完整版硬件测试标准最全可靠性测试.docx
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完整版硬件测试标准最全可靠性测试
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V1
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第1頁,共17頁
1.
目的
此可靠性测试标准的目的是尽可能地挖掘设计,制造中的潜在性问题,在正式生产之前寻找改善
方法并解决上述问题点,为正式生产的产品在质量上做必要的保证;并检测产品是否具备设计上的
成熟性、使用上的可靠性.具体包括新产品的试验、物料的试验及例行抽检试验等等。
此指引适用于所有诺亚信高科技集团有限公司生产的移动产品。
3.1技术员:
设定仪器,完成相关测试项目,并记录测试结果.解决检测过程中的问题;并向工程师反
馈检测方法的缺陷和不足。
3.2工程师:
判断测试结果是否可接受;跟进问题的解决情况;改善检测方法。
4.1以具体的实验项目要求为准。
5.1环境可靠性试验
5.1.1咼温运行试验
试验目的:
验证手机在高温环境的适应性。
试验样品:
2sets试验内容:
55°C,手机配齐SIM卡/T卡,装电池开机,进行12小时测试,运行时间从到达
55C温度始算起.试验后在箱内检查,要求产品的功能、外观正常.受测前样机胶塞必须安
装归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机,1台开盖,1台合盖.(若屏/主板不同供应商,则样机各选2pcs,共4pcs)。
判定标准:
1
、壳体外观检查,缝隙,镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。
、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否
可恢复)
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、MP3FM耳机,充电,滚轮…。
、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
5.1.2低温运行试验
试验目的:
验证手机在低温环境下的适应性。
试验样品:
2sets
试验内容:
-20C,手机配齐SIM卡/T卡,装电池开机并运行老化软件,进行12小时测试,
运行时间从到达-20C温度始算起.试验后在箱内检查,要求产品的功能、外观正常.受测前
样机胶塞必须安装归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机,2台开盖,1台合盖.(若屏/主板不同供应商,则样机各选2pcs,共4pCS)。
特别注意:
俄罗斯项目需要测试低温下的充电功能(电池电压是否会升高)。
判定标准:
1
、壳体外观检查,缝隙,镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。
、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否
可恢复)。
、MP3FM耳机,充电,滚轮…。
、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
5.1.3高温贮存试验
试验目的:
应力释放和加速材料的老化。
试验样品:
2sets
试验内容:
80C,手机配电池关机,存储时间24小时,贮存时间从温度到达80C开始算起.在进行存储到24小时后,直接进行外观检查.受测前样机胶塞必须安装归位.再进行2小时回温后,开机进行电性能检查.对于翻/滑盖手机,2台开盖,1台合盖.(若屏/主板不同供应商,则样机各选2pcs,共4pcs)。
判定标准:
1、壳体外观检查,缝隙,LENS以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。
3
可恢复)。
、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否
、MP3FM耳机,充电,滚轮…。
、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
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5.1.4低温贮存试验
试验目的:
加速材料的脆化。
、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
、MP3FM耳机,充电,滚轮…。
、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
5.1.5咼温咼湿试验
试验目的:
验证手机在高温高湿环境下的适应性,诱发临界状态的问题暴露出来。
试验样品:
2sets
、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
、MP3FM耳机,充电,滚轮…。
、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
5.1.6灰尘试验
试验目的:
验证手机结构密闭性
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试验样品:
2sets
试验内容:
将试验样机不包装,装上所配电池,正常位置安装在适合的灰尘砂粒(灰尘量2
千克每立方米)试验箱中.其体积综合不得超过试验箱的有效空间的1/3,底部面积不超过
有效水平面积的1/2,试验样机之间及与试验箱内壁距离应不小于100mm试验时,试验箱
内温度为(15-35C),相对湿度45%-75%试验箱内的气流速度应保持试验用灰尘均匀缓慢沉降在试验样机上,使最大风速不得超过2m/s,试验样机在该试验条件下保持8小时.停止吹风后,待粉尘完全沉降,才能取出试验样品.备注:
测试时视整机出货状况决定是否需要封堵接口。
判定标准:
3
可恢复)。
1壳体外观检查,缝隙,镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。
、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
、触摸屏划写,点压准确性(如有触摸不准偏位等现象,进行屏幕校准看是否
、MP3FM耳机,充电,滚轮…。
、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
5.1.7盐雾试验
试验目的:
验证手机结构密闭性和抗腐蚀性能。
试验样品:
2sets
试验内容:
将试验样机装上所配电池,不包装状态下放入盐雾箱内,在35C下,用PH值为
6.5〜7.2(酸性),浓度为(5±1)%的氯化钠(NaCI)盐溶液连续对试验样机喷雾2小时,喷雾结束后将试验样品转移到湿热箱中储存22小时,储存条件为温度(40±2)°C,相对湿度为90%〜95%.按上述规定喷雾并储存,构成一个循环,进行三个循环试验。
备注:
测试时视整机出货状况决定是否需要封堵接口。
、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
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、MP3FM耳机,充电,滚轮…。
、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
5.1.8随机振动试验
试验目的:
试验样机抗振动性能
试验样品:
2sets
试验内容:
将试验样机装上所配电池,不包装.牢固地水平固定在振动台上;在对试验样机进行振动测试时,采用以下频率/幅度:
频率5〜20Hz时,随机振动ASD(加速度谱密度)为0.96m7S3;频率20〜500Hz时,随机振动ASD(加速度谱密度)为0.96m2/S3(20HZ,其它-3dB/倍频程.将试验样机分别在X、丫、Z轴上振动,每个轴振动10分钟.在振动过程中,试验样机连接综测设备,对试验样机进行射频性能测试。
、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
、MP3FM耳机,充电,滚轮…。
、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
5.1.9温度冲击测试
试验目的:
验证手机结构、装饰件、焊接等在快速温变下的寿命。
试验样品:
2sets
试验内容:
将试验样机不包装,装上所配套电池,关机状态下,低温-40°C±2°C/1H,高温
80C±2C/1H,转换时间w5min,循环12次,共计24小时。
、功能检查(注意屏的显示是否有黑影,坏点等异常)。
、MP3FM耳机,充电,滚轮…。
、实网通话一次,看送话和受话是否正常。
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5.2机械可靠性试验
5.2.1自由跌落试验
试验目的:
验证手机的结构以及主板器件的可靠性,整机抗多次跌落的能力。
试验样品:
4sets
B.2.4
试验内容:
注意点:
A.普通屏,研发阶段1.2米,大理石地面。
—2.8(含2.8)研发阶段1米,大理石地面。
、进行测试前,先检查手机功能正常;确认结构方面的初始状态(便于跌落后进行比对)。
2、将试验样品装上配套的电池/SIM卡/T卡,6面/4角,每个部位连续跌2次,总计20次,跌落顺序:
上顶面f下底面f左侧面f右侧面f左上角f右上角f左下角f右下角fB面fA面(屏面)。
3、对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机,先跌开盖状态,每个面跌落1次,再在合盖状
态下每个面跌1次,四个角每个角各2次。
判定标准:
1.手机是否壳体开裂,键盘/侧键等弹出,螺丝松动,镜片脱落等现象。
7.
充电/耳机/USB功能识别/开启蓝牙,是否可以收到蓝牙耳机。
触摸屏校准2次;手写输入写短信后发出,发出2条。
9.测试完成后,无机械损伤和功能失效。
试验样机内部屏蔽罩及其它元器件不能存在松脱或损坏现象,摇动试验样机应不出现任何异响。
跌落过程中,允许有3次以下掉电及重启
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5.2.2微跌落试验
试验目的:
验证手机在正常使用中轻微撞击的适应性。
试验样品:
2sets
试验内容:
将试验样机不包装,装上所配套电池,插入T卡及SIM卡。
开机播放T卡MP3状态下,跌落高度为10cm跌落面为PVC垫面,试验样机跌落方位顺序为:
A面一B面一左面一右面一上顶面一下底面,进行连续跌落每个面跌1000次总次数为6000次,且完成6000次测试时记录测试结果。
跌落后检查试验样机的外观结构及各项功能,并进行电性能测试。
判定标准:
1.手机是否壳体开裂,键盘/侧键等弹出,螺丝松动,镜片脱落等现象。
触摸屏校准2次;手写输入写短信后发出,发出2条。
9.测试完成后,无机械损伤和功能失效.试验样机内部屏蔽罩及其它元器件不能存在松脱或损坏现象,摇动试验样机应不出现任何异响。
试验样品:
2sets
试验内容:
将试验样机不包装,装上所配套电池,开机锁住键盘正面朝上,机身与固定支架的轴向垂直地放在帆布上并用布带将试验样机紧固.长度为12cm的硅橡胶挤压头以(250
±10)N的力,每分钟30次垂直作用于试验样机中部的翻盖正面或键盘面。
1次为2秒,
包括1秒施力和1秒松开,一共1000次,,每200次做一次检查。
试验环境为常温.试验过
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程中试验样机保持开机状态.对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机,应在合盖状态下进行试验。
判定标准:
测试过程中手机不能关机,测试完成后手机机械电气功能正常,镜片/LCD无损
坏,黑屏,花屏等显示异常。
524
ESDK验
试验目的:
检验手机在使用中抵抗自然静电的能力。
试验样品:
2sets
试验内容:
温度15C〜35C,相对湿度30%-60%RH气压86〜106kPa.试验样机处于充电状态下,通话状态或进入照相模式进行测试,对每个选取点放电10次,每秒1次.(接触放
电)放电电压设置为±6KV选取点:
试验样机在操作过程中正常被人体接触的导体部分,测试部位至少包括:
充电接口、金属天线等、及金属装饰件等.(空气放电)放电电压设置
为:
±10KV选取点,试验样机在操作过程中正常被人体接触的非导体部分,例如:
前后壳接缝、LCD显示屏、按键面板、I/O口及其它所有的露孔接缝处。
判定标准:
ESD测试时应能继续保持工作状态,出现的异常现象,如屏幕显示不正常、通话
音杂等,应该在试验完毕后能恢复;试验完毕后试验样机通话、充电等功能应正常,试验
样机中存储数据应不会产生丢失。
试验后各项功能正常。
5.2.5
扭曲试验
试验目的:
检查手机抗扭曲能力
试验样品:
2sets
试验内容:
将试验样机不包装,装上所配套电池,开机状态下固定扭曲试验机上,两端各挟持15mm以2N-m扭矩,顺时针扭曲和逆时针扭曲各一次交错进行,频率为15〜30/次,
共扭曲1000次.试验环境为常温.对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机,应在合盖状态下进行试验。
526
判定标准:
测试过程中手机不能关机,测试完成后手机机械电气功能正常。
内容:
弹簧锤撞击试验目的:
检查手机触摸屏抗撞击能力。
试验要求:
撞击能量为0.2J,用弹簧锤撞击锤对触摸屏中心位置和四角各进行一次测试。
判定标准:
触摸屏表面不能有破裂,各项电性能符合要求。
数量:
2sets
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5.3部件机械可靠性试验
5.3.1
触摸屏点击试验
试验目的:
屏的手写寿命
试验样品:
2sets
试验内容:
将试验样机不包装,装上所配套的电池,关机状态下,用0.8R尼龙笔,力量250g,频率3次/秒,点击次数10万,每1W次做一次检查。
打点位置:
动作区范围内的中央部位.
判定标准:
触摸屏表面不能有破裂,各项功能正常。
5.3.2
触摸屏划线试验
试验目的:
屏的手写寿命。
试验样品:
2sets
试验内容:
将试验样机不包装,装上所配套电池,关机状态下,用0.8R尼龙笔,力量250g,划一三角形,触控屏右侧和底部预留5mm速度150mm/sec,重复测试10万次.直线划动位置:
动作区范围内的中央部位。
判定标准:
触摸屏表面不能有划痕可接受,不能有破裂,各项功能正常。
5.3.3
翻/滑盖寿命试验
试验目的:
验证手机壳体材质,滑轨,FPC的寿命.以及滑盖组件结构的配合寿命。
试验样品:
2set
试验内容:
翻盖寿命试验将试验样机不包装,装上所配电池,开机装态下,把试验样机滑(旋)盖打开再合上为一次开合,操作频率要求35次开合/分,共需要开合10万次.试验结束后,拆机检查FPC不能有明显划痕和刮伤。
滑盖寿命试验A类要求:
将试验样机不包装,装上所配套电池,开机状态下,把试验样机滑盖打开再合上为一次开合,操作频率要求45次开合/分,共需要开合10万次。
B类要求:
将试验样机不包装,装上所配套电池,关机状态下,把试验样机滑(旋)盖打开再合上为一次开合,操作频率要求35次开合/分,共需要开合10万次。
判定标准:
5000,1万,2万,3万,4万,5万,8万,10万次各检查手感良好,滑盖/翻盖可以平稳开合,滑轨无明显松动,变紧,滑动/转动时无明显异音等,以及与测试前状态不一致的结构问题,电气功能正常,打开手机后观察FPC没有明显磨损,转轴的外观结构
及灵敏度、LCD显示的情况、按键音是否正常、能否正常呼叫、其它地方的外观是否完好。
5.3.4
按键寿命(含侧键)试验
试验目的:
验证手机按键的使用寿命及长期按键对周围器件的影响
试验样品:
2sets
试验内容:
开机状态下测试,导航键和确认取消键:
10万次.侧键:
5万次,10N的力度,速度60-100次/分,打在DOME中央。
判定标准:
dome不能失效.按键手感不能明显变差。
5.3.5
数据线接口插拔寿命试验
试验目的:
验证手机长期插拔充电器,耳机,数据线对相关器件的影响。
试验样品:
2sets
试验内容:
开机状态下,将试验样机的数据线和数据线的插头进行反复插拔,插拔频率为
20次/分,连续进行3000次循环,1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。
判定标准:
试验后数据线I/O口无任何的变形、损伤,数据线功能正常。
5.3.6
耳机口插拔寿命试验
试验目的:
验证手机长期插拔耳机对相关器件的影响。
试验样品:
2sets
试验内容:
开机状态下,将试验样机的耳机座和耳机的插头进行反复插拔,插拔频率为次/分,连续进行3000次循环,1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。
20
5.3.7
判定标准:
试验后耳机座无任何的变形、损伤,数据线功能正常。
充电器插拔寿命试验
试验目的:
验证手机长期插拔充电器对相关器件的影响。
试验样品:
2sets
试验内容:
充电器不接电源,开机状态下,将试验样机的I/O口和充电器的插头进行反复
插拔,插拔频率为20次/分,连续进行3000次循环,1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。
判定标准:
试验后I/O口无任何的变形、损伤,试验机充电功能正常。
试验目的:
验证手机长期插拔储存卡对相关器件的影响。
试验样品:
2sets
试验内容:
开机状态下,将T卡插入拔出进行反复插拔,插拔频率为20次/分,连续进行1000次循环,1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。
判定标准:
T卡镀金部位是否有被明显磨损和功能正常,结构稳固。
5.3.9
SIM卡插拔试验
试验目的:
验证手机长期插拔SIM卡对相关器件的影响
试验样品:
2sets
试验内容:
将SIM卡和试验样机SIM卡座进行反复装拆,插拔频率为20次/分,连续进行1000次循环,1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。
SIM卡。
判定标准:
检查SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常,SIM卡镀金部分是否会被明显磨损和功能正常,结构稳固,手机读卡功能使用正常,开机必须能够辨识
5.3.10
触摸笔拉拔试验
试验目的:
验证触摸笔的使用寿命
试验样品:
2sets
试验内容:
将触摸笔和试验样机进行反复插拔,插拔频率为20次/分,连续进行5000次循
环,1次循环为1次装入和取出.试验环境为常温。
判定标准:
触摸笔不能明显松动,甩动手机,触摸笔不能脱落。
5.3.11
电池/电池后盖拆装耐久性试验
试验目的:
验证手机在正常使用中,电池及后盖频繁拆装后,对相关器件的影响。
试验样品:
2sets
试验内容:
将电池、电池盖和试验样机进行反复装拆,插拔频率为20次/分,电池连续进行1000次循环,电池盖连续进行1000次循环,1次循环为1次装入和取出.试验环境为常温。
判定标准:
电池盖无变形,卡勾无破裂,电池盖无松动。
以20cm微跌掉电池盖的次数小于
等于2次做为是否通过插拔测试通过的依据。
试验目的:
验证吊绳孔的可靠性.
试验样品:
2sets
力(逐渐增大),从水平方向拉吊绳孔,当拉力达到50N时立即释放。
5.3.13扬声器寿命试验
试验目的:
验证样机扬声器寿命性能。
试验样品:
2sets
判定标准:
扬声器能正常发音且应无破音,手机各项功能正常。
导入新物料时,必测此项.
如果只是修改线长,泡棉尺寸,其余无变化,可以不用测试。
试验样品:
2sets
试验内容:
进入菜单选择马达启动,保持连续震动72小时。
判定标准:
马达能正常工作且应无明显振动强弱变化,手机各项功能正常。
试验样品:
2sets
试验内容:
调节硬件和软件放大倍数,要求有效功率略大于额定功率10%以上(在拨打彩铃
或用力吹气时,峰峰值不超过2.8V).进入菜单选择听筒开启,保持连续受话96小时。
判定标准:
听筒能正常工作且应无明显受话强弱变化,手机各项功能正常;导入新物料时,必测此项.如果只是修改线长,泡棉尺寸,其余无变化,可以不用测试。
试验目的:
验证样机麦克风寿命性能。
试验样品:
2sets
试验内容:
调节硬件和软件放大倍数,要求有效功率略大于额定功率10%以上(在拨打彩铃
或用力吹气时,峰峰值不超过2.8v).进入菜单选择麦克风开启,保持连续送话48小时。
判定标准:
麦克风能正常工作且应无明显振动强弱变化,手机各项功能正常;导入新物料时,必测此项.如果只是修改线长,泡棉尺寸,其余无变化,可以不用测试。
5.3.17
触摸屏(假纯屏)可靠性试验试验目的:
验证屏的强度。
试验样品:
2sets
试验内容:
屏的压力测试.测试最靠近边缘的9个点及中间一个点,要求承受压力要大于4.5Kg,使用直径为10mm勺圆柱形压头,在测头与屏接触面垫泡棉,压边缘屏的位置,但不要压边框。
判定标准:
屏不能破裂,失效。
5.3.18
LCDLens硬度试验
试验目的:
验证LCD镜片的耐磨性。
试验样品:
2sets
试验内容:
用三菱试验铅笔芯,以1kgf压力。
笔尖要磨平的,要放在砂纸上以90度角磨
平的。
需按照屏镜片具体材质,具体制定.PET:
1H、普通喷漆:
2H、胶类使用Level3。
判定标准:
测试部位不应出现的明显划痕。
5.3.19
插孔保护塞拉拔力测试
试验目的:
验证胶塞的牢固程度
试验样品:
2sets
试验内容:
0.8kgf的拉力,保持10秒,共进行2次。
判定标准:
塞子不能拉脱/拉断,测试结束后能收缩回原始状态。
5.3.20
插孔保护塞反复拆装试验
试验目的:
验证胶塞多次拆装后,是否配合良好。
试验样品:
2sets
试验内容:
1000次
判定标准:
测试结束后,与原始状态一致。
5.3.21
Lens(透镜/镜片)静态按压试验
试验目的:
检查Lens(透镜/镜片)在机壳上的牢固性。
试验样品:
2sets
试验内容:
A壳显示窗lens为背胶粘贴形式.拆机后,将A壳lens(透镜/镜片)用电子拉力计往外顶,要求将lens(透镜/镜片)顶脱胶的力不能小于0.3kgf。
判定标准:
LENS占性牢固,不能脱落。
5.3.22
按键帽拉拔力试验
试验目的:
验证按键的可靠性,是否容易脱落。
试验样品:
2sets
试验内容:
使用普通透明胶带,将其粘在按键上,从垂直90度方向迅速拉起,重复操作3
次。
判定标准:
键帽不脱落,不损伤。
5.3.23
镶件拉力试验
试验目的:
验证试验样机镶件的抗拉性。
试验样品:
2sets
5.3.24
判定标准:
要求镶件的破坏拉力大于7Kgf。
镶件扭矩试验
试验目的:
验证试验样机镶件的抗扭力性能
试验样品:
2sets
试验内容:
把螺丝枪扭矩设为1.5Kgf?
cm将试验样机前后盖合上,用螺丝枪将螺钉拧入到底,然后再松开螺钉,开启试验样机盖,检查镶件是否旋出塑料柱.试验样机的每处镶件均
需测试。
判定标准:
要求镶件不能脱出塑料柱。
5.4结构壳可靠性试验
5.4.2
5.4.3
试验内容:
用专用的NORMANRCA磨测试仪(型号:
7-IBB—647)及专用的纸带(11/16inchwidex6或8inchdiameter),施加175g的载荷,带动纸带在样本表面磨擦.普通喷漆部位要求300次,橡胶漆部位要求40次,橡胶漆LOG(20次,真空溅镀部位要求200次,印刷、图案(在表面)部位要求200次.试验时尽量选取容易发生脱漆的边角位进行磨擦.试验环境为常温.该试验只针对试验样机外表面喷漆或印刷部位。
判定标准:
试验后喷油部位不露出基材颜色,印刷部位文案仍然清晰。
硬度试验
试验目的:
验证手机机壳表面涂附层的硬度。
试验样品:
2sets
试验内容:
使用中华牌铅笔,铅笔与涂膜呈45度角,用1kg的力推出3〜5cm(视可测试距离定)距离,检视涂膜有无划破或刮痕;在不同位置划5条;测试条件为温度23±2C,湿度50±5%笔心外露5~6mm并成圆柱状,尖端出处与砂纸(NO.400呈90度画圈打磨到平整。
分以下机种情况:
1.普通喷漆(底材为塑胶)及镜片:
2H2.普通喷漆(底材为金属):
3H3.IMF,IMRHB4.RHCMF;试验环境为常温,该试验只针对喷漆或电镀部位外表面。
判定标准:
用橡皮擦拭后表面无划痕。
百格试验
试验目的:
验证手机机壳表面涂附层及EMI油漆的附着力
试验样品:
2sets
试验内容:
用锋利刀片或百格刀(刀锋角度为15°〜30°)在测试样本表面
- 配套讲稿:
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