
0.00~40.00uA,40.1~400.0uA,401~1000uA
(16)為IZ之脈衝寬度,0.0~200.0mS
經過指定的脈衝寬度後才讀取VZ值,讀取VZ所須時間由省時策略決定(出廠預設為一電源週期).對於高阻抗待測物,此項設定值請設定25mS以上
(17)VR:
為測量IR所須之逆向電壓源,0.0~200.0V
(18)為VR之脈衝寬度,0.0~200.0mS
經過指定的脈衝寬度後才讀取IR值,讀取IR所須時間由省時策略決定(出廠預設為一電源週期).此項設定值請設定25mS以上
(19)~(35)項為G-LED的電性測試條件,請參閱
(2)~(18)項
(36)~(52)項為B-LED的電性測試條件,請參閱
(2)~(18)項
1~2頁畫面如下:
(1)
ID:
光譜感知器的編號.
(2)~(9)項為R-LED的光學測試條件
(2)IFL1:
測試LOP1(亮度1)所供應之順向電流源
0.000~4.000mA,4.01~40.00mA,40.1~400.0mA
(3)為IFL1之脈衝寬度,0.0~99.9mS
經過指定的脈衝寬度後才讀取亮度值,讀取亮度所須時間由省時策略決定(出廠預設為一電源週期).
(4)IFL2:
測試LOP2(亮度2)所供應之順向電流源.請參閱
(2)
(5)為IFL2之脈衝寬度.請參閱(3)
(6)IFWL:
測試波長時所供應之順向電流源.請參閱
(2)
(7)指定測試波長的時間,0,10~9999mS.請參閱(36)感光模式設定
(8)VFL3:
測試LOP3(亮度3)所供應之順向電壓源.
0.000~4.000V,4.01~20.00V
註:
定電壓測量LOP3為保留功能,未來必須加裝[電流轉換電壓線路板]才可執行,目前保留.在未加裝電壓轉換板以前,設定值將以電流源的型式輸出,亦即0.000~20.00V實際將輸出0.000~20.00mA
(9)為VFL3之脈衝寬度.請參閱(3)
(10)~(17)項為G-LED的光學測試條件,請參閱
(2)~(9)項
(18)~(25)項為B-LED的光學測試條件,請參閱
(2)~(9)項
(26)~(30)項為第一次混光測試的條件設定
(26)R-LED的順向電流源
0.000~2.000mA,2.01~20.00mA,20.1~200.0mA
(27)G-LED的順向電流源,請參閱(26)
(28)B-LED的順向電流源,請參閱(26)
(29)測量亮度的脈衝寬度,0.0~99.9mS.請參閱(3)
(30)測量波長的脈衝寬度,0,10~9999mS.請參閱(7)
(31)~(35)項為第二次混光測試的條件設定,請參閱(26)~(30)項
(36)MODE:
指定測量波長的感應時間模式,測試波長所須的時間依光源強度而定,光源愈強所須時間愈短,反之愈長,其測試時間介於10~9999mS之間
0=限時式:
依光源強度自動調整感應時間10mS~設定值,最長不超過設定時間
1=固定時間:
固定感應時間等於所設定的時間
2=自動感應:
由光源強度自動調整感應時間10~9999mS之間
其中a/b/c/d/e分別為量測R-LED/G-LED/B-LED/混光1/混光2的感光模式
(37)
SORT:
指定波長的分類依據:
0=峰波長WLP,1=主波長WLD,2=中心波長WLC,
3=主波長WLD但不要計算色溫(測試單色LED時可節省時間).
當使用者指定依主波長分類時,主波長及純度及顏色圖的(x,y,z)座標及色溫才會被計算(每計算一次WLD須耗時約25mS,每計算一次色溫須耗時約40~45mS)
其中f/g/h/i/j分別為R-LED/G-LED/B-LED/混光1/混光2的波長分類依據
1~3頁畫面如下:
(1)BIN:
分類結果.BIN1~30,31=不良品或接觸不良,(長腳錯誤為BIN30),(VF遞增或遞減錯誤為BIN29)
(2)ID:
光譜感知器的編號.
(3)RANK:
等級,0~65535,0=任一用來分等級的測試值沒有讀值
如果執行由PC分類功能,則此欄將由PC分類後傳回的等級類別碼所取代
(4)TIME:
測試總時間(根據各測試條件的時間設定加上內部開關所須時間而定),
0~9999mS
(5)TPOLAR:
測試後顯示待測物之極性結構,1~12
(6)~(15)項為R-LED的電性測試結果
(6)VF1讀值,0.000~8.000V
(7)VF2讀值.請參閱(6)
(8)VF3讀值.請參閱(6)
(9)VFM1:
測試DVF時,加熱前先量測的VF讀值.請參閱(6)
(10)VFM2:
測試DVF時,加熱後再量測的VF讀值.請參閱(6)
(11)DVF:
加熱前後的VF差值(取絕對值)DVF=VFM2-VFM1
(12)VF:
測試VFD暫態峰值時,在大約100uA或25mA順向電流源下(由IFD指定)的VF穩定值,0.000~8.000V
(13)VFD:
測試VFD暫態峰值時,VF峰值減去VF穩定值的差值,0.000~8.000V
(14)VZ讀值,0.0~200.0V
(15)IR讀值,0.000~4.000uA,4.01~40.00uA,40.1~400.0uA
測試IR時並不自動換檔,檔位與分類條件IRH最大值的檔位相同
(16)~(25)項為G-LED的電性測試結果,請參閱(6)~(15)項
(26)~(35)項為B-LED的電性測試結果,請參閱(6)~(15)項
(36)為1P,1S測試探針之接觸電阻,0.00~40.00毆姆
(37)為2P,2S測試探針之接觸電阻,0.00~40.00毆姆
(38)為3P,3S測試探針之接觸電阻,0.00~40.00毆姆
(39)為4P,4S測試探針之接觸電阻,0.00~40.00毆姆
(40)為1L,1S長腳測試之接觸電阻,0.00~40.00毆姆
(41)為2L,2S長腳測試之接觸電阻,0.00~40.00毆姆
(42)為3L,3S長腳測試之接觸電阻,0.00~40.00毆姆
(43)為4L,4S長腳測試之接觸電阻,0.00~40.00毆姆
1~4頁畫面如下:
(1)~
(2)同第1~3頁
(3)~(16)項為R-LED的光學特性測試結果
(3)LOP1:
亮度1測試值,0.000~65535(亮度校正值於第四頁設定)
(4)LOP2:
亮度2測試值.請參閱(3)
(5)LOP3:
亮度3測試值.請參閱(3)
(6)WLP:
光譜的峰波長,約300.0~1150.0nm
(7)WLC:
光譜的中心波長,約370.0~720.0nm
(8)WLD:
(可見)光譜的主波長,約360.0~700.0nm
(9)HW:
光譜波寬(SpectralLineHalfWidth),0.0~999.9nm
(10)PURITY:
顏色純度,0.000~1.000
(11)x:
顏色圖(x,y,z)座標中的x座標,0.0000~1.0000,x+y+z=1
(12)y:
顏色圖(x,y,z)座標中的y座標,0.0000~1.0000
(13)z:
顏色圖(x,y,z)座標中的z座標,0.0000~1.0000,z=1-x-y
(14)ST:
實際感光時間,10~9999mS
(15)INT:
相對強度(=光譜面積對感光時間的比值),僅供參考不列入分類條件
(16)CCT:
相關色溫(CorrelatedColorTemperature)1000~25000oK
(17)~(30)項為G-LED的光學特性測試結果,請參閱(3)~(16)項
(31)~(44)項為B-LED的光學特性測試結果,請參閱(3)~(16)項
(45)~(56)項為第一次混光的光學特性測試結果,請參閱(3)~(16)項
(57)~(68)項為第二次混光的光學特性測試結果,請參閱(3)~(16)項
註:
***第一次按[編輯]鍵時,游標將出現在第一個可供設定的欄位
後續每再按[編輯]鍵,可將游標往後移到下一個設定群組
如果游標所在的設定欄位可以接受負數,則按[編輯]鍵將出現負號(-),再按一次即取消負號
如果鍵盤被鎖住,則游標將不會出現
***第一次按[清除]鍵時,游標將出現在最後一個可供設定的欄位.
設定新值後若按[清除]鍵,可取消鍵入的數字,恢復原來設定值
***按[輸入]鍵,可更新設定值,並將游標移到下一個可供設定的欄位
如果設定值超出範圍,按[輸入]鍵將被拒絕,並恢復原來值
***按[]鍵,可更新設定值,並將游標移到上一個可供設定的欄位
如果設定值超出範圍,按[]鍵將被拒絕,並恢復原來值
***設定測試條件時,如果設定值為0或脈衝寬度為0,將視為該項目不測試,其讀值將顯示空白,亦不納入作分類比較(視為合格)
***測試光譜特性WLP,HW,WLC,WLD,PURITY,X,Y,Z,CCT等項目時,如果因光度太弱或太強以致於無法計算時,該項目將顯示’----‘,分類比較時視為不合格
§1.2
按[第二頁]鍵,顯示器將顯示分類條件,共30BIN,每一BIN再細分為3頁(2~1,2~2,2~3),第一次顯示BIN1第2~1頁,再按[第二頁]鍵,依序顯示BIN1第2~2頁,BIN1第2~3頁,再按[第二頁]鍵則顯示BIN2第2~1頁,依此類推至BIN30.在換頁過程中也可直接輸入BIN數值作直接切換.
2~1頁畫面如下:
(1)BIN:
直接切換到指定的BIN的分類條件設定頁
(2)CONTH:
測試片接觸電阻上限,0.00~40.00歐姆.
BIN1~BIN30設定值中的最大值將用來作為接觸不良的判斷點,如果任何一個接觸電阻值大於此最大值則視為接觸不良,其餘測試項目皆不測試並且分類為31,如果所有各BIN的CONTH設定值皆為0,則代表不測試接觸電阻
(3)POLAR:
指定極性結構必須吻合,1~12
(4)~(16)項為R-LED的電性分類條件
(4)VF1L:
VF1之下限,0.000~8.000V
(5)VF1H:
VF1之上限,0.000~8.000V
(6)VF2L:
VF2之下限,0.000~8.000V
(7)VF2H:
VF2之上限,0.000~8.000V
(8)VF3L:
VF3之下限,0.000~8.000V
(9)VF3H:
VF3之上限,0.000~8.000V
(10)VFM1L:
VFM1之下限,0.000~8.000V
(11)VFM1H:
VFM1之上限,0.000~8.000V
(12)DVFH:
DVF之上限,0.000~8.000V
(13)VFH:
VF之上限,0.000~8.000V
(14)VFDH:
VFD之上限,0.000~8.000V
(15)VZL:
VZ之下限,0.0~200.0V
(16)IRH:
IR之上限,0.000~400.0uA
測試機會找尋各BIN的IRH的最大值,以其檔位作為固定的測試檔位,測試時不作自動換檔,並且將調整各BIN的IRH為同一解析度
(17)~(29)項為G-LED的電性分類條件,請參閱(4)~(16)項
(30)~(42)項為B-LED的電性分類條件,請參閱(4)~(16)項
2~2頁畫面如下:
(1)BIN:
直接切換到指定的BIN的分類條件設定頁
(2)~(13)項為R-LED的光學特性分類條件
(2)LOP1L:
亮度1下限,0.000~65535
(3)LOP1H:
亮度1上限,0.000~65535
測試機會以各BIN的LOP1L/LOP1H的最大值的檔位,將各BIN調整為同一解析度
(4)LOP2L:
亮度2下限,請參閱(2,3)
(5)LOP2H:
亮度2上限,請參閱(2,3)
(6)LOP3L:
亮度3下限,請參閱(2,3)
(7)LOP3H:
亮度3上限.請參閱(2,3)
(8)WLL:
波長之下限(依指定的WLP或WLD或WLC),0,300.0~1150.0nm
(9)WLH:
波長之上限(依指定的WLP或WLD或WLC),0,300.0~1150.0nm
(10)PURL:
顏色純度(PURITY)之下限,0.000~1.000
(11)PURH:
顏色純度(PURITY)之上限,0.000~1.000
(12)HWL:
波寬(HW)之下限,0.0~999.9nm
(13)HWH:
波寬(HW)之上限,0.0~999.9nm
(14)~(25)項為G-LED的光學特性分類條件,請參閱
(2)~(13)項
(26)~(37)項為B-LED的光學特性分類條件,請參閱
(2)~(13)項
(38)~(45)項為第一次混光的光學特性分類條件,請參閱
(2)~(13)項
(46)~(53)項為第二次混光的光學特性分類條件,請參閱
(2)~(13)項
2~3頁畫面如下:
(1)BIN:
直接切換到指定的BIN的分類條件設定頁
(2)~(9)項為R-LED在顏色圖上的4點(x,y)座標分類,0.0000~1.0000
(x1,y1)(x2,y2)(x3,y3)(x4,y4)等4點座標可在顏色圖上構成一四邊形,所量測之(x,y)點必須落在此四邊形內或其邊線上方滿足該BIN條件
(10)CCTL:
R-LED色溫之下限,0,1000~25000oK
(11)CCTH:
R-LED色溫之上限,0,1000~25000oK
(12)~(21)項為G-LED在顏色圖上的4點(x,y)座標分類及色溫上下限,
請參閱
(2)~(11)項
(22)~(31)項為B-LED在顏色圖上的4點(x,y)座標分類及色溫上下限,
請參閱
(2)~(11)項
(32)~(41)項為第一次混光在顏色圖上的4點(x,y)座標分類及色溫上下限,
請參閱
(2)~(11)項
(42)~(51)項為第二次混光在顏色圖上的4點(x,y)座標分類及色溫上下限,
請參閱
(2)~(11)項
註:
***分類優先順序:
接觸不良(31)長腳錯誤(30)VF遞增或遞減錯誤(29)BIN1~BIN30不良品(31)
***任何欄位設定值為0,代表該欄位不用比較(視為合格)
§1.3
按[第三頁]鍵,顯示器將顯示計數器於第3~1頁,再按[第三頁]鍵,則依序顯示第3~2頁,第3~3頁的等級條件設定頁.
第一次按[第三頁]鍵,可顯示
第3~1頁畫面如下:
(1)TYPE:
選用測試規格0~9
選用測試規格:
於任何一頁按[讀取],[編輯],[0~9],[輸入]
複製測試規格:
將目前選用的測試規格複製到指定的Type中
於任何一頁按[儲存],[編輯],[0~9],[輸入]
(2)PHOTOSTART:
指定機械觸發測試信號(SOT)的極性
0:
HighLow觸發測試,1:
LowHigh觸發測試
(3)REJECTBINS:
測試結果的BIN值大於此設定值,將由機械界面Driver7輸出不良品信號.這是本測試機輸出分類別(BinCode)的另一種測試結果輸出,適用於Pass/Reject(Go/NoGo)的機械,例如點測機(Prober)
(4)REJECTLEVEL:
指定輸出不良品信號為低電位(0)或高電位
(1)
(5)MTIME:
上一次測試到本次測試所經過的時間0~9999mS
(6)PCS/SEC:
由MTIME可計算出每秒可測試幾個材料
(7)K/HOUR:
由PCS/SEC可計算出每小時可測試幾K(千個)材料
(8)~(37)BIN1~BIN30的計數器
符合Bin30條件或者長腳錯誤皆歸類於Bin30,故當啟用長腳測試功能時,Bin30應保留給長腳錯誤使用
符合Bin29條件或者VF遞增或遞減錯誤皆歸類於Bin29,故當啟用6步階IFS測試功能時,Bin29應保留給VF遞增或遞減錯誤使用
(38)NG:
NOGO不良品計數器(不符合Bin1~30條件的材料)
(39)C1:
CONT1接觸不良計數器
(40)C2:
CONT2接觸不良計數器
(41)C3:
CONT3接觸不良計數器
(42)C4:
CONT4接觸不良計數器
如果CONT1~CONT4的接觸電阻均大於38歐姆,將被視為沒有材料在測試片上,計數器將不計數(分類仍為CONTNoGo).如果為接觸不良,最大接觸電阻端的計數器將會計數
(43)GT:
測試材料總數,計數範圍0~999999
(44)RT:
測試機開機秒數累計,開機後每秒加一,計時範圍0~999999秒
(45)MT:
機器運轉秒數累計,為MTIME的時間累計,當機械停止測試時MTIME計時上限為9999mS,超過此時間視為機械停止運轉,計時範圍0~999999秒
(46)RESET:
將計數器歸零:
於任何一頁按[計數器歸零],[編輯],[0~38],[輸入]
其中號碼=0將所有計數器歸零(GT,RT,MT須各自獨立歸零)
1~30將BIN1~BIN30其中一個計數器歸零
31將NOGO計數器歸零
32~35將CONT1~CONT4其中一個計數器歸零
36將GT計數器歸零
37將RT計時器歸零
38將MT計時器歸零
再次按[第三頁]鍵,可顯示第3~2頁畫面如下:
等級的分類是採用矩陣方式,先選用要分級的測試項目,再設定其組距.例如以單一個LED為例,我們可以將順向電壓分為4類,亮度分為5類,波長分為3類,則三維矩陣相乘的結果共產生4*5*3共60等級,我們賦予其值1~60,但其中如有任一測試讀值沒有測試或無法計算,則等級將無法進行分類,其RANK值判為0,或者是其中任何一個測試讀值超出所設定的組距範圍之外,則其等級為不良品(NOGO)其RANK值為最大有效等級值加1,如上例為61.LED638T因可測試三晶及混光,它所產生的測試項目相當的多,在這其中LED638T可以讓我們選用最多10測試項目來進行等級分類,每一測試項目最多可設31個數據界限(分為30等級),但總RANK數值範圍為0~65535,超過65535將以65535表示,例如:
VF分4級:
界限數據為:
1.000,2.000,3.000,4.000,5.000
A組距範圍1.000~<2.000
B組距範圍2.000~<3.000
C組距範圍3.000~<4.000
D組距範圍4.000~<5.000
不良品<1.000或>=5.000
LOP分5級:
界限數據為:
300,500,700,900,1100,1300
1組距範圍300~<500
2組距範圍500~<700
3組距範圍700~<900
4組距範圍900~<1100
5組距範圍1100~<1300
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- LED638T 测试 使用说明 20